标准对比课件

1、射线检测 JB/T4730-2005与JB4730-1994标准对比一、范围比较（1）与JB/4730-1994相比， JB/T4730-2005适用范围大大扩展：覆盖锅炉、压力容器、压力管道，以及有关支承件和结构件各个品种（94标准仅适用于压力容器）；覆盖制造，安装，在用检验各个领域；覆盖原材料、零部件、到整台设备验收各个环节（94标准仅适用于制造）；覆盖碳钢、不锈钢、钛、铝、铜、镍及其合金各种材料（94标准仅适用于碳素钢、不锈钢、铝钛及其合金）。（2）JB/T4730-2005将JB/4730-1994中的“”射线透照质量分级”改为“射线照相技术”分级。二、规范引用文件JB/4730-19

2、94标准的引用文件不完整。 JB/T4730-2005中引用了必要的最新版本标准。四、射线胶片（1） JB/T4730-2005按照GB/T19384-1：2003，采用了“胶片系统”概念，并将胶片系统分为四类，即T1、T2、T3、T4类，代替了JB/4730-1994“号数分类”。（2） JB/T4730-2005规定：按照射线照相技术级别选用胶片，纠正了JB4730-1994错误的（如缩短曝光时间）和不清晰的（如需提高射线透照的底片质量）规定。（3）新增加了“采用r射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测，应采用T2类或更高类别的胶片。”五、观片灯（1）JB/T4730-2005通过引用JB/

3、T7903标准，对观片灯提出了全面的性能要求，不再是仅限于最大亮度。（2）修改了JB/4730-1994中观片灯最大亮度（不小于100000cd/m2）和底片透过亮度（不小于30cd/m2）的指标。六、黑度计JB/4730-1994对黑度计无对应条款。七、增感屏（1）应用增感屏的内容， JB/T4730-2005比 JB/4730-1994规定更全面和具体。（2） JB/T4730-2005删除了JB/4730-1994允许使用荧光增感屏和金属荧光增感屏的内容，因为此类屏将造成射线照相质量严重降低。（3）对r射线和高能X射线照相，JB/T4730-2005根据照相技术等级规定所使用的增感屏的材

4、质和厚度， JB/4730-1994无类似规定。（4） JB/T4730-2005提出：使用前屏0.03mm的真空包装胶片，可在工件和胶片之间加0.07mm0.15mm附加铅屏，以提高照相质量， JB/4730-1994无类似规定。九、表面要求和射线检测时机（1）关于表面要求， JB/T4730-2005与JB/4730-1994相同。（2） JB/T4730-2005对检测时机作出明确规定，并特别强调了具有延迟裂纹倾向材料的检测问题。十一、辐射防护JB/4730-1994在5.2.1条中，给出的是关于辐射危害的常识性的简单要求，在5.2.4条中，将辐射防护剂量限值中，对随机性效应的剂量限值作

5、为一般剂量限值要求在标准中规定下来，这不符合辐射防护的基本原则，也不符合我国有关标准的规定。JB/T4730-2005删除了JB/4730-1994的错误条款和非标准的内容，引用了我国新的辐射防护标准：GB18871-2002、GB16357-1996、GB18465-2001，更新了规定内容。十三、透照方向JB/T4730-2005与JB/4730-1994在透照方向上内容基本相同。十四、一次透照长度（1）JB/T4730-2005对100mmD0400mm的环向焊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头）的A级、AB级照相的K值控制放宽，从K1.1放宽至K 1.2。（2）环向对接接头所需的透照次

6、数无需计算，可参照JB/T4730-2005附录D的曲线图确定。十五、小径管环向对接焊接接头的透照布置JB4730-1994对小径管对接接头的透照方式、透照次数等方面规定得均不够明确，在JB/T4730-2005中，明确了小径管的概念、倾斜透照方式椭圆成像和垂直透照方式重叠成像的选择实施条件、100%检测小径管对接接头的透照次数、以及允许透照一次的前提。十六、第4章之4.2.1，4.2.2（1）JB/T4730-2005修改了JB/4730-1994标准关于允许的最高透照电压的规定，用EN1435-1997的图代替了JB/4730-1994标准图5-6，改变了对小厚度范围不适当的、过严的限定。

7、（2）删除了JB/4730-1994标准依据曝光时间选用透照电压的错误表达。（3）增加了Se-75源的适用透照厚度范围。（4）进一步降低了Ir-192源和Se-75源的最小透照厚度。十七、射线源至工件表面的最小距离（1）一次透照长度不属于几何条件， JB/T4730-2005将一次透照长度内容移至第4.1.3条。（2） JB/4730-1994标准的原图5-2内容在JB/T4730-2005中以计算式的方式给出。（3）修正了JB/4730-1994图5-4的错误。十九、曝光曲线JB/T4730-2005将曝光曲线单独作为一条，并增加了校验内容要求。二十、无用射线和散射线屏蔽JB/T4730-2

8、005明确了何种情况下应进行背散射防护检查，增加了背散射检查的方法和防护措施，完善了JB/4730-1994标准的规定。 规定每隔900放置一个，需放四个。 （4）JB/T4730-2005规定了采用源置于球心的球罐对接焊接接头全景曝光的像质计数量及放置位置。而JB4730-1994中未作规定。 （5） JB/T4730-2005规定了一次曝光连续排列的多张胶片的像质计数量及放置位置。而JB/4730-1994中未作规定。 （6） JB/T4730-2005规定在邻近焊缝的母材金属区观测金属丝影像，而JB/4730-1994标准规定是在焊缝区观测金属丝影像。 二十二、标记JB/T4730-20

9、05按照标记的组成、构成、使用、要求重新组织了规定内容，并补充了标记符号本身的制作要求内容，消除了JB4730-1994标准规定不完整的不足。二十四、评片要求（1）JB/T4730-2005增加了评片人员对评片前暗适应的规定。（2） JB/T4730-2005规定底片黑度D2.5时，透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2，而不是JB4730-1994规定的30cd/m2。这一规定符合实际，与国外规定一致。（3） JB/T4730-2005简化了JB/4730-1994对底片评定范围规定的叙述，便于标准的工程应用。二十五、底片质量（1）对像质计影像位置和标记的要求， JB/T4730-2

10、005与JB/4730-1994基本相同。（2） JB/T4730-2005规定的底片黑度范围比JB/4730-1994有较大提高。且对X射线和r射线底片采用统一黑度下限值，改变了JB4730-1994分别对X和r射线规定不同下限值的做法。（3）用X射线透照小径管或其他截面厚度变化大的工作，其最低黑度允许降低的规定、多胶片方法的底片黑度的规定、灯亮度能够满足要求黑度D4.0的底片允许进行评定的规定，均为新规定， JB/4730-1994无类似规定。二十六、底片的像质计灵敏度（1）要求达到的射线照相灵敏度依据公称厚度T或透照厚度W给出，不计焊缝余高，对带垫板焊缝不计垫板厚度。（2） JB/T47

11、30-2005要求在邻近焊缝的母材区域观测金属丝，这与原JB4730强调从焊缝区域观测金属丝明显不同。（3）按透照方式和像质计摆放位置，用3张表给出要求达到的像质指数。即：单壁透照、像质计置于源侧时应符合表5的规定；双壁双影透照、像质计置于源侧时应符合表6的规定；双壁单影或双壁双影透照、像质计置于胶片侧时应符合表7的规定。二十八、承压设备熔化焊对接接头射线检测质量分级（1）将原质量分级规定扩展到锅炉产品。（2）理顺标准结构，将JB4730-1994标准中涉及射线照相检验技术的内容全部移出。（3）以缺陷类型、质量分级依据、质量分级的一般规定等层次，重新编写了有关条文。加强了缺陷评定区的概念。（4）按照缺陷对性能影响与工艺过程对性能影响的考虑，增加了对圆形缺陷放松的规定条文。（5）考虑到JB4730-1994标准多年应用的实际情况，删