屏蔽效能测试方案

RIGOL屏蔽效能测试方案

TestingSolutionsofShieldingEffectivenessRIGOL屏蔽效能测试方案

TestingSolutio背景电磁辐射：一种新的污染电子设备对外辐射电子设备受外界电磁干扰对人体电磁辐射的危害电磁信息泄漏：危害国家政治、军事及经济信息安全……屏蔽机理反射效应吸收效应屏蔽效果分类SE(dB)00-1010-3030-6060-90>90屏蔽效果无差较差中等良好优背景电磁辐射：一种新的污染SE(dB)00-1010-303应用领域电磁屏蔽材料屏蔽材料吸波材料电磁屏蔽漆柔性屏蔽织物（电磁屏蔽防护服、屏蔽帐篷、屏蔽幕帘、屏蔽炮衣）特种电磁屏蔽混凝土IC芯片封装……电磁屏蔽室全电波暗室、半电波暗室、EMC屏蔽室、混响室医疗成像和治疗设施（磁共振成像MRI/医用X射线摄影/计算机断层扫描CT）屏蔽箱、电波暗箱、TEM/GTEM小室军用方舱（军车、舰船屏蔽舱室）电磁屏蔽机柜、屏蔽操作台……应用领域电磁屏蔽材料应用领域应用领域应用领域应用领域什么是屏蔽效能(ShieldingEffectiveness)？定义：在同一激励电平下，有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率或电压之比，并以对数表示。SE=20lg（V0/V1）=10lg（P0/P1）式中，SE—屏蔽效能，dB； V0—无屏蔽材料时的接收电压；

V1—有屏蔽材料时的接收电压； P0—无屏蔽材料时的接收功率；

P1—有屏蔽材料时的接收功率。什么是屏蔽效能(ShieldingEffectivenes屏蔽效能典型测试结果屏蔽效能典型测试结果标准法规SJ20524:1995材料屏蔽效能的测量方法GJB6190:2008电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法GB/T25471:2010电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法GB/T12190:2006电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法GJB6785-2009军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法GJB3039:1997舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法IEEEStd299:2006IEEEstandardmethodformeasuringtheeffectivenessofelectromagneticshieldingenclosures.ASTMD4935:2010StandardTestMethodforMeasuringtheElectromagneticShieldingEffectivenessofPlanarMaterials.IEEEStd1302:2008IEEEGuidefortheElectromagneticCharacterizationofConductiveGasketsintheFrequencyRangeofDCto18GHz.MIL-DTL-83528C:2001GasketingMaterial，Conductive，ShieldingGasket，Electronic，Elastomer，EMI/RFI.SAEARP1173：2004TestproceduretomeasuretheRFshieldingcharacteristicspfEMIgaskets.SAEARP1705A:2006Coaxialtestproceduretomeasure

theRFshieldingcharacteristicsofEMIgasketmaterials.DESC92017DEFSTAN59-103标准法规SJ20524:1995材料屏蔽效能的测量方法屏蔽效能测试方法屏蔽效能测试方法法兰同轴测试法（频谱分析仪+射频信号源）频率范围：30MHz～1.5GHz试样厚度：小于等于10mm可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能参考试样负载试样法兰同轴测试法（频谱分析仪+射频信号源）频率范围：30MHz法兰同轴测试法（频谱分析仪+跟踪源）频率范围：30MHz～1.5GHz试样厚度：小于等于10mm可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能参考试样负载试样法兰同轴测试法（频谱分析仪+跟踪源）频率范围：30MHz～1法兰同轴测试法-试样制备法兰同轴测试法-试样制备法兰同轴测试法-推荐配置

项目制造商型号设备名称备注方案一1RigolDSA800/DSA1000频谱分析仪

2DSG3000射频信号源

3北京鼎容实创DR-S01+测试支架法兰同轴屏蔽效能测试装置二选一DR-S02法兰同轴屏蔽效能测试仪4RigolRFAttenuatorKit10dB衰减器*26dB亦可5RigolCB-NM-NM-75-L-12G射频连接电缆*2N公头-N公头方案二1RigolDSA800+TG

或DSA1000+TG频谱分析仪，带跟踪源

2北京鼎容实创DR-S01+测试支架法兰同轴屏蔽效能测试装置二选一DR-S02法兰同轴屏蔽效能测试仪3RigolRFAttenuatorKit10dB衰减器*26dB亦可4RigolCB-NM-NM-75-L-12G射频连接电缆*2N公头-N公头法兰同轴测试法-推荐配置项目制造商型号设备名称备注方案一1屏蔽室窗口测试法屏蔽室窗口测试法屏蔽暗箱窗口测试法屏蔽暗箱窗口测试法双TEM室测试法双TEM室测试法快沿电磁脉冲时域测试（法兰同轴测试法）参考试样负载试样快沿电磁脉冲时域测试（法兰同轴测试法）参考试样快沿电磁脉冲时域测试（GTEM小室测试法）快沿电磁脉冲时域测试（GTEM小室测试法）ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法（近场）ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法（近场）ASTM-ES-7同轴传输线测试法（远场）ASTM-ES-7同轴传输线测试法（远场）改进的MIL-STD-285测试法（近场）改进的MIL-STD-285测试法（近场）屏蔽室屏蔽效能测试频率测试频率表低频段测量（9kHz-20MHz）谐振频段测量（20MHz-300MHz）高频段测量（300MHz-1GHz）高频段测量（1GHz-18GHz）

屏蔽室屏蔽效能测试频率测试频率表屏蔽室屏蔽效能测试频率测试频率应该参考国家或军队无线电管理机构提供的频率列表

建议从供工业、科学和医疗设备（ISM）使用的频率或推荐频率表选择

屏蔽室屏蔽效能测试频率测试频率应该参考国家或军队无线电管理屏蔽室低频段测量（9kHz-20MHz）屏蔽室低频段测量（9kHz-20MHz）屏蔽室谐振频段测量（20MHz-300MHz）屏蔽室谐振频段测量（20MHz-300MHz）屏蔽室高频段测量（300MHz-1GHz）屏蔽室高频段测量（300MHz-1GHz）屏蔽室高频段测量（1GHz-18GHz）屏蔽室高频段测量（1GHz-18GHz）推荐配置DSA800/1000 频谱分析仪DSG3000 射频信号源射频功放（可选）天线：低频：环天线谐振：双锥天线高频300MHz-1GHz：

发射：半波长偶极子天线

接收：八分之一波长偶极子天线高频1GHz-18GHz：

喇叭天线推荐配置DSA800/1000 频谱分析仪典型测试案例-IC芯片封装（集成电路天线测量法）典型测试案例-IC芯片封装（集成电路天线测量法）典型测试案例-防电磁辐射服装典型测试案例-防电磁辐射服装ThankYou!ThankYou!RIGOL屏蔽效能测试方案

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TestingSolutio背景电磁辐射：一种新的污染电子设备对外辐射电子设备受外界电磁干扰对人体电磁辐射的危害电磁信息泄漏：危害国家政治、军事及经济信息安全……屏蔽机理反射效应吸收效应屏蔽效果分类SE(dB)00-1010-3030-6060-90>90屏蔽效果无差较差中等良好优背景电磁辐射：一种新的污染SE(dB)00-1010-303应用领域电磁屏蔽材料屏蔽材料吸波材料电磁屏蔽漆柔性屏蔽织物（电磁屏蔽防护服、屏蔽帐篷、屏蔽幕帘、屏蔽炮衣）特种电磁屏蔽混凝土IC芯片封装……电磁屏蔽室全电波暗室、半电波暗室、EMC屏蔽室、混响室医疗成像和治疗设施（磁共振成像MRI/医用X射线摄影/计算机断层扫描CT）屏蔽箱、电波暗箱、TEM/GTEM小室军用方舱（军车、舰船屏蔽舱室）电磁屏蔽机柜、屏蔽操作台……应用领域电磁屏蔽材料应用领域应用领域应用领域应用领域什么是屏蔽效能(ShieldingEffectiveness)？定义：在同一激励电平下，有屏蔽材料与无屏蔽材料时所接收到的功率或电压之比，并以对数表示。SE=20lg（V0/V1）=10lg（P0/P1）式中，SE—屏蔽效能，dB； V0—无屏蔽材料时的接收电压；

V1—有屏蔽材料时的接收电压； P0—无屏蔽材料时的接收功率；

P1—有屏蔽材料时的接收功率。什么是屏蔽效能(ShieldingEffectivenes屏蔽效能典型测试结果屏蔽效能典型测试结果标准法规SJ20524:1995材料屏蔽效能的测量方法GJB6190:2008电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法GB/T25471:2010电磁屏蔽涂料的屏蔽效能测量方法GB/T12190:2006电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法GJB6785-2009军用电子设备方舱屏蔽效能测试方法GJB3039:1997舰船屏蔽舱室要求和屏蔽效能测试方法IEEEStd299:2006IEEEstandardmethodformeasuringtheeffectivenessofelectromagneticshieldingenclosures.ASTMD4935:2010StandardTestMethodforMeasuringtheElectromagneticShieldingEffectivenessofPlanarMaterials.IEEEStd1302:2008IEEEGuidefortheElectromagneticCharacterizationofConductiveGasketsintheFrequencyRangeofDCto18GHz.MIL-DTL-83528C:2001GasketingMaterial，Conductive，ShieldingGasket，Electronic，Elastomer，EMI/RFI.SAEARP1173：2004TestproceduretomeasuretheRFshieldingcharacteristicspfEMIgaskets.SAEARP1705A:2006Coaxialtestproceduretomeasure

theRFshieldingcharacteristicsofEMIgasketmaterials.DESC92017DEFSTAN59-103标准法规SJ20524:1995材料屏蔽效能的测量方法屏蔽效能测试方法屏蔽效能测试方法法兰同轴测试法（频谱分析仪+射频信号源）频率范围：30MHz～1.5GHz试样厚度：小于等于10mm可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能参考试样负载试样法兰同轴测试法（频谱分析仪+射频信号源）频率范围：30MHz法兰同轴测试法（频谱分析仪+跟踪源）频率范围：30MHz～1.5GHz试样厚度：小于等于10mm可测试电磁屏蔽材料对平面波的屏蔽效能参考试样负载试样法兰同轴测试法（频谱分析仪+跟踪源）频率范围：30MHz～1法兰同轴测试法-试样制备法兰同轴测试法-试样制备法兰同轴测试法-推荐配置

项目制造商型号设备名称备注方案一1RigolDSA800/DSA1000频谱分析仪

2DSG3000射频信号源

3北京鼎容实创DR-S01+测试支架法兰同轴屏蔽效能测试装置二选一DR-S02法兰同轴屏蔽效能测试仪4RigolRFAttenuatorKit10dB衰减器*26dB亦可5RigolCB-NM-NM-75-L-12G射频连接电缆*2N公头-N公头方案二1RigolDSA800+TG

或DSA1000+TG频谱分析仪，带跟踪源

2北京鼎容实创DR-S01+测试支架法兰同轴屏蔽效能测试装置二选一DR-S02法兰同轴屏蔽效能测试仪3RigolRFAttenuatorKit10dB衰减器*26dB亦可4RigolCB-NM-NM-75-L-12G射频连接电缆*2N公头-N公头法兰同轴测试法-推荐配置项目制造商型号设备名称备注方案一1屏蔽室窗口测试法屏蔽室窗口测试法屏蔽暗箱窗口测试法屏蔽暗箱窗口测试法双TEM室测试法双TEM室测试法快沿电磁脉冲时域测试（法兰同轴测试法）参考试样负载试样快沿电磁脉冲时域测试（法兰同轴测试法）参考试样快沿电磁脉冲时域测试（GTEM小室测试法）快沿电磁脉冲时域测试（GTEM小室测试法）ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法（近场）ASTM-ES-7双屏蔽盒测试法（近场）ASTM-ES-7同轴传输线测试法（远场）ASTM-ES-7同轴传输线测试法（远场）改进的MIL-STD-285测试法（近场）改进的MIL-STD-285测试法（近场）屏蔽室屏蔽效