索拉测试仪的使用课件_第1页
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文档简介

索拉测试仪软体程式的讲解一、文档资料的存储位置1.1、测试程式文档的存储位置:D:\eTester\Program\文件地址索拉测试仪软体程式的讲解一、文档资料的存储位置1.1、测试程11.2、测试数据文档的存储位置:D:\eTester\Result\xxxxxxx\(其中“xxxxxx”代表测试程式文件名,测试数据文档会保存在以测试程式文件名命名的一个文件夹下。)测试数据存放地址1.2、测试数据文档的存储位置:D:\eTester\11.3、料号数据文档的存储位置:D:\DSBJ_CSV(使用自动生成Bin名称功能时,必须要注意两点:a料号数据文档必须要放在“D:\DSBJ_CSV”目录下;b料号数据文档文件名必须与测试程式文件文件名一样。只有满足了上述两点要求,自动生成Bin名称的功能才有效。)料号文件放置地址1.3、料号数据文档的存储位置:D:\DSBJ_CSV1二、操作权限1.1、操作员权限1.1、无密码,可以查看测试程式内容、进行测试;不可以修改或新建程式文件、不可以修改系统设置。

1.2、管理员权限

初始密码为“sladmin”,可通过界面设置新密码。获得管理员权限后,可以修改或新建程式文件、更改系统设置。(solar测试仪最高权限密码为“slmnt”,请勿随意设置修改)二、操作权限1三、程式文件设置操作电源通道设置3.1、电源通道设置一般只需设置“芯片封装类型”和“COMMON”就可以了,下面的各通道的电源设置,在出厂时已经根据芯片已经设置完成的不需要更改。

芯片封装类型:即根据芯片的封装类型可确定芯片加电电源的设置。COMMON:即确定芯片的Com端是阳极还是阴极的设置。三、程式文件设置操作电源通道设置3.1、电源通道设置一般只需1四、项目设定4.1、ST1:站别设置;通过点击单选框“ST1”与“ST2”来设置测试站1和测试站2的测试项目。当测试仪硬件设备只有1站时,不可选。4.2、No.行:项目设置行;鼠标点中这行的一个单元格(该单元格的前一列要有数据[001除外]),双击鼠标左键,弹出下拉框,选中要设置的测试项目名即选定了测试项目;点击鼠标右键,可以详细设置测试项目的其他属性(项目详细)及等级,还可以对列操作(插入、复制、粘贴、删除)4.3、项目名:测试项目的名称;关于测试项目请参照附录说明:4.4、

测试通道:设置该项目在什么通道下测试,即在哪些引脚加电后测试。4.5、A电源:选择加电电源的量程及加电电流(电压)的大小。4.6、安定时间:设定加电时间。4.7、良品上(下)限:测试项目的良品范围;双击上限判定值的输入栏来选择测试档。4.8、通电保护:设置加电电流项目中电压的极限值。设置为0时,无极限值。4.9、补偿方式:根据不同的项目做不同的补偿,有3种补偿方式。可设置为“无”(0)/“平均(a)”(1)/“平均(b)”(2)/“最小二乘法”(3)。4.10、波长仪设置:指定测试该光学项目时使用波长仪的哪种设置参数条件下进行测试。四、项目设定4.1、ST1:站别设置;通过点击单选框“ST114.11、特别说明:KC/KH为测试探针阻抗测试4.12、补偿方式说明:补偿方式1:Y=ax;(b=0)补偿方式2:Y=x+b;(a=1)补偿方式3:Y=ax+b。

测试项目的设定注意事项说明:4.13、极性的判定,双击“NO.”栏“001”,选择“POL”对极性进行判定4.14、测试通道为RGB三选其一均可4.15、“BIAS-O”为测试条件,极性判定电流为1.000mA(注意所选档位)4.16、“安定时间”不能太长或太短,可根据实际情况设定4.17、良品上下限根据治规编写,通电保护为5V(可根据产品实际测试电压做相应调整)4.18、补偿方式中,VF2补偿方式为2,IV补偿方式为1,主波长补偿方式为2,其他测试项目补偿方式为04.11、特别说明:KC/KH为测试探针阻抗测试测试项目的设1五、色度等级设置

5.1、可在等级分割坐标输入框内输入平行四边形的四点坐标,设置好分隔行列数后,然后点击【分割】按钮,最后点击【设置描绘】按钮,即可生成分割图形区域,也可以选择编辑模式,然后拖动矩形框到合适的位置,并且使用鼠标改变其形状和大小,其四个点的值会显示在等级分割坐标输入框内,可以手动编辑方框中的数据用于微调,设置好坐标后即可等分色度区域,在编辑模式中的平行四边形可通过按住鼠标左键进行拖拽,移动四边形的顶点,边以及整体位置。

5.2、在非编辑模式下,按住鼠标左键进行拖拽,可对色度图进行局部放大缩小。当按住左键从左上方往右下方方向拖拽时,对色度图进行局部放大操作;从右下方往左上方方向拖拽时,返回到初始色度图像大小状态;按住右键拖动可以移动整个色度图背景。邻接点连接(勾选中时)分割后生成的等级坐标值里,将含有相同值的点(邻接点)连接在一起,如更改其中一点的值,其他点的值也会被同步修改。

如分割区域不是等分或是不规则的,可直接在下方等级区域的设置坐标文本框内输入对应的四边形坐标即可。五、色度等级设置5.1、可在等级分割坐标输入框内输入平行四1六、Bin分类设置6.1、注意点:

a.NG的项目与良品等级内的项目不能设置在同一个Bin条件中。b.一般项目等级之间使用“AND”关系,即“与”的关系,不使用“或”。c.编辑项目等级时要注意该等级的逻辑判断,是“等于”还是“不等于”。12六、Bin分类设置6.1、注意点:121七、波长仪设定7.1、可对波长仪设置多个曝光时间、背光测试次数、测试次数、第二波长测试范围组合。最多可设置十种组合,然后在项目设置的可对每个波长项目设定对应的波长仪设置组合,测试时就会自动切换波长仪的测试参数。曝光时间可根据不同产品设定七、波长仪设定7.1、可对波长仪设置多个曝光时间、背光测试次1八、补偿设定8.1、先在ST的下拉列表中对ST进行选择,然后在项目下拉列表中选择补偿项目。8.2、在相应的文本框中可对补偿系数、样品值、误差范围进行设置。可根据样品值和允许误差值对其进行补偿设定八、补偿设定8.1、先在ST的下拉列表中对ST进行选择,然后1九、测试项目说明9.1、IF正方向电流测试:施加一定的正向电压(VF)在DUT两端,根据此时正向电流(IF)的测量值来判断是否合格。9.2、IR反方向电流测试:施加一定的反向电压(VR)在DUT两端,根据此时反向电流(IR)的测量值来判断是否合格。9.3、VF正方向电压测试:施加一定的正向电流(IF)在DUT两端,根据此时正向电压(VF)的测量值来判断是否合格。9.4、VR反方向电压测试 :施加一定的反向电流(IR)在DUT两端,根据此时反向电压(VR)的测量值来判断是否合格。9.5、KHKelvinCheck:CH1端施加一定的电流在DUT的CH1端的F(Force),S(Sense)之间,根据此时产生的电压的测量值来判断是否合格。(在F,S完全短路的情况下也可以测量一定的电压。)9.6、KCKelvinCheck:COM端 施加一定的电流在DUT的COM端的F(Force),S(Sense)之间,根据此时产生的电压的测量值来判断是否合格。(在F,S完全短路的情况下也可以测量一定的电压。)九、测试项目说明9.1、IF正方向电流测试:施加一定的正19.7、POL极性判定:加电流测电压根据正方向电压(VF)的测试值来判断DUT的极性。9.8、IV亮度测试:加电流施加一定的正向电流(IF)在DUT上,测量其发出的亮度值来判断是否合格。注意IV项目设定时有一放大倍率和档位,档位不同,测试结果的单位就不同,可根据实际情况调整放大倍率

9.9、Lm流明测试:加电流施加一定的正向电流(IF)在DUT上,测量其发出的流明值来判断是否合格。9.7、POL极性判定:加电流测电压根据正方向电压(V1十、波长仪测试项目10.1、以下为波长测试项目:

WL-D主波长

WL-P

峰值波长

WL-2P第二峰值波长

PkH

峰值高度

2PkH

第二峰值高度

2P/P

第二峰值与峰值的高度比

CIE-x XY色度坐标x CIE-y XY色度坐标y CIE-u UV色度坐标u CIE-v UV色度坐标v FWHM 半幅值

PUR 刺激纯度

LY 辉度(三刺激值的Y、相对值)

R1~R9、Ra显色指数(演色指数)

Ra:是前8种颜色显色指数的平均值。十、波长仪测试项目10.1、以下为波长测试项目:1十一、运算项目以下为运算项目:以下运算式中所有的N,M都代表参照项目的测试值,所得的运算结果为本运算项目的结果值,其中M项目的数值与ST项目的数值组合后设定参照项目。u ABSN

绝对值运算u N+M 加法运算 u N-M 减法运算u N*M 乘法运算 u N/M 除法运算u REF 克隆指定项目,用来参与运算项目。 u MAX 求指定2个项目的最大值 u MIN 求指定2个项目的最小值 u CIE-xy

对指定的XY色度座标项目(CIE-x,CIE-y)的测试值进行等级分类。(输入4点座标)u CIE-uv

对指定的UV色度座标项目(CIE-u,CIE-v)的测试值进行等级分类。(输入4点座标)u SDCM色容差十一、运算项目以下为运算项目:1十二、索拉测试仪的校正12.1、波长仪的设定,不同产品设定不同,曝光时间不得随意更改,更改后必须重新校正方能生产。12.2、补偿系数设定,将测试项目样管值依次输入,完成后点击保存,在测试软体中打开对应的测试程式,对测试仪进行校正。十二、索拉测试仪的校正12.1、波长仪的设定,不同产品设定不112.3、打开测试软体,选择对应测试程式打开12.4、点击样品测试,确定,进入测试仪校正画面12.3、打开测试软体,选择对应测试程式打开112.5、进入样品测试界面,确认样品值是否正确,点击开始测试;12.6、进入机台手动界面,将样品正位后转到ST1,点击“一周期”,点击“锁定”+“+1回转”,点击“一周期”,重复此动作,直到样品到达ST2点击“一周期”后停止,保存系数,完成校正12.7、将测试仪显示界面切换到测试程式设置界面,点击保存,后续关机再开机时,若是生产同一机种时可不用校正,直接开机生产。12.5、进入样品测试界面,确认样品值是否正确,点击开始测试1苏州东山精密制造股份有限公司SuzhouDongshanPrecisionManufacturingCo.,Ltd苏州东山精密制造股份有限公司苏州东山精密制造股份有限公司LED事业部维护部制作人:刘义苏州东山精密制造股份有限公司苏州东山精密制造股份有限公司苏州1索拉测试仪软体程式的讲解一、文档资料的存储位置1.1、测试程式文档的存储位置:D:\eTester\Program\文件地址索拉测试仪软体程式的讲解一、文档资料的存储位置1.1、测试程11.2、测试数据文档的存储位置:D:\eTester\Result\xxxxxxx\(其中“xxxxxx”代表测试程式文件名,测试数据文档会保存在以测试程式文件名命名的一个文件夹下。)测试数据存放地址1.2、测试数据文档的存储位置:D:\eTester\11.3、料号数据文档的存储位置:D:\DSBJ_CSV(使用自动生成Bin名称功能时,必须要注意两点:a料号数据文档必须要放在“D:\DSBJ_CSV”目录下;b料号数据文档文件名必须与测试程式文件文件名一样。只有满足了上述两点要求,自动生成Bin名称的功能才有效。)料号文件放置地址1.3、料号数据文档的存储位置:D:\DSBJ_CSV1二、操作权限1.1、操作员权限1.1、无密码,可以查看测试程式内容、进行测试;不可以修改或新建程式文件、不可以修改系统设置。

1.2、管理员权限

初始密码为“sladmin”,可通过界面设置新密码。获得管理员权限后,可以修改或新建程式文件、更改系统设置。(solar测试仪最高权限密码为“slmnt”,请勿随意设置修改)二、操作权限1三、程式文件设置操作电源通道设置3.1、电源通道设置一般只需设置“芯片封装类型”和“COMMON”就可以了,下面的各通道的电源设置,在出厂时已经根据芯片已经设置完成的不需要更改。

芯片封装类型:即根据芯片的封装类型可确定芯片加电电源的设置。COMMON:即确定芯片的Com端是阳极还是阴极的设置。三、程式文件设置操作电源通道设置3.1、电源通道设置一般只需1四、项目设定4.1、ST1:站别设置;通过点击单选框“ST1”与“ST2”来设置测试站1和测试站2的测试项目。当测试仪硬件设备只有1站时,不可选。4.2、No.行:项目设置行;鼠标点中这行的一个单元格(该单元格的前一列要有数据[001除外]),双击鼠标左键,弹出下拉框,选中要设置的测试项目名即选定了测试项目;点击鼠标右键,可以详细设置测试项目的其他属性(项目详细)及等级,还可以对列操作(插入、复制、粘贴、删除)4.3、项目名:测试项目的名称;关于测试项目请参照附录说明:4.4、

测试通道:设置该项目在什么通道下测试,即在哪些引脚加电后测试。4.5、A电源:选择加电电源的量程及加电电流(电压)的大小。4.6、安定时间:设定加电时间。4.7、良品上(下)限:测试项目的良品范围;双击上限判定值的输入栏来选择测试档。4.8、通电保护:设置加电电流项目中电压的极限值。设置为0时,无极限值。4.9、补偿方式:根据不同的项目做不同的补偿,有3种补偿方式。可设置为“无”(0)/“平均(a)”(1)/“平均(b)”(2)/“最小二乘法”(3)。4.10、波长仪设置:指定测试该光学项目时使用波长仪的哪种设置参数条件下进行测试。四、项目设定4.1、ST1:站别设置;通过点击单选框“ST114.11、特别说明:KC/KH为测试探针阻抗测试4.12、补偿方式说明:补偿方式1:Y=ax;(b=0)补偿方式2:Y=x+b;(a=1)补偿方式3:Y=ax+b。

测试项目的设定注意事项说明:4.13、极性的判定,双击“NO.”栏“001”,选择“POL”对极性进行判定4.14、测试通道为RGB三选其一均可4.15、“BIAS-O”为测试条件,极性判定电流为1.000mA(注意所选档位)4.16、“安定时间”不能太长或太短,可根据实际情况设定4.17、良品上下限根据治规编写,通电保护为5V(可根据产品实际测试电压做相应调整)4.18、补偿方式中,VF2补偿方式为2,IV补偿方式为1,主波长补偿方式为2,其他测试项目补偿方式为04.11、特别说明:KC/KH为测试探针阻抗测试测试项目的设1五、色度等级设置

5.1、可在等级分割坐标输入框内输入平行四边形的四点坐标,设置好分隔行列数后,然后点击【分割】按钮,最后点击【设置描绘】按钮,即可生成分割图形区域,也可以选择编辑模式,然后拖动矩形框到合适的位置,并且使用鼠标改变其形状和大小,其四个点的值会显示在等级分割坐标输入框内,可以手动编辑方框中的数据用于微调,设置好坐标后即可等分色度区域,在编辑模式中的平行四边形可通过按住鼠标左键进行拖拽,移动四边形的顶点,边以及整体位置。

5.2、在非编辑模式下,按住鼠标左键进行拖拽,可对色度图进行局部放大缩小。当按住左键从左上方往右下方方向拖拽时,对色度图进行局部放大操作;从右下方往左上方方向拖拽时,返回到初始色度图像大小状态;按住右键拖动可以移动整个色度图背景。邻接点连接(勾选中时)分割后生成的等级坐标值里,将含有相同值的点(邻接点)连接在一起,如更改其中一点的值,其他点的值也会被同步修改。

如分割区域不是等分或是不规则的,可直接在下方等级区域的设置坐标文本框内输入对应的四边形坐标即可。五、色度等级设置5.1、可在等级分割坐标输入框内输入平行四1六、Bin分类设置6.1、注意点:

a.NG的项目与良品等级内的项目不能设置在同一个Bin条件中。b.一般项目等级之间使用“AND”关系,即“与”的关系,不使用“或”。c.编辑项目等级时要注意该等级的逻辑判断,是“等于”还是“不等于”。12六、Bin分类设置6.1、注意点:121七、波长仪设定7.1、可对波长仪设置多个曝光时间、背光测试次数、测试次数、第二波长测试范围组合。最多可设置十种组合,然后在项目设置的可对每个波长项目设定对应的波长仪设置组合,测试时就会自动切换波长仪的测试参数。曝光时间可根据不同产品设定七、波长仪设定7.1、可对波长仪设置多个曝光时间、背光测试次1八、补偿设定8.1、先在ST的下拉列表中对ST进行选择,然后在项目下拉列表中选择补偿项目。8.2、在相应的文本框中可对补偿系数、样品值、误差范围进行设置。可根据样品值和允许误差值对其进行补偿设定八、补偿设定8.1、先在ST的下拉列表中对ST进行选择,然后1九、测试项目说明9.1、IF正方向电流测试:施加一定的正向电压(VF)在DUT两端,根据此时正向电流(IF)的测量值来判断是否合格。9.2、IR反方向电流测试:施加一定的反向电压(VR)在DUT两端,根据此时反向电流(IR)的测量值来判断是否合格。9.3、VF正方向电压测试:施加一定的正向电流(IF)在DUT两端,根据此时正向电压(VF)的测量值来判断是否合格。9.4、VR反方向电压测试 :施加一定的反向电流(IR)在DUT两端,根据此时反向电压(VR)的测量值来判断是否合格。9.5、KHKelvinCheck:CH1端施加一定的电流在DUT的CH1端的F(Force),S(Sense)之间,根据此时产生的电压的测量值来判断是否合格。(在F,S完全短路的情况下也可以测量一定的电压。)9.6、KCKelvinCheck:COM端 施加一定的电流在DUT的COM端的F(Force),S(Sense)之间,根据此时产生的电压的测量值来判断是否合格。(在F,S完全短路的情况下也可以测量一定的电压。)九、测试项目说明9.1、IF正方向电流测试:施加一定的正19.7、POL极性判定:加电流测电压根据正方向电压(VF)的测试值来判断DUT的极性。9.8、IV亮度测试:加电流施加一定的正向电流(IF)在DUT上,测量其发出的亮度值来判断是否合格。注意IV项目设定时有一放大倍率和档位,档位不同,测试结果的单位就不同,可根据实际情况调整放大倍率

9.9、Lm流明测试:加电流施加一定的正向电流(IF)在DUT上,测量其发出的流明值来判断是否合格。9.7、POL极性判定:加电流测电压根据正方向电压(V1十、波长仪测试项目10.1、以下为波长测试项目:

WL-D主波长

WL-P

峰值波长

WL-2P第二峰值波长

PkH

峰值高度

2PkH

第二峰值高度

2P/P

第二峰值与峰值的高度比

CIE-x XY色度坐标x CIE-y XY色度坐标y CIE-u UV色度坐标u CIE-v UV色度坐标v FWHM 半幅值

PUR 刺激纯度

LY 辉度(三刺激值的Y、相对值)

R1~R9、Ra显色指数(演色指数)

Ra:是前8种颜色显色指数的平均值。十、波长仪测试项目10.1、以下为波长测试项目:1

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