TQT500B程序编写指南

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测试程式编写指南V1.0周小文系统要示：

1、安装有WINDOWS98或DOS的电脑

2、电脑有安装TC3.0及TQT测试机软件系统（含系统工具及库文件）

3、自动批处理文件（AUTOEXEC.BAT）中要设好TC及TQT系统的路径。如TC及

TQT500B的系统文件放在D:\\盘，则在autoexec.bat文件中参与PATH=%PATH%;D:\\TC\\BIN;D:\\TQT500B\\SYS

指南说明：

1、指南使用TC的编辑环境，也可以使用其它的文本编辑器进行C文件及TQT文件

的编辑

2、指南使用的产品为CD4040D，规格书可以从网上下载，且只能作为参考，不能将

代码直接用于测试3、指南相关约定

a)TC3.0：D:\\TC

b)TQT500B系统：D:\\TQT500B\\SYS

c)测试产品：D:\\TQT500B\\PROD\\CD4040D（以产品名称建的目录）d)自动批处理的路径为：PATH=%PATH%;D:\\TC\\BIN;D:\\TQT500B\\SYSe)使用TQT500B测试机

C文件的编写：

1、从WINDOWS98进入DOS：鼠标单击：开始—》程序—》MS-DOS方式，出现DOS

提醒符

2、进入D盘：键入D:回车

3、进入到PROD目录：CD\\TQT500B\\PROD回车4、进入到对应产品目录：CDCD4040D回车。假使为新的则先建目录。MDCD4040D

回车。也可以先在WINDOWS98建好文件夹。

5、此时DOS命令行提醒：D:\\TQT500B\\PROD\\CD4040D>。6、开启TC集成环境：键入TC回车

7、新建一个C文件，或开启一个已有的C文件进行修改8、新建好C文件后，开始编写测试程式：

a)参与TQT500B系统头文件：include“TQT500B.H〞b)声明TQT500B系统的三个必需有的函数i.voidINIT(void);//测试程式初始化函数ii.voidMAIN_TEST(void);//测试程式主函数，所有测式项目都在它里面调用iii.voidEND_TEST(void);//测试终止函数，在测试FAIL时或是测试完主函数

中的所有项目后调用此函数。测试资源的复位代码可以放在这里。

9、写TQT500B系统的三个函数的主体。写完以后保存原程式。如CD4040D.C。假使

需要测试向量文件，再编写测试向量文件

TQT文件（测试向量）编写：

1、编写测试向量文件要根据IC的功能输出来写。

2、在TC的集成新建一个TQT文件（或者用其它的文本编辑器也可以）3、写测试向量指令：

a)向量文件第一行所使用的通道必需不小于整个向量所使用的通道。b)TQT500B向量命令：CYCLE、MATCH

c)TQT500B向量代码：0、1、X、L、H、Z。0、1用于输入通道，L、H、Z用

于输出通道。X输入输出通道都可以用，表示输出高阻态。d)编辑好向量文件后保存。如CD4040D.TQT

编译向量文件及C文件：

1、编译C文件：

a)输入CMP5CD4040D回车或CMP5CD4040D.C回车

b)查看编译结果，假使出现了ERROR的话，请根据提醒修改C文件直到没有

出现ERROR。假使出现WARNING，请根据提醒修改C文件，尽量不要有WARNING，但是它不影响EXE文件的生成。

2、编译TQT向量文件：（假使有的话）

a)输入TQT2PATCD4040D回车或TQT2PATCD4040D.TQT回车

b)查看编译结果：假使出现错误提醒请根据提醒修改TQT文件直到出现

“SUCCESS！〞。

调试产品，直到测试PASS。大功告成

测试方法：

1、O/S

检查ＰＡＤ接上否；管脚是否短路．

正向导通时，二极管一般都有一个较为稳定的压降。加电流，假使测量电压接近0V就是短路，接近钳位电压，则为开路。箭头方向为PMU加电流方向。电流方向的定义为：流出测试机为正，流入测试机为负。2、静态电流

这是测数字电路在静态时的电流。

3、测漏电流/上拉、下拉电阻

加电压，测电流。假使所加电压为VDD，则测得的就是对地的漏电流。加电压为0V时，测量的电流为对电源的漏电流。

4、测驱动能力

上拉电阻下拉电阻

PMU加电压测电流；或者加电流测电

压。

5、功能测试（测试向量）

测数字电路要加一些测试向量。也就是说写一些测试代码，输入测试机，使测试机产生一些需要的鼓舞。同时测数字电路的输出是否符合要求。

TQT500B函数分类

接口类：

设置有效电平：

SETBIN设定BIN接口输出的有效电平SETINK设定INK接口输出的有效电平SETEOT设定EOT接口输出的有效电平SETFAIL设定FAIL接口输出的有效电平SETSTART/SETST设定接收START的有效电平SETONWAFER设定接收onwafer的有效电平设置信号宽度：

SETBINWIDTH设定BIN信号的有效脉冲宽度SETINKWIDTH设定INK信号的有效脉冲宽度SETEOTWIDTH设定EOT信号的有效脉冲宽度设置时延：

SETBINTOEOTDLY设定BIN信号有效到EOT信号有效的时延SETINKTOEOTDLY设定INK信号有效到EOT信号有效的时延SETSTARTWAITTIME设定两个START之间的等待时间

设置一次就可以生效（含上面的接口类指令）：

SETALARMCOUNT设定连续FALL的报警数SETMAP可用RS-232连PROBE做MAP图TESTMODE可以屏蔽外部接口中的信号，EOW、STARTSETBINMODE设置BIN输出模式，参数填1，表示以二进

制方式输出BIN。否测以TTL方式输出

SETBINITEM设定BIN的提醒字符串

SETAUTO设定在接收到waferend信号后是否自动增加SETBINITEMSTR设置各BIN的描述字符DEVICE设定产品名称

VERSION设定测试程式的版本字符串SHOWVALUE程式设定是否显示PMU，DPS，TMU测量

值，默认不显示

LOAD（）加载测试图形到测试机

以上指令只要在INIT里调用一次，在整过测试过程中都有效。调试类函数：

REPEAT（“123〞，1，5）；REPEATOFF（）；

LEARNLEARN（“123〞，1，FEND）；