超声检测第六章习题

超声检测第四章设备与器材

太原理工大学材料科学与工程学院张红霞第六章

脉冲反射法超声检测通用技术习题一、是非题6.1多次底波法缺陷捡出灵敏度低于缺陷回波法。()6.2穿透法的最大优点是不存在盲区，但小缺陷容易漏检()6.3穿透法的灵敏度高于脉冲反射法。()6.4串列法探伤适用于检查垂直于探测面的平面缺陷。()6.5“灵敏度”意味着发现小缺陷的能力，因此超声波探伤灵敏度越高越好。()6.6所谓“幻影回波”，是由于探伤频率过高或材料晶粒粗大引起的。()×○○○××6.7当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。()6.8半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。()6.9串列式双探头法探伤即为穿透法。()6.10厚焊缝采用串列法扫查时，如焊缝余高磨平，则不存在死区。()6.11曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好。()6.12实际探伤中，为提高扫查速度减少杂波的干扰，应将探伤灵敏度适当降低。()×○××××6.13采用当量法确定的缺陷尺寸一般小于缺陷的实际尺寸。()6.14只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时，才能采用测长法确定缺陷长度。()6.15绝对灵敏度法测量缺陷指示长度时，测长灵敏度高，测得的缺陷长度大。()6.16当工件内存在较大的内应力时，将使超声波的传播速度及方向发生变化。()6.17超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而增高。()×○○○×6.18脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。()6.19液浸法检测适用于表面粗糙的试件，探头不易磨损，耦合稳定，检测结果重复性好，便于实现自动化检测。()6.20纵波法实质上就是使用直探头进行垂直入射检测的方法。()6.21管材和焊接接头的超声检测方法主要是垂直入射法，而横波法是垂直入射法的一种有效的辅助检测方法。()6.22超声波倾斜入射至缺陷表面时，缺陷反射波高随入射角的增大而减小。()○×○○○6.23手工超声检测法与自动超声检测法相比具有检测结果准确，重复性好的优点。()6.24超声检测方法中的单探头法和双探头法对于工件中缺陷的检出效果是一样的，两者的区别主要在探头的数量。()6.25仪器水平线性的好坏直接影响到对缺陷当量大小的判断。()6.26超声检测前应根据被检对象的形状、对超声波的衰减和检测技术要求等来选择探头。()6.27探头的选择包括探头的型式、频率、晶片尺寸、灵敏度余量和斜探头K值等。()×○××○6.28一般根据工件的形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择探头的型式，使声束轴线尽量与缺陷平行。()6.29实际检测中，检测面积大的工件时，为了提高检测效率宜采用小晶片探头。()6.30检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。()6.31超声耦合是指超声波在检测面上的声强透射率。()6.32曲面工件检测时，检测面曲率半径越小，耦合效果越好。()6.33对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。()○××○××6.34超声检测前，探伤仪校准的主要内容是仪器的扫描速度和检测系统的水平线性校准。()6.35横波扫查速度的校准方法有两种：水平调节法和深度调节法。()6.36模拟式超声波探伤仪横波检测较厚工件焊缝常用深度调节法进行校准。()6.37按水平距离校准横波扫描速度必须在CSK-ⅠA试块上进行。()6.38数字超声检测系统校准实际上就是探头入射零点的校准和K值测量。()6.39在焊接接头超声检测中，依据缺陷的静态波形可准确地判断缺陷性质。

()

○××○×○6.40灵敏度的基本要素是基准反射体的几何尺寸、基准反射体的最大探测距离、基准反射体的基准反射波高。()6.41在超声检测中，校准检测灵敏度的常用方法有波高比较法和曲线对比法。两者相比，波高比较法实际应用很方便，定量快速、准确。()6.42锻件利用试块法校准灵敏度主要应用于无底波、厚度尺寸小于3N的工件检测。()6.43用底波法校准灵敏度时，如底面粗糙或粘有水迹，将会使底波降低，这样利用底波校准的灵敏度将会降低，缺陷定量将会偏小。()6.44基准灵敏度和定量灵敏度是一回事。()○×○××二、选择题6.1采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A直探头探伤法B脉冲反射法

C斜探头探伤法D穿透法6.2超声检验中，当探伤面比较粗糙时，宜选用()A较低频探头B较粘的耦合剂

C软保护膜探头D以上都对6.3超声检验中，选用晶片尺寸大的探头的优点是()A曲面探伤时可减少耦合损失

B可减少材质衰减损失

C辐射声能大且能量集中D以上全部CDD6.4探伤时采用较高的探测频率，可有利于()A发现较小的缺陷B区分开相邻的缺陷

C改善声束指向性D以上全部6.5工件表面形状不同时耦合效果不一样，下面的说法中，哪点是正确的()A平面效果最好B凹曲面效果居中

C凸曲面效果最差D以上全部6.6缺陷反射声能的大小，取决于()A缺陷的尺寸B缺陷的类型

C缺陷的形状和取向D以上全部DAD6.7声波垂直入射到表面粗糙的缺陷时，缺陷表面粗糙度对缺陷反射波高的影响是：()A反射波高随粗糙度的增大而增加B无影响

C反射波高随粗糙度的增大而下降

D以上A和C都可能6.8如果声波在耦合介质中的波长为λ，为使透声效果好，耦合层厚度为()Aλ/4的奇数倍Bλ/2整数倍

C小于λ/4且很薄D以上B和C6.9表面波探伤时，仪器荧光屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表()A缺陷深度B缺陷至探头前沿距离

C缺陷声程D以上都可以CDB6.10探头沿圆柱曲面外壁作周向探测时，如仪器用平试块按深度1:1调扫描，下面哪种说法正确()A缺陷实际径向深度总是小于显示

B显示的水平距离总是大于实际孤长

C显示值与实际值之差，随显示值的增加而减小

D以上都正确6.11采用底波高度法(F/B百分比法)对缺陷定量时，下面哪种说法正确?()AF/B相同，缺陷当量相同

B该法不能给出缺陷的当量尺寸

C适用于对尺寸较小的缺陷定量

D适于对密集性缺陷的定量AB6.13采用下列何种频率的直探头在不锈钢大锻件超探时，可获得较好的穿透能力：()A1.25MHzB2.5MHzC5MHzD10MHz6.14在用5MHzΦ10晶片的直探头作水浸探伤时，水层厚度为20mm，此时在钢工件中的近场区长度还有：()A10.7mmB1.4mmC16.3mmD以上都不对6.15使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：()A小于实际尺寸B接近声束宽度

C稍大于实际尺寸D等于晶片尺ACB6.16端点衍射波主要用于测定：()A缺陷的长度B缺陷的性质

C缺陷的位置D缺陷的高度6.17从A型显示荧光屏上不能直接获得缺陷性质信息。超声探伤对缺陷的定性是通过下列方法来进行：()A精确对缺陷定位B精确测定缺陷形状

C测定缺陷的动态波形D以上方法须同时使用6.18单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：()A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声

C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声DDB6.19确定脉冲在时基线上的位置应根据：()A脉冲波峰B脉冲前沿C脉冲后沿D以上都可以6.20用实测折射角71°的探头探测板厚为25mm的对接焊缝，荧光屏上最适当的声程测定范围是：()A100mmB125mmC150mmD200mm6.21在频率一定和材料相同情况下，横波对小缺陷探测灵敏度高于纵波的原因是：()A横波质点振动方向对缺陷反射有利

B横波探伤杂波少

C横波波长短D横波指向性好BDC6.23在厚焊缝斜探头探伤时，一般宜使用什么方法标定仪器时基线?()A水平定位法B深度定位法

C声程定位法D一次波法6.24在中薄板焊缝斜探头探伤时，宜使用什么方法标定仪器时基线?()A水平定位法B深度定位法

C声程定位法D二次波法6.25对圆柱形筒体环缝探测时的缺陷定位应：()A按平板对接焊缝方法

B作曲面定位修正

C使用特殊探头

D视具体情况而定采用各种方法BAA6.26在筒身外壁作曲面周向探伤时(r,R为筒体的内、外半径)，斜探头（β为折射角）的临界角应满足：()Asinβ≤r/RBsinβ≥r/RCtg

β≤r/RDtgβ≥r/R6.27在筒身外壁作曲面周向探伤时，缺陷的实际深度比按平板探伤时所得读数：()A大B小C相同D以上都可能6.28在筒身内壁作曲面周向探伤，所得缺陷的实际深度比按平板探伤时的读数：()A大B小C相同D以上都可能ABA6.29在筒身外壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()A大B小C相同D以上都可能6.30在筒身内壁作曲面周向探伤时，实际的缺陷前沿距离比按平板探伤时所得读数()A大B小C相同D以上都可能6.31为保证易于探出垂直于焊缝表面的平面型缺陷，凹曲面周向斜探头探伤应选用()A小K值探头B大K值探头

C软保护膜探头D高频探头ABB6.32在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置，其原因是：()A侧面反射波带来干涉

B探头太大，无法移至边缘

C频率太高D以上都不是6.33用斜探头检测厚焊缝时，为提高缺陷定位精度可采取措施是：()A提高探头声束指向性B校准仪器扫描线性

C提高探头前沿长度和K值测定精度

D以上都对6.34当量大的缺陷实际尺寸：()A一定大B不一定大

C一定不大D等于当量尺寸ADA6.35当量小的缺陷实际尺寸：()A一定小B不一定小

C一定不小D等于当量尺寸6.36在超声探伤时，如果声束指向不与平面缺陷垂直，则缺陷尺寸一定时，缺陷表面越平滑反射回波越：()A大B小C无影响D不一定6.37当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越：()A大B小C无影响D不一定BBB6.38焊缝探伤中一般不宜选用较高频率是因为频率越高：()A探头及平面缺陷型缺陷指性向越强，缺陷方向不利就不易探出

B裂纹表面不光洁对回波强度影响越大

C杂波太多

DAB都对6.39厚度为600mm的铝试件，用直探头测得一回波的传播时间为165，若纵波在铝中声速为6300m/s则此回波是：()A底面回波B底面二次回波

C缺陷回波D迟到回波DC6.40直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生：()A底面回波降低或消失B底面回波正常

C底面回波变宽D底面回波变窄6.41直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5dB，材质衰减均为0.01dB/mm(双程)，今将前者底面回波调至满幅(100%)高，则后者的底面回波应是满幅度的：()A40%B20%C10%D5%AC6.42厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度分别进行探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：()A两个缺陷当量相同

B材质衰减大的锻件中缺陷当量小

C材质衰减小的锻件中缺陷当量小

D以上都不对6.43在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在?()A缺陷回波B底波或参考回波的减弱或消失

C接收探头接收到的能量的减弱

DAB都对BD6.44在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：()A耦合不良

B存在与声束不垂直的平面缺陷

C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

D以上都是6.45在直探头探伤时，发现缺陷回波不高，但底波降低较大，则该缺陷可能是：()A与表面成较大角度的平面缺陷

B反射条件很差的密集缺陷

CAB都对

DAB都不对DC6.46影响直接接触法耦合损耗的原因有：()A耦合层厚度，超声波在耦合介质中的波长及耦合介质声阻抗B探头接触面介质声阻抗C工件被探测面材料声阻抗D以上都对6.47被检工件晶粒粗大，通常会引起：()A草状回波增多；B信噪比下降；C底波次数减少；D以上全部。6.48为减少凹面探伤时的耦合损耗,通常采用以下方法：()A使用高声阻抗耦合剂B使用软保护膜探头C使用较低频率和减少探头耦合面尺寸D以上都可以DDD6.49在平整光洁表面上作直探头探伤时宜使用硬保护膜探头，因为这样：()A虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声

B脉冲窄，探测灵敏度高

C探头与仪器匹配较好

D以上都对6.50应用有人工反射体的参考试块主要目的是：()A作为探测时的校准基准，并为评价工件中缺陷严重程度提供依据

B为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具

C为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证

D提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体BA6.51下面哪种参考反射体与入射声束角度无关：()A平底孔

B平行于探测面且垂直于声束的平底槽

C平行于探测面且垂直于声束的横通孔

D平行于探测面且垂直于声束的V型缺口6.52测定材质衰减时所得结果除材料本身衰减外，还包括：()A声束扩散损失B耦合损耗

C工件几何形状影响D以上都是CD6.54换能器尺寸不变而频率提高时：()A横向分辨力降低B声束扩散角增大

C近场区增大D指向性变钝6.55在确定缺陷当量时，通常在获得缺陷的最高回波时加以测定，这是因为：()A只有当声束投射到整个缺陷反射面上才能得到反射回波最大值

B只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值

C只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值

D人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准BA6.56考虑灵敏度补偿的理由是：()A被检工件厚度太大B工件底面与探测面不平行

C耦合剂有较大声能损耗

D工件与试块材质、表面光洁度有差异6.57探测粗糙表面的工件时，为提高声能传递，应选用：()A声阻抗小且粘度大的耦合剂

B声阻抗小且粘度小的耦合剂

C声阻抗大且粘度大的耦合剂D以上都不是6.58超声容易探测到的缺陷尺寸一般不小于：()A波长的一半B一个波长

C四分之一波长D若干个波长DCA6.59与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：()A单斜探头法B单直探头法

C双斜探头前后串列法D分割式双直探头法6.60探测距离均为100mm的底面，用同样规格直探头以相同灵敏度探测时，下列哪种底面回波最高。()A与探测面平行的大平底面BR200的凹圆柱底面

CR200的凹球底面DR200的凸圆柱底面6.61锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于()A工件中有大面积倾斜缺陷B工件材料晶粒粗大

C工件中有密集缺陷D以上全部CCB6.62直径为d的钢棒径向探伤时，迟到波出现的位置是()A1.3d和1.76dB1.67d和1.76dC1.3d和1.67dD以上都不是6.63下面有关61°反射波的说法，哪一点是错误的?()A产生61°反射时，纵波入射角与横波反射角之和为90°B产生61°反射时，纵波入射角为61°横波反射角为29°C产生61°反射时，横波入射角为29°，纵波反射角为61°D产生61°反射时，其声程是恒定的CC6.64长轴类锻件从端面作轴向探测时，容易出现的非缺陷回波是()A三角反射波B61°反射波

C轮廓回波D迟到波6.65方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()A平行且靠近探测面B与声束方向平行

C与探测面成较大角度D平行且靠近底面6.66缺陷反射声压的大小取决于：()A缺陷反射面大小B缺陷性质

C缺陷取向D以上全部DCD三、计算题6.1在厚度T=200mm的试块上校准纵波扫描速度，若B2对准50,B4对准100。计算这时的扫描速度为多少？此时B1

、B3

分别对准的水平刻度值为多少？解:已知：T=200mm；=50；=100(1)扫描速度比由1:n=:4X=100:4×200

则:n=200*4/100=8(2)求B1、B3的位置；；

B1对应的水平刻度值:=T1/n=200/8=25