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PAGEPAGE36实验五集成运算放大器参数测试一、实验目的：1．通过对集成运算放大器741参数的测试，了解集成运算放大器组件主要参数的定义和表示方法。2．掌握运算放大器主要参数的测试方法。二、实验原理：集成运算放大器是一种使用广泛的线性集成电路器件，和其它电子器件一样，其特性是通过性能参数来表示的。集成电路生产厂家为描述其生产的集成电路器件的特性，通过大量的测试，为各种型号的集成电路制定了性能指标。运算放大器的性能参数可以使用专用的测试仪器进行测试（“运算放大器性能参数测试仪”），也可以根据参数的定义，采用一些简易的方法进行测试。本次实验是学习使用常规仪表，对运算放大器的一些重要参数进行简易测试的方法。实验中采用的集成运算放大器型号为741，其引脚排列如图5.1所示。它是一种八脚双列直插式器件，其引脚定义如下：图5图5.1741引脚②反相输入端；③同相输入端；④电源负极；⑥输出端；⑦电源正极；⑧空脚。以下为主要参数的测试方法：1．输入失调电压：理想运算放大器，当输入信号为零时其输出也为零。但在真实的集成电路器件中，由于输入级的差动放大电路总会存在一些不对称的现象（由晶体管组成的差动输入级，不对称的主要原因是两个差放管的UBE不相等），使得输入为零时，输出不为零。这种输入为零而输出不为零的现象称为“失调”。为讨论方便，人们将由于器件内部的不对称所造成的失调现象，看成是由于外部存在一个误差电压而造成，这个外部的误差电压叫做“输入失调电压”，记作UIO或VOS。输入失调电压在数值上等于输入为零时的输出电压除以运算放大器的开环电压放大倍数：式中：UIO—输入失调电压UOO—输入为零时的输出电压值Aod—运算放大器的开环电压放大倍数图5.2UIO，IIO测试电路本次实验采用的失调电压测试电路如图5.2所示。闭合开关K1及K2，使电阻RB短接，测量此时的输出电压U图5.2UIO，IIO测试电路实际测出的UO1可能为正，也可能为负，高质量的运算放大器UIO一般在1mV以下。测试中应注意：①要求电阻R1和R2，R3和RF的阻值精确配对。2．输入失调电流IIO当输入信号为的零时，运放两个输入端的输入偏置电流之差称为输入失调电流，记为IIO（有的资料中使用符号IOS）。式中：IB1，IB2分别是运算放大器两个输入端的输入偏置电流。输入失调电流的大小反映了运放内部差动输入级的两个晶体管的失配度，由于IB1，IB2本身的数值已很小（μA或nA级），因此它们的差值通常不是直接测量的，测试电路如图5.2所示，测试分两步进行：1）闭合开关K1及K2，将两个RB短路。在低输入电阻下，测出输出电压UO1，如前所述，这是输入失调电压UIO所引起的输出电压。2）断开K1及K2,将输入电阻RB接入两个输入端的输入电路中，由于RB阻值较大，流经它们的输入电流的差异，将变成输入电压的差异，因此，也会影响输

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