仪器分析工考试仪器分析工（中级）

仪器分析工考试仪器分析工（中级）

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题型选择题填空题解答题判断题计算题附加题总分

得分

评卷人得分

1、氧气瓶外表颜色是蓝色，氧字颜色（）；氮气瓶外表颜色黑色，氮字颜色（）。

2、氧气钢瓶的颜色是（）。

3、铁矿石是指（）和（）适合于工业上用来炼铁的岩石。

4、黑色金属是指（）及它们的合金。

5、标样是指严格按照（）制作的试样。

6、目前国家标准分为强制性标准和（）标准。

7、钢中碳、硫的分析结果涉及标准边缘时，则要（）样品。

8、按钢水脱氧程序不同，钢可分为（）、（）、（）。

9、炼钢炉渣中的初期渣又称（）；终期渣又称（）。

10、炼钢时浮在钢液上面的渣滓，是钢内杂质氧化而成的氧化物称为（）。

11、直读光谱法测铝时，该钢铁试样应选用（）材质的砂布抛光。

12、冶金分析中常见的分析样品有（）、（）、（）、（）、（）等（至少答出五种）。

13、金属中气体分析是指（）的分析。

14、红外碳硫仪工作气为（），动力气一般使用（）。

15、红外碳硫仪分析中常用助熔剂有纯铁、（）、（）等。

16、红外碳硫测定仪催化管中的试剂是（）。

17、红外碳硫测定仪除硫管中装有（），可以把S03吸收除去。

18、红外分析仪的校正方法有标准气校正、金属标准物质校正（）。

19、红外分析法吸收定量关系，符合（）定律。

20、红外法测定铁合金中碳硫时，一般需要以（）做底，再称试样，加适量锡粒和纯鸨粒后进行测定。

21、红外碳硫分析仪以（）作载气。

22、红外C/S分析仪上，除去H20份的最常用的试剂是（）。

23、红外C/S分析仪上，除去C02的最常用的试剂是（）。

24、光栅能分光的原理是光的（）原理。

25、光既有波动性，又有粒子性的性质称为光的（）。

26、光电光谱仪通过移动入射狭缝来校准出射狭缝的位置，这时所利用的是光的（）原理。

27、光电光谱仪的一个通道产生了溢出，这时应调整（），以减少负高压值。

28、光电倍增光的功能是将微弱的（）信号转换成电信号，并有不同程度的放大。

29、真空直读光谱仪分析金属块样中碳、硫、磷、珅等元素时，对氮气纯度的要求是（）以上。

30、红外碳硫仪测定CO2、S02所采用的波长分别是（）皿和（）um。

31、直读光谱仪分析时常采用Ar气作保护气体，在分析N时要求Ar气的纯度（），称为（）号气

体。

32、光栅是仪器的心脏，ARL-MA光谱仪的光栅规格为（）条/mm。ARL4460光谱仪的光栅规格为（）

条/mm。

33、ARL4460光谱仪的入射狭缝宽度为（）um。DV-6光谱仪的入射狭缝宽度为（）“m。

34、试样加工后，分析表面应平坦、光滑，表面不能被沾污、有孔、（）及（）。

35、分析间隙为试样与对电极之间的距离，ARL-MA/ARL4460光谱仪的分析间隙为（）mm,对电极为（）

电极。

36、4460、DV-6、MA光谱仪对氯气的输入压力要求为（）MPa。

37、光谱仪对分析试样的要求为直径（）run,高度为（）mm。

38、ARL4460、BAIRD-DV6、ARL-MA光谱仪的分光系统处于（）环境下。

39、测定氮元素的ARL-MA及ARL4460光谱仪采用（）真空系统，由初级泵（）和次级泵（）组

成。其中（）的转速达（）转/分钟，其完全停止需要5分钟以上的时间。

40、ARL4460的激发光源型号为（）型，ARL-MA、BAIRDDV6光谱仪的光源型号为（）型。

41、光谱仪运行时的环境温度要求为（）°C,每小时温度变化应（）°C,相对湿度为（）%o

42、ARL-MA光谱仪分析时氯气消耗时约为（）Lmin,待机时为（）L/min；4460光谱仪分析时氯气

消耗量约为（）L/min。

43、AxiosX荧光光谱仪内循环水作用是冷却（）。

44、X射线流气型探测器所用的P10气体是（）组成。

45、N/0分析仪采用（）塔锅熔样。

46、N/0分析仪分析N、0的先后顺序是（）。

47、N/0分析仪以（）作为N的检测器。

48、N/0分析仪以（）作为。的检测器。

49、N/0分析仪以（）作载气。

50、N/0分析仪对氨气纯度的要求为（）以上。

51、N/0分析仪中0的测量形式是（）。

52、在N/0分析中，从燃烧炉出来的气体，0元素是以（）形式释放。

53、在N/0分析中，从燃烧炉出来的气体，N元素是以（）形式释放。

54、在0/N分析中，排气步骤的作用是把塔塔中除掉（）

55、X射线波长色散和能量色散是建立在（）和（）基础上的。

56、X射线的度量单位是频率、波长、（）、（）。

57、在N/0分析中以（）作为氧化剂，使C0进一步氧化为C02

58、用标样检查是检测（）误差的有效方法。

59、一个好的分光晶体必须具备（）、（）和性能稳定三个条件。

60、通常用于释放金属气体的三种电加热炉是电阻炉、高频炉、和（）。

61、脉冲炉使用的电压电流是（）电压，（）电流。

62、通常将空白按其来源分为（）、（）、工作环境空白等。

63、通常根据被测组分百分量，可将被测组分分成常量组分（），微量组分（）和痕量组分（）。

64、特征X射线波长与原子序数之间关系的定律是莫塞莱定律，公式为（）。

65、波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、0V0等。

66、标准物质贮存应防止氧化、（）和（）。

67、X荧光仪冷却系统由（）冷却和（）冷却两部分组成。

68、X荧光分析法基体的影响可分两大类，一类是（）引起的，另一类是样品粒度，表面结构等造成的。

69、影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的（）、（）两类。

70、X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。

71、X射线荧光仪内冷却水的要求指标有温度、水压、（）和（）。

72、X射线荧光光谱仪流气探测器高压一般为（），闪烁探测器高压一般为（）

73、X射线荧光光谱仪漂移校正方法分（）和（）两类。

74、X射线荧光光谱仪分光方法有（）和（），分别用平晶和弯晶分光。

75、X射线荧光光谱仪电子测量系统由（）、放大器、（）和记录系统构成。

76、X射线荧光定量分析方法有（）和（）两大类。

77、X射线光谱仪的X射线发生装置由（）、（）、冷却器、稳压器构成。

78、X射线光谱是按X射线波长顺序排列的电磁辐射，它分为（）和（）两类。

79、X射线的两种基本性质是（）和（）。

80、分光晶体衍射原理的布拉格公式是（）。

81、常用的X射线正比计数器分为（）和（）两大类，。

82、X射线是由高能粒子轰击原子所产生的（），具有波、粒二象性。

83、X射线的波长和能量介于（）之间

84、X射线的波长范围为（）nm；对应的能量范围为（）keV。

85、量子理论通过公式（）把X射线的波、粒二象性联系起来。

86、X射线与物质的相互作用主要有：（）、（）、（）三种。

87、当X射线与物质相遇时,散射可能伴有随能量损失，也可能没有能量损失，伴有随能量损失的称为（）。

88、当X射线与物质相遇时，散射可能伴有随能量损失，也可能没有能量损失，没有能量损失的称为（）。

89、X射线管产生的X射线光谱被称作原级X射线谱，它由（）组成。

90、化学元素受到高能粒子照射时，如（）电子被激发，形成空穴，则外层电子跃迁来填充时，就会产

生特征X射线。

91、在以X射线管作为激发电源时，用于激发样品的主要光源是（）。

92、电子在原子轨道中的运动遵守量子理论，分别由（）、（）、磁量子数、自旋量子数四个参决

定。

93、X射线荧光光谱仪按分光方式不同可分为（）和（）两大类。

94、波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫（）、（）和（）三种类型。

95、X射线荧光光谱仪由光源、（）、（）和谱仪控制与数据处理系统组成。

96、顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、（）、准直器、测角仪、（）以及样品室、计

数电路和计算机组成。

97、X射线荧光光谱仪激发样品的光源有：（）、放射性核、质子和同步辐射光源。

98、X射线管从机械结构上分主要有：侧窗靶、（）、透射靶三种。

99、X射线管的作用是（）。

100、X射线管的窗口材料是（），有剧毒，使用过程中不能用手触摸.

101、X射线荧光光谱仪高压发生器的作用是：（）。

102、X射线荧光光谱仪探测器的作用是：（）。

103、正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。

104、X射线荧光光谱仪探测器的主要技术指标是（）。

105、X射线荧光光谱仪探测器的能量分辨率主要是以（）表示。

106、（）是以某种气体（甲烷等）在X射线或其他射线照射下产生电离而形成电脉冲为依据的核辐射

探测器。

107、正比计数器内充入的Ar气的主要作用是：（）。

108、流气式正比计数器使用的P10气体是（）混合气体。

109、X射线荧光分析所用的闪烁计数器由闪烁体、光导、（）、及相关电路组成。

110、闪烁计数器内的闪烁体常用的有（）和Csl（TI）,其中加入少量的花（TI）作为激活剂用。

111、光电倍增管由光阴极、聚焦栅极、（）、和阳极组成。

112、作为通用型X荧光光谱仪，选择（）作为阳极材料最好

113、新的或长期不用的X射线管在使用时，必须进行（）。

114、柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装有Pb、（）、Brass（300n）,Al（700p）四块虑光片。

115、根据布拉格方程式sin。=n入/2d,以及仪器结构的原因，29角度一般小于（）。

116、柳钢使用的AxiosX荧光光谱仪安装有：（）五块衍射晶体。

117、Ge（111）晶体的适用范围由P到Cl,PX1晶体的适用范围由。到Mg,则测S时选用（）晶体。

118、X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q,Q为品质因子，当计数率<20kcps时，闪烁计数器的Q<（）,

充Ar流气正比计数器的Q<（）。

119、闪烁计数器用于探测（）和短波辐射（8-32keV）。

120、流气正比计数器适用于（）和长波辐射的探测（0.1-8keV）。

121v探测器在测角仪中的2。角与分光晶体的6角以（）的速度旋转。

122、AxiosX荧光光谱仪流气探测器的扫描角度范围为（）A.氟

B.硫

C.硅

D.银

159、钢铁试样发黄变兰，C、S分析结果（）。

A.偏低

B.偏高

C.不受影响

160、碳化硅质砂轮片的外观特征及作用是：色灰黑，适用于磨（）和铸铁。

A.铁试样

B.硬质合金

C.钢试样

161、氧化铝（A1203）质砂轮片的外观特征及作用是：色白，适用于磨（）。

A.铁试样

B.硬质合金

C.钢试样

162、当发现有人触电时，首先应（）。

A.将触电者搬离电源

B.关闭电源

C打电话叫救护车

163、钢铁分类主要是依据（）的含量。

A.碳

B.硅

C.镒

164、钢中（）是有害兀素。

A.碳

B.镒

C.硫

165、由试样非均匀性引起的误差是（）。

A.系统误差

B.偶然误差

C.粗大误差

D.可以不计的

166、不同波长的光具有不同的能量，波长越（），能量越高。

A.长

B.短

C.不确定

167、从模具中取出的锥形试样，一般在高度方向的（）处截取样品进行直读光谱分析。

A.下端1/3处

B.1/2处

C.上端1/3处

168、波长在（）nm范围内的光称为紫外光。

A.400~750

B.200-400

C.100~200

D.750~900

169、手工描迹Fe谱线可以校正（）位置。

A.入射狭缝

B.Fe元素出射狭缝

C.所有狭缝

170、每种元素的特征谱线有（）。

A.一条

B.二条

C.多条

171、红外碳硫仪用高效干燥剂是（）。

A.硅胶

B.碱石灰

C.高氯酸镁

D.浓硫酸

172、红外碳硫分析仪高频炉温度可达到（）。

A.1100—1350℃

B.1800—2200℃

C.2000—3000℃

D.800度

173、红外碳硫分析仪所用加热炉是（）。

A.SiC棒电阻炉

B.脉冲炉

C.高频炉

D.微波

174、国标中要求光电直读光谱仪的分析间隙是（）。

A.3mm〜4mm

B.2mm〜5mm

C.3mm〜6mm

175、国标GB/T4336-2002中规定碳元素的分析范围下限是（）。

A.0.005

B.0.01

C.0.05

176、国标GB/T4336-2002方法没有规定碳素钢和中低合金钢中（）元素的测定。

ID.透射

180、大型仪器配备的计算机是属于仪器的（）。

A.检）则系统

B.数据处理系统

C.输入输出系统

181v发射光谱分析仪器的光栅均属（）。

A.透视光栅

B.平面光栅

C.凹面光栅

D.阶梯光栅

182、非真空光谱仪不能分析（）元素。

A.Cr、S

B.PvS

C.Si、P、Mn

D.AlxP、Si

183、光电光谱仪根据所使用波长范围不同可分为（）两种。

A.真空型、非真空型

B.真空型、充气型

C.充氮气型、充氯气型

D.D.大气型、充氮型

184、光电直读光谱分析中试样的激发点在试样打磨面的（）。

A.任意位置

B.半径的1/2处

C.圆心

185、光电直读光谱仪（）分析钢中C、P、S元素。

A.可以

B.不可以

C.只能

186、光电直读光谱仪，某通道产生读数了溢出，这时应（）。

A.增加负高压值

B降低负高压值

C关掉负高压

D负高压到最大

187、光电直读光谱仪采用）分光。

A棱镜

'k.+nn

B7C17JJJ

C晶体

188、光电直读光谱仪有（)个出射狭缝。

A一个

B二个

C多个

189、光电直读光谱仪有（)种入射狭缝。

A

B

C

190、光电直读光谱仪在（)气氛下产生火花放电来激发试样。

A氮气

B氮气

C氧气

DPR气

191、分析表面抛光后，表面有时会发黑，此时对（）元素的分析结果有影响。

ASi

BC

Cs

Dp

192、碳硫分析和氧氮分析用的用期可以（)O

A通用

B互换

C不能混用

193、碳硫测定仪中吸水剂失效，则硫的分析结果（)0

A偏IWJ

B偏低

C不变

194、碳硫测定仪中干燥管内高氯酸镁失效，则对（）元素有显著影响。

A碳

B硫

C碳和硫

195、分析试样中气体时为去除表面油污，常用（）清洗。

A二次水

B丙酮

C汽油

196、在光电直读光谱仪上通过调整（）的值来改变分析通道的灵敏度。

A.入射狭缝

B.衰减器

C.出射狭缝

D.滤光片

197、氧气瓶的颜色是（）。

A.灰色

B.黑色

C.兰色

D.白色

198、常用光电倍增管的额定电压上限是（）。

A.-700V

B.-500V

C.-1200V

D.-900V

199、光电倍增管对辐射光波长的灵敏度取决于（）。

A.阴极涂层

B.阳极的涂层物

C.窗口材料

D.光阴极的涂层物和窗口材料

200、原子发射光谱和原子吸收光谱产生的共同点在于（）。

A.能量使气态原子外层电子产生跃迁

B.基态原子对共振线的吸收

C.激发态原子产生的辐射

201、DV-6光谱仪所用的入射窗口的材质为（）。

A.石英

B.氟化钙

C.氟化镁

D.普通玻璃

202、ARL4460光谱仪分析Mn所用的内标线是（）。

A.Fe273.07nm

B.Mn293.31nm

C.Fe187.63nm

D.无

203、DV-6光谱仪分析N所用的内标线是（）。

A.Fe273.04nm

B.N149.21nm

C.Fe187.63nm

D.无

204、若需检查ARL4460/MA仪器的电压、真空度及光谱室温度等参数，应选择软件主菜单Initialisation

下的（）子菜单。

A.Readinstrumentstatus

B.StatusReporter

C.IntrgratedProfiIe

D.ResetInstrument

205、对ARL4460/MA进行停机操作时，各种开关的关闭顺序为（）。

A.HVPST电子装置电源T水泵电源T真空泵电源T主电源T计算机；

B.主电源T电子装置电源T水泵电源T真空泵电源THVPST计算机；

C.计算机THVPST电子装置电源T水泵电源T真空泵电源T主电源；

D.HVPST主电源T水泵电源T电子装置电源T真空泵电源T计算机；

206、氮气属于（）气体。

A.可燃性

B.惰性

C.助燃性

D.自然性

207、在光谱定量分析中推算某一元素在试样中的含量靠（）。

A.测出分析线对的强度

B.找出被测元素的最后线

C.选定分析线对

D.谱线的高度

208、在光谱定性分析时，为了减少谱线间的干扰、重叠和提高分辨率，光谱仪的夹缝选得（）。

A.最大

B.较小

C.最小

D.较大

209、在光谱化学分析中，一般将干扰分为两类即（）。

A.化学干扰和电场干扰

B.光谱干扰和非光谱干扰

C.粒子干扰和电磁干扰

D.电磁干扰和辐射干扰

210、真空直读光谱仪对氮气纯度的要求是（）。

A.99%

B.99.9%

C.99.996%以上

D.90%以上

211、真空直读光谱仪分析钢中氮时对氮气纯度的要求是（）。

A.99.99%

B.99.9997%以上

C.99.996%以上

D.90%以上

212、既能校正曲线平移，又能校正曲线转动的标准化方式是（）。

A.单点标准化

B.双点标准化

C.多点标准点化

213、红外C/S仪中，用于吸收二氧化碳的试剂是（）。

A.氢氧化钠

B.无水高氯酸镁

C.石灰

D.浓硫酸

214、（）现象表现了光具有粒子性。

A.光电效应

B.偏振

C.衍射

215、以下哪个不是AxiosX荧光光谱仪外循环水系统的作用。（）

A.冷却内循环水

B.使机箱恒温

C.冷却X光管阴极灯丝

D.冷却X光管阳极靶

216、以下哪个现象不是X射线的波动性？（）

A.直线传播

B.反射

C.光电吸收、

D.折射、衍射、偏振和相关散射。

217、以下哪个现象不是X射线的微粒性的表现？（）

A.折射、

B.光电吸收

C.非相关散射

D.气体电离和产生闪光。

218、以下哪个波长的光是X射线？（）

A.25nm

B.0.005nm

C.0.5nm

D.100nm

219、X荧光光谱仪的功率为3千瓦，以下对管压和管流设定不正确的是（）。

A.24V、125mA

B.50V、50mA

C.60V、50mA

D.50V、65mA

220、X射线荧光分析中分光元件是（）。

A.棱镜

B.光栅

C.分光晶体

D.光电倍增管

221、X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。

A.特征光谱

B.带状光谱

C.连续光谱

222、AxiosX射线荧光光谱仪机内温度应该是（）。

A.14-28℃

B.30±0.15℃

C.24℃

D.24°以上

223、X射线荧光光谱仪需要外接冷却水，其作用是为了冷却（）。

A.X射线管

B.分光室

C.内部冷却水和X光管阴极灯丝

224、在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。

A.正比计数器

B.闪烁计数器

C.晶体计数器

D.半导体探测器

225、在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应（）。

A.内标法

B.数学校正法

C.滤波

D.稀释法

226、X荧光熔融法常用的熔剂是（）。

A.NaOH

B.Na2C03

C.Li2B407

D.NaHC02

227、按波长的长短顺序排列是（）。

A.红外光V可见光VX射线

B.X射线V可见光〈红外光

C.X射线〈红外光〈可见光

228、波长在（）nm范围内的光称为X射线。

A.0.01~10

B.200~400

C.400~500

D.500~700

229、需要外接冷却水的仪器是（）。

A.光电直读光谱仪

B.X射线荧光光谱仪

C.红外碳硫测定仪

230、铁矿石X荧光熔融法中碘化物或漠化物作用是（）。

A.助熔剂

B.脱模剂

C.内标

D.熔剂

231、制作玻璃片时，以下哪种物质不能作为脱模剂？（）

A.NH4I

B.LiBr

C.Csl

D.NaCI

232、制作玻璃片时，以下哪种物质不能作为氧化剂？（）

A.KOI

B.NaNO3

C.NH4N03

D.KNO3

233、具有将x射线荧光按波长顺序分开成光谱作用的主件是（）。

A.计数器

B.放大器

C.分光晶体

D.测角仪

234、N/0分析中，N和0的输出顺序是（）。

A.先氧后氮

B.先氮后氧

C.同时输出

235、由X射线光管产生的X射线是（）。

A.连续X射线

B.特征X射线

C.连续X射线和特征X射线

236、在X射线荧光分析中把X射线光子能量转换成电信号的装置是（）。

A.分光晶体

B.探测器

C.波高分析器

D.放大器

237、X射线波长色散是建立在（）基础上的。

A.波动性

B.粒子性

C.反射

D.透射

238、X射线光谱法检测记录的是（）X射线强度。

A.一次

B.二次

C.三次

239、X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。

A.特征光谱

B.连续光谱

C.带状光谱

D.散射线

240、X射线荧光分析应用光波长范围是（）。

A.0.001〜10nm

B.10nm〜50nm

C.0.01〜4.4nm

D.1〜5nm

241、在O/N分析中，排气功率要比分析功率要（）

A.局

B.低

C.一样

242、以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）

A.封闭式正比计数器

B.流气式正比计数器

C.闪烁计数器

D.半导体计数器

241A.LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX1

B.LiF(200)、LiF(220)、Ge(111)、PE(002)、PX2

C.LiF(200)、LiF(420)、Ge(111)、PE(002)、PX1

D.InSb,LiF(220)、Ge(111)vPE(002)、PX1

247、在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）

A.样品的粒度

B,不均匀性

ClB.黏结剂

C.稀释剂

251、以下哪个说法是错误的（）

A.X荧光的准直器就是我们常说的入射狭缝和出射狭缝。

B.根据布拉格公式，当晶体两层间反射光的光程差等于射线波长的整数倍时，该两束反射光相互抵消。

C.滤光片可以降低干扰谱线和背景的强度从而改善信噪比。

D.探测器是用来接收X射线并把它转变成可测量的或可观察的量。

252、在同等条件下，选择以下那种准直器使仪器的分辨率更高。（）

A.150mm、

B.300mm\

C.700mm；

253、对于同一元素的同一普线，在相同条件下检测，以下哪个检测器的能量分辨率更好（）

A.FWHM=25,最大脉冲高度(Max)=50,

B.FWHM=22,最大脉冲高度(Max)=50,

C.FWHM=17,最大脉冲高度(Max)=50,

D.FWHM=20,最大脉冲高度(Max)=50,

254、以下的仪器报警哪项的意思是错误的（）

A.Turrettimeout(转盘超时)

B.FaiIedtoconnectspectrometer(光谱仪连机失败)

C.Cabinettemperaturetoolow(机箱温度太高)

D.Badvacuumabovewarninglevel(真空超警戒水平)

255、要查看X荧光光谱仪的运行状态时，应点击System菜单下的那一个选项。（）

A.Spectrometerstatusscreen

B.Spectrometerstatusbox

C.Spectrometermaintenance

D.Systemcompounds

256、以下哪项不是高压发生器的安全回路（）

A.真空

B.内循环水位

C.P10气体流量

D.外循环水流量小于1L、内循环水流量小于2L。

257、测P时用下面哪块晶体进行分光（）

A.LiF220

B.Ge111

C.LiF200

D.PE002

258、以下关于谱线干扰的说法正确的是（）

A.SK与MoL没有干扰

B.FeK(IV)与SiK没有干扰;

C.PbL与AsK没有干扰

D.AsK与PbL没有干扰

259、利用TCM软件清理Axios光谱仪Plunger的密封圈灰尘的操作步骤是（）

A.关闭高压、放真空、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F3使Plunger向下，再按F1

打开cap»

B.放真空、关闭高压、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F3使Plunger向下,再按F1

打开capo

C.放真空、关闭高压、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F2使Plunger向下,再按F1

打开capo

D.关闭高压、放真空、启动TCM软件、选择第二项M、按F1关闭cap、按F3使Plunger向下,再按F1

打开capo

260、关于准直器，以下说法不正确的是（)

A.柳钢现在使用的X荧光光谱仪共有三种准直器，分别是150“m、300um、700“m的准直器。

B.改变准直器，可以改变分辨率，改变X荧光的强度。

C.使用150um的准直器比使用300口m的准直器分辨率要低。

D.使用准直器可以获得平行光。

261、利用X荧光光谱仪测S时用下面哪块晶体进行分光（）

A.LiF220

B.LiF200

C.Ge111

D.PE002

262、对Axios荧光光谱仪，在PHD的参数调整中，以下哪个晶体使用的角度不正确？（）

A.LiF200使用40.45°

B.PX1使用30.69°

C.Ge使用144.86°

D.LiF220使用58.53°

263、对Axios荧光光谱仪，以下手动升压正确的顺序是（）

A.20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA30kv/50mA40kv/50mA50kv/50mA

B.20kv/10mA30kv/10mA40kv/1OmA50kv/10mA50kv/20mA50kv/30mA50kv/40mA50kv/50mA

C.20kv/10mA30kv/10mA40kv/10mA50kv/10mA50kv/50mA

D.20kv/10mA20kv/20mA20kv/30mA20kv/40mA20kv/50mA50kv/50mA

264、于准直器，以下说法不正确的是（）

A.柳钢现在使用的X荧光光谱仪共有三种准直器，分别是150nm、300um、700|am的直器。

B.柳钢现在使用的X荧光光谱仪共有两种准直器，分别是27“m、30um的直器。

C.改变准直器，可以改变分辨率，改变X荧光的强度。

D.初级准直器就是我们平常说的入射狭缝。

265、光谱的光源作用有哪些？

266、简述发射光谱分析中最常用的光源有哪些？

267、为什么必须将光电直谱仪的光学系统置于真空中？

268、光电直读光谱仪有哪几个主要部分组成？

269、红外碳硫测定仪上催化管的作用是什么？

270、红外碳硫分析仪常用什么气体作载气和动力气？

271、直读光谱分析钢中氮含量时对氮气有什么要求？

272、红外碳硫分析仪中高氯酸镁干燥剂失效后对分析有何影响？

273、X射线产生衍射的条件是什么？

274、说出布拉格方程式n入=2dsin。各物理量的意义？

275、X荧光光谱仪衍射晶体的选择原则有那些？

276、X荧光光谱仪脉冲高度分析器有何作用？

277、简述制定X荧光定量分析方法的基本步骤。

278、AxiosX荧光光谱仪外循环水系统的作用有那些？

279vAxiosX荧光光谱仪外循环水的流量偏低的原因有那些？

280、AxiosX荧光光谱仪内循环水系统包括那些？

281、简述AxiosX荧光光谱仪的进样过程？

282、简述AxiosX荧光光谱仪的出样过程？

283、采用红外CS仪分析钢中的C,标样和试样操作完全相同，已知标样含量为0.21%,信号值为0.2254%,

试样信号值为0.2468%,试计算该样中C的含量。

284、光电直读光谱仪的描迹记录：第一个半峰高处转轮读数为520,第二个半峰高处转轮读数为480,试

计算该光谱仪的狭缝值，即入射狭缝转轮应定在何读数值上？

285、在光谱分析中，仪器测得As的比强度值为0.106。求As的含量为多少？已知As的工作曲线方程为

0=0.0315412+0.344261-0.01029,As的漂移校正系数a=1.3179,0=0.00316。（取两位有效数字）

286、用X射线荧光分析-铁矿石中铁的含量（％）,其结果分别为56.66、56.64、56.68、56.69、56.56、

56.63、56.59,试计算平均值X、标准偏差S和相对标准偏差RSD。

287、在X荧光分析中，已知某元素A,其分析强度la与浓度Ca保持线性关系，现称取含A元素的M试样

2.0000克，试样制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为8Kcps；再称取M试样2.0000克，加入A元

素0.0100克，制成玻璃片后，测得元素A的荧光强度I2为14Kcps,求M试样中A元素的质量百分数。

288、已知CrKa线的能量为5.41keV,ArKa能量为2.96keV,求Cr的逃逸峰的波长？

289、光电信增管的结构是什么？

290、怎样判断聚光透镜需要清洗？

291、光电直读光谱仪哪些部位需要经常清洗和检查？

292、光谱分析中冲洗、预燃、曝光各步骤的作用是什么？

293、红外法测定碳硫时，试样中加助熔剂的作用是什么？

294、红外硫碳分析仪中感应炉的组成是什么？

295、红外碳硫测定仪除S管的作用？

296、请说出特征X射线具有哪些特点？

297、请简述特征X射线的产生过程。

298、X荧光光谱仪的滤光片有什么作用？

299、请以流气正比计数器为例说明逃逸峰的产生过程。

300、简述氮氧仪分析氮氧的过程。

301、发射光谱分析的光源中发生哪些过程？

302、光电直读光谱仪有哪几个主要部分组成？有何作用？

303、试样的组织结构对光电直读光谱分析有什么影响？怎样消除？

304、红外C/S仪的校准方法有哪些？

305、AxiosX荧光光谱仪的准直器有什么作用？

306、简述X荧光熔融法的优缺点。

307、简述X荧光熔融法对熔剂的基本要求。

308、简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求？

309、Asios荧光光谱仪真空度不好的原因有那些？如何判断流气探测器的窗口膜破裂？

310、常用于评价色谱分离条件选择是否适宜的参数是（）。

A.理论塔板数

B.塔板高度

C.分离度

D.死时间

311、在色谱分析中，可用来定性的色谱参数是（）。

A.峰面积

B.保留值

C.峰高

D.半峰宽

312、下列哪种说法不是气相色谱的特点（）。

A.选择性好

B.分离效率高

C.可用来直接分析未知物

D.分析速度快

313、在色谱分析中，可用来定量的色谱参数是（）。

A.峰面积

B.保留值

C.保留指数

D.半峰宽

314、用分配色谱法分离A.B和C三组分的混合样品，已知它们的系数KA>KB>KC,则其保留时间大小顺

序（）。

A.A<C<B

B.B<A<C

C.A>B>C

D.A<B<C

315、同时包含色谱过程热力学和动力学两项因素的是（）。

A.保留值

B.分离度

C.选择性

D.理论塔板数

316、衡量色谱柱选择性的指标是（）。

A.理论塔板数

B.容量因子

C.相对保留值

D.分配系数

317、影响两组分相对保留值的因素是（）。

A.载气流速

B.柱长

C.检测器类型

D.固定液性质

318、两组分的分离度（R）数值越大，其正确的含义是（）。

A.样品中各组分分离越完全

B.两组分之间可插入的色谱峰越多

C.两组分与其他组分分离越好

D.色谱柱效能越高

319、物质A和B在一根长30.00cm色谱柱的保留时间分别为16.40min和17.63min,峰底宽度分别为1.11min

和1.21min,若达到1.5分离度所需柱长度为（）。

A.42cm

B.60cm

C.240cm

D.84.83cm

320、下列哪个因素会引起相对保留值的增加（）。

A.增加柱长

B.降低柱温

C.把N2换成H2

D.降低流动相速度

321、下列参数中不属于色谱图参数的是（）。

A.tR

B.W

C.A

D.R

322、下列保留参数中完全体现色谱柱固定相对组分滞留作用的是（）。

A.死时间

B.保留时间

C.调整保留时间

D.相对保留时间

323、色谱峰的区域宽度用于色谱柱效能的评价，下列参数不属于区域宽度的是（）。

AT

B.W1/2

C.W

D.tR

324、可用做定量分析依据的色谱图参数是（）。

A.A

B.h

C.W

D.tR

325、下列因素中不是色谱分离度（R）的影响因素的是（）。

A.色谱柱效能

B.色谱柱容量

C.色谱柱选择性

D.色谱柱形状

326、气相色谱法规定完全分离时分离度（R）的数值是（）。

A.R=1.0

B.R=1.5

C.R=2.0

D,R=2'

327、当下列操作条件改变时，分离度（R）会随之改变的是（）。

A.载气流速

B.进样器温度

C.色谱柱室温度

D.检测器温度

328、当色谱柱效能增高（相应组分的色谱峰更尖.窄）时，预示着分离度（R）的变化是（）。

A.分离度（R）值可能增大

B,分离度（R）值可能减小

C.分离度（R）值无明显改变

D.无法确定分离度（R）值的变化

329、塔板理论对色谱分析的贡献是（）。

A.提出了色谱柱效能指标

B.解释了色谱峰的分布形状

C给比了选择分离条件的依据

D.解释了色谱峰变形扩展原因

330、衡量色谱柱效能的指标是塔板数（n）或有效塔板数（n有效），其数值大小与下列因素有关的是（）。

A.色谱峰的位置

B.色谱峰的形状

C.色谱峰的面积

D.色谱峰的高度

331、当下列因素改变时，色谱柱效能的理论塔板数（n）或有效塔板数（n有效）不会随之改变的是（）。

A.载气的流速

B.色谱柱的操作温度

C.组分的种类

D.组分的量

332、在一定操作条件下，根据色谱图中的某色谱峰计算的塔板数（n）或有效塔板数（n有效）数值越大则

说明（）。

A.色谱柱对该组分的选择性越好

B.该组分检测准确度越高

C该组分与相邻组分的分离度可能高

D.该组分检测灵敏度越高

333、根据VAnDeemter方程可以计算出载气的最佳操作流速，其计算公式是（）。

A.错误！未找到引用源。

B.错误！未找到引用源。

C.错误！未找到引用源。

D.错误！未找到引用源。

334、在气相色谱填充柱中，固定液用量相对较高且载气流速也不是很快，此时影响色谱柱效能的各因素中

可以忽略的是（）。

A.涡流扩散

B.分子扩散

C.气相传质阻力

D.液相传质阻力

335、根据速率理论，当下列因素改变时不一定使色谱柱效能增高的是（）。

A.减小色谱柱填料粒度

B.降低固定液膜厚度

C.减小载气流速

D.尽可能降低色谱柱室温度

336、色谱柱室的操作温度对色谱柱效能影响较大，当色谱柱室操作温度改变时下列因素会随之改变的是

（）。

A.各组分在色谱柱中的涡流扩散

B,各组分的容量因子

C.各组分的气.液相扩散系数

D.各组分的相互作用

337、气相色谱中通用型检测器是（）。

A.紫外吸收检测器

B.示差折光检测器

C.热导池检测器

D.氢焰离子化检测器

338、气相色谱法中的程序升温是按一程序改变（）。

A.流动相配比

B.载液的流速

C.色谱柱温度

D.组分的分离度

339、下列这些色谱操作条件，正确的是（）。

A.载气的热导系数尽可能与被测组分的热导系数接近

B.使最难分离的物质对能很好分离的前提下，尽可能采用较低的柱温

C.担体的粒度愈细愈好

D.气化温度愈高愈好

340、在实际气相色谱分离分析时，计算分离度（R）应选择（）。

A.样品中色谱峰相邻的组分

B.样品中色谱峰面积最大的两组分

C样品中最难分离的一对组分

D.样品中任意一对组分

341、在气相色谱中，色谱柱的使用上限温度取决于（）。

A.样品中沸点最高组分的沸点

B.样品中各组分的平均沸点

C.固定液的沸点

D.固定液的最高使用温度

342、不影响组分保留值的因素是（）。

A.载气流速

B.柱长

1345、分离.分析常规气体一般选择的检测器是（）。

A.TCD

B.FID

C.ECD

D.FPD

346、用气相色谱法检测环境中农药残留量时，检测器最好选择（）。

A.TCD

B.FID

C.ECD

D.FPD

347、气相色谱法分析生物样品中氨基酸的含量，检测器最好选择（）。

A.FID

B.ECD

C.FPD

D.NPD

348、气相色谱仪进样器需要加热.恒温的原因是（）。

A.使样品瞬间气化

B.使气化样品与载气均匀混合

C.使进入样品溶剂与测定组分分离

D.使各组分按沸点预分离

349、在气液色谱中，被分离组分与固定液分子的类型（包括极性.化学结构等）越相似，它们之间（）

A.作用力就越大，其保留值越大

B.作用力就越小，其保留值越大

C.作用力就越小，其保留值越小

D.作用力就越大，其保留值越小

350、在气相色谱法中，若保持流速恒定，减小柱填料的直径，下列哪些说法是正确的（）。

A.柱压增大

B.保留时间增大

C.色谱峰变宽

D.分离度增大

351、空心毛细管色谱柱气相色谱法的主要分离原理是（）。

A.吸附

B.分配

C.离子交换

D.体积排阻

352、在实际气相色谱分离分析时，讨算分离度（R）应选择（）。

A.样品中色谱峰相邻的组分

B.样品中包谱峰面积最大的两组分

C.样品中最难分离的一对组分

D.样品中任意一对组分

353、液相色谱中通用型检测器是（）。

A.紫外吸收检测器