半导体器件 第14-1部分：半导体传感器 传感器总规范 征求意见稿

1半导体器件第14-1部分：半导体传感器传感器总规范IEC60027(所有部件)电气技术字母和符号（LettersymbolstobeusedinelectricalIEC60617-DB图表用图形符号（IEC60747-1:2006半导体器件第1部分:总则（SemiconductordeviceIEC60749(所有部分)半导体器件机注:GB/T4937（所有部分）半导体器件机械和气候试验方法（IEC60749，IEC62047-1半导体器件MEMS器件第1部分:术语和定义（Semiconductordevices-Micro-electromechanicaldevices-Part1:ISO2859-1按属性检验的抽样程序第1部分:逐批检验用验收质量限度(AQL)索引的抽样方案IEC61193-2质量评估体系第2部分:电子元件和封装检验抽样计划的选择和使用（Quality单位符号、图形符号和字母符号推荐采用下2表1列出了依据不同被测量、特性或检测条件对传感器进行的分类。例如，如果被测量是热量，则分为：声学量、生物量、化学量、电学量、磁学量、物理量、光学量、辐射量以及热学量。表1中的每环境条件ambientconditions4注：计算线性度有两种基本方法：端点直线法和最小二乘法。最小二乘法的误差较小，但计算测量温度范围measurabletemperature工作温度范围operatingtemperatur传感器的输出量，通常是电输出量，而且是被测量的函数。注1：输出量的形式包括模拟输出（例如：被测量的连续函数，如电压幅度，电压比和电容量注2：频率输出（即将每秒的周期数或每秒的脉冲数作为被测量的函数）和频率调整输出（即频率相对中心频率的过载特性overloadcharacter在不会引起传感器性能的变化超出规定的偏差的情况下，可以施加在传感器上被测量的最大注：过载特性最关键的参数之一是恢复时间，即从传感器上除去过载情况到其性能恢复注：重复性可以用两次校准过程中读数的最大偏差来6注1：灵敏度即为校准曲线的斜率（图1）。对于输出y与被测量x的关系可以用方程y=fS(xa)x=xa………（1）注2：希望传感器有较高且尽可能恒定的灵敏度。如果一个传感器的y与x的关系为：y=kx+b，且k、b为常数，则传感器在整个量程内的灵敏度为k。如果y与x的关系为：y7注1：除非另有规定，稳定性是指在规定时间内传感器在恒定的室内条件下产生和初始校准时同样输出的能力。通温度系数temperaturecoef4标准环境条件5.1器件标志5.2器件的可追溯性传感器应有可追溯代码，可追溯该器件到某一生产或检验批次。5.3包装b)器件的可追溯代码；8当满足以下程序的规则时，一种类型的器件就有资格获得资格认证和/或能力认证：IECQC001002-3:2005，第3条：电子元件参见IECQC001002-3:2005中3.3.1参见IECQC001002-3:2005中3.3.2参见IECQC001002-3:2005中5.2.3应根据记录的数据得出这份摘要。制造商应保留所有的数据，以供国家质检部门要求时使用。逐批检验可分为两类:——A组检验，包括器件的外观和尺寸检查以及设备的主要特性(初始B9/C9分组：包括用以评定器件经受机这些子组分组可以不全部要求。所需的分组在相关的分规范或空白详细规范中规当规范特别允许时，该程序适用于周期为12个月或更短的C组试验的分组。除非相参见IECQC001002-3:2005中3.2.8中给出的程6.3.3.7经受过破坏性或非破坏性试验的认为是破坏性的试验应在空白详细规范中标明（D）。经受过破坏性试验的器件，不应包括在交货批中。经受过非破坏性环境试验的器件，只要它们按本标准所采用的失效率定义为每1000h的百分比。具有规定的失效率的耐久性试验应在详细规范中规定。在器件的最大额定值或最大额定值范围如果在耐久性试验中观察到的故障数量超过验收数量，制造商应选择以下对静电敏感器件的一般注意事项在IEC60747-1:2006的第8条气候和机械试验方法应在IEC60068-2系列的分规范或空白详细规范中规定。当需要而且详细规范在报告中明确指出，它不是按照IEC规定的方法进行抽样程序A.1概述A.1.1样品的抽取A.2抽样方法A.2.1样品量每个分组的样品量应根据ISO2859-1或IEC