材料分析测试技术智慧树知到期末考试答案章节答案2024年山东科技大学

材料分析测试技术智慧树知到期末考试答案+章节答案2024年山东科技大学在电子探针中，用细聚焦电子束入射样品表面，若含有多种元素，则可激发出各个相应元素的特征X射线。（）

答案:对对于同一个单晶电子衍射花样，指数化标定结果要相同。（）

答案:错透射电镜的投影镜焦长较小。（）

答案:错电子探针的线分析原理，将谱仪固定在所要测量的某一元素特征X射线信号（波长或能量）的位置上；使电子束沿着指定的路径作直线轨迹扫描，得到这一元素沿该直线的浓度分布曲线。（）

答案:对差热分析中，若升温速率慢，峰位向高温方向迁移。（）

答案:错倒易点hkl与正点阵（hkl）晶面有一一对应的关系。（）

答案:对X射线特征谱中，Kβ谱线是由L壳层的电子向K壳层跃迁所产生的。（）

答案:错在差热分析中所采用的坩埚材料，对试样、产物（包括中间产物）、气氛都是惰性的，并且不起催化作用。（）

答案:对扫描电镜中二次电子成像原理是：由于二次电子产额是试样表面倾角的函数，当电子束在试样上扫描时，任何两点的形貌差别，表现为二次电子信号强度的差别，从而在图像中形成显示形貌的衬度。（）

答案:对扫描电镜的分辨率会受到显示信号（如二次电子、特征X射线等）类型的影响，不同物理信号分辨率不同，在扫描电镜中有不同的分辨率。（）

答案:对透射电镜电子光学系统包括（）。

答案:成像系统;照明系统;观察与记录系统物质对X射线的吸收，主要由原子内部电子的跃迁引起，包括（）。

答案:俄歇效应;光电效应在简单点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为（）时，能产生衍射。

答案:奇数;任意情况;偶数在面心点阵中，当（HKL）晶面的HKL为（）时，才能产生衍射。

答案:全为偶数;全为奇数电子探针中，把分光晶体适当地弹性弯曲，使射线源（样品表面被分析点）、弯曲分光晶体表面和检测器位于同一个圆周上，达到使衍射束聚焦的目的。这个圆周称为（）。

答案:聚焦圆;罗兰圆利用XRD谱图对物相进行定量分析时，K值法中的K值（）。

答案:与加入的标准物质的量无关;具有普遍适用性;在实验时，加入标准物质的量不需要恒定以下关于X射线的正确描述有（）。

答案:X射线波长越短，穿透力越强;X射线波长越长，穿透力越弱以下关于X射线谱的描述正确的是（）。

答案:当管电压超过激发电压时，在X射线连续谱的某些特定波长位置上，就会叠加强度很高，非常狭窄而尖锐的特征X射线谱。;X射线连续谱是由波长连续变化的X射线构成，是多种波长的混合体。;X射线谱是关于X射线强度随波长变化的关系曲线。在X射线衍射仪中，为接受所有晶面产生的衍射线，（）。

答案:计数管可以从高角度移动到低角度。;计数管可以从低角度移动到高角度。热重分析法中，热重曲线的影响因素包括（）。

答案:试样粒度;环境气氛;试样装填;升温速率透射电镜成像时，中间镜的像平面有时会出现一定的位移，如果这个位移距离处于投影镜的（）范围之内，得到的图像仍旧是清晰的。

答案:景深在电子探针中，测定X射线特征波长的谱仪为波长分散谱仪，简写为（）。

答案:WDS在（）点阵中，所有晶面都能产生衍射。

答案:简单DSC中，试样和参比物的（）始终保持相同。

答案:温度在建立埃瓦尔德球时，以（）为半径构建一个球，在球心放置试样。

答案:1/λ在X射线衍射仪的测量过程中，聚焦圆的半径（）。

答案:不断改变在点阵常数测量中，只要采用足够（）的θ角衍射线条进行测量，即使存在一定的θ角测量误差，也可以获得高精度的点阵常数。

答案:高电子束与固体样品作用时，会产生二次电子。二次电子的产额主要决定于样品的（）。

答案:表面形貌布拉格方程2dsinθ=nλ中，d为（）

答案:晶面间距（）是像差中影响电磁透镜分辨率的主要因素。

答案:球差在电子探针中，分析特征X射线的波长（或特征能量），可知样品中所含元素的种类，称为（）。

答案:定性分析利用X射线谱图确定点阵常数时，当θ角趋近于90°时，尽管存在同样大小的测量误差△θ，对应的sinθ的误差趋近于（）。

答案:零电子探针的工作原理，用细聚焦电子束入射样品表面，激发出样品元素的（）。

答案:特征X射线由于（）为零而使X衍射线消失的现象称为系统消光。

答案:结构因子主要用于观察材料表面形貌的仪器是（）。

答案:扫描电镜在体心点阵中，当（HKL）晶面的H+K+L为（）时，才能产生衍射。

答案:偶数采用柱体近似时，如相邻的三个晶柱内晶体结构不同，则三个晶柱底表面的衬度（）。

答案:不同在底心点阵中，（HKL）晶面的结构因子F不受晶面指数（）的影响。

答案:L在底心点阵中，当（HKL）晶面的H+K为（）时，产生消光现象。

答案:奇数在多晶试样中，能产生X射线衍射的是（）。

答案:倒易点落在反射球上的晶粒热分析中对样品的重量没有要求，只要样品尺寸能放进坩埚内，就可以获得良好的测试结果。（）

答案:错在热分析技术中，参比物质的选择是任意的。（）

答案:错差热分析中，试样对曲线会产生影响，影响因素有（）。

答案:试样结晶度;试样粒度;试样用量;试样的装填热分析中，不同性质的气氛对测试结果没有影响。（）

答案:错（）需要试样与参比物之间温度始终保持相同。

答案:DSC热重分析法的简称为（）。

答案:TG差热分析法的简称为（）。

答案:DTA差热分析中，若试样没有热效应时，记录仪所记录的ΔT曲线，为水平直线，称为（）。

答案:基线在热分析技术中，利用程序温控装置，可以升温、降温，但不能测定材料在恒温过程中发生的变化。（）

答案:错热分析技术中，试样用量越多，热效应大，内部传热慢，温度梯度大，导致峰形扩大，峰顶温度滞后，容易使相邻峰重叠，降低分辨率。（）

答案:对利用电子探针对材料微区成分进行面分析，包含几种元素就显示几种元素的分布图像。（）

答案:对在电子探针中，测定X射线特征能量的谱仪为能量分散谱仪，简写为（）。

答案:EDS利用电子探针，可以对样品的成分进行（）。

答案:定量分析;定性分析电子探针只能对材料进行微区成分分析，不能同步观察材料微观形貌。（）

答案:错在电子探针面分析中，根据图像上亮点的疏密和分布，可确定该元素在试样中分布情况，亮区代表元素含量（）。

答案:高在电子探针中，测定X射线特征波长的谱仪为波长分散谱仪，简写为EDS。（）

答案:错电子探针的能谱仪和波谱仪比较，波谱仪（）。

答案:分析速度慢;分辨率高;分析元素范围广电子探针和X射线衍射仪一样，都可以直接确定材料中所包含的物相。（）

答案:错利用电子探针的波谱仪，一个分光晶体能够覆盖的波长范围有限的，因此一个分光晶体只能检测一定原子序数范围的元素。（）

答案:对电子探针的主要功能是进行微区成分分析。（）

答案:对在扫描电镜观察样品，对样品微观组织形貌敏感的成像信号是（）。

答案:二次电子扫描电镜的二次电子像中，样品表面的深凹槽底部产生较多二次电子，在荧光屏上这些部位的亮度较大。（）

答案:错电子束与固体样品作用时，会产生背散射电子。背反射电子的产额随样品（）的增加而增多。

答案:原子序数电子束与固体样品作用时，产生的信号有（）。

答案:背散射电子;俄歇电子;二次电子;特征X射线扫描电镜的背散射电子像中，图像上亮区对应区域的原子序数（）暗区对应区域的原子序数。

答案:大于扫描电镜的分辨率等于入射电子束直径。（）

答案:错扫描电镜中，无论二次电子呈像还是背散射电子呈像，图像的分辨率不发生改变。（）

答案:错被样品原子核反弹回来的入射电子称为非弹性背散射电子，能量基本上没有损失。（）

答案:错二次电子像衬度最亮的表面区域是（）。

答案:法线与电子束成86°的表面与光镜呈像相比，扫描电镜图像立体感强，形态逼真，这是由于扫描电镜的（）比光镜大100-500倍。

答案:景深暗场像中位错线的像为亮线。（）

答案:对根据衍衬运动学原理，理想晶体衍射强度随（）而变化。

答案:样品厚度;偏离矢量产生电子衍射的充分条件是满足布拉格方程。（）

答案:错衍射衬度在晶体和非晶体中都是存在的。（）

答案:错影响电磁透镜分辨率的因素包括（）。

答案:衍射效应;色差;球差;像散透射电镜的成像操作和电子衍射操作是通过调节（）的位置来实现的。

答案:中间镜孔径半角越小，衍射效应所决定的电磁透镜的分辨率越高。（）

答案:错简单立方结构材料发生衍射时，可以产生衍射的晶面为（）。

答案:（110）;（111）;（100）;（200）制备透射电镜薄膜样品时，离子减薄既适用于导电样品，又适用于不导电样品。（）

答案:对晶体的X射线衍射方向反映了晶胞的（）

答案:形状;大小关于X射线衍射仪的测量动作，说法正确的是（）。

答案:样品台和计数管可以分别绕O轴转动，也可机械连动。;机械连动时，样品台转过θ角时，计数管转2θ角。每种晶体物质都有自己特定的晶体结构，晶体结构不同则X射线衍射花样也就各不相同。（）

答案:对当倒易球与反射球相交，交线是一个圆环，环上每一点都满足衍射条件，可以产生衍射。（）

答案:对X射线衍射仪中，通常用于测定2θ范围不大的一段衍射图，常用于精确测定衍射峰的积分强度和