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文档简介

供不同类型的电力芯片电磁干扰与温度综合应力可靠性试验方法，T/CECXXXXXXGB/T9178-1988集成电路术语GB/T4365-2003GB/T4937.23-202323GB/T17626.4-2018电磁兼容试验和测量技术电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T17626.5-2019电磁兼容试验和测量技术浪涌（冲击）抗扰度试验GB/T17626.18-2016电磁兼容试验和测量技术阻尼振荡波抗扰度试验GB/T42968.1-20231GB/T43034.3-20233IEC62132-44(Integrated-Measurementofelectromagneticimmunity150kHzto1GHz-Part4:DirectRFpowerinjection电磁温度综合应力试验板ElectromagnetictemperaturecomprehensivestressexperimentalIC(Integratedcircuit)DUT（Deviceundertest）dB分贝（Decibel）6dB（典型值），并应在试验前进行确认。CW150kHz～3GB/T42968.1-20037.4.1

=∗𝐹=exp

之前，应检查试验使用的所有设备（DUT），以确保其具有足够的电磁抗扰度。IEC62132-44.2、4.3DUT1.5，增益准确度应在±0.5dB，失真小于-20dBc（RF20dB）；——瞬态电磁干扰发生器包含电快速瞬变脉冲群、浪涌、阻尼振荡波的发生器，应按照GB/T17626.4-2018、GB/T17626.5-2019、GB/T17626.18-20166.1DUTDUTDUT1注：试验限值（例如电磁干扰和温度的试验限值）DUTF；d）DUTDUT168hDUT下4h4h2DUTT/CECXXXX-附录IC附录线路驱动器：驱动离开应用板的信号（全局引脚）ISO9141LINb)ISO9141LINLVDSCANLVDSICCPU（CU（控制单元））并执行算术和逻辑运算（ALU（算术/逻辑单元））；ICEMCIC电路的一部分。与这些电路相关的所有引脚（例如分频器、数字逻辑输入引脚）IC附录ICC.1附录100Ω的其它电阻值。在试验报告中应说明所采用的电阻值和电容值。D.1D.2D.2附录E.1，其中ICE.1E.2IOE.3DUT的功能。E.3E.4E.5n.p.——除非为

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