《仪器分析教程》教学课件-第4章-原子吸收光谱法

第4章原子吸收光谱法（AAS）AtomicAbsorptionSpectrometry

4.1.1原子吸收现象

1802年

Wollasten发现太阳光谱中的暗线。

4.1概述（generalization）太阳光D暗线1820年，Brewster的解释。

1860年，Bunsen和Kirchhof的实验。

本生灯的发明：煤气煤气早期的煤气灯本生灯温度达2000℃左右温度较低，有黑烟吸气孔1860年，Bunsen和Kirchhof的实验：D暗线分光镜本生灯1

温度较高本生灯2

温度较低

NaCl

NaCl

1955年澳大利亚物理学家

Wallsh

发表了著名论文《原子吸收光谱法在分析化学中的应用》，奠定了原子吸收光谱法的基础。之后，原子吸收光谱法得到了迅速发展和广泛应用。

（一）AAS的工作原理：4.1.2原子吸收光谱法的特点光源原子化器单色器检测器试液（二）AAS的主要特点：(1)灵敏度高，检出限低至10－10～10－14

g；(2)选择性高，一般情况下共存元素不干扰；(3)准确度高，RE

约为

1%～5%；(4)测定元素多，可测定70多种元素；(5)操作方便，分析速度快；(6)应用范围广泛；(7)局限性：测每一种元素要用专用的灯；难熔元素、非金属元素测定困难、不能同时多元素。4.2原子吸收光谱法的基本原理4.2.1共振线、吸收线和特征谱线（一）原子的能级与跃迁原子的特征能级。

基态和激发态。E0E3E2E1hvhv原子对一定频率的光的产生吸收与发射：

基态→第一激发态的跃迁：产生共振吸收线（简称共振线）——

吸收光谱；

基态←第一激发态的跃迁：产生共振发射线（也称共振线）——

发射光谱。E0E3E2E1hvhv

（二）元素的特征谱线（1）各种元素的原子结构和外层电子排布不同，原子能级具有特征性。产生跃迁时，吸收或发射的能量不同——具有特征性。所对应的吸收线为特征谱线。（2）原子的基态

第一激发态的跃迁——

最易发生，吸收最强，为该元素的灵敏线。（3）利用原子蒸气对特征谱线的吸收可以进行定量分析。4.2.2原子吸收和原子蒸气厚度的关系实验证明：

Iv

＝

I0ve－KvL式中，Kv

为原子蒸气对频率为v的谱线的吸收系数。原子吸收和原子蒸气厚度的关系：A＝lg(I0v/Iv)＝0.434KvL由此可见，二者的关系从朗伯定律,即：A

∝LLI0vIv4.2.3吸收线的轮廓与变宽（一）吸收线的轮廓

如果照射原子的光子的能量hv

正好等于原子的二能级的能量差ΔE，即：hv

＝ΔE

则该原子会吸收频率为v

的光，产生原子吸收光谱。

由上式可知原子吸收应产生一条几何意义上的极细的吸收线。然而，实际上用特征光照射原子时，得到的是具有一定宽度的吸收光谱。

如果用强度为I0v的入射光照射原子，可得如图所示的透过光强度和入射光频率的关系曲线。在一个较小范围内，透射光强度

Iv和吸光度A将随入射光频率v

而改变。由A＝lg

(I0v/Iv)＝0.434KvL知，若I0v

和L一定，则Kv也将随v而改变。v0IvI0v可以用

Kv～

关系曲线来表示

吸收线的轮廓：表征吸收线轮廓的参数：

中心频率

0或中心波长

λ0(nm)，

半宽度

Δ

，峰值吸收系数

K0

。（二）吸收线的变宽为什么原子吸收线是一条有一定宽度的谱线？有那些因素引起谱线的变宽？（1）自然宽度无外界条件影响时，谱线所具有的宽度。自然宽度约为10-5nm

数量级。

（2）多普勒变宽（热变宽）

ΔvD如果和光源相对静止的基态原子吸收光谱的中心频率为v0

，那么跑向光源的原子就会“觉得”光源发出的光的频率略有增加，它的吸收光的频率就会略低于v0；反之，背离光源的原子的吸收光的频率，就会略高于v0

，于是检测器便接收到许多频率略有差异的光，这种运动着的原子的多普勒效应便引起了吸收谱线的总体变宽。

（3）压力变宽（劳伦兹变宽，赫鲁兹马克变宽）ΔVL

由于原子相互碰撞使能量发生稍微变化，引起的谱线变宽。

劳伦兹（Lorentz）变宽：

待测原子和其他原子碰撞。随原子区压力增加而增大。

赫鲁兹马克（Holtsmark）变宽（共振变宽）：

同种原子碰撞。浓度高时起作用，在原子吸收中可忽略。（4）场致变宽

外界电场、带电粒子、离子形成的电场及磁场的作用使谱线变宽的现象；其影响一般较小；

通常,ΔvD为引起谱线变宽的主要原因。4.2.4高温中基态原子和激发态原子的分配

原子吸收光谱是利用待测元素的原子蒸气中基态原子对共振线的吸收的关系来测定的。待测元素的原子蒸气是由试样在高温条件下产生的。在高温的条件下，蒸气中待测元素基态原子数与其原子总数之间的关系是怎样的呢？

当热力学平衡时，蒸气中待测元素基态原子数与其原子总数之间的关系符合Boltzmann分布：式中，Pj和PO分别为激发态和基态的统计权重；Nj和

N0分别为激发态原子数与基态原子数；K为波尔兹曼常数；T为体系的绝对温度；Ej和E0分别为激发态和基态能级能量。

对于特定原子的确定谱线，Nj/N0将随

T而变，T一定，比值一定。

由表中数据可得到如下结论：在原子化的温度下，激发态原子数与基态原子数之比较小<1%，基态原子占绝大多数。因此，可以用基态原子数代表待测元素的原子总数。4.2.5原子吸收测量方法（一）积分吸收和基态原子数的关系原子吸收线具有一定的宽度，这叫吸收线的轮廓，其半宽度约为10－3nm。如果将原子吸收线的轮廓下面的整个面积积分，就能得到各个频率处的吸收系数的总和——积分吸收系数。简称

积分吸收。

经过严格地推导，可得积分吸收与基态原子数之间的关系：式中，e为电子电荷，m为电子质量，N0为单位体积原子蒸气中的基态原子数，f为振子强度。结论：积分吸收与单位体积原子蒸气中的基态原子数N0

成正比。

要测出积分吸收，就必须对半宽度为0.001～0.01nm的吸收线精确扫描，这是一种绝对测量方法，现在的分光装置无法实现。（二）瓦尔西峰值吸收

瓦尔西经过严格推导，得到了积分吸收与峰值吸收系数K0之间的关系：

在原子吸收中，谱线变宽主要受多普勒效应影响，而当温度恒定时，ΔvD为一常数。合并所有常数，则有：

K0

＝aN0

K0

＝aN0

因此，可以用峰值吸收的测量来对待测组分定量分析。所谓峰值吸收是指在峰值吸收系数K0附近很窄的频率范围内所产生的吸收。

由图可见，如果采用锐线光源进行测量，在光源发射线的宽度范围内，Kv可近似认为不变，并近似等于峰值时的吸收系数

K0。

为了测得峰值吸收，需要使用锐线光源，光源必须满足的条件：

（1）光源的发射线与吸收线的中心频率相重合；

（2）发射线的半宽度比吸收线的半宽度窄得多。空心阴极灯是常用的锐线光源。

（三）原子吸收法定量的依据

峰值吸收系数：当使用锐线光源时，可用K0代替Kv，则：

A=k

N0

LN0∝N∝c（N0基态原子数，N总原子数，c待测元素浓度）

所以：

A=K'c

4.3原子吸收分光光度计

AtomicAbsorptionSpectrometer小型原子吸收分光光度计火焰原子吸收分光光度计国产原子吸收分光光度计

火焰原子吸收光谱仪主要部件原子吸收光谱法的分析流程：单色器

原子吸收分光光度计的结构框图如下：检测系统光源系统原子化系统分光系统

紫外可见分光光度计与原子吸收分光光度计在仪器结构上的主要不同点：（1）光源：前者为复合光光源，后者采用特殊的锐线光源。（2）分光系统：前者在吸收之前，后者在吸收之后。（3）吸收：前者为吸收池，后者为原子化器。4.3.1光源

光源由灯和灯电源组成。（一）光源的作用和要求：（1）能发射待测元素的特征谱线；（2）能发射锐线；（3）辐射光强度大，光谱纯度高，稳定性好。（二）空心阴极灯（HollowCathodeLamp,HCL）的结构：(三)空心阴极灯的放电机理

当在HCL的两电极上施加适当电压时，电子将从空心阴极内壁射向阳极；途中电子与充入的惰性气体分子碰撞而使之电离，产生惰气正离子，其在负电场作用下，向阴极内壁猛烈轰击；＋－100~400V

惰气正离子使阴极表面的金属原子溅射出来，这些金属原子再与电子、惰气原子及离子发生撞碰而被激发，激发态原子很快返回基态，并释放出光能，于是空心阴极灯便发射出阴极材料的光谱和内充惰性气体的辉光。＋－100~400V

用不同待测元素作阴极材料，可制成相应空心阴极灯。

空心阴极灯的辐射强度与灯的工作电流（I灯）有关，I灯

是原子吸收仪的重要的操作条件之一。100~400V＋－

若I灯太小或太大，会发生什么现象？

自吸效应：在光源内存在的同种元素的基态原子，对光源发射线的吸收。其结果使谱线减弱、变宽。

自蚀现象：当自吸效应很严重时，一条发射线将变成两条谱线，这一现象叫自蚀。100~400V＋－

空心阴极灯的自吸效应示意图

A－灯电流较低时的发射线；B－灯电流太高产生的自蚀现象

（四）空心阴极灯的使用（1）灯电源必须稳定；（2）工作前应预热5～20min；（3）灯电流应适当；灯电流不能超过最大灯电流（Max.Current）；（4）放置不用的灯要定期通电。（五）HCL的优缺点能发射强而稳定的特征谱线，光谱纯度高，寿命长。测定不同元素需换不同的空心阴极灯。

4.3.2原子化系统作用：

将试样中待测元素转变成其基态原子蒸气。原子化方法：

火焰原子化法和无火焰原子化法。（一）火焰原子化器由雾化器、雾化室、燃烧器组成。（1）雾化器：结构如图所示：雾化器的工作原理：伯努利原理提升量：单位时间进入雾化器中的试液量（mL/min）。怎样改变提升量？助燃气（2）雾化室

雾化室的作用：

使雾粒与燃气、助燃气混合均匀，以减少火焰波动；使粗液粒在其内壁凝聚成液体，而从废液管排除。

雾化室的结构：

雾化率：单位时间进入火焰中的雾粒量与提升量之比。水封雾化室

主要缺点：雾化率低。

废液出口必须水封。为什么？

废液排除必须畅通。否则将产生严重的记忆效应。记忆效应：前次测量对后次测量的产生的影响。水封（3）燃烧器燃烧器的作用：燃烧器的结构：可调节部分：

a.燃烧器的高度。

b.燃烧器的角度。起什么作用？燃烧器（4）火焰

（A）火焰的作用：试样雾滴在火焰中，经蒸发，干燥，离解（还原）等过程产生大量基态原子。

（B）火焰的温度：火焰温度取决于燃气与助燃气类型和比例，常用空气—乙炔焰：最高温度达2600K，能测35种元素。笑气(N2O)－乙炔焰：最高温度达3000K，能测70余种元素。

（C）火焰的速度：单位时间内燃烧传播的距离。（cm·s－1）（D）火焰的类型：（a）按燃气和助燃气种类分类：

空气－乙炔焰、笑气(N2O)－乙炔焰、空气－氢气焰、空气－甲烷焰等。（b）按燃气助燃气比例分类：

化学计量火焰：温度高，干扰少，稳定，背景低，为常用火焰。

富燃火焰：还原性火焰，燃烧不完全，测定较易形成难熔氧化物的元素Mo、Cr、稀土等。

贫燃火焰：火焰温度低，氧化性气氛，适用于碱金属、贵金属等的测定。（二）无火焰原子化器——高温石墨炉高温石墨炉的结构：由电源、石墨管、炉体组成。

电源提供能量加热石墨管。加热方式：

低电压（8～15V），强电流（300～600A）

气路：外气路中惰气（N2或Ar）沿石墨管外壁流动，保护石墨管不被烧毁；内气路中惰气由管两端流向管中心，从中心孔流出，起保护石墨管内壁和排除干燥和灰化过程中产生的基体蒸汽的作用。

循环水冷却套：循环冷却水保证炉体温度不会太高。高温石墨炉的原子化过程：低电压、大电流加热。高温石墨炉的原子化过程包括干燥（蒸发除去溶剂，防止溅射损失）、灰化（去除基体物质干扰）、原子化（待测元素生成基态原子）、净化（去除残留物，消除记忆效应）等四个程序升温阶段。高温石墨炉的优缺点：

优点：原子化效率高，化学干扰较小，试样用量少（1～100μL），可测固体及粘稠试样，灵敏度高，检测极限低（10-12～10－14g/L）。

缺点：精度较差，装置复杂、昂贵，操作不够简便，有时记忆效应较明显，背景干扰较大。（三）冷原子吸收法测汞253.7nm汞灯

吸收池检测器N2＋汞蒸气

原理：将试样中的汞离子用SnCl2或盐酸羟胺完全还原为金属汞后，用气流将汞蒸气带入具有石英窗的气体测量管中进行吸光度测量。

冷原子吸收测汞法的特点：常温测量；灵敏度较高（可达10-8g汞）；准确度较高；干扰较小；应防止汞蒸气污染。

（四）氢化物原子化法

特点：可测定Ge、Sn、Pb、As、Sb、Bi、Se、Te

等能生成氢化物的元素；

原子化温度低（约800゜C）；灵敏度高（对砷、硒可达10-9g）；基体干扰和化学干扰小。氢化物原子化法的过程：（1）生成气态氢化物：AsCl3＋4KBH4＋HCl＋8H2O＝AsH3↑＋4KCl＋4HBO2＋13H2（2）富集氢化物：（3）热解氢化物并测定：

N2氢化物发生器光束石英管火焰橡皮球4.3.3分光系统（单色器）（一）分光系统的作用：将待测元素的共振线与邻近线分开。（二）分光系统的元件和光路：光栅狭缝凸透镜凸透镜凹面镜原子化器检测器空心阴极灯（三）单色器性能参数

色散率、分辨率、集光本领。

（1）线色散率：将相邻单位波长差的两条谱线分开后，投射到焦面上的距离的大小。

线色散率＝Δx/Δλ在实际工作中，常用倒线色散率（D）来表征单色器的色散能力。

D

＝Δλ/Δx（nm·mm－1）

（2）分辨率：仪器分开相邻两条谱线的能力。理论分辨率用满足“瑞利准则”的两条谱线的平均波长与其波长差的比值λ/Δλ表示。实际分辨率用镍三线、汞三线、锰双线表示。分辨率与仪器的色散率和狭缝宽度（S）有关。

S的单位为mm。

狭缝宽度（S）对Ni三线的分辨情况的影响:（3）集光本领：

反映了单位强度入射光通过单色器后的出射光的大小。

光谱通带（W）：指通过单色器出射狭缝的光束的光谱区间的宽度。当倒色散率（D）一定时，可通过选择狭缝宽度（S）来调节光谱通带：

W=D

S（nm）4.3.4检测系统

主要由检测器、放大器、对数变换器、显示记录装置组成。

（一）检测器——将单色器分出的光信号转变成电信号的装置。在原子吸收光谱仪中，采用光电倍增管作为光电转换元件。光电倍增管的结构：光光敏阴极打拿极（dynode）阳极分压电阻电容光电倍增管的工作原理：

分光后的光照射到光电倍增管的光敏阴极上；光光敏阴极打拿极（dynode）阳极分压电阻电容轰击出的光电子又射向第一打拿极，轰击出更多的光电子，依次倍增；

光光敏阴极打拿极（dynode）阳极分压电阻电容最后在阳极上放出的光电子比最初多到106倍以上，最大电流可达10μA。

该电流经负载电阻转变为电压信号送入放大器。

光光敏阴极打拿极（dynode）阳极分压电阻电容

光电倍增管的疲劳现象：长时间连续工作、光信号过强、阴极负高压过高，都会引起光电倍增管的灵敏度下降，这叫光电倍增管的疲劳现象。

怎样避免疲劳现象？

操作时应注意那些问题？

（二）放大器---将光电倍增管输出的较弱信号，经电子线路进一步放大。

（三）对数变换器---光强度与吸光度之间的转换。

（四）显示、记录装置。单光束原子吸收光谱仪主要部件及分析流程

空心阴极灯双光束原子吸收光谱仪主要部件及分析流程近年来使用连续光源和中阶梯光栅，结合使用光导摄像管、电荷偶合器件、电荷注入器、光电二极管阵列检测器等，设计出了微机控制的原子吸收仪，为解决多元素同时测定开辟了新的前景。

联用技术也日益受到重视。4.4定量分析方法

methodofquantitativeanalysis4.4.1标准曲线法

配制一系列浓度递增的标准溶液，由低到高依次测定其吸光度，作A～c(m)关系曲线（标准曲线），在相同条件下测定试样的吸光度，在标准曲线上查出对应的浓度值。也可由标准溶液测得的对应数据求出A～c（m）一元线性回归方程，然后将测得的试样吸光度值带入，计算出试样浓度值。使用标准曲线法应注意：在高浓度时，标准曲线易向下弯曲。对于复杂样品的测定，可能会因基体效应而产生较大的误差。

基体：在试液中，除了待测组分之外的其他成分叫试液的基体。

基体效应：由于试样和标准之间的基体差异而引起测定误差的现象。

要消除基体效应，就应使试样溶液和标准溶液的基体尽可能一致。4.4.2标准加入法

标准加入法能使试样溶液和标准溶液的基体尽可能一致，因此可以较好地消除基体效应。（一）单加法

因为

A＝k’c故

Ax

＝k’mx/V

A＝

k’（mx+m0）/

V

二式相比得：

mx

＝Axm0/(A－Ax)

最后，由mx计算出试样原始浓度。体积=VLmxmx+m0（二）复加法

取若干份体积相同的试液（其质量为mxmg），依次按比例加入不同量的待测物的标准溶液（其浓度为m0mg/mL），定容。含量依次为：

mx

mx

+mO

mx

+2mO

mx

+4mO

…测得吸光度：

AX

A1

A2A3…

作A～加标量（m加）关系曲线，将该直线向下外推至与横轴相交，交点至原点的长度即为

mx

。

由mx计算出试样原始浓度。

该方法可抑制基体效应。

mx0m02m04m0A2

A3

A使用标准加入法的注意事项：

（1）应在A～c

呈线性关系的范围内测定；

（2）加标量应适当；（3）能克服基体效应的影响，但不能消除背景吸收干扰。

4.5干扰及其抑制方法

interferencesandelimination

4.5.1化学干扰（chemicalinterference）

指由待测元素与共存组分之间发生化学反应所引起的干扰效应。其结果使待测元素的原子化效率降低，吸收减弱，它是原子吸收分析的主要干扰。

化学干扰通常是指待测元素在溶液或蒸气中与其他组分发生化学反应，生成难解离的化合物，从而使基态原子数减少、吸收减弱的现象。例如：

铝、硅、硼、钛、铍等元素在火焰中易生成难熔氧化物；

硫酸盐、硅酸盐与铝生成难挥发物；

Ca

易与PO43－、SO42－

生成难解离的Ca2P2O7

和CaSO4

。

抑制化学干扰的方法：（1）化学分离。（2）使用高温火焰。（3）加入释放剂，与干扰元素生成更稳定化合物，使待测元素释放出来。例：锶和镧可有效消除磷酸根对钙的干扰。（4）加入保护剂，与待测元素形成稳定的络合物，防止干扰物质与其作用。例：加入EDTA生成EDTA-Ca，避免磷酸根与钙作用。

抑制化学干扰的方法：（5）加入缓冲剂，加入足够过量的干扰元素，使干扰趋于稳定。

例：用N2O—C2H2火焰测钛时，在试样和标准溶液中加入300mgL-1以上的铝盐，使铝对钛的干扰趋于稳定。（6）加入基体改进剂。（7）采用标准加入法。4.5.2电离干扰（ionizationinterference）

电离干扰是指由于待测元素原子在高温中电离成不能吸收分析线的离子而产生的干扰效应。其结果使基态原子数减少，吸收强度减弱。MM+

＋e－

碱金属、碱土金属等电离电位≤6eV的元素，易在火焰中发生电离，火焰温度越高，干扰越严重。高温

电离干扰还与原子化器中待测元素原子的总浓度有关，总浓度越低，电离度越大。

电离干扰使标准曲线怎样弯曲？抑制电离干扰的方法：

（1）加入大量消电离剂———

易电离的

Li、Na、K、Cs

等碱金属盐，以抑制待测元素的电离。

（2）适当降低原子化器的温度。

4.5.3光谱干扰

（spectruminterference）

光谱干扰是与光谱发射和吸收有关的干扰。（一）光谱通带内有多条参与吸收的发射线。消除方法：减小狭缝宽度；另选分析线。（二）光谱通带内有非吸收的发射线。消除方法：减小狭缝宽度；另选分析线；换高质量的空心阴极灯。

（三）空心阴极灯有连续背景发射。

消除方法：空心阴极灯定期通电；换用纯度较高的空心阴极灯；另选分析线。

（四）待测元素与干扰元素的吸收谱线重叠。消除方法：分离干扰物质，另选分析线。

（五）分子吸收和光散射（背景吸收）。

分子吸收和光散射也叫背景吸收干扰，主要是在原子化过程中所产生的光谱干扰，干扰严重时，不能进行测定。

1.分子吸收：原子化过程中生成的气体、氧化物、氢氧化物或盐类等分子对分析线的吸收。分子光谱是带状光谱，会在较宽的波长范围内产生干扰。

2.光散射：原子化过程中生成的固体微粒使入射光产生的散射现象。

背景吸收干扰会使测定结果产生正偏差。石墨炉原子化法比火焰法产生的背景吸收干扰要严重得多。如何消除？采用校正背景的方法来消除此干扰。

校正背景的方法：(1)氘灯连续光谱背景校正旋转斩光器交替使氘灯提供的连续光谱和空心阴极灯提供的共振线通过火焰；连续光谱通过时，测定的为背景吸收(此时的共振线吸收相对于总吸收可忽略)；共振线通过时，测定总吸收；二者差值为原子吸收。（2）塞曼(Zeeman)效应背景校正法Zeeman效应：在磁场作用下简并的谱线发生裂分的现象；校正原理：原子化器加磁场后，随旋转偏振器的转动，当平行磁场的偏振光通过火焰时，产生总吸收；当垂直磁场的偏振光通过火焰时，只产生背景吸收；方式：光源调制法和共振线调制法（应用较多），后者又分为恒定磁场调制方式和可变磁场调制方式。优点：校正能力强（可校正背景A1.2～2.0）；

可校正波长范围宽：190～900nm；（3）用邻近的非吸收线校背景。（4）用史密斯－海夫约背景校正器校背景。利用空心阴极灯在很高灯电流电流的工作条件下，产生的自蚀现象来校正背景的装置。较低灯电流时——测出总吸收；很高灯电流时——测出背景吸收；二者之差——原子吸收。4.5.4物理干扰

(physicalinterference)

试样在转移、蒸发和原子化过程中，由于物理因素变化引起的干扰效应。主要影响试样喷入火焰的速度、雾化效率、雾滴大小等。

可以通过控制试液与标准溶液的组成尽量一致、进样方式和分析条件尽量一致等的方法来抑制物理干扰。4.5.5有机溶剂的影响

萃取原子吸收光谱法：可以大大提高灵敏度。使用酮类作溶剂最好。比如甲基异丁基酮（MIBK）等。不宜用卤代烃、苯、环己烷、正庚烷、石油醚等作溶剂。

4.6灵敏度和检出限4.6.1灵敏度

(sensitivity)(一)相对灵敏度和绝对灵敏度

规定为校正曲线的斜率。火焰法：相对灵敏度

Sc

＝dA/dc式中，A

为吸光度，c为试样浓度。石墨炉法：绝对灵敏度Sm

＝dA/dm式中，A

为吸光度，m为试样质量。AcAm

(二)特征浓度（cc）

能产生1%吸收的待测组分的浓度。此时吸光度为：

A’

＝lg(100/99)＝0.0044＝k’cc

……（1）

配制浓度为c的标液，测得吸光度

A＝k’c

……（2）

二式相比得：

cc

＝0.0044c

/A

(μg·mL－1

/

1%)cc可反映火焰法的灵敏度的大小。(三)特征含量（mc）能产生1%吸收的待测组分的含量。

mc=0.0044cV/A

(g/1%)式中,c

为标液浓度（g·mL－1），V为进样体积（mL）。

mc可反映石墨炉法的灵敏度的大小。4.6.2检出限（Limitofdetection）

噪声：无待测组分的输入信号时，仪器自身产生的输出信号。

检出限：在置信度＝99.7％的情况下，仪器能检测出的待测元素的最小浓度或最小质量。

此时，待测元素产生的吸收信号是空白溶液或接近空白的溶液经10次以上重复测定所得吸光度的标准偏差的3倍。该标准偏差主要体现了仪器噪声信号的波动，即反映了噪声电平的大小。（1）相对检出限（Dc）：

适用于火焰法。

配制一浓度c

＝5Dc～10Dc

的标准溶液，平行测定10次以上，计算其标准偏差Sb：

由检出限定义，有

A’

＝k’Dc

＝3Sb

且A＝

k’c二式相比得：

（μg·mL－1）

（2）绝对检出限（Dm）:

Dm用质量（g）表示，适用于石墨炉法。其计算公式为：

式中c为标液浓度（g