2025年无损检测员(中级)职业技能鉴定考试试卷及答案

2025年无损检测员(中级)职业技能鉴定考试试卷及答案一、单项选择题（每题1分，共40分。每题只有一个最符合题意的答案，请将正确选项的字母填在括号内）1.在射线照相中，若底片黑度从2.0提高到3.0，则透过底片的可见光强度约降低（）。A.10%  B.50%  C.90%  D.99%答案：C2.采用A型脉冲反射式超声探伤仪检测厚40mm的对接焊缝，探头K值为2，扫描速度按1:2调节，示波屏上缺陷波前沿出现在水平刻度45mm处，则缺陷距探测面的垂直深度为（）。A.15mm  B.20mm  C.22.5mm  D.30mm答案：C3.在磁粉检测中，若工件表面切向磁场强度为2.4kA/m，则其表面磁感应强度B约为（μ₀=4π×10⁻⁷H/m）（）。A.3.0mT  B.3.0T  C.3.0×10⁻³T  D.3.0×10⁻⁶T答案：C4.渗透检测时，显像剂层过厚会导致（）。A.背景荧光增强  B.缺陷显示放大  C.缺陷漏检  D.渗出速度加快答案：C5.用10MHz、Φ6mm的纵波直探头在钢中（CL=5900m/s）检测，近场长度N约为（）。A.14mm  B.28mm  C.38mm  D.56mm答案：C6.射线实时成像系统图像分辨力测试采用IQI，其线径d与几何不清晰度Ug关系为（）。A.d≤Ug  B.d≥2Ug  C.d≤0.7Ug  D.d≥0.2Ug答案：A7.在TOFD检测中，若两探头中心距2S=100mm，工件厚T=30mm，则缺陷尖端衍射信号与侧向波时间差Δt的计算式为（）。A.Δt=(√(S²+T²)−S)/C  B.Δt=(2√(S²+T²)−2S)/C  C.Δt=(√(S²+T²)−T)/C  D.Δt=(2T)/C答案：B8.磁轭法检测时，磁极间距由150mm调至200mm，则提升力应（）。A.不变  B.增大≥20%  C.减小≥20%  D.增大≥45%答案：B9.采用荧光渗透剂时，黑光辐照度在工件表面应不低于（）。A.100μW/cm²  B.500μW/cm²  C.1000μW/cm²  D.2000μW/cm²答案：C10.在射线照相中，设散射比n=3，则胶片对比度ΔD与主因对比度Δμ关系为（）。A.ΔD=Δμ/(1+n)  B.ΔD=Δμ·(1+n)  C.ΔD=Δμ·n  D.ΔD=Δμ/n答案：B11.超声斜探头入射角为30°，楔块中纵波声速CL₁=2700m/s，钢中横波声速CS₂=3200m/s，则钢中折射角约为（）。A.33°  B.37°  C.42°  D.49°答案：B12.磁粉检测环形试块（B型）上人工孔深1.0mm，当用交流电磁化时，能清晰显示孔痕的最小磁化电流约为（）。A.500A  B.800A  C.1200A  D.1600A答案：C13.渗透检测中，乳化时间取决于（）。A.缺陷尺寸  B.渗透剂粘度  C.乳化剂浓度  D.以上均是答案：D14.射线能量1MeV时，钢的质量衰减系数约为0.06cm²/g，则其半值层厚度约为（钢的ρ=7.8g/cm³）（）。A.1.5cm  B.2.2cm  C.3.7cm  D.5.9cm答案：C15.超声检测中，若缺陷回波高度比基准波高低12dB，则两者回波幅度比为（）。A.1:2  B.1:4  C.1:8  D.1:16答案：C16.在磁粉检测中，白光照度计用于测量（）。A.紫外辐照度  B.可见光照度  C.表面磁场强度  D.磁感应强度答案：B17.射线实时成像系统的图像延迟主要是由（）引起。A.探测器余辉  B.几何放大  C.散射  D.电子噪声答案：A18.采用水浸法超声检测管材，若管材外径60mm，壁厚5mm，偏心距x=15mm，则入射角α满足（）。A.sinα=CL水/CL钢  B.sinα=x/R  C.sinα=(R−t)/R  D.sinα=CL钢/CL水答案：B19.渗透检测中，若干燥温度高于80℃，最可能出现（）。A.背景过亮  B.缺陷放大  C.渗透剂渗出  D.荧光猝灭答案：D20.在射线照相中，采用双胶片技术，高感度胶片黑度2.5，低感度胶片黑度1.0，则叠放后有效黑度约为（）。A.2.5  B.3.0  C.3.5  D.4.0答案：C21.超声检测中，若仪器垂直线性误差为5%，则回波幅度从80%降至20%时，实测dB值与理论dB值差为（）。A.0.8dB  B.1.2dB  C.1.9dB  D.2.5dB答案：C22.磁粉检测中，交流电的趋肤深度δ与频率f关系为（）。A.δ∝f  B.δ∝√f  C.δ∝1/√f  D.δ∝1/f答案：C23.射线透照厚度比K值越大，则（）。A.横向裂纹检出角减小  B.几何不清晰度减小  C.有效评定长度减小  D.影像对比度降低答案：D24.在TOFD检测中，若缺陷上尖端衍射信号波幅为下尖端的1/4，则缺陷倾角θ约为（）。A.15°  B.30°  C.45°  D.60°答案：B25.渗透检测中，显像时间一般不少于（）。A.1min  B.5min  C.10min  D.30min答案：C26.超声检测中，若探头晶片直径增加一倍，则近场长度变为原来的（）。A.1倍  B.2倍  C.4倍  D.8倍答案：C27.射线照相中，采用Ir192源，曝光因子F=20，若源强度由20Ci降至5Ci，欲保持黑度不变，曝光时间应（）。A.不变  B.减半  C.加倍  D.增至4倍答案：D28.磁粉检测中，周向磁化电流I=3000A，工件直径50mm，则其表面磁场强度约为（）。A.12kA/m  B.24kA/m  C.36kA/m  D.48kA/m答案：B29.渗透检测中，若背景荧光亮度超过工件表面荧光亮度（）以上，则判为不合格。A.10%  B.30%  C.50%  D.100%答案：C30.超声检测中，若缺陷直径小于波束截面直径，则其回波高度与缺陷直径关系近似为（）。A.线性  B.平方  C.立方  D.四次方答案：B31.射线实时成像系统的空间分辨力常用（）表示。A.MTF  B.SNR  C.NEQ  D.DQE答案：A32.磁粉检测中，干粉法适用于（）。A.高温工件  B.表面粗糙工件  C.焊缝根部  D.以上均是答案：A33.超声检测中，若仪器重复频率过高，会出现（）。A.幻象波  B.迟到波  C.变形波  D.表面波答案：A34.渗透检测中，若工件表面有镀铬层，应优先选用（）。A.水洗型渗透剂  B.后乳化型渗透剂  C.溶剂去除型渗透剂  D.荧光水基型答案：C35.射线照相中，若散射线屏蔽不佳，会导致（）。A.对比度提高  B.黑度降低  C.胶片灰雾  D.清晰度提高答案：C36.超声检测中，若探头楔块磨损，K值将（）。A.增大  B.减小  C.不变  D.先增后减答案：B37.磁粉检测中，交流电磁化对（）缺陷最敏感。A.内部夹杂  B.表面疲劳裂纹  C.深层气孔  D.未熔合答案：B38.射线能量越高，胶片特性曲线（）。A.梯度越大  B.梯度越小  C.灰雾越大  D.宽容度越小答案：B39.超声检测中，若缺陷回波位于5格，底波位于10格，则缺陷埋深占板厚的（）。A.25%  B.33%  C.50%  D.67%答案：C40.渗透检测中，若显像剂施加后2min即观察，最可能漏检（）。A.宽裂纹  B.窄裂纹  C.点状缺陷  D.大面积缺陷答案：B二、判断题（每题1分，共20分。正确打“√”，错误打“×”）41.射线照相中，增大焦距可减小几何不清晰度。（√）42.超声检测中，横波声速与频率无关。（√）43.磁粉检测中，干粉法比湿法更适合检测细微裂纹。（×）44.渗透检测中，荧光渗透剂可在白光下观察。（×）45.射线实时成像系统的DQE越高，图像信噪比越好。（√）46.超声检测中，当缺陷取向与声束垂直时回波最高。（√）47.磁粉检测中，直流电磁化可检测表面下3mm的缺陷。（√）48.渗透检测中，乳化时间越长，背景越干净。（×）49.射线照相中，双胶片技术可提高厚度宽容度。（√）50.超声检测中，表面波不能检测表面油污下的裂纹。（√）51.磁粉检测中，交流电的趋肤深度大于直流电。（×）52.渗透检测中，显像剂层越厚，缺陷显示越清晰。（×）53.射线能量越高，康普顿效应越显著。（√）54.超声检测中，纵波直探头可检测倾斜缺陷。（×）55.磁粉检测中，磁写可造成伪缺陷显示。（√）56.渗透检测中，荧光亮度与缺陷深度成正比。（×）57.射线照相中，散射线栅可提高对比度。（√）58.超声检测中，K值越大，一次波声程越短。（×）59.磁粉检测中，剩磁法适用于高碳钢。（√）60.渗透检测中，水基渗透剂对塑料无腐蚀。（√）三、计算题（每题10分，共30分。要求写出公式、代入数据、计算结果及单位）61.用Ir192源透照30mm厚钢焊缝，已知源强度20Ci，曝光因子F=18，求所需曝光时间t。若源强度衰减至5Ci，欲保持黑度不变，新曝光时间t′为多少？解：曝光因子定义F=t·(S₀/S)²初始S₀=20Ci，t=F/(S₀/S)²=18/(20/20)²=18min衰减后S=5Ci，t′=F/(S/S)²=18/(5/20)²=18×16=288min答案：初始18min，新曝光时间288min。62.超声检测厚40mm钢板，采用2.5MHz、Φ20mm纵波直探头，钢中CL=5900m/s。求近场长度N和半扩散角θ。若在距探测面25mm处发现一平底孔缺陷Φ2mm，求其回波与底波dB差。解：λ=CL/f=5900/(2.5×10⁶)=2.36×10⁻³m=2.36mmN=D²/(4λ)=20²/(4×2.36)≈42.4mmθ=arcsin(1.22λ/D)=arcsin(1.22×2.36/20)≈8.2°缺陷回波与底波dB差：ΔdB=20log[(πΦ²/2λx)·(2x/T)]=20log[(π·2²/2·2.36·25)·(2·25/40)]=20log[0.106·1.25]=20log0.1325≈−17.6dB答案：N≈42mm，θ