2025手机检修师考试手机充电电路故障排查试题及答案

2025手机检修师考试手机充电电路故障排查试题及答案一、单项选择题（共15题，每题2分，共30分）1.手机充电电路中，负责识别快充协议并控制充电电流的核心元件是（）。A.充电接口（TypeC/USBA）B.电源管理集成电路（PMIC）C.滤波电容（C101）D.电池保护板NTC热敏电阻2.采用USBPD3.0快充协议的手机，其TypeC接口中用于协议握手的关键引脚是（）。A.D+、D（数据引脚）B.CC1、CC2（配置通道引脚）C.VBUS（电源引脚）D.GND（接地引脚）3.某手机充电时显示“不支持的充电器”，最可能的故障原因是（）。A.电池容量低于20%B.充电IC（PMIC）输入电压异常C.充电接口CC引脚对地阻值异常D.电池保护板MOS管烧毁4.用万用表检测充电接口VBUS引脚电压时，正常待机状态下的电压应为（）。A.0VB.3.3VC.5V（或快充协议协商后的电压）D.电池电压（3.7V~4.2V）5.手机充电时电池发热严重（超过50℃），优先检查的元件是（）。A.充电线USBA公头的金手指B.电池保护板NTC热敏电阻C.主板天线开关D.屏幕背光IC6.某手机使用原装充电器时充电电流仅0.5A（正常应为2A），可能的故障是（）。A.充电线内部铜丝断裂（断路）B.充电接口VBUS引脚与GND短路C.充电IC（PMIC）输出电容容值减小D.电池保护板保险丝（F1）熔断7.手机进水后无法充电，优先排查的部位是（）。A.充电接口金属触点氧化或腐蚀B.电池正极与主板连接的FPC排线C.屏幕显示ICD.无线充电线圈8.检测充电IC（PMIC）输入电压时，若实测值为4.2V（正常应为5V），可能的故障是（）。A.充电线线阻过大（超过0.1Ω）B.电池保护板MOS管击穿C.PMIC内部短路D.充电接口GND引脚虚焊9.手机支持18W快充，但使用第三方充电器时仅5W慢充，故障可能是（）。A.充电器输出功率不足（仅支持5V/1A）B.手机电池容量低于10%C.充电接口D+引脚对地阻值异常（未触发快充协议）D.主板音频解码IC损坏10.用示波器检测充电IC（PMIC）的I2C通信总线时，正常波形应为（）。A.方波（频率1MHz~4MHz）B.正弦波（频率50Hz）C.高低电平跳变的串行数据信号D.三角波（频率100kHz）11.手机充电时屏幕乱触，最可能的故障是（）。A.充电线屏蔽层损坏（电磁干扰）B.电池容量耗尽C.主板CPU虚焊D.后置摄像头FPC排线松动12.电池保护板的主要功能不包括（）。A.过压保护（防止电池过充）B.过流保护（防止大电流放电）C.温度检测（通过NTC电阻）D.快充协议识别（通过CC引脚）13.某手机充电时显示“充电已暂停”，实测电池电压为4.3V（正常满电为4.2V），故障原因是（）。A.充电IC（PMIC）过压保护触发B.充电线接触不良C.电池保护板NTC电阻开路D.主板时钟IC损坏14.检测充电接口对地阻值时，若VBUS引脚阻值为0Ω（正常应为100Ω~200Ω），说明（）。A.VBUS与GND短路B.充电IC损坏C.接口金手指氧化D.电池保护板保险丝熔断15.无线充电手机无法接收充电，优先排查的元件是（）。A.无线充电线圈与主板的连接FPCB.充电接口TypeC的CC引脚C.电池保护板MOS管D.主板射频功放IC二、多项选择题（共10题，每题3分，共30分。每题至少2个正确选项，错选、漏选均不得分）1.手机充电电路的核心组成部分包括（）。A.充电接口（TypeC/USBA）B.电源管理集成电路（PMIC）C.电池保护板（含NTC、MOS管、保险丝）D.滤波电容（用于稳定电压）2.充电时手机无任何充电提示（屏幕无显示），可能的故障点有（）。A.充电接口VBUS引脚虚焊B.充电IC（PMIC）供电脚无电压C.电池保护板保险丝熔断（开路）D.主板显示IC损坏3.快充协议握手失败的可能原因包括（）。A.充电线CC引脚接触不良B.充电器不支持手机所需的快充协议（如PD/QC）C.手机PMIC的I2C总线故障（无法发送协议数据）D.电池容量低于10%4.充电时手机发热异常（电池/主板温度＞50℃），可能的原因有（）。A.充电线线阻过大（如0.2Ω，正常＜0.05Ω）B.充电IC（PMIC）内部短路（电流过大）C.电池老化（内阻增大）D.手机后台运行大量程序（CPU高负载）5.检测充电电路时，需要使用的工具包括（）。A.万用表（测电压、电阻）B.示波器（测信号波形）C.热风枪（拆焊元件）D.电流钳（测充电电流）6.手机使用非原装充电器后无法充电，可能的故障是（）。A.充电器输出电压过高（如9V）导致PMIC过压保护B.充电线内部短路（VBUS与GND短接）C.电池保护板MOS管因过流烧毁D.主板音频解码IC损坏7.充电接口常见的物理损坏形式有（）。A.金手指氧化（阻值增大）B.塑料底座断裂（导致引脚错位）C.引脚虚焊（与主板接触不良）D.防水胶老化（进水腐蚀）8.电池保护板故障的典型表现有（）。A.充电时电池电压异常升高（＞4.3V）B.放电时电流过大（＞3A）导致手机关机C.温度检测失效（NTC电阻开路，手机误报高温）D.快充协议无法识别（CC引脚阻值异常）9.用万用表检测充电电路时，需要测量的关键参数有（）。A.充电接口VBUS引脚电压（正常5V/9V/12V等）B.充电IC（PMIC）输入/输出电流（正常0.5A~3A）C.电池正负极电压（正常3.7V~4.2V）D.充电线线阻（正常＜0.05Ω）10.手机充电时断时续的可能原因有（）。A.充电接口金手指与线插接触不良（如变形）B.充电IC（PMIC）虚焊（受热后接触不良）C.电池保护板MOS管老化（内阻增大，触发过流保护）D.主板电池检测脚（BAT_DET）对地短路三、填空题（共10题，每题2分，共20分）1.手机充电电路中，用于抑制高频干扰的元件是________（填元件类型）。2.USBPD3.0协议支持的最大输出功率为________W（需填写数值）。3.电池保护板上的NTC热敏电阻的作用是________（填功能）。4.检测充电线线阻时，应使用万用表的________档位（填具体功能）。5.快充协议握手时，手机PMIC通过________总线（填通信协议）与充电器交换数据。6.充电IC（PMIC）的输入电压范围通常为________V（需填写数值范围）。7.手机充电时，若电池电压超过________V（需填写数值），保护板会触发过压保护。8.无线充电的工作原理是________（填物理现象）。9.充电接口TypeC的VBUS引脚数量为________个（需填写数值）。10.手机充电电路中，保险丝（F1）的主要作用是________（填功能）。四、简答题（共5题，每题6分，共30分）1.简述手机无法充电的故障排查步骤（至少5步）。2.快充手机使用非原装充电器时仅支持慢充，可能的原因有哪些？请从“充电器端”“线材端”“手机端”三方面分析。3.充电时手机主板发热严重（温度＞60℃），如何定位故障元件？请列出具体检测方法。4.用万用表检测充电接口TypeC的CC1引脚时，正常阻值应为多少？若实测阻值为0Ω，可能的故障是什么？5.电池保护板MOS管烧毁的常见原因是什么？烧毁后会导致哪些故障现象？五、分析题（共2题，每题10分，共20分）1.案例：用户反馈手机使用原装充电器充电时，屏幕显示“充电中”，但30分钟仅充入5%电量（正常应充入30%）。（1）列出可能的故障点（至少4个）；（2）设计检测方案（需包含工具、检测步骤及判断标准）。2.案例：某手机进水后，充电时显示“充电异常，请断开充电器”。拆机检查发现充电接口金手指有明显腐蚀痕迹。（1）分析腐蚀对充电电路的影响（至少3点）；（2）给出维修方案（需包含具体操作步骤）。六、综合应用题（共1题，20分）背景：图1为某手机充电电路简化原理图（部分元件标注），其中：U1：充电IC（PMIC），输入电压5V，输出电压4.2V（给电池充电）；C1：输入滤波电容（10μF）；C2：输出滤波电容（22μF）；F1：保险丝（额定电流3A）；J1：TypeC充电接口（VBUS引脚①，CC引脚②，GND引脚③）；BAT：电池（3.7V~4.2V）。故障现象：手机连接充电器后无充电提示，电池电量持续下降。实测数据：J1①（VBUS）电压：0V（正常应为5V）；F1两端电压：5V（正常应为0V）；U1输入脚（5V_IN）电压：0V；J1②（CC）引脚对地阻值：正常（100Ω）；电池电压：3.6V（正常）。问题：（1）根据原理图和实测数据，判断故障点（需说明依据）；（2）列出维修步骤（需包含工具和操作细节）；（3）维修后如何验证故障是否排除？参考答案一、单项选择题1.B2.B3.C4.C5.B6.C7.A8.A9.C10.C11.A12.D13.A14.A15.A二、多项选择题1.ABCD2.ABC3.ABC4.ABC5.ABD6.ABC7.ABCD8.ABC9.ACD10.ABC三、填空题1.滤波电容（或“电容”）2.1003.检测电池温度（或“温度保护”）4.电阻（或“Ω档”）5.I2C（或“I²C”）6.4.75V~5.25V（或“5V±0.25V”）7.4.35（或“4.3~4.4V”）8.电磁感应（或“电磁感应耦合”）9.210.过流保护（或“防止大电流损坏电路”）四、简答题1.步骤：（1）更换原装充电器+线材，排除外部设备故障；（2）检查充电接口是否变形、氧化（用放大镜观察金手指）；（3）用万用表测充电接口VBUS引脚电压（正常5V/9V等）；（4）测充电IC（PMIC）输入脚电压，确认是否有供电；（5）测电池保护板保险丝（F1）是否熔断（阻值应为0Ω）；（6）检查PMIC与主板是否虚焊（用热风枪补焊）；（7）最后替换PMIC或电池测试（排除元件损坏）。2.原因分析：充电器端：不支持手机所需的快充协议（如仅支持5V/2A的QC2.0，而手机需PD3.0）；线材端：充电线CC引脚接触不良（无法传输协议信号）或线阻过大（触发过流保护）；手机端：PMIC的快充协议识别电路故障（如I2C总线异常）或CC引脚对地阻值异常（无法握手）。3.定位方法：（1）用红外测温仪扫描主板，定位高温区域（如PMIC、充电接口附近）；（2）测PMIC输入电流（正常≤3A），若＞3A可能内部短路；（3）测充电线线阻（正常＜0.05Ω），若＞0.1Ω则线损过大发热；（4）测电池内阻（正常＜50mΩ），若＞100mΩ说明电池老化；（5）断开电池，单独给主板供电，若仍发热则为主板电路故障（如电容漏电）。4.正常阻值：CC引脚对地阻值通常为100Ω~200Ω（具体因协议不同，如PD协议为56kΩ/22kΩ）。故障：CC引脚与GND短路（可能因进水腐蚀或元件击穿）。5.烧毁原因：过流（如充电电流＞3A持续时间过长）或过压（充电器输出电压异常）。故障现象：充电时无电流（MOS管开路）或电池过放（MOS管短路，无法切断放电）。五、分析题1.（1）可能故障点：充电线线阻过大（导致电压降过高）；充电IC（PMIC）输出电容（C2）容值减小（无法稳定输出电流）；电池老化（内阻增大，无法接受大电流充电）；PMIC的充电电流控制引脚（ISET）虚焊（限制电流输出）。（2）检测方案：工具：万用表、电流钳、替换法（备用电池/线材）；步骤：①用电流钳测充电电流（正常应＞1A），若＜0.5A则电流异常；②用万用表测充电线线阻（红黑表笔接USB头和TypeC头的VBUS引脚，正常＜0.05Ω）；③替换备用电池，若充电正常则原电池老化；④用示波器测PMIC的ISET引脚波形（正常应为0~3V控制信号），若无信号则引脚虚焊。2.（1）腐蚀影响：金手指阻值增大（接触电阻＞0.1Ω，导致电压降过高）；