JIS C 8147-1-2011 ランプ制御装置－第１部：通則及び安全性要求事項

C8147-1:2011序文 11適用範囲 12引用規格 13用語及び定義 34一般的要求事項 75試験上の一般的注意事項 76分類 87表示 87.1表示する項目 87.2表示の耐久性及び判読性 8端子 9保護接地 10充電部との偶発接触からの保護 11耐湿性及び絶緑性 13安定器巻線の熱耐久性試験 14故障状態 15 1915.1木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料 15.2ブリント配線板 16沿面距離及び空間距離[ 17ねじ,通電部及び接続部 2018耐熱性,耐火性及び耐トラッキング性 21 2120無負荷出力電圧 22附属書A(規定)導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験 23附属書B(規定)熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項 24附属書C(規定)過熱保護手段付き電子ランプ制御装置の個別要求事項 32附属書D(規定)熱的保護機能付きランプ制御装置の加熱試験方法 35附属書E(規定)t試験での4500以外の定数Sの使用 37附属書F(規定)風防容器 39附属書G(規定)パルス電圧の値の由来の説明 40 44附属書I(規定)二重絶緑又は強化絶緑をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項 49附属書J(規定)より面倒な要求事項の一覧 52附属書K(参考)製造工程における適合試験 53附属書JA(規定)追加の安全性要求事項 55附属書JB(参考)JISと対応国際規格との 59C8147-1:2011この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本電球工業会(JELMA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格である。この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調查会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実川新案権に閃わる確認について,真任はもたない。JISC8147の規格群には,次に示す部編成がある。JISC8147-1第1部:通則及び安全性要求事項JISC8147-2-1第2-1部:始動装説の個別要求頭(グロースタータを除く)JISC8147-2-2第2-2部:直流又は交流電源用低電圧電球用電子トランスの個別要求事項JISC8147-2-3第2-3部：交流电源用萤光灯電子安定器の侗别要求项JISC8147-2-8第2-8部:蛍光灯安定器の個別要求事項JISC8147-2-9第2-9部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)JISC8147-2-10第2-10部:管形冷险梅放ルランプ(ネオン)の高周波動作川純子インバータ及び変換器の個別要求事項JISC8147-2-11第2-11部:照明器具用のその他の電子回路の個別要求事項JISC8147-2-12第2-12部:直流又は交流電源用放電灯電子安定器の個別要求事項(蛍光灯を除く)JISC8147-2-13第2-13部:直流又は交流電源用LEDモジュール用制御装置の個別要求事項日本工業規格JISランプ制御装置一第1部:通則及び安全性要求事項序文この規格は,2007年に第2版として発行されたIEC61347-1及びAmendment1(2010)を基とし,技術的内容を変更して作成した日本工業規格である。なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある簡所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。また,附属書JAは対応国際規格にはない事項であこの規格は,250V以下の直流電源及びノ又は1000V以下の50Hz又は60Hzの交流電源に使用する,ランプ制御装置の通則及び安全性要求事項について規定する。この規格で扱う試験は,形式試験である。生産しているランプ制御装置個々の試験の要求事項は,規定準照明器具の要求小项は,JISC8105-1(準照明器具の定義は,JISC8105-1の1.2.60参照)による。附属書Bは,熱的保護機能付きランプ制御装置に適用する通則及び安全性要求事項を規定する。附属書Cは,過熱保護手段付き心子ランプ制御装説に適川する通則及び安全性要求小頭を規定する。附属書1は,二重絶緑又は強化絶緑をもつ器具内用磁気回路式安定器の追加要求事項を規定する。さ点に..追加の安金性要求事頂については.…附属注記1この規格に適合するランプ制御装説は,独立形として,又は照明器具の安全性要求水項通則JISC8105-1及びその個別要求事項JISC8105-2の規格群に適合する照明器具内蔵形として動作するため,定格電圧90～110%の範囲で安全性が期待できる。また,性能要求はより厳注記2この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。IEC61347-1:2007,Lampcontrolgear—Part1:Generalandsafetyrequirements及びAmendment1:2010(MOD)なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IECGuide21-1に基づき,“修正している”2引用規格引用規格のうちで,西層年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)2C8147-1:2011は適用しない。西層年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。注記対応国際規格:IEC60529:1989,Degreesofprotectionprovidedbyenclosures(IPCode)及びAmendment1:1999(IDT)JISC3215-0-1巻線個別規格一第0部:一般特性一第1節:エナメル銅線注記対応国際規格:IEC60317-0-1:1997,Specificationsforparticulartypesofwindingwires—Part0:Generalrequirements—Section1:Enamelledroundcopperwire,Amendment1:1999及びAmendment2:2005(IDT)JISC3306二儿口一FJISC3307600Vビ二儿艳绿電線(IV).JISC3315口出用书厶艳绿電線JISC3316.電気機器用ビ二儿艳绿電線JISC3317600V二種已二儿艳缘電線(HIV)JISC3663(規格群)定格電压450/750V以下の三厶絶绿个一ブ儿JISC4908電気機器用口ン元ン艹JISC5101-14電子機器用固定コンデンサー第14部:品種別通則:電源用電磁障害防止固定コンデンサ注記対応国際規格:IEC60384-14,Fixedcapacitorsforuseinelectronicequipment—Part14:Sectionalspecification:Fixedcapacitorsforelectromagneticinterferencesuppressionandconnectiontothesupplymains(IDT)JISC6691,温度ヒューズー要求り頭及び適川の指針注記対応国際規格:IEC60691:2002,Thermal-links—Requirementsandapplicationguide(MOD)JISC7601萤光之ン(一般照明用)JISC8105-1照明器只一第1部:安全性要求事項通則注記対応国際規格:IEC60598-1:2008,Luminaires—Part1:Generalrequirementsandtests(MOD)JISC8118蛍光灯安定器一性能要求事項注記対応国際規格:IEC60921:2004,Ballastsfortubularfluorescentlamps-Performancerequirements(MOD)JISC8119放電灯安定器(蛍光灯を除く)一性能要求事項注記対応国際規格:IEC60923:2005,Auxiliariesforlamps—Ballastsfordischargelamps(excludingtubularfluorescentlamps)—Performancerequirements(MOD)JISC8147-2(規格群)ランプ制御装置一第2部:個別要求事項注記対応国際規格:IEC61347-2(allparts),Lampcontrolgear—Part2:Particularrequirements(MOD)JISC8147-2-8ランア制御装置一第2-8部:蛍光灯安定器の個別要求事項注記対応国際規格:IEC61347-2-8,Lampcontrolgcar—Part2-8:Particularrequirementsforballastsforfluorescentlamps(MOD)JISC8147-2-9ランプ制御装置一第2-9部:放電灯安定器個別要求事項(蛍光灯安定器を除く)注記対応国際規格:IEC61347-2-9:2009,Lampcontrolgear—Part2-9:Particularrequirementsforballastsfordischargelamps(excludingfluorescentlamps)(MOD)3C8147-1:2011JISC9730-2-3家庭用及びこれに類する用途の自動電気制御装置一第2-3部:蛍光ランプ用安定器の感熱式保護装道の個別要求小頭2-3:Particularrequirementsforthermalprotectorsforballastsfortubularfluorescentlamps(MOD)JISC606643低圧系統内機器の絶緑協調一第3部:汚損保護のためのコーティング,ポッティング注記対応国際規格:IEC60664-3,Insulationcoordinationforequipmentwithinlow-voltagesystems—Part3:Useofcoating,pottingormouldingforprotectionagainstpollution(IDT)JISC60695-2-10耐火性試験一電気·電子ーグローワイヤ試注記対応国際規格:IEC60695-2-10,Firehazardtesting—Part2-10:Glowing/hot-wirebasedtestmethods—Glow-wireapparatusandcommontestprocedure(IDT)JISC60695-11-5耐火性試験一電気·電子一第11-5部:試験炎ーニードルフレーム(注射針バーナ)試験方法一装置,試験炎確認試験装置の配置及び指針注記対応国際規格:IEC60695-11-5,Firehazardtesting—Part11-5:Testflames—Needle-flametestmethod—Apparatus,confirmatorytestarrangementandguidance(IDT)andboardgradesandconvertedproducts(MOD)IEC.60227.(allparts).Polyvinylchlorideinsulatedcablesofrated.voltagesuptoandincluding.450/750.V.IEC60417,GraphicalsymbolsforuseonequipmentIEC60990:1999,MethodsofmeasurementoftouchcurrentandprotectiveconductorcurrentIEC61189-2,Testmethodsforelectricalmaterials,printedboardsandotherinterconnectionstructuresandassemblies—Part2:TestmethodsformaterialsforinterconnectionstructuresIEC61249-2(allparts),Materialsforprintedboardsandotherinterconnectingstructures3用語及び定義この規格で用いる主な用語及び定義は,JISZ8113运上る活加，次による。3.1ランプ制御装置(lampcontrolgear)電源と1個又はそれ以上のランプとの間に捕入する単独又は複数の構成部品。電源電圧を変圧する,ランプ電流を所定の値に制限する,始動電圧及び予熱電流の供給,コールドスタートの防止,力率の改善,無線障害の低減などに役立つ。3.1.1照明器具,箱,外郭又は類似のものに組み込むように設計したランプ制御装置。特別な防護なしに,照注記道路照明用ポール底部のランプ制御装置収納部は,外郭とみなす。3.1.2独立形ランプ制御装置(independentlampcontrolgear)4C8147-1:2011ランプ制御装置の表示に従った保護を備え,何らかの外郭を付加することなく,照明器具の外側に別置できるよう没汁した,1個以上の素子で構成したランプ制御装iǔ。注記これは,表示に従って必要な保護を備えた適切な外郭の中に設置した器具内用ランプ制御装置3.1.3照明器具の交換不可能な部分を形成し,照明器具から分離して試験することのできないランプ制御装置。3.2安定器(ballast)注記電源電圧を変圧する手段,始動電圧及び予熱電流の提供を補助するための手段を含んでもよい。3.2.1直流電源用電子安定器(d.c.suppliedelectronicballast)半導体部品を用いた直流一交流インバータ。1個又は複数の蛍光ランプに電力を供給するための安定化素子を含んだものがある。3.2.2試験用安定器(referenceballast)供試安定器の試験に用いる比較の基準及び試験用ランプ選定のために設計した特別な誘導形安定器。この安定器は,JISC8118の附属書C(試験用安定器)及びJISC8119の附属書A(試験用安定器)に規定するように,電流,温度及び電磁的環境の変化に対し,相対的に影響を受けない安定した電圧一電流特性3.2.3外部制御形安定器(controllableballast)ランプ点灯特性を,主出源又は外部制御入力によって変史することができる心子安定器。3.3試験用ランプ(referencelamp)安定器の試験用に選定したランプ。試験用安定器と組み合わせたとき,関連するランプ規格に規定した定格值に近い電気特性をもつ。3.4試験用安定器の基準電流(calibrationcurrentofareferenceballast)試験用安定器の校正及び管理の基準となる電流。注記この電流は,試験用安定器に適合するランプの定格ランプ電流と,ほほ等しくすることが望ま3.5ランプ及びランプ制御装置の回路全体に印加する電圧。3.6動作電圧(workingvoltage)ランプ制御装置を定格電圧で動作させるとき,過渡的なものは無視し,無負荷状態又は通常動作中に絶5C8147-1:2011緑物間に生じる最大実効値電圧。3.7設計電圧(designvoltage)ランプ制御装置の全ての特性が満足すると,製造業者が宣言した電圧。この値は,定格電圧範囲の最大值の85%以上である。3.8電圧範囲(voltagerange)3.9定格無負荷出力電圧(ratedno-loadoutputvoltage)安定器出力に負荷を接続しない状態で,定格周波数の定格入力電圧を印加したとき,出力する電圧。過渡的及び始動時は無視する。3.10入力電流(supplycurrent)ランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電流。3.11充電部(livepart)通常の使用中に電撃を生じるおそれのある導電部。中性線は,充電部とみなす。注記導電部が,電撃を生じるおそれのある充電部であるかどうかを確認するための試験を,附属書3.12形式試験(typetest)関連する規定の要求事項に対する製品設計の適合性確認の目的のために,形式試験試料で行う試験又は一連の試験。3.13形式試験試料(type-testsample)形式試験のために,製造業者又は責任がある販売業者によって提出する,1個又は複数の同様のユニッ3.14回路力率,λ(circuitpowerfactor,λ)ランプ制御装置とランプ制御装置が設計の対象としたラン3.15高力率形安定器(highpowerfactorballast)回路力率(進相又は遅相)が0.85以上の安定器。注記10.85の值は,電流波形ひず(歪)みの力率への影響を考慮している。注記2北米では,高力率は0.9以上と定義されている。3.16定格最高温度，t(ratedmaximumtemperature,t)通常使用状態で,定格電圧又は最大定格電圧範囲において,外郭で生じる(表示している場合には表示した簡所)最高許容温度。63.17亏,丁制御装置卷線0定格最高使用温度,tw(ratedmaximumoperatingtemperatureofalampcontrolgearwinding,tu)50/60Hzでランプ制御装置が,10年間以上の連続寿命をもつと期待し得る最高温度で,製造業者が指定3.18整流現象(rectifyingeflect)片側の電極の破損又は不十分な電子放射によって,連続する半サイクルに放電電流の不均衡な状態が継続する,ランプ寿命末期に生じる現象。3.19熱耐久性試験の試験期間,D(testdurationofendurancetest,D)温度条件に基づいた選択可能な熱耐久性試験の期間。3.20安定器巻線の絶緑劣化定数,S(degradationofinsulationofaballastwinding,S)安定器絶緑の劣化を決定する定数。3.21イグナイタ(ignitor)放電ランプを始動するためにパルス電圧を発生させる装置。両電極の予熱を行うものではない。注記始動パルス電圧を発生する素子は,トリガーのあり又はなしのいずれでもよい。3.22保護接地(大地),)[IEC60417の5019(2002-10)][protectiveearth(ground),安全上の理由で,端子によって大地に接続する部分。3.23機能接地(大地),[IEC60417の5017(2002-10)][functionalearth(ground),安全以外の理由で,端子によって大地に接続する部分。注記1ある場合には,ランプに近接した始動補助を出力端子の一方に接続するが,電源側で大地に接続する必要はない。注記2ある場合には,機能接地は,始動の容易性及び電磁両立性のために必要とすることがある。3.24フレーム(シャーシ),[IEC60417の5020(2002-10)][fame(chaその電位を基準とみなす端子。3.25制御端子(controlterminals)電源入力端子以外の電子安定器接続端子で,安定器との情報交換をする端子。注記電源入力端子を,情報交換をする端子としてもよい。3.26安定器を制御するために,安定器と情報交換をする信号。この信号は,交流又は直流の電圧であっても,アナログ,ディジタル又はその他の変調信7C8147-1:20113.26Aランプ及びランプ制御装置の回路全体に供給する電力。3.26B変圧式安定器(transformertypeballast)変圧器の機能をもつ安定器。この安定器には,絶緑変圧器形とそうでないものとがある。3.26C二次電圧(secondaryvoltage)安定器に定格周波数の定格入力電圧を加えたとき,二次側に定常的に発生する,無負荷(多灯用では全てのランプを外した状態)又は適合ランプ点灯時(定格点灯又は調光負荷時)のいずれか高い方の電圧。3.26D二次短絡電流(secondaryshort-circuitcurrent)安定器に定格周波数の定格人力電圧を加え,二次側(フィラメント端子間を除く。)を短絡したときに二次側に定常的に流れる電流(無負荷時の二次電圧を定格二次電圧とするものに限る。)。3.26E定格最高周囲温度,t₄(ratedmaximumoperatingambienttemperature,t)ランプ制御装置が通常の状態で使用できる,製造業者が宣言した最高周囲温度。4一般的要求事項ランプ制御装置は,通常の使用状態で使用者及び周囲を危険にさらすことなく使用できるよう及び構成しなければならない。独立形ランプ制御装置は,IP分類などの分類及び表示の要求事項も含めて,JISC8105-1の要求事項を満たさなければならない。さらに,二重絶緑又は強化絶緑をもつ器具内用磁気回路式安定器は,附属書Iの要求小项にも適合しなければならない。外郭をもたず,プリント基板及びその基板上の部品で構成する器具内用ランプ制御装置は,照明器具に組み込まれた場合に,JISC8105-1の要求事項を満足しなければならない。外郭をもたない器具一体形ランプ制御装置は,JISC8105-1の0.5(照明器具の構成部品)で定義した器具一体形部品として扱い,器具に組み込んだ状態で試験しなければならない。注記必要がある場合,試験方法について照明器具製造業者が安定器製造業者に相談することを推奬ランプ安全規格では,ランプの安全動作のために“安定器設計のための情報”を提供している。安定器5試験上の一般的注意事項5.1この規格による試験は,形式試験である。注記要求事項及びこの規格で規定する許容差は,形式試験のために製造業者が提出した形式試験試料の試験に適用することになる。この形式試験試料が適合しても,製造業者の全ての製品がこ製品の適合性は,製造業者の責任であり,形式試験のほかに日常試験及び品質保証を含んで8C8147-1:20115.2试験は,その他に規定がない場合,10℃~30℃の周叫温度で灾施する。5.3形式試験は,その他に規定がない場合,形式試験の目的のために提出された1個又は複数の品目一般に,全ての試験は,それぞれの形式のランプ制御装置に対して実施するか,一連の同様なランプ制御装置を含む場合は,製造業者の同意を得てその範囲の中の各ワット数のもの,又はその範囲から代表を5.5温度上昇試験では,15mm～20mmの厚さの3枚のつや消し黒色塗装した木製又は木繊維板を部屋は,壁にできる限り近い天井に固定し,天井は,ランプ制御装置の壁側以外の端部から250mm以上伸ばトの電源端子の両端に接続している場合,通常,電池のものと同等の電源インピーダンスを示5.7この規格の要求小頭に対してランプ別御装説を試験する場合,新しい試験試料を以前の試験限告一般的には,全ての形式試験は必要としない。製品と以前の試験結果とは,附属書Jに“R”と表記した修正项に対してだけ,見此す。一器具内用一独立形一器具一体形JISC8147-2の規格群には,次の項目のいずれを,強制的な表示として表示するか,情報としてランプa)供給者の表示(登録商標,製造業者名又は責任のある販売業者名若しくは納入業者名)。b)製造業者の形式番号又は形式名。e)定格入力電圧(複数の電圧がある場合,それぞれの電圧),電圧範囲,電源周波数,入力電流及び定格f接地用端子がある場合,記号は,ねじ又はその他の容易に取り外せる部品には表記してはならない。注記1記号の用い方は,IEC60417参照。g)記号tの後に,巻線の定格最高使用温度の宣言値。値は,5℃の倍数で増加する。h)ランプ制御装置が,充電部との偶発的な接触から保護するために,照明器具の外郭に依存しない場合は,照明器具の外郭に依存しないことの表示。i)端子がある場合,適合する電線の断面積又は導体径。.記号:断面積で表す場合には,該当する値の平方ミリメートル(mm²)の後に,小さな四角口を付ける。又は.導体径で表す場合には.関連する導体の導体径のミリメートル(mm)の値の前に.…中を.付ける。.j)ランプ制御装置に適したランプ形式及び定格電力若しくは電力範囲,又はランプ制御装置が設計の対することを意図している場合には,各ランプの数及び定格電力数を表示しなければならない。注記2JISC8147-2-2に規定するランプ制御装置では,製造業者の印刷物にその他の規定がない場合,表示した電力数範囲は,範囲内の定格を全て含むことを前提としている。k)端子の位置及び目的を示す配線図。端子のないランプ制御装置の場合には,結線に用いる電線の記号の意味を配線図に明確に記載しなければならない。特定回路だけで動作するランプ制御装置は,例えば,表示,配線図などによって記載しなければならない。Dteの値。これがランプ制御装置の特定の位置に関係する場合には,この位置を明示するか,又は製造m)動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置の記号(附属書B参照)。乙の三角形の中の点は,製造業者が指定した定格最高ケース温度(単位は℃表示)の们に道き換えることとし,その値は,10の倍数で増加する。n)ランプ制御装置に追加で要求する放熱手段。o)照明器只没計の情報として,制御装道を照明器具に内威する場合の具常状態における巻線の限界温度。注記3異常状態となり得ない回路に用いるランプ制御装置,又はランプ制御装置がJISC8105-1の附属書C(異常回路状態)の異常回路状態になるのを防止するために用い石始動装置とランプ制御装置との組合せだけの場合には,異常回路状態を示す巻線温度の表示は,不要p)製造業者の選択によって,30日を超える期間にわたり試験しなければならないラン丁制御装置の熱耐久性試験の試験期間は,記号D,及びその後に,10日間間隔の60日間,90日間,120日間などの適切な日数をtψの表示の直後に括弧に入れて表示することができる。例えば,“D6”は,試験期間が60日間の制御装置である。注記4標準的な30日間の熱耐久性試験では,表示する必要はない。q)製造業者が宣言する4500以外の定数Sのランプ制御装置では,記号Sの表示とともに,1000単位の適切な值を表示する。例えば,Sが6000の値であれば“S6”となる。注記5Sの望ましい值は,4500,5000,6000,8000,11000及び16000である。qA)定格二次電压qB)定格二次短格電流又は定格二次電流のいずれか大吉值qC).tAの記号の後に,定格最高周用温度の宣言值。值は,5℃の倍数匕する。.C8147-1:2011表示は耐久性があり,かつ,判読できなければならない。表示の適合性は,次の両方の検査又は試験を行い,その結果で,判定する。注記用いる石油系溶剤は,最大容積分率0.1%の芳香剤を含み,カウリブタノール価29,初期沸点8端子ねじ端子は,JISC8105-1の第14章(ねじ締め式端子)に適合しなければならない。ねじなし端子は,JISC8105-1の第15章(ねじなし端子及び電気接続)に適合しなければならない。9保護接地端子は,簡条8の要求事項を満足しなければならない。電気的接続及び締付け手段は,緩まないようにランプ制御装置(独立形ランプ制御装置を除く。)の接地は,接地した金属にランプ制御装置を固定する接地用端子の全ての部品は,接地導体又はそれらと接触する金属から生じる電食の危険性を最小限にしねじ又はその他の接地川端子の部品は,货銅若しくはこれと同等以上の耐食性をもつ金瓜,又はさびな適合性は,目視,手による試験及び簡条8の要求事項に従って検査する。それのある金属部品との間に,順に1分間通電する。9.0A独立形安定器は,定格入力電圧及び定格二次電圧が150V以下で,屋内の乾燥した場所で使用するものを除き,安定器の外郭の表面又はその他の適切な場所に,接地用端子又は接地用の口出し線を取り付9.0B接地用端子は,呼び径が4mm以上(定格二次電圧が600Vを超え,かつ,定格二次短絡電流が1AC8147-1:2011超え,かつ,定格二次短絡電流が1Aを超えるものに取り付ける接地用端子にあっては,2.6mm以上)のだし,器具内用,独立形(屋内使用に限る)のものにあっては,速結端子を用いることができる。また,口出し線の種類及び断面積は,次のいずれか又は同等以上とする。a)直径が1.6mmの軟銅線又はこれと同等以上の強さ及び太さをもつ容易に腐食し難い金属線。線心の1心。10.1電撃からの保護を照明器具の外郭に依存しないランプ制御装置は,通常の使用状態で設置したとき,充電部(附属書A参照)との偶発接触に対して十分に保護しなければならない。照明器具の外郭に保護を依存する器具一体形ランプ制御装置は,その意図した用途に従って偶発接触に対する保護のための部品は,機械的強度が十分であり,通常の使用状態で緩みが生じてはな適合性は,目視及び手による試験によって,また,偶発接触に対する保護に関しては,接触を検出するィンガは,考えられる全ての位道に当てて,必要がある場合,10Nの力を加える。ンプ則御装道を遮断し,1分問以内にランプ則御装の端子川の出圧が50Vを超えないような構造にしな保たれなければならない。加湿容器に入れる前に,試料はtと(t+4)℃との間の温度に保つ。試料は,注記多くの場合,試料は耐湿試験の前に,4時間以上tと(t+4)℃との間の温度の室内に保管するこの容器内を規定した状態にするために,一般に,熱的に遮断された容器を用い,内部空気加湿処理の直後,約500Vの直流電圧を1分間印加し,絶緣抵抗を測定する。絶緑カバー又は覆いをもC8147-1:2011充電部ときょう(筐)体との間の絶緑抵抗は,基礎絶緑の場合は2MQ以上,強化絶緑の場合は4次の簡所では,十分絶緑していなければならない。b)充電部と,固定ねじ又は外部絶緑部と接触している金属はく(箔)を含む外部金属との間c)充電部と関連する制御端子との間一つ以上の出力端末と接地用端子との間で,内部接続部又は部品をもつランプ制御装置の場合,この接絶緑抵抗の測定の直後に,簡条11に規定する部品間に1分間の耐電圧試験を適用し,ランプ制御装置は,初めは規定する電圧の半分以下を印加し,それから,その電圧は急速に規定する値まで上昇させなけれ動作電圧U試験電圧V42V以下50042Vを超え1000V以下基礎絶緑2U+1000付加絶緑2U+1750二重絶緑又は強化絶緑4U+2750注記強化絶緑及び二重絶緑の両方を用いる場合,強化絶緑に適用する試験電圧は,基試験に用いる高圧変圧器は,出力電圧を適切な試験電圧に設定した後,出力端子を短絡したとき,その印加する試験心圧の尖効低は,測定精度±3%以内とする。化圧降下なしのグロー放化は,無視する。適合性は,次の試験で判定する。C8147-1:2011武験の前に,各安定器は通常に始動及び動作させ,ランプǔ流は,通常の動作状態及び定格心圧で測定する。熱耐久性試験の詳細を,次に規定する。温度条件は,製造業者が指定した目標試験期間に調整しなければならない。指定がない場合,試験期間は,30日間とする。試験は,適切な恒温槽の中で行う。サ,部品又はその他補助部品を取り外し,恒温槽の外部で,回路に再度接続しなければならない。巻線の注記1コンデンサ,部品又は他の補助部品を取り外す必要がある場合,製造業者がこれらの部品を一般に,通常の動作状態を得るために,その安定器は適合するランプで試験する。安定器の容器が金属の場合,容器を接地する。ランプは,常に恒温槽の外に設置する。ランプ又は抵抗を用いず,定格入力電圧時のランプの電流と同じ値に調節した電流値で試験を行う。7台の安定器を恒温槽内に配置し,各回路に定格電源電圧を印加する。恒温槽の内部温度によって,各安定器の中の最も高い巻線温度が,表2に規定する理論値とほぼ等しく巻線温度が安定し始めた後に,巻線の実際の温度を抵抗法で決定する。必要がある場合,恒温槽のサー巻線温度は,24時間後に再度測定し,それぞる。図1は,これをグラフで表したものである。試験中の安定器の実測最高巻線温度と理論値との間の許C8147-1:2011300250-tw120200t105-tw902030405060図1一巻線温度と熱耐久性試験期間との関係表2一熱耐久性試験期間30日を要する安定器に対する理論的試験温度单位℃注記2抵抗法による巻線温度の測定では,次の式(1)を適用する。C8147-1:2011R₂:温度zでの抵抗値234.5:銅巻線に適用する定数で,アルミニウムの場合は,229とする。24時間後の測定後に,巻線温度を一定に保とうとして条件をは,周囲温度だけを安定化させる。各安定器の試験期間は,安定器を電源に接続したときから始まる。この試験の終了時に,関連する安定器は電源から外すが,その他の安定器の試験が完了するまで恒温槽から取り出さない。注記3図1に示す理論的試験温度は,定格最高使用温度twでの10年連続使用の寿命に相当する。ここに,L:目標の熱耐久性試験日数(30,60,90,120日など)L₀:3652日(10年)T:絶対温度による理論的試験温度(t+273)Tw:箱対温度による定格最高使川温度(tw+273)s:ランプ制御装置の設計及び用いる巻線絶緑体で決まる定数試験後,安定器は,室温に戻ったとき,次の要求事項を満たさなければならない。a)定格電圧では,安定器は同一ランプを始動でき,ランプ電流は試験前に測定した値の115%を超えて注記4この試験は,出力特性に何らかの悪い変化がないかを判定するためのものである。したがって,.試験前及び贰験後のえンズ重流測定に用いるランプは.…特性試験だけに用7個のうちの6個以上の安定器がこれらの要求事項を満たす場合,試験結果は合格とみなす。3個以上の安定器がこれらの要求事項を満たさない場合は,試験結果は不合格とみなす。2個の安定器が要求事項を満たさない場合には,更に7個の安定器で試験を行い,全てが要求事項を満たす場合は,試験結果は合格とみなす。14故障状態ランプ則御装ǔは,故障状態の下で動作させたときに,炎若しくは溶融物質の放出又は可燃性ガスの発生がないように設計する。10.1に規定する偶発接触に対する保護が損なわれてはならない。故障状態での動作とは,14.1～14.4に規定する条件の各々を順次適川することを意味する。これと図速して,一度に1個の部品だけが故障状態になるという条件の下で,理論的に予測することができるその他の故障状態を意味する。通常,供試装微及び川路図を検討すれば,適川すべき故障状態が分かる。故障状態の武験は,最も都合全体が覆われたランプ制御装置又は部品は,試験のため又は内部の故障状態を適用するために開けてはC8147-1:2011合な状態で試験する。IEC61189-2の引抜強度及び剣離教度の要求事項に適合するプリント基板上で,電源からのサージエネただし,0.5mm以上C8147-1:2011図2一直接電源に電気的に接続していないプリント配線板の導体間の沿面距離14.2半導体素子両端の短絡又は開放一度に1個の部品だけを短絡(又は開放)しなければならない。14.3ラッカー,エナメル又は繊維被覆で構成する絶緑物の短絡メルが電線の絶緑体を形成して,JISC3215-0-1の13.(絶緑破壊)に規定する電圧試験に耐える場合には,この簡条は,コイルのターン間,絶緑スリーブ又はチュープの間の絶緑を短絡する必要性を意味するも14.5適合性は,14.6に示す試験回路で...ランプを接続し,ランプ制御装置の外郭温度を定格最高温度tεにして,定格入力電圧の0.9～1.1倍の電圧を加えてランプ制御装置を動作させて判定する。そして,14.1~14.4に規定した故障状態を,順次適用する。これらの試験は,形式試験の目的で提出された一つ又は複数の項目からなる各々の故障条件に対して,三つの試験試料で実施しなければならない。試験試料のうち一つが不合格の場合,試験は新たに三つの試C8147-1:2011試験は,安定状態になるまで継続し,ランプ制御装ǔの外郭温度を測定する。試験中,抵抗器,コンデンサ,半導体ヒューズなどの部品が故障する場合がある。試験を継続するために,このような部品を交試験後に,ランプ制御装置が周囲温度に戻ったとき,約500Vの直流電圧で測定した絶緑抵抗は,1部品から出るガスが可燃性であるかどうかを調べるためには,高周波火花発生器を用いて試験を行う。接触するおそれのある部品が充電部であるか調べるために,附属書Aに従って発生した炎又は溶融物質の放出が安全であるかどうかを調べるために,JISP0001の6228に規定するように接続し,関連する故障状態に適用する。AX2X¹AX2RBTX3X4BTX3C.P.DUT:供試品T:分流器囡3一制御装置0試驗回路試験は,次の手順で行う。X1-X2IM,及びX3-X4問の配線及び抵抗器で,化流値を160A+!%に謝整する。b)短絡を解除する。端子A及びBにランプ制御装置を接続寸石。15構造15.1木,綿,絹,紙及び同様な織維質材料木,綿,絹,紙及び同様な繊維質材料は,含浸していない場合,絶緑物として用いてはならない。適合適合性は,簡条14を参照して判定する。16沿面距離及び空間距離沿面距離及び空間距離は,特に簡条14に規定した場合を除き,表3及び表4に規定する値以上でなけれ幅1mm未満の溝の沿面距離は,その幅とする。1mm未満の空隙は,総空間距離の計算では無視する。注記1沿面距離は,絶緣物の表面に沿って測定した空間での距離である。注記2安定器の巻線間の距離は,熱耐久性試験で調べるので,測定しない。これは,タップ間の距離にも適用する。ただL,艳绿を要求する卷線間は除<。金属外郭に絶緑裏打ちがなく,充電部と外郭との間の沿面距離又は空間距離が,関連する表に規定する値よりも小さい場合には,JISC8105-1に従って,金属製外郭には内面絶緑を施す。注記3開放形コアの安定器において,巻線の絶緑を形成し,JISC3215-0-1の13.のグレード1若しくはグレード2の電圧試験に耐え石工十》ル又は同様の材料では,異なる巻線のエナメル被覆巻線間又はエナメル被覆巻線からカバー若しくは鉄心までの距離は,表3及び表4に規定ただし,これは沿面距離及び空間距離がエナメル層に加えて2mmを超える簡所にだけ適用する。部品を自己硬化形充填剤で充填し,絶蘇が必要な各而の川に窄隙がな在しないランプ制御装ǔは検价し20C8147-1:2011表3一正弦波交流電圧(50/60Hz)の場合の最小距離距離最大動作電圧実効値V最小距離(mm)a)異極充電部相互間b)充電部と,ランプ制御装置に固定して取り外せないように取り付けた人が触れるおそれのある金属部との川。この金属部には,カバーを固定したり,ランプ制御装置を支持体に固定するためのねじ又は部品を含む。c)電撃からの保護を照明器具の外郭に依存しない安定器の場合,充電部と人が触れるおそれのある絶緑部の表面との間。一沿面距離絶緑物のPTI≥600絶緑物のPTI<600一空間距離0.60.22.53534845.55.5d)最も不都合な状態の下で,上記b)の値が構造上確保できない場合,充電部と平たんな支持面との間又は固定していない金属カバーとの間。23.23.64.868注記2トラッキングが起こり得ない場所の電PTI≥600の材料に規定する値を全ての材料に適用する(実際のPTIに関係なく)。60秒間未満の動作電圧が印加される沿面距離については,PTI≥600の材料に規定する値を全ての材料に適用する。注記3じんあい又は湿気で汚染されにくい簡所の治面距離は,PTI≥600の材料に規定する値を適用する(実際のPTIに関係なく)。置する。する装聞には適川しない。このような場合には,その規格の要求小项注記6.规定する電压の中間の電压の絶绿距離は,直線補完を適用或る。表4一非正弦波パルス電圧の場合の最小距離定格パルス電圧2.02.53.04.05.06.08.04080最小空間距離mm2345.584090正弦波電圧及び非正弦波パルス電圧をともに印加する場合の距離については,要求する最小距離は,表3又は表4に規定する,いずれか大きい方の値以上でなければならない。沿面距離は,要求する最小空間距離以上でなければならない。17ねじ,通電部及び接続部その故障によってランプ制御装置の安全性を損なうおそれがあるねじ,通電部及び機械的接続部は,通適合性は,JISC8105-1の4.11(電気的接続及び通電部)及び4.12(ねじ,機械的接続及びグランド)21C8147-1:201118.1充化部を所定の位説に保持する純緑部品及び代撃保護川絶緑部品は,十分な耐然性をもたなければ18.2電撃保護のために用いる外部絶緑部品及び充電部を所定の位置に保持する絶緑材料部品は,十分なa)試験試料は,1個とする。b)試験試料は,完成したランプ制御装置とする。d)グローワイヤを取り除いてから30秒間以内に,試験用試料のいかなる炎(自己持続炎)及び白熱状態も消滅しなければならない。また,燃焼滴下物によって,試験用試料のa)試験試料は,1個とする。b)試験試料は,完成したランプ制御装置とする。ランプ制御装置の部品を取り外して試験を行う必要のc)試験炎を試験する表Iiの中心に当てる。e)自己持続炎は,ガスの炎を除去した後,30秒間以内に消滅しなければならない。また,燃焼滴下物によって,試験用試料の下方200mm±5mmに水平に広げたJSP0001の6228に規定する1枚の包装18.5普通形照明器具以外の照明器具に組み込むことを意図した器具内用ランプ制御装置,独立形ランプ制御装置及びピーク値が1500Vよりも高い始動電圧を印加する絶緑体をもつランプ制御装置は,を電部22適合性は,JISC8105-1の4.18.1による試験によって判定する。ワ二又による保護は,外部表面に対L20無負荷出力電圧無負荷の状態で安定器仁定格周波数の定格入力電圧を印加乙たとき,出力電圧は,定格無負荷出力電圧の±10%以内でなければならない。23附属書A導電部が電撃を生じる充電部であるかどうかを決めるための試験24C8147-1:2011附属書e熱的保護機能付きランプ制御装置の個別要求事項B.1一般事項熱的保護機能付きランプ制御装置の二つの異なる分類が,この附属書に含んでいる。第一の分類は,米制御装置”と呼んでおり,これは寿命末期の過熱に対し,照明器具の取付面を保護することを含め,いかで,ランプ制御装置に表示した熱的保護手段の動作温度と照明器具との組合せによって,ランプ制御装置注記熱的保護機能付きランプ制御装置における第三の分類では,取付面の温度保護がランプ制御装B.2適用範囲ケース温度を規定した限度値を超える前に,ランプ制御装置への電保護手段が組み込んである,放電ランプ用ランプ制御装置に適用する。B.3用語及び定義B.3.1B.3.2動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置(temperaturedeclaredthermallyprotectedlamp注記三角形の中の点は,B.9の条件の下で製造業者が宣言するものであり,ランプ制御装置のケースの外面上の全ての簡所での定格最高ケース温度(℃)の値で置き換える。ケースの最高温度130℃以下の値を表示したランプ制御装置は,照明器具の表示要求事項に従い,寿命C8147-1:2011ケースの最高温度が130℃を超える場合は,照明器具に温度感知制御を用いていない場合を考慮し,可燃性材料表へ直接取り付ける照明器具は,JISC8105-1に従って迅加の試験をしなければならない。B.3.3定格動作温度(ratedopeningtemperature)無通電状態で熱的保護手段が動作するように設計した温度。B.4熱的保護機能付きランプ制御装置の一般的要求事項熱的保護手段は,ランプ制御装置と一体になっており,機械的損傷から保護した場所に設置しなければならない。交換可能な部品がある場合,その部品は工具を用いる場合だけ取り替え可能なものでなければ保護手段の機能に極性があり,極性のないプラグが付いているコード付き器具に用いる場合,両極に保護手段がなければならない。適合性は,目視検査及び該当するJISC9730-2-3又はJISC6691の試験によって判定する。B.5試験上の一般的注意事項B.9に従い特別に準備した適切な数の試料を準備する。B.9.2に規定する最も厳しい故障状態で1個の試料だけを試験し,B.9.3又はB.9.4に規定する状態で1個の試料を試験する。さらに,“クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置及び動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置では,B.9.2に規定する最も厳しい故障状態となるように,1個以上のランプ制御装置を準備する。B.6分類a)“クラスP”热的保護機能付きラン才制御装汽，记号Pb)動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置,記号B.6.2保護タイプによるものc)交換不能な非復帰(ヒューズ)タイプd)交换可能な非復帰(ヒューズ)タイプe)同等の熱的保護手段をもつその他のタイプの保護方法B.7表示B.7.1過熱に対する保護手段を組み込んだランプ制御装置は,保護クラスに従って表示する。一記号Pフは“クラスP”熱的保護機能付きランプ制御装置。一記号は,動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置。値は,10の倍数ずつ増加する。√熱的保護手段を接続している端子は,この記号によって識別する。さらに,交換可能な熱的保護手段では,用いる熱的保護手段のタイプを表示に含めるものとする。26C8147-1:2011B.7.2上記の表示のほかに,ランプ制御装置の製造業者は,B.6.2に従って保護タイプを宣言しなければB.8巻線の熱耐久性熱的保護手段を組み込んだランプ制御装置は,熱的保護手段を短絡して,巻線の熱耐久性試験を行い,注記形式試験のために,製造業者は,熱的保護手段を短絡した試料を求められることがある。この期間の終了時に,僅かな電流,例えば,ランプ制御装置の公称入力電流の3%以下の電流を,ラン熱的保護手段を作動させたランプ制御装置は,それ以降,試験に用いてはならない。このランプ制御装置の限度値は,ランプ制御装置の最高ケース温度が90℃,定格最高使用温度twがランプ制御装置は,周囲温度40_;℃の試験容器の中で,通常状態下の温度安定状態で動作させる。試この状態を得るためには,特別に準備したランプ制御装置が必要である。27C8147-1:2011a)JISC8147-2-8一各巻線の外部20%の巻線を短絡する。この測定のために,加熱と冷却とを3サイクル実施する。非復帰形熱的保護手段では,特別に準備したランプ制御装置のケース温度は,熱的保護手段の開路に続いて,継続して測定する。熱的保護手段の再閉温度を試験する場合を除き,熱的保護手段の開路後でケース温度が下がり始めた場合又は規定の温度限び閉じたとき(復帰式熱的保護手段を用いて)には,85℃を超えてはならない。ただし,試験護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,表B.1に規定する最高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合,ケースラン丁制御装置の个一スの最高温度℃110℃から最高温度に達するまでの最大時間分150を超元0145を超元150以下5.3140を超元145以下7.1135を超元140以下130を超元135以下125を超え130以下120を超え125以下115を超元120以下110を超元115以下B.9.3JISC8147-2-8に規定する定格最高ケース温度が130℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能附属書Dに規定する試験容器の中で,通常状態で(tw+5)℃の巻線温度を得るような周囲温度,又は(+5)Cの周囲温度の温度安定状態で,ランプ制御装28C8147-1:2011ただL,安定器の外部表面の定格最高温度t。左宣言Lいるものは,安定器の外部表面が(t+5)℃上び閉じたとき(復帰式熱的保護手段を用いて)には,110℃を超えては保護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,表B.2に規定する最高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない場合,ケーランプ制御装置のケ一スの最高温度℃135℃から最高温度に達するまでの最大時間分0175を超元180以下170を超元175以下165を超元170以下160を超元165以下155を超元160以下40150を超元155以下145を超元150以下140を超元145以下90135を超元140以下B.9.4JISC8147-2-8に規定する定格最高ケース温度が130℃を超える動作温度を宣言する熱的保護機JISC8147-2-8に規定する定格最高ケース温度が1p.に規定する条件下において,(w+5)℃の巻線温度を生じる短絡心流で,温度安定状熊でランプ制29C8147-1:2011時間間隔及び電流の増加は,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間が,できる限り温度安定状態試験中に,ランプ制御装置表面の最高温度を,連続的に測定する。自動復帰の温度過昇防止装置及び╱又は熱的保護手段[B.6.2a)参照]若しくは別のタイプの保護機構手動復帰の温度過昇防止装置及びノ又は熱的保護手段を取り返し行い,試験と試験との間は30分間の間隔をとる。各30分間の間隔終了時に,熱的保護手段を復帰交換不能な非復帰タイプを取り付けたランプ制御装置及び熱的保護手段が交換可能なラランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が,表示値を超えない場合,適合性は合格とする。B.9.5.1一般に規定する条件の下で試験を行った場合,ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度は,表示した値をる。験中の熱的保護手段の任意の動作サイクル中に,ケース温度が初めて限界値を超えた瞬間から,表B.2に規定する最高温度に達するまでの時間が,当該表に規定するケースの最高温度に対応する時間を超えない30C8147-1:2011RDRa)5K上昇させた平常巻線温度状熊の試験H.12に規定する条件の下,(tw+5)℃の巻線温度を得る短のない安定器で,絶緑の種類がA種のものはtw=105,E種のものはtw=120,B種のものは1=130らに,安定器の外部表面の定格最高温度tが宣言されているものは,安定器の外部表面が(t+5)℃電流値Iw+sは,試験b)のための基準となる電流として,記録する。ーステップ1:Iw+s+5%となる電流値。ーステップ2:Iw+s+10%となる電流値。31C8147-1:2011タイプの保護手段を備えたランプ別御装説では,表而温度が安定するまで忒験を継続する。動復…b)B.6.2b)による手動復帰の温度過昇防止装置及びノ又は熱的保護手段を備えたランプ制御装置では,試験を3回繰り返し行い,試験と試験との間は30分間の間隔をとる。各30分間の間隔終了時に,熱的換可能な熱的保護手段を備えたランプ制御装置では,試験は1回だけ行う。d)保護装置を組み合わせたランプ制御装置では,製造業者の宣言によって,温度制御で最も重要な保護機能を提供する保護装置に対して,試験を行う。表示の説明)の要求事項に基づき,かつ,次のいずれかの要求事項を満足する熱的保護機能付き独立形ラa)“クラスP”熱的保護機能付き独立形ランプ制御装置に関する要求事項b)“定格最高ケース温度が130℃以下の動作温度を宣言する熱的保護機能付きランプ制御装置”に関す注記温度の判定は,安定器の最高ケース温度ではなく,安定器の取付面の温度の最大値である[JC8105-1の12.6.2(安定器及び変压器の外部に温度感知制御素子を備えた照明器具及び130℃機能付き安定器をもつ照明器具の試験)参照]。32C8147-1:2011この附属書は,ランプ制御装置のケース温度を宣言した限度値を超える前にランプ制御装置のC.2.1動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置(temperaturedeclaredthermallyprotectedlampcontrolgear)注記三角形の中の三つの点は,定格最高ケース温度(℃)の値で置き換え,C.7の条件の下で製造料表面へ直接取り付ける照明器具は,JISC8105-1C.3.1熱的保護手段は,ランプ制御装置と一体であり,機械的損傷から保護した位置に設置しなければな保護手段の機能に極性があり,極性のないプラグが付いているコード付き器具C.7に従って,特別に準備した適切な数の試料を提供しなければならない。過熱保護手段付きランプ制御装置は,保護のタイプに従って次のように分類する。a)自動復帰タイプb)手動復帰タイプ33C8147-1:2011c)交換不能な非復帰タイプd)交换可能な非復师タイプe)同等の熱的保護をもつその他のタイプの保護方法C.6表示熱的保護手段付きランプ制御装置は,次のようC.6.1記号は,動作温度を宣言する過熱保護手段付きランプ制御装置を表す。値は,10の倍数ずつC.6.2C.6.1の表示のほかに,ランプ制御装置の製造業者は,C.5に従って保護タイプを宣言しなければ12時間以上放置する(無通電で)。C.7.2熱的保護手段の機能附属書Dに規定する試験容器の中で,通常状態で(1c?)℃のケース温度が得られるような周囲温度の温度安定状態で,ランプ制御装置を動作さ14.1～14.4に規定する故障状態のうちで最も厳しい条件を,試験全体において適用する。高調波を抑制するために,主心源に接続したフィ含まれる場合には,これらの巻線の出力接続を短絡し,ランプ制御装置の残りの部分は,通常条件下で動次に,必要に応じて,当該巻線を流れる電流を,保護手段が動作するまで,ゆっくりと連続的に増加させる。時間間隔及び電流の増加は,巻線温度とランプ制御装置の表面温度との間で,できるだけ温度安定状態を得るように設定する。試験中に,ランプ制御装置表面の最高温度を,連続的に測定する。自動復帰タイブ熱的保護手段[C.5a)参照]又は他のタイプの保護方法[C.5e)参照]を取り付けたランプ制御装置では,安定した表面温度に達するまで,試験を継続する。手動復帰タイプ熱的保護手段を取り付けたランプ制御装置では,試験を6回繰り返し行い,試験と試験との間は30分間の間隔をとる。各30分間の間隔終了時に,熱的保護手段を復帰させる。ランプ制御装置表面の全ての部分の最高温度が,表示値を超えない場合,適合性は合格とする。34ただし,最高表面温度が130℃以下の表示をする安定器にあっては,安定器の表面温度が135℃以下となるか,又は表而温度と時問との関係が表C.1に規定する低を満足しなければなら女い。なお,自動復帰形の保護機構が動作する場合は,保護機構解除時の安定器の表面温度は,110℃以下で表C.1一最高表面温度に対する許容時間℃許容時間分℃許容時間a)分一一注“)許容時間は,安定器の表面温度が35C8147-1:2011附属書。D.0一般事項大形の安定器は,この附属書に規定する試験容器に収まらない場合があるので,附属書Fに規定した構造又は空気の循環のない恒温槽で代用することができる。ただし,試験の再製造業者は,代用した試験方法を試験機関に対して提示しなければならない。D.1試験容器加熱試験は,周囲温度を所定の温度に維持できる容器内で行う(図D.1参照)。試験容器全体は,25mmの厚さの断熱材で構成する。この容器の試験区画の内寸は,610mm×610mm×610mmとする。試験区画の床は560mm×560mmとし,加熱した空気の循環用に台の全周に25mmの空間を設ける。試験区画の床D.2容器の加熱D.1の試験容器に用いる熱源は,約40mm×300mmの加熱表面寸法をもつ4個の300Wストリップヒ容器の底との川の75mmのヒーター区山に設試験中,電源の周波数はランプ制御装置の定格周波数とし,電源電圧はランプ制御装置の定格入力電圧とする。試験容器内の温度は,試験中40_;℃に保つ。試験に先立ち,ランプ制御装置(無通電で)を,試験の初めの温度と異なる場合には,その温度差を,ランプ制御装置の部品の温度上昇を決定するときに試験中に,ランプ制御装置は,75mmの2個の木製ブロックによった位置に通常動作姿勢にして,容器の各側面に対して中央になるように置く。電気的接続は,図D36C8147-1:2011D.5温度測定容器内の平均温度は,最も近いから76mm以上離れた位尚で,ランプ制御装道の中心と同一高さにおける平均空気温度とする。通常,温度は棒状ガラス温度計によって測定する。代替の測定器として,放射熱を遮蔽する小さな金属羽根に取り付けた熱電対又は“サーミスタ”がある。通常,ケース温度は,熱電対によって測定する。それまでに経過した試験時間の10%の間隔(ただし,5分間間隔以上)をおいた連続した3回の値が変化しない場合,温度安定であるとみなす。?火则:则図D.1一熱的保護機能付えンご制御装置の加熱用容器の例C8I47-I:20IItw試験での4500以外の定数Sの使用C8147-1:2011b)24時間後に測定した電流値が,初期入力電流の150%～200%の定格電流の即断ヒューズが動作する試験1は,全ての安定器が故障するまで10日間以上続ける。平均寿命L1は,対数の平均から求める。これから,温度T2における平均寿命L2を,簡条13の式(2)を変形した次の式(E.2)試験2は,温度T2での平均寿命がL2を超える時間まで続ける。この結果は,試料の定数Sが