测量设备校验程序

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测量设备校验程序

Measurementequipmentcalibrationprocedure

文件编号FileNo.:

文件版号Edition：A0

生效日期Effectivedate:

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口制造部

口制程工程部口品质保证部口综合管理部口采购部

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1.目的

1.1确保测量设备的精准度，从而保证测量数据的有效性，满足生产及品质管理需求。

2.范围

2.1适用于本公司所有测量设备的校验管理。

3.定义

3.1测量设备：指用于检验、监测、测量的设备、仪器、工具及标准件等。

3.2校验：为使设备性能达到正常、消除偏差而适于使用状态所进行的操作。

3.3外校：测量设备由标准可追溯至国际或国家标准并经国家正式认可的计量检测单位进行校验，能出具有效的

校验报告（设备可以是送出去校验或邀请校验机构来我公司现场校脸）。

3.4内校：在本公司内用国家或国际之标准件或已被校正之标准器具，对测量设备进行校正或调整。

3.5免校：对不直接影响生产质量或仅为参考用测量设备可免校验.

4.权责

4.1IE负责统筹全公司测量设备的校验管理工作。

4.2资产管理员负责记录更新本部门测量设备台账。

4.3ME负责测量设备内校标准的制定和内校工作。

5.程序

5.1建立测量设备台账：

5.1.1测量设备台账包含在《固定资产及低值易耗品台账》（以卜.简称台账）中，台账应包含以卜.与校验有关的信

思：校验方式（内校、外校、免校）、校验日期、校验周期、下次校验日期等；测量设备的校验方式和校验周期参

见附表《测量设备校验方式和校验周期》。

5.2周期性校验：

5.2.1周期性外校：在设备外校日期到期前一个月内IE提前通知使用单位；在校验到期日前IE负责将设备送外

部校验或联系校验机构来现场校验；校验完后，IE要确保贴好外校合格标签并获得外校报告，外校报告由IE统

一保管，IE更新台账，各部门资产管理员相应更新本部门台账。

5.2.2周期性内校：对于需内校的设备，ME应制定相关的设备内校规范文件，规定校验的环境、方法、验收标准

及校验周期等内容。内校完成后，贴好内校标签并做好设备内校记录，校验记录统一由ME资产管理员保管，更新

台账并发送给IE。

5.3紧急校验：当设备在使用中发现问题必须安排紧急校验，设备在校验合格前停止使用。

5.4免校管理：IE资产管理员依据阳表《测量设备校验方式和校验周期》在免校设备I.贴上“免校”标签。

5.5新测量设备校验管理：对于新到厂的测量设备，如果是已有的设备类型依据既定的校验方式和校验周期安排

校验（参考附表）；如果是新类型的设备，由ME、IE确定设备校验方式和周期。新测量设备必须校验合格方能投

人使用。

5.6校验不合格设备的处理：校验不合格的设备须维修后再复校。不能修复或无修复价值的，可降级使用；若不

能降级使用，可申请报废处理。当设备校验不合格时，校验负责人需通知品质保证部决定受影响的产品处理。

6.附表

测量设备校验方式和校验频率

NO.设备名称校验方式校验频率

1误码测试分析仪外校1年

2示波器免校/

3光可变衰减器免校/

4插回损测试仪(master)外校1年

5插回损测试仪内校半年

6光功率计(master)外校1年

7光功率计内校半年

8数字万用表(master)外校1年

9数字万用表内校半年

10PD耦合光源内校半年

11PD耦合电源内校半年

12插卡式主机测试仪内校半年

13多通道耦合光源内校半年

14LIV综合测试仪内校半年

15PIV表内校半年

16直流电源内校半年

17电子称内校半年

18人体电阻综合测试仪外校1年

19推拉力测试计外校1年

20眼图分析仪外校1年

21OGP光学测试仪外校1年

22SH-X多路温度测试仪外校1年

23光强度计外校1年

24表面电阻仪外校1年

25尘埃粒子计数器外校1年

26二次元测量仪外校1年

27光谱分析仪外校1年

28氮质谱检漏仪外校1年

29精密冷镜式露点仪外校1年

30静电电压表外校1年

31静电消除检测仪外校1年

32绝缘电阻仪外校1年

33拉力模块外校1年

34空压机所用的气压表外校半年

35推拉力计外校1年

36推力模块外校1年

37温度计外校1年

38温湿度表外校1年

39数字源表(master)外校