GB-T 47598-2026《声光晶体声光晶体》

1本文件规定了声光晶体的技术要求、检验规则，以及产品的标识、包装、运输和贮存，描述了相应的测量方法。本文件适用于制备声光器件的声光晶体，其他应用领域的晶体材料参照使用。2规范性引用文件下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。GB/T7962.2—2010无色光学玻璃测试方法第2部分：光学均匀性斐索平面干涉法GB/T7962.20—2010无色光学玻璃测试方法第20部分：密度GB/T11297.1—2017激光棒波前畸变的测量方法GB/T11297.12—2012光学晶体消光比的测量方法GB/T14077—1993双折射晶体和偏振器件测试规范GB/T16601.2—2017激光器和激光相关设备激光损伤阈值测试方法第2部分：阈值确定GB/T22452—2025硼酸盐非线性光学单晶元件通用规范GB/T22453—2025激光用非线性光学晶体元件性能测量方法GB/T36403—2018红外光学玻璃红外透过率测试方法傅里叶变换法3术语和定义下列术语和定义适用于本文件。表征材料在声光相互作用中能量转换效率的物理量。声光衍射效率acousto-opticdiffractionefficiency在声光相互作用中，衍射光功率与入射光功率之比。2同批次产品的声光优值偏差±8%。声波偏振和方向光偏振方向112圆偏振光314⊥5注：⊥表示光波偏振方向垂直于声光互作用平面，//表示光波偏振方向平行于声光b)PbMoO₄:≥0.40μm~5.50μ34.5光学透过率a)TeO₂:≥70%@1064nm;b)PbMoO4:≥70%@1064nd)GaAs:≥50%@1064nm。4.6残余双折射适用时，常见声光晶体残余双折射应符合以下要求：GaAs:≤5.0×10-@1064nm。4.7消光比常见声光晶体的消光比应符合以下要求：4.8激光损伤阈值声光晶体的激光损伤阈值应符合表2规定。表2声光晶体激光损伤阈值的要求晶体名称12344.9尺寸公差4图1尺寸标注示意图4.10角度偏差声光晶体的切割角度偏差要求：注：θ指晶体切割面的法线方向，与晶体的某一参考晶轴之间的夹角，△θ为实际切割的θ角与理指在垂直于参考晶轴的平面内，切割面法线的投影与某一参考晶轴之间的夹角；△φ指实际切割的φ角与理论设计值的差值。4.11平行度声光晶体两个通光面的平行度应≤30”。4.12倒角声光晶体倒角的宽度≤0.2mm,倒角的角度40°≤φ≤50°。4.13侧面垂直度声光晶体侧面垂直度应≤10'。4.14有效通光孔径声光晶体通光表面扣除四周倒角后的可用面积与整个通光面面积的比值为有效通光孔径，其应≥85%。4.15单次透过波前畸变声光晶体通光面的单次透过波前畸变应≤λ/4@632.8nm。4.16表面粗糙度声光晶体通光面的表面粗糙度Ra≤1nm,非通光面的表面粗糙度Ra≤3.0μm。表3声光晶体表面疵病的要求范围有效通光孔径中心区域85%内注：S为划痕宽度，单位为μm;D为麻点直径，单位为μm。5测量方法5.1声光优值声光优值的测量方法按照附录A执行。5.2透射光谱范围5.4光学均匀性声光晶体光学均匀性的测量方法按GB/T7962.2—2010的规定。5.5光学透过率在规定的测试波长下，声光晶体光学透过率的测量方法按GB/T36403—2018的规定。5.6残余双折射声光晶体残余双折射的测量方法按GB/T14077—1993的规定。5.7消光比声光晶体消光比的测量方法按GB/T11297.12—2012的规定。5.8激光损伤阈值声光晶体的尺寸公差的测量方法按GB/T22452—2025的规定。5.10角度偏差声光晶体的角度偏差的测量方法按GB/T22452—2025的规定。5.11平行度声光晶体的平行度的测量方法按GB/T22452—2025的规定。声光晶体的倒角的测量方法按GB/T22452—2025的规定。5.13侧面垂直度65.14有效通光孔径声光晶体的通光孔径的测量方法按GB/T22452—2025的规定。5.15单次透过波前畸变声光晶体的单次透过波前畸变的测量方法按GB/T11297.1—2017的规定。5.16表面粗糙度声光晶体的表面疵病、崩边、崩口及崩裂的测量方法按GB/T22452—2025的规定。检验分为出厂检验与型式检验，检验项目见表4。表4检验项目出厂检验1√一2透射光谱范围√一3√一4√一5√√6√一7√一8√一9√√√√倒角√√√√√√√√√√√√76.3.1检验项目按表4所列型式检验项目进行检验。6.3.2批的组成6.3.4型式检验条件a)新产品投产时；b)制备工艺有较大改变，可能影响产品质量时；d)停产半年以上的；e)客户要求进行试验的；f)质检部门要求进行的情况。6.3.5判定规则产品按第5章规定的测量方法进行检验，其结果应符合第4章相关条款的技术要求。检验结果符合本文件要求的，则判定该产品为合格。如有不合格，可自同批产品中加倍抽样，对不合格项进行复检。复检结果如都合格，则该产品为合格；复检结果如仍有不合格，则判定该产品为不合格。b)产品型号或标记；d)制造单位名称；e)其他需要标志的内容。87.2包装7.3运输7.4贮存应在室温无腐蚀及干燥通风的条件下贮存。9(规范性)声光优值测量方法A.1测试原理本方法基于声光相互作用的耦合波理论。通过精确测量材料的折射率n、密度p、声速v以及特定构型下的声光衍射效率η,反演出该构型下的有效弹光系数q,然后利用公式(1)计算出M2。A.2环境条件测试应在以下环境条件下进行：a)环境温度：25℃;b)相对湿度：(50±10)%;c)无明显机械振动及气流干扰。A.3测试设备测试设备如下：a)激光源：单模激光器；b)声光样品装置：包含制备有待测声光材料样品、压电换能器及阻抗匹配网络的装置；c)射频信号源与功率计：可精确测量输入换能器的射频功率；d)光功率探测系统：由经校准的光功率计构成，用于精确测量入射光功率和一级衍射光功率；e)光学调整架：精密多维调整架，用于精确调整激光入射角。A.4测试步骤A.4.1基础参数测量测试步骤如下：b)密度p:按GB/T7962.20—2010的规定进行测量；c)声速v:采用超声脉冲回波法，在频率f下进行测量。A.4.2衍射效率测量测试步骤如下：图A.1声光衍射效率测试系统示意图b)调整激光入射角，观察衍射光功率，当一级衍射光功率P₁达到最大时，认为满足布拉格条件；c)在确定的布拉格角下，记录入射光功率P和一级衍射光功率P₁;A.5数据处理A.5.1计算有效弹光系数q首先，根据声光衍射效率公式计算有效弹光系数。由公式(A.2):引入中间变量T:F=aresin(√