CN114646940B 激光扫频测距装置及方法 （中国科学院微电子研究所）_第1页
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文档简介

制器用于对激光信号进行强度调制以输出调制还用于通过检测零相位差信号确定两个相邻的2为强度电光调制器，用于对所述激光信号进行高频强度调制以输出强度调制的激光信号，3.一种采用权利要求1或2所述激光扫频测距装置的激光扫频测距方法，其特征在于，步骤S1，测量控制电路产生预设调制频率控制信号，步骤S2，调制频率源输出预设调制频率，驱动电光调制步骤S3，电光调制器输出强度调制后的激光信号，步骤S5，测量控制电路通过检测模拟鉴相器输出的零相位步骤S42，测量控制电路采集所述电压幅值，并判断所述电压幅值是否为最小电压幅3步骤S431，测量控制电路按照所述预设步长改变所述特定调步骤S432，测量控制电路按照所述预设步长继续改鉴相器输出的电压幅值为所述最小电压幅值时，记录当前的调制频率并记为第二调制频452为两个相邻的调制频率中的第二调制频率。调制频率源输出预设调制频率，驱动电光调制器对激光器发出的激光信号进行强度调制；断电压幅值是否为最小电压幅值，如果是，则记录当前的调制频率并记为特定调制频率；[0024](4)测量光路中无需考虑激光信号偏振态的变化，同时避免了调制强度变化对相6[0028]图3示意性示出了根据本发明实施例的模拟鉴相器对参考信号和测量信号的检测[0029]图4示意性示出了根据本发明实施例的调制频率与模拟鉴相器输出的电压幅值的[0030]图5示意性示出了根据本发明实施例的第一调制频率和第二调制频率获取的流程以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的[0036]在此使用的所有术语(包括技术和科学术语)具有本领域技术人员通常所理解的7[0042]测量控制电路9用于根据第一调制频率和第二调制频率计算被测目标4的测量距信号和由被测目标返回的测量信号的零相位点的调制频率~图5具体说明该激光扫频测距方法的具体操作步骤。8高测量精度，避免了对信号处理电路的响应带宽的要求和光强变化对测量相位差的影响，[0061]图3示意性示出了根据本发明实施例的模拟鉴相器对参考信号和测量信号的检测[0067]图4示意性示出了根据本发明实施例的调制频率与模拟鉴相器输出的电压幅值的[0069]图5示意性示出了根据本发明实施例的第一调制频率和第二调制频率获取的流程9[0078]由此，本发明实施例使用模拟鉴相器实现对参考信号和测量信号零相位点的检生方式和/或相位差探测方式作为本发明实施例的有效实现方式，均应包含在本发明的保信号的强度进行高频扫频调制，测量发射激光信号与返回信号的零相位点时的调制频率，框或其组合可以由计算机程序指令来实现。这些计算机程序指令可以提供给通用计算机、创建用于实现这些方框图和/或流程图中所说明的功能/计算机程序产品可供指令执行系统使用或者结合指令执行系统使用。在本发明的上下文

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