CN119396116A 一种自动遍历测试电路、装置、中断请求测试方法和系统 (上海灵动微电子股份有限公司)_第1页
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文档简介

室本申请公开了一种自动遍历测试电路、装试引脚的总数量N与待测芯片的待测接口的数量2所述多路复用器中包含N个测试引脚,所述测试引脚的总数量N与所述多路复用器中还包括至少一个第一控制接口和选择输入端;所述第一控所述驱动电路模块中包括至少一个第二控制接口和至少一个晶体管;所述选择输入端连接使能电压;当所述选择输入端开启并连所述待测芯片的全部引脚由排针装置引出,以便通过所述底座将所述待测芯片中包括中断控制器,所述中断控制器被设置为指定边沿所述测试电路中的所述N个测试引脚与所述待测芯片的所述待测接口依次连接;选择7.如权利要求5或6所述的一种自动遍历测试装置所述J_link调试器与所述测试电路连接,以实现对所述待测芯片编写中断控制器的测试用例模板;获取每个待测接口的3由J_Link调试器将所述测试结果发送至上级终端,由上级终端汇总得到最终测试报4[0002]微控制器(Microcontroller,MCU)提供一个中断控制器(ExternalInterrupt[0010]各个所述多路复用器上所述测试引脚的数量平均分配;所述测试引脚的总数量N[0013]在一些实施方式中,所述多路复用器还包括正向电源电压引脚与负电源电压引[0014]所述选择输入端连接使能电压;当所述选择输入端开启并连接到目标测试引脚5[0018]所述测试电路中的所述N个测试引脚与所述待测芯片的所述待测接口依次连接;[0030]2、基于不同场景的实现,本申请中测试电路中多路复用器的数量可以设置为多6[0035]图2为本申请一种自动遍历测试电路一个实施例中多路复用器的测试引脚与待测7[0047]微控制器(Microcontroller,MCU)的中断控制器(ExternalInterruptand[0051]中断请求测试(InterruptRequestTest)通常指的是在算机系统或嵌入式系统中的一个信号,表明某个硬件设备或软件事件需要处理器执行中8制接口的真值状态可以选择其中一个测试引脚对应的通路导通。完成通道的选择和切换。的选择输入端导通,即对应的多路复用器开启。对应收到驱动信号为1的选择输入端不导模块中包括第二控制接口PA4和两个晶体管Q1[0066]第二控制接口PA4通过电阻R2连接三极管Q1的基极,三极管Q1的集电极连接第一[0067]第二控制接口PA4在第二控制指令作用下表现为高电平或低电平,使得晶体管Q19道与选择输入端X导通时,在目标通道对应的待测接口上会产生一个上升沿,当通道切换[0084]如图3,其中PC端用于监控和命令发布。测试装置则用于执行具体命令,通过[0090]本申请中采用J_link调试器进行数据的收发,J_link中集成了一种segger_rtt[0101]基于上述实施例中的一种中断请求测试方法,本申请还公开方法的另一个实施[0110]本申请还公开方法的另一个实施例,本实施例对上述实施例中内容进行举例说[0123]结果汇总模块,用于获取全部待测接口的测试结果后,将测试结果汇总并由J_

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