SJ 20664.2-2001 半导体光电器件 GD101型PIN光电二极管详细规范

中华人民共和国电子行业军用标准半导体光电子器件详细规范半导体光电子器件本规范规定了GD101型PIN光电二极管(以下简称“器件”)的详细要求。光耦合类型3型—平面光窗。GB/T15651一1995半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件应符合SJ20644和本规范的规定。引线材料为可伐合金2平面玻璃，光透过率大于90%。器件的结构应符合SJ20644和本规范的规定。芯片结构为PIN。引线为镀金，也可按照订货文件规定(见6.2)选择镀层。bLAkemm3456空可按订货文件规定(见6.2),提供引线长度不同于图1的器件。最大额定值见表1。VR℃℃℃VmW-45～125-45～1002602020主要光电特性见表2(TA=25℃)。特性符号测试条件极限值单位最小值最大值暗电流0.15响应度S0.5Cof=1MHzVr=15V40pF上升时间ns下降时间ns反向击穿电压VBRg=10uAV光谱响应范围0.4标志应符合SJ20644和本规范的规定。器件上应打印下列标志：4.1.1表4中A1分组进行检验和试验的器件可以用于A2分组。A2组和A4分组的检验和试验。如果样本母数不满足抽样要求时，则进行百分之百检验。44.1.2鉴定检验总样品量至少应等于B、C组抽样数的2倍。4.1.3如果光电参数不合格的器件已随同检验批通过老炼前各项试验，则表5中B1、B4分组可以用同一检验批中光电参数不合格的器件进行检验。4.1.4通过表5中B3分组的器件可继续按表6中C5分组的规定进行试验，直至总试验时间达到4.1.5按表6中C1分组进行检验的器件可以用于表6中C2分组的检验和试验。4.2筛选应按SJ20644和本规范表3的规定。筛选方法条件极限值单位内部目检(封装前)高温寿命(不工作)温度循环恒定加速度密封a.细检漏b.粗检漏光电参数测试S电老炼(高温反偏)最后测试△R(D)外观及机械检验20732006SJ2354.3SJ2354.6SJ23543SJ2354.62071Tng=125℃t=24h除最低温度-45℃外其余按试验条件BY1方向加速度49000m/s²不需保持1min试验条件H1;加压时间2h;漏率5×10-³Pa-cm³/s试验条件C;加压时间4h;压力414kPaVg=15Vd=06=30uW试验条件At=48hTA=100℃V=16VVR=15V4=00.50.15外观无缺陷，镀层无锈蚀4.3鉴定检验鉴定检验应按SJ20644和本规范表4、表5和表6的规定进行。质量一致性检验应按A组、B组和C组的规定进行。5SJ20644/2—2001检验和试验方法应按表4、表5和表6及下列规定进行。分组符号方法条件极限值单位LTPD小批量质量检验n/c最小最大外观及机械检验2071外观无缺陷镀层无锈蚀52组光电参数测试暗电流响应度反向击穿电压S.VBRSJ2354.3SJ2354.6SJ2354.2Vg=15V=0Vr=15VIx=10uA0.50.15V53分组高温试验暗电流R(O)SJ2354.3Ta=100℃VR=15V4.=054分组上升时间下降时间光谱响应范围Ctott2～2SJ2354.5SJ23548SJ2354.8SJ2354.7Vr=15-Vf=1MHzVr=15VR=50QVr=15V=30uWVg=15V=30uW0.440pFnsns6SJ20644/2—2001表5B组检验检验1分组可焊性耐溶剂LTPD小批量质量检验n/c6/0方法2026条件2分组温度循环密封a.细检漏b.粗检漏最后测试除最低温度-45℃外，其余按试验条件B试验条件H1;加压时间2h;漏率5×10-³Pa-cm³/s试验条件C;加压时间4h压力414kPa见本规范表7步骤16/03分组稳态工作寿命(高温反偏)最后测试Vg=16VTA=100℃f=340h见本规范表7步骤254分组键合强度2037试验条件A至少3个样品LTPD=105分组高温寿命(非工作)最后测试Ttg=125℃1=340h见本规范表7步骤27检验LTPD小批量质量检验n/c方法条件1分组物理尺寸2066见本规范图16/02分组热冲击引出端强度密封a.细检漏b.粗检漏耐湿外观检验最后测试20362071试验条件A试验条件A:F=10N,=10s±Fs试验条件H1;加压时间2h;漏率5x10-³Pa-cm³/s试验条件C;加压时间4h;压力414kPa3见本规范表7步骤16/03分组冲击扫频振动恒定加速度最后测试201620562066非工作，方向X1、Y1方向，加速度9800m/s²,脉宽0.5ms,冲击5次非工作，X1、Y1方向，Y1方向，加速度49000m/s²时间1min见本规范表7步骤16/04分组不要求5分组稳态工作寿命(高温反偏)最后测试TA=100℃.=1.000hYR=16V见本规范表7步骤22=108SJ20644/2—2001步骤检验方法条件符号极限值单位最小值最大值1暗电流响应度SJ2354.3SJ2354.6S0.50.152暗电流响应度SJ2354.3SJ2354.6Vg=15Vd=0S0.450.18注：1)不符合3.5.2规定值的器件不准向用户提供。4.6检验数据如果订货文件中已作规定(见6.2),那么制造厂应将质量一致性检验数据连同产品一起提供。包装、贮存和运输要求应符合SJ20644的规定。符合本规范的器件，主要用于可见光到近红外领域的探测和测距等。a.产品的型号、名称；b.详细规范的编号和发布日期；c.检验数据(见4.6);e.如果