CN119402109A 近距离射频电磁场抗扰度测试方法及系统 （德凯认证服务（苏州）有限公司）

本申请提供一种近距离射频电磁场抗扰度布数据与被测设备的工作频段之间的频谱重叠通过动态频谱适配算法根据干扰强度计算目标模型监测被测设备针对射频干扰源信号的电磁精准地模拟现代无线设备在近场环境中的实际2基于宽频段探针阵列和动态频谱分析仪，采集射频干扰源在被基于时域有限差分法处理所述近场电磁场分布数据，以得到相应的根据所述近场频谱功率分布数据与所述被测设备的工作频段之调控所述射频干扰源生成具有所述目标干扰源基于所述电磁场强度分布模型监测所述被测设备针对所述射频干扰源信号的电磁耦其中，所述基于宽频段探针阵列和动态频谱分析仪，采集射基于各个探针节点中的电场感应器和磁场传感器，分别采样相基于动态频谱分析仪针对各个所述探针节点逐个进行扫描，采其中，第一探针节点矩阵中探针节点的第一分布密度大于第基于所述近场电磁场分布数据，构建针对所述被测设备的各个表面n+1表示仿真中第n+1个时间步表面区域的电场分量，En表示第n个时间步表面区3i基于总频谱重叠度计算所述射频干扰源对所述被测设备的叠频段内的平均近场功率，所述重叠频段为第i个干扰频段与被测设备的工作频段之间的通过动态频谱适配算法根据所述总干扰强度计算目的干扰源信号在测试环境中的反射路径长度，4频干扰源针对第i个干扰频段的干扰源信号7.根据权利要求1所述的方法，其中，所述调制切换时间间隔是通过下式而动态更新间间隔的时长，P(T)表示被测设备在第T个调制切换时间间隔接收到的干扰源信号功率，表示第T个调制切换时间间隔内信号功率的下降速度。耦合强度；Ω为积分区域，表示被测设备的表面被宽频段探针阵列覆盖的采样区域；VE(t)为第t个时间步的电场梯度，表示电场E(t)在表面区域随电磁场强度分布模型中采从所述抗扰度曲线中提取最大耦合系数、平均耦合系数和耦合系数的数据采集单元，用于基于宽频段探针阵列和动态频谱分析仪，采5干扰功率计算单元，用于根据所述近场频谱功率分布数据配算法根据所述干扰强度和所述频谱重叠度计算目干扰源信号调控单元，用于调控所述射频干扰源生成具有抗扰度测试单元，用于基于所述电磁场强度分布模型监测所述6性(ElectromagneticCompatibility,EMC)测试方法难以应对现代无线设备的复杂电磁环[0005]目前，国际电工委员会(InternationalElectrotechnicalCommission,IEC)颁产品及电子设备，用以至少解决传统EMC测试方法无法应对现代无线设备的复杂无线电磁7各个探针位置对应1GHz至10GHz频段的射频信号；基于时域有限差分法处理所述近场电磁于基于时域有限差分法处理所述近场电磁场分布数据，以得到相应的近场电磁场分布模算机程序/指令被处理器执行时实现本申请任一实施例的近距离射频电磁场抗扰度测试方[0015](2)通过宽频段探针阵列，能够在近距离下采集近场电磁场分布数据和频谱功率8分布数据，并结合时域有限差分法(Finite_DifferenceTime_Domain,FDTD)生成精确的近[0016](3)通过动态频谱适配算法利用频谱重叠度和干扰强度调整射频干扰源的功率，[0017](4)通过基于电磁场强度分布模型实时监测被测设备与射频干扰源之间的电磁耦合系数，耦合系数的变化反映了干扰源信号在近场环境中的传播特性及其对设备的影响，能够充分考虑近场耦合效应对抗扰度测试结果的影响，更全面地评估设备的抗扰度表现。[0020]图1示出了根据本申请实施例的近距离射频电磁场抗扰度测试方法的一示例的流[0021]图2示出了根据本申请实施例的构建近场电磁场分布模型的一示例的操作流程[0023]图4示出了根据本申请实施例的根据电磁耦合系数生成抗扰度测试结果的一示例[0025]图6示出了根据本申请实施例的近距离射频电磁场抗扰度测试系统的一示例的结9[0029]图1示出了根据本申请实施例的近距离射频电磁场抗扰度测试方法的一示例的流扰源在被测设备表面形成的近场电磁场分布数据和近场[0035]在一些实施方式中，将所采集到的近场电磁场分布数据输入通过数值求解麦克斯韦(Maxwell)方程，计算出时间和空间维度上电磁场的传播和变化情频干扰源信号的数字调制方式是根据调制切换时间[0040]此外，射频干扰源支持多种数字调制方式，如QAM(QuadratureAmplitude[0046]关于上述步骤S110中宽频段探针阵列的细节，宽频段探针阵列包含多个探针节[0051]通过本申请实施例，采用非均匀密度自适应布局结合六边形探针矩阵布局的方[0052]图2示出了根据本申请实施例的构建近场电磁场分布模型的一示例的操作流程[0059]通过本申请实施例，针对被测设备各个表面区域的电场[0060]优选地，为了保证数值稳定性，用于仿真的时间步长τ还可以满足CFL(Courant_Friedrichs_Lewy,柯朗_弗里德里希斯_源在重叠频段内的平均近场功率，重叠频段为第i个干扰频段与被测设备的工作频段之间频段的干扰源信号在测试环境中的反射路径长度，Gr为射频干扰源针对第i个干扰频段的干扰源信号和S(d,i)是通过采样的近场电磁场分布数据而动态更新换时间间隔的时长，P(T)表示被测设备在第T个调制切换时间间隔接收到的干扰源信号功备接收的信号功率P(T)，计算信号功率的下降速度根据下降速度动态调整调制磁场耦合强度；Ω为积分区域，表示被测设备的表面被宽频段探针阵列覆盖的采样区域；VE(r)为第t个时间步的电场梯度，表示电场E(t)在表面区域随电磁场强度分布模型中采可以是通过对电磁场强度分布模型中设备表面不同点的电场分布数据和磁场分布数据进射频干扰源下的电磁耦合效应。通过计算设备表面各个区域的电场梯度VE(t)和磁场梯[0113]图4示出了根据本申请实施例的根据电磁耦合系数生成抗扰度测试结果的一示例avg备所经历的最大电磁耦合强度。平均耦合系数K反映了设备在整个测试期间的整体抗干avg[0122]图6示出了根据本申请实施例的近距离射频电磁场抗扰度测试系统的一示例的结[0124]数据采集单元610用于基于宽频段探针阵列和动态频谱分析仪，采集射频干扰源[0125]电磁场建模单元620用于基于时域有限差分法处理所述近场电磁场分布数据，以[0126]干扰功率计算单元630用于根据所述近场频谱功率分布数据与所述被测设备的工频谱适配算法根据所述干扰强度和所述频谱重叠度计算目[0127]干扰源信号调控单元640用于调控所述射频干扰源生成具有所述目标干扰源功率[0128]抗扰度测试单元650用于基于所述电磁场强度分布模型监测所述被测设备针对所储介质中存储有一个或多个包括执行指令的[0132]图7是本申请另一实施例提供的执行近距离射频电磁场抗扰度测试方法的电子设[0134]执行近距离射频电磁场抗扰度测试方法的设备还可以包括：输入装置730和输出[0136]存储器720作为一种非易失性计算机可读存储介质，可用于存储非易失性软件程测试方法对应的程序指令/模块。处理器710通过运行存储在存储器720中的非易失性软件[0137]存储器720可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系[0138]输入装置730可接收输入的数字或字符信息，以及产生与电子设备的用户设置以[0139]所述一个或者多个模块存储在所述存储器720中，当被所述一个或者多个处理器[0143](2)超移动个人计算机设备:这类设备属于个人计算机的范畴，有计