CN119415839A 一种晶体实验数据分析方法及系统 （西安奥华电子仪器股份有限公司）

产业基地航天东路699号军民融合创步骤：以晶体XRD数据序列中的数据点为中心得片段中相邻数据点与上一组相邻数据点之间的的多项式阶数调节系数对预设多项式阶数进行算法中使用滑动窗口的多项式阶数对XRD数据序2以晶体XRD数据序列中的数据点为中心得到该数据点的预设近邻片段，通过数据点近将近邻片段中各数据点的强度均值记为第一均值，将近邻片段中相邻通过数据点的近邻片段中相邻数据点与上一组相邻数据点之间的强度差异均;通过滑动窗口的多项式阶数调节系数对预设多项式阶数进行加权2.根据权利要求1所述的一种晶体实验数据分通过预设衍射角取值范围和采集频率采集晶体的XRD数据，将每次采集;第i+r个、第i+r-1个、第i-r个、第i-r+1个数据点的强度，norm()为线性归一;i+r-1为近邻片段半径。将滑动窗口的多项式阶数调节系数与预设多项式阶数的乘积进行四舍五入取整得到6.根据权利要求1所述的一种晶体实验数据分析方法3基于多项式阶数对滑动窗口内数据点的强度进行多项式拟合，将窗口中心位置时滑动窗口内的多项式值作为该数据点的滤波值，得到滤波后的XRD数据序7.根据权利要求6所述的一种晶体实验数据分法中使用滑动窗口的多项式阶数对XRD数据序列进行滤波，以实现晶体实验数据分析，包通过AMPD算法从滤波后的XRD数据序列中提取晶体的衍射峰与晶体标准衍射峰进行匹有计算机程序指令，当所述计算机程序指令被所述处理器执行时实现根据权利要求1_7任4[0001]本发明涉及晶体数据处理技术领域，尤其涉及一种晶体实验数据分析方法及系子或分子的有序排列使其具有独特的物理和化学性质。晶体的X射线衍射(X_ray拟合能谱曲线与原始能谱数据的关联性，并基于该关联性获得指定晶体的晶体能量峰值，[0004]上述现有技术通过获得模拟能谱曲线与实际能谱曲线之间的误差降低能谱曲线以晶体XRD数据序列中的数据点为中心得到该数据点的预设近邻片段，通过数据到该数据点的噪声程度wa为第a个滑动窗口的5能程度和噪声程度确定滑动窗口的多项式阶数，可以有效地提高晶体XRD数据去噪的准确[0009]根据本发明提供的一种晶体实验数据分析方法，所述以晶体XRD数据序列中的数行预处理得到晶体的XRD数据序列。vi-r1分别为第i+r个、第i+r-1个、第i-r个、第i-r+1个数据点的强度，norm()为线系式为第i个数据点的噪声程yitr-2分别为第i+r个、第i+r-1个、第i+r-2个数据点的强度，[0016]根据本发明提供的一种晶体实验数据分析方法，所述在S_G滤波算法中使用滑动[0017]根据本发明提供的一种晶体实验数据分析方法，所述在S_G滤波算法中使用滑动6法从滤波后的XRD数据序列中提取晶体的衍射峰与晶体标准衍射峰进行匹配，得到晶体实[0018]本发明基于去噪后的XRD数据序列进行晶体实验数据分析，可以有效地避免噪声序指令，当所述计算机程序指令被所述处理器执行时实现上述一种晶体实验数据分析方[0020]通过采用上述技术方案，将上述的一种晶体实验数据分晶体的XRD数据序列进行滤波去噪后进行数据分析，可以有效地提高晶体数据分析的准确[0022]通过参考附图阅读下文的详细描述，本发明示例性实施方式的上述以及其他目明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，子或分子的有序排列使其具有独特的物理和化学性质。晶体的XRD数据可以用于识别和分7据序列。[0033]其中，衍射角取值范围可以设置为，角度采样频率可以设置为[0038]基于此，本发明实施例可以分析晶体XRD数据序列中各数据点两侧近邻片段中的8[0042]基于上述步骤得到晶体XRD数据序列中各数据点的近邻片段后，可以通过下述步度，为第i+r-1个数据点的强度，yi-r为第i-r个数据点的强度，vi-r1为第i-r+1对值符号。位置的数据点越符合衍射峰峰值两侧的强度变化。因此，若近邻片段中的yitr-yitr-1或yi-r-yi-rt1大于0局部对称度做出贡献，需要保留；若近邻片段中的yitr一yir-1或yi-r-yi-r+1不大于IRelu(yirr-yixr-1)-Relu(y;-r-yi-rr1)l表示第i个数据点两侧对称位[0050]基于上述公式得到晶体XRD数据序列中各数据点的局部对称度后，可以基于数据9;为第i个数据点的局部对称度，为第i+r-1个数据点的强度，据点的第一均值，表示第i个数据点近邻片段中相邻数据点之间强度个数据点位于衍射峰区域内且位于衍射峰峰值附近的可能程度越高，对应的第i个数据点[0053]基于上述步骤得到晶体XRD数据序列中各数据点的衍射峰可能程度后，可以通过数据点的衍射峰可能程度调整滑动窗口的多项式阶数实现晶体XRD数据的准确去噪，即继;Ni为第i个数据点的噪声程度，vi+r为第i+r个数据点的强度，yixr-1为第i+r-1个数据点的强度，yitr-2为第i+r-2个数据点的强度，R为近邻片段半径，I(yir-yixr-1)-(yir-1-yir-2)l表示第i个数据点中一组相邻数据点与上一组相邻数据点之间的强度差异，当第i个数据点的近邻片段中所有相邻数据点与上一组相邻数据点之间的强度差异整体较小时，说明第i个数据点的近邻片段中的强第3个数据点，第2个数据点和第3个数据点的上一组相邻数据点为第1个数据点和第2个数[0063]需要说明的是，基于上述步骤可以分别得到数据点的衍射峰可能程度和噪声程;[0066]其中，超参数可以设置为2；超参数用于控制多项式阶数调节系数的取值范围在[0070]基于上述步骤得到XRD数据序列中各滑动窗口的多项式阶数后，可以基于滑动窗[0074]在S_G滤波算法中使用滑动窗口的多项式阶数进行滤波去噪的具体步骤可以通过[0077]其中，滤波后的XRD数据序列中提取晶体的衍射峰与晶体标准衍射峰进行匹配可AMPD算法构建滤波后的XRD数据序列的多尺度轮廓矩阵，根据各尺度轮廓