无铅工艺使用非焊接材料性能含义

无铅工艺使用非焊接材料性能含义

目前正在进行日勺无铅工艺讨论，很自然地把人们的目光吸引到清除

产品和工艺中含铅成分问题上。然而在电子产品制造过程中尚有其他

材料和工艺也因此受到影响，为此必须采用新措施和新思绪以保证

工艺生产流程中各项性能指标可靠运行。

表面安装粘接剂性与焊接材料亲密有关，受采用无铅工艺带来的变

化影响。尽管无铅工艺温度增高是影响粘接剂性能的明显原因，而合

金自身表面张力和比重等物理性能也有一定作用。

无铅装配中粘接性能

采用无铅合金进行波峰焊接机操作有明显变化，包括焊接槽温度上

升到260°C左右，合金温度也高于锡铅焊料，无铅焊接波形也发生

差异，波接触时间增长用于赔偿浸润速度较慢W、J局限性。片状波调整

后产生更多日勺旋转作用，从而对焊料起到更好的浸润作用。上述每个

原因对元构件和粘接剂固紧定位均有一定作用。

假如焊接环境侵金虫严重，估计穿越无铅波时也许出现构件脱焊失落

率较高现象是不可防止，但只要注意工艺操作中临界参数日勺掌握，这

种现象就可防止，装配程序也可随之“微调”到达最佳效果。无端障工

艺基本原则如下：

粘接剂固化

首先表面贴装粘接剂必须完全固化是十分重要的I。固化度对在经受波

动环境中对粘接与否成功起到重要作用。装配工此前一般作法只是在

焊接剂局部固化后随即作业，用较短时间或较低温度减少工艺耗时，

同步也减少构件粘接应力；然而在目前无铅工艺中，规定粘接剂所有

固化后作业以保持粘接强度。规定粘接构造连接贯穿度较高，以保证

高温强度和抗化学侵剑I能力到达最大化。

粘接剂强度伴随温度升高而减少，因此残存热强度比室温下原始强

度更为重要。粘接剂玻璃隔热越温度是抗烝度很好指标之一，温度越

高越好。图1中图表曲线表达经典粘接剂张力变化曲线，类似性能曲

线图也可在粘接剂制造商数提供的据表中找到。

图1—温度与粘接强度性能曲线图

焊药类型

在无铅工艺中焊药类型选择是表面安装粘接剂可靠性能另一种关键

原因。粘接剂假如没有完全固化会受到焊药侵蚀，尤其使用乙二尊类

焊药。然而虽然水基焊药，我们仍然推荐粘接剂应完全固化后作业，

以保证焊接可靠。

焊接合金材料

无铅焊接合金具有较大表面张力，当焊料熔化时在构件上产生较大

日勺拉力作用。假如焊料流放较差能导致较斜波峰线，导致PCB通过时

受到阻力较大，构件受到的作用力也因此增大。此外尚有个保证粘接

固化很好理由。

构件及其安装朝向

从整体来看，片状构件出现某些问题，在一种极端位置SOD80玻璃

二极管可靠粘接证明困难，对此类构件的粘接剂沉淀夹持问题应引

起注意，后来我们还将简介。在测试过程乜也许出现相反状况，符合

波长规定（即波峰同步接触两个终端面）构件似乎比波峰一端接触（波

峰相继接触终端面）构件更轻易出现接头粘接问题。这就是石碑效应

或称Manhattan效应。当然许多装配工不仅面临朝向问题，并且还需

在设计阶段考虑这方面性能怎样提高问题。

焊点类型和焊点体积

许多装配工在贴装微型MELF元件时（例如SOD80s）使用两个小焊

点，以防止贴装时移位偏斜。然而熔化焊料的剪切力测试数据表明，

对于此类元件焊接较大日勺单点粘接焊接好于双点粘接焊接。原因单点

粘接面积不小于两个小点粘接面积总和。

使用措施

对于粘接剂可靠性问题，单从涂刷和配量之间选择余地不大，最重要

KJ是要有足够体积量形成较大的粘接面积。

表面安装粘接剂无端障工艺口勺保障措施

只有按照上述基本规定贴装，对出J使用表面安装粘接剂保证流程可

靠，到达较低元件脱焊率。尤其是使用足嵯量粘接剂和完全固化这两

点十分重要，需要再三强调。在转换无铅工艺时假如还不能完全接受

使用，提议在波峰焊接中采用无VOC焊药。

我们讨论了无铅生产变化对表面贴装粘接剂影响时就认为保证无端

障工艺实行。受作业环境变化影响尚有其他类产品，我们认为从如芯

片级封装（CSP）和球栅阵列（BGA）,无铅集成电路封装中使用无

铅底层填料受益匪浅。在此，将重点阐明所采用材料的类型必须使构

件在无铅工艺中尽量保持受较低应力作用。

芯片级封装趋势和底层填料使用实例

CSP和BGA使用的增长率高于生产增长率。依托上述封装实现产品

性能更好、设计更紧凑、更以便和重量更轻。它广泛运用于移动、

掌上、汽车电子产品、数字音频、数码相机及笔记本电脑等产品。

由于电路接线最短，在最小的注脚范围内提供最高密度内部连接，

CSP能满足对产品更快更小设计规定，又能保持产品原有可靠坚实耐

用，甚至可以较低成本生产。

CSP现场使用整个过程都受到相称大W、J应力作用。封装材料都具有传

热特性和较高热膨胀应力周期系数（CTE）。这也许导致焊接连接破

裂或由于机械作用的破裂。例如按键、跌落和弯曲试验。现CSP设

计趋势减少设备距离，而这样做使问题也许更为严重。减少连接面积

意味焊接接头强度更低；而较焊球直径和更大间距导致热膨胀系数感

应程度不一致。这样在高密度封装不停上升同步，也带来无铅合金韧

性较差问题，导致潜在产品缺陷率上升。

因此，尽管在CSP原始设计并没有使用底层填料，伴随构件设计水平

提高随之出现底层填料别样使用。目前CSP工艺评估中使用底层填

料已是一种常规作法。无铅工艺设计计算中底层填料甚至是非常有吸

引力提议和作法。采用合适规范材料有助于倒装芯片和CSP/微型

BGA装配口勺可靠性提高，把应力分散在芯片或基底表面而不是都集

中在焊锡珠上。

低电介质底层填料

低电介质工艺上使用规定替代氧化硅，铜质材料内部连结替代铝质

材料，这对底层填料也提出更多日勺挑战。尽管低电介质安装提供性能

优势，然而交替成果产品脆性更大。便产生这样的设想，主板级别安

装应力也许影响芯片可靠性，然后对在主板级别涂刷KJ底层填料对

倒装芯片封装中裸芯片影响研究表明，目前断定这种说法对的与否

似乎太早。假如你相信低电介质CSP封装应使用底层填料，在选用前

请向材料供应商联络和征询。

非流动型底层填料

非流动型底层填料是固化性能到达优化H勺研发产品，目H勺是保留构

件自我校准功能，并保证在原则型回流周期内底层填料充足固化c这

里也存在风险，假如底层填料固化过快制止构件自我校准，因此在底

层填料设计时应为自我校准留出相称长液相时间，并且在周期时间

内充足固化，在峰值回流温度或靠近条件下。你日勺材料供应商协助你

选用最适合你日勺工艺产品。

角填料和边填料

各类生产制造商对角填料和边填料替代老式底层填料工艺使用状况

都作过调查。每个工艺和产品出现，总有赞成和反对的。由于CSP有

四角或四边封装强制规定，这样底层填料使用的J所有工艺时间可大

大减少。增长角填料和边填料后，无论是热应力还是机械应力测试表

明均有极大提高。然后与底层填料相比，也不能到达较高级别可靠

性。尤其在机械测试中得到证明，不是所焊点都得到充足保证。再次

重申，你有千千万万产品可选择。你日勺材料供应商可以协助你选用最

优化方案。

焊剂残渣对底层填料性能影响

对芯片粘接主架无铅表面处理的变化促成对底层填料与这些材料粘

接性能W、J研究。同样对底层填料与回流峰焊中焊剂互相作用必须做出

评估，以保证产品可靠性。在这种状况下，引起关注时不是对电子有

性能影响的焊剂，而是工艺处理后焊剂残留膜。这些残留物减少了底

层填料与焊粒表面、底板或芯片之间的粘接力。前面所讲的封装密度

提高也也许导致焊剂残留制止底层填料在焊点间流动，或在芯片和

底板之间流动。在无铅处理温度条件下这些影响更为