CN119511052A 对单晶粒的Pattern测试方法及装置、设备、介质 （深圳市晶存科技股份有限公司）

道福保社区市花路创凌通科技大厦三层本申请公开了一种对单晶粒的Pattern测试一算法选择信息进行更新得到第二算法选择信息从多个不同的候选Pattern测试算法中确定并启动一个目标Pattern测试算法；根据第二传参文件和目标Pattern测试算法，分区域对第一晶2所述二进制数据的位数与候选Pattern测试算法当前的第一总数根据所述第一待测容量与所述预设容量阈值之间的第一容量差运行解析所述第二传参文件，根据所述第二算法选择信息从多个不同的候选Pattern根据所述第二传参文件和所述目标Pattern测试算法，分区域对待测的所述第一晶粒2.根据权利要求1所述的对单晶粒的Patte将所述第一待测容量减去所述预设容量阈值得到所述第将所述位数序号所指示的所述第一算法选择信息中的目标位数对应的低电平值修改根据所述第二算法选择信息生成更新后的所述第3.根据权利要求2所述的对单晶粒的Pattern所述运行解析所述第二传参文件，根据所述第二算法选择信息从多个不同的候选响应于所述第二算法选择信息中的低电平值，将对应的排序位置上的所述候选响应于所述第二算法选择信息中的高电平值，将对应排序位置上的所述候选Pattern确定当前所述LK算法中所述候选Pattern测根据所述第二总数量修改所述第一算法选择信3根据所述更新的第一算法选择信息生成更新的第5.根据权利要求1所述的对单晶粒的Pattern所述根据所述第二传参文件和所述目标Pattern测试算法，分区域对待测的所述第一根据预设容量阈值将待测的所述第一晶粒划分为第一测试区域和第二测试区域；其从所述第二传参文件中获取所述测试参数，根据所述目标Pattern测试算法和所述测根据所述预设的常规Pattern测试算法，对所述第一晶粒进行Pattern从所述待测晶圆中确定下一个待测的第二晶粒，并确定单个所述第二晶所述二进制数据的位数与候选Pattern测试算法当前的第一总数根据所述第二待测容量与所述预设容量阈值之间的第二容量差运行解析所述第三传参文件，根据所述第三算法选择信息从多个候选Pattern测试算根据所述第三传参文件和所述目标Pattern测试算法，分区域对待测的所述第二晶粒4做晶粒(Die)封装时通常只选用好的晶粒(Die)封装成成品，不良的晶粒叫做InkDie被丢根据所述第一待测容量与所述预设容量阈值之间的第一容量差值、所述预设差运行解析所述第二传参文件，根据所述第二算法选择信息从多个不同的候选Pattern测试算法中确定并启动一个目标Pa根据所述第二传参文件和所述目标Pattern测试算法，分区域对待测的所述第一5将所述第一待测容量减去所述预设容量阈值得到所述第将所述位数序号所指示的所述第一算法选择信息中的目标位数对应的低电平值根据所述第二算法选择信息生成更新后的所述第响应于所述第二算法选择信息中的低电平值，将对应的排序位置上的所述候选响应于所述第二算法选择信息中的高电平值，将对应排序位置上的所述候选确定当前所述LK算法中所述候选Pattern测根据所述第二总数量修改所述第一算法选择信息，得到更新的第一算法选择信根据所述更新的第一算法选择信息生成更新的第所述根据所述第二传参文件和所述目标Pattern测试算法，分区域对待测的所述根据预设容量阈值将待测的所述第一晶粒划分为第一测试区域和第二测试区域；从所述第二传参文件中获取所述测试参数，根据所述目标Pattern测试算法和所当所述第一待测容量小于或等于预设容量阈值，确定预设的常规Pattern测试算6根据所述第二待测容量与所述预设容量阈值之间的第二容量差值、所述预设差运行解析所述第三传参文件，根据所述第三算法选择信息从多个候选Pattern测根据所述第三传参文件和所述目标Pattern测试算法，分区域对待测的所述第二能够执行如第一方面实施例任一项所述的对单晶粒的Patter一方面实施例任一项所述的对单晶粒的Patter7图3是本申请一个实施例提供的确定目标P图5是本申请一个实施例提供的对单晶粒的Pat技术人员通常理解的含义相同。本文中所使用的术语只是为了描述本申请实施例的目的，[0020]本申请公开了一种对单晶粒的Pattern测试方法、对单晶粒的Pattern测试装置、参文件；根据第二算法选择信息从多个不同的候选Pattern测试算法中确定并启动一个目行本申请实施提供的对单晶粒的Pattern测试方法，能够根据不同的单晶粒待测容量匹配可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本8[0026]基于上述系统结构，下面提出本申请的对单晶粒的Pattern测试方法的各个实施第一传参文件包括：第一算法选择信息和预设差值；第一算法选择信息为全0的二进制数[0031]步骤S140：运行解析第二传参文件，根据第二算法选择信息从多个不同的候选Pattern测试算法中确定并启动一个目标Pa[0037]具体地，第一算法选择信息为全0的二进制数据，二进制数据的位数与候选9算法选择信息从多个不同的候选Pattern测试算法中确定并启动一个目标Pattern测试算申请实施例能够根据不同的单晶粒待测容量匹配不同的目标Pattern测试算法对单晶粒进二算法选择信息和包括第二算法选择信息的更新的第二传参文件，包括但不限于有步骤[0057]步骤S144：响应于第二算法选择信息中的高电平值，将对应排序位置上的候选算法1对应的待测容量为3GB至8GB，候选Pattern测试算法2对应的待测容量为8GB至13GB，使能状态。具体地，当更新后的第二算法选择信息为010000，对应地将LK算法中的候选[0061]根据本申请的一些实施例，第二传参文件还包括：测试参数；进一步说明步骤[0067]在一实施例中，也可以在执行步骤S120至步骤S140确定目标Pattern测试算法之[0069]根据本申请的一些实施例，在步骤S110之后，对单晶粒的Pattern测试方法还包一待测容量小于或等于预设容量阈值的第一晶粒，不需要基于第二传参文件调用目标[0070]根据本申请的一些实施例，对单晶粒的Pattern测试方法还包括但不限于有步骤增或删减候选Pattern测试算法、或者调整候选Pattern测试算法之间的顺序，或者修改法中候选Pattern测试算法的第二总数量，从而修改作为基准的第一传参文件的第一算法空间中确定最小存储单元位置的寻址信息；[数据]就是要储存在Flash对应地址的内容信息和第一传参文件；从而能为后续根据不同的单晶粒待测容量匹配不同的目标Pattern测第一传参文件包括：第一算法选择信息和预设差值；第一算法选择信息为全0的二进制数[0090]如图5所示，图5是本申请一个实施例提供的对单晶粒的Pattern测试装置的硬件[0091]本申请实施例还提供了一种电子设备，包括如上所述的对单晶粒的Pattern测试介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述对单晶粒的Pattern测