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文档简介
1、. ;. 文件修(制)文件修(制)订订履履历历一一览览表表 编制编制/更改日期更改日期版本号版本号更改内容更改内容修订修订 相关评审人员会签相关评审人员会签 总经办:研发一部:研发二部: 研发三部:研发四部:产品一部: 产品二部:设计部:材料技术部: 结构技术部:货仓部:计划供应部: 供应开发部:后勤部:IE 部: PE 部:生产一部:生产二部: 机电部:工模部:自动化工程部: 注塑部:IQC 部:制程品质部: 文控中心:DQE 部:人力资源部: 信息管理部: 修修 订订李淑倩2012.10.11 审审 核核 批批 准准 受控印台受控印台 受控文件印章为蓝色有效受控文件印章为蓝色有效 未经授权
2、,本文件不得拷贝未经授权,本文件不得拷贝 . ;. 目录 1目的目的.1 2 范围范围.3 3 参考标准参考标准.3 4 职责职责.3 5 测试项目及标准测试项目及标准.3 5.1 硬件性能测试硬件性能测试 .3 5.1.1 基本功能测试基本功能测试 .3 5.1.2 电流测试电流测试3 5.1.3 RF测试测试7 5.1.4 抗干扰测试抗干扰测试12 5.1.5 ESD测试测试12 5.1.6 杂散测试杂散测试12 5.1.7 蓝牙测试蓝牙测试13 5.1.8 现场测试现场测试13 5.1.9 模拟模拟TV测试测试13 5.1.10 FM测试测试13 5.1.11 WIFI测试测试.13 5
3、.1.12 OTA测试测试.14 5.1.13 手机表机温升测试手机表机温升测试.15 5.1.14 手机喇叭音量测试手机喇叭音量测试.15 5.2环境测试环境测试 . . .15 5.2.1 低温存低温存储储试验试验 .15 5.2.2 低温工作试验低温工作试验 .16 5.2.3 高温存储试验高温存储试验 .17 5.2.4 高温工作试验高温工作试验 .18 5.2.5 温度循环试验温度循环试验 .18 5.2.6 温度冲击试验温度冲击试验 .19 5.2.7 高温高湿试验高温高湿试验 .20 5.2.8 盐雾试验盐雾试验.21 5.2.9 汗液测试汗液测试.23 5.2.10 粉尘试验粉
4、尘试验.23 5.2.11 自由跌落试自由跌落试验验 .23 5.2.12 振动试验振动试验 .24 5.3 寿命测试寿命测试.25 5.3.1 按键寿命试验按键寿命试验 .25 5.3.2 翻翻(滑滑)盖寿命试验盖寿命试验 .26 5.3.3 耳机插拔试验耳机插拔试验 .26 5.3.4 I/0接口插拔试验接口插拔试验 .27 5.3.5 7CM微跌试验微跌试验.27 5.3.6 滚筒跌落试验滚筒跌落试验 .27 5.3.7 扭曲试验扭曲试验29 5.3.8 马达寿命试验马达寿命试验29 5.3.9 听筒寿命试验听筒寿命试验30 5.3.10 喇叭寿命试验喇叭寿命试验.30 5.4 外观测试
5、外观测试 .30 . ;. 5.4.1 附着力试验附着力试验.30 5.4.2 表面耐磨试验表面耐磨试验.30 5.4.3 硬度试验硬度试验.31 5.4.4 耐醇测试耐醇测试.32 6. 附录附录.32 1目的 1.1硬件性能:本文件规定了公司移动电话机要求达到的性能指标以及测量这些指标的方法、设备及判定 标准,为公司移动电话设定能够正常出货的标准,以使产品的功能、性能、耐用度能满足用户正常长期使用。 1.2 可靠性:在研制过程中模拟实际的或加速的使用条件进行试验,使产品存在的设计(包括电路设计、 结构设计和工艺设计)缺陷变为硬故障而充分暴露,对故障进行分析、采取纠正措施,根除故障产生的原因
6、或 降低故障率到可以接受的值,使产品的固有可靠性得到增长 。验证产品的设计能否在规定的环境条件下满足 规定的性能及可靠性指标。 . ;. 2范围 本标准中硬件性能测试部分适用于本公司手机产品的硬件性能检测。 本标准适用于公司所有手机产品,适用于公司产品在设计验证阶段测试的评估。 本标准主要用于进行产品试产后整机的入网预测试和产品可靠性验证,以便于对供应商进行认证或用于产 品分析。 根据产品部门的要求,本标准亦适用于提供相应的测试环境对一些部件进行可靠性测试。 3 参考标准 YD/T12142006 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(GPRS)设备技术要求: 移
7、动台。 YD/T12152006 900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(GPRS)设备测试方法: 移动台 YDC 023-2006 800MHz CDMA 1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法:移动台 第1部分 基本无线指 标、功能和性能 3gpp TS34.121 无线测试标准 3gpp TS25.311 V1.0.0 无线测试标准 YD/T 1539-2006 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法 4.职责 品质中心负责制定、维护、更新本标准,并通过对新产品进行硬件测试,及时发现产品已有的和潜在的 问题,为评估产品的可靠性提供决策依据。测试工程师负责计划与执
8、行可靠性测试,并对测试结果进行评估。 5测试项目及标准 5.1 硬件性能测试 5.1.1 基本功能 测试方法:针对手机的手写、按键、通话、短信、MP3、MP4、照相、录相、FM、TV、充电、蓝牙、来电 振动、耳机功能等基本功能进行测试。 测试标准:所有功能均能实现且无异常。 5.1.2 电流测试 主要检验 PCBA 在待机模式下的电流消耗情况。 测试仪器:CMU200,Agilent 66309B,屏蔽箱,测试卡。 测试方法:在模拟网络下,对电池电压为 3.8V 且传导接触时进行测试,分别在不使用任何菜单、开机状 态下使用相应功能时进行检测。 测试标准:GSM 手机满足附表一 附表一 GSM
9、手机电流测试标准 . ;. 测试项参考标准备注 关机漏电流 0.1mA 开机进入待机后(插入单 SIM 卡) 1mA 开机进入待机后(插入双 SIM 卡) 1mA 拍照完进入待机后 1mA 录像退出进入待机后 1mA 使用移动电视退出进入待机后 1mA 播放 MP3 暂停进入待机后 1mA 使用 MP3 后返回进入待机后 1mA 播放 MP4 退出进入待机后 1mA 使用 WIFI 退出进入待机后 1mA 接听来电后挂机进入待机后 1mA 拨打电话通话后挂机进入待机后 1mA 收到短信不处理进入待机后 1mA 收到短信查看进入待机后 1mA 使用 WAP 退出进入待机后 1mA 激活蓝牙进入待
10、机后 1mA 使用蓝牙耳机进入待机后 1mA 关闭蓝牙进入待机后 1mA 使用 FM 退出进入待机后 1mA 最小待机电流 充电一段时间移除充电器进入待机后 1mA 待机平均电流(单 SIM 卡) 3mA 平均电流 待机平均电流(双 SIM 卡或多 SIM 卡) 4.5mA 900MHz(Level:5)300mA 1800MHz(Level:0)250mA 850MHz(Level:5)300mA 最大功率时发射 电流 1900MHz(Level:0)250mA 涓流充电电流10100 mA 最大充电电流(3.8V 保持 60 秒) 350X550 mA 低电报警电压 3.50.1V 自动关
11、机电压 3.30.1V 充电结束电压 4.20.1V 充电电 流要求 小于 30mA CDMA 手机满足附表二 附表二 CDMA 手机电流测试标准 测试项参考标准备注 关机漏电流 0.1mA 开机进入待机后(插入单 SIM 卡) 1mA 开机进入待机后(插入双 SIM 卡) 1mA 拍照完进入待机后 1mA 录像退出进入待机后 1mA 最小待机电流 使用移动电视退出进入待机后 1mA . ;. 播放 MP3 暂停进入待机后 1mA 使用 MP3 后返回进入待机后 1mA 播放 MP4 退出进入待机后 1mA 使用 WIFI 退出进入待机后 1mA 接听来电后挂机进入待机后 1mA 拨打电话通话
12、后挂机进入待机后 1mA 收到短信不处理进入待机后 1mA 收到短信查看进入待机后 1mA 使用 WAP 退出进入待机后 1mA 激活蓝牙进入待机后 1mA 使用蓝牙耳机进入待机后 1mA 关闭蓝牙进入待机后 1mA 使用 FM 退出进入待机后 1mA 充电一段时间移除充电器进入待机后 1mA 待机平均电流(单 SIM 卡) 6mA 最大功率时发射电流 600mA Cell Power:- 104dBm 最大充电电流(3.8V 保持 60 秒) 350X550 mA 涓流充电电流10100 mA 低电报警电压 3.50.1V 自动关机电压 3.30.1V 充电结束电压 4.20.1V 充电电流
13、要求 小于 30mA CDMAGSM 手机满足附表三 附表三 CDMAGSM 手机电流测试标准 测试项参考标准备注 关机漏电流 0.1mA 开机进入待机后(插入单 SIM 卡) 2mA 开机进入待机后(插入 CG 卡) 2mA 拍照完进入待机后 2mA 录像退出进入待机后 2mA 使用移动电视退出进入待机后 2mA 播放 MP3 暂停进入待机后 2mA 使用 MP3 后返回进入待机后 2mA 播放 MP4 退出进入待机后 2mA 使用 WIFI 退出进入待机后 2mA 接听来电后挂机进入待机后 2mA 拨打电话通话后挂机进入待机后 2mA 收到短信不处理进入待机后 2mA 收到短信查看进入待机
14、后 2mA 使用 WAP 退出进入待机后 2mA 激活蓝牙进入待机后 2mA 最小待机电流 使用蓝牙耳机进入待机后 2mA . ;. 关闭蓝牙进入待机后 2mA 使用 FM 退出进入待机后 2mA 充电一段时间移除充电器进入待机后 2mA 900MHz(Level:5)300mA 1800MHz(Level:0)250mA 850MHz(Level:5)300mA GSM 1900MHz(Level:0)250mA 最大功 率时发 射电流 CDMA 最大功率时发射电流 600mA 待机平均电流(单 SIM 卡) 4mA 待机平均电流(CG 卡) 6mA 最大充电电流(3.8V 保持 60 秒)
15、 350X550 mA 涓流充电电流10100 mA 低电报警电压 3.50.1V 自动关机电压 3.30.1V 充电结束电压 4.20.1V 充电电 流要求 小于 30mA WCDMA 手机满足附表四 附表四 WCDMA 手机电流测试标准 测试项参考标准备注 关机漏电流 0.1mA 开机进入待机后(插入单 SIM 卡) 1.5mA 开机进入待机后(插入双 SIM 卡) 1.5mA 拍照完进入待机后 1.5mA 录像退出进入待机后 1.5mA 使用移动电视退出进入待机后 1.5mA 播放 MP3 暂停进入待机后 1.5mA 使用 MP3 后返回进入待机后 1.5mA 播放 MP4 退出进入待机
16、后 1.5mA 使用 WIFI 退出进入待机后 1.5mA 接听来电后挂机进入待机后 1.5mA 拨打电话通话后挂机进入待机后 1.5mA 收到短信不处理进入待机后 1.5mA 收到短信查看进入待机后 1.5mA 使用 WAP 退出进入待机后 1.5mA 激活蓝牙进入待机后 1.5mA 使用蓝牙耳机进入待机后 1.5mA 关闭蓝牙进入待机后 1.5mA 使用 FM 退出进入待机后 1.5mA 最小待机电流 充电一段时间移除充电器进入待机后 1.5mA 900MHz(Level:5)300mA 1800MHz(Level:0)250mA 最大功 率时发 射电流 GSM 850MHz(Level:
17、5)300mA . ;. 1900MHz(Level:0)250mA WCDMA 最大功率时发射电流 520mA Power Out:22 dBm 待机平均电流(单 SIM 卡) 8mA 待机平均电流(双 SIM 卡) 12mA 最大充电电流(3.8V 保持 60 秒) 350X550 mA 涓流充电电流10100 mA 低电报警电压 3.50.1V 自动关机电压 3.30.1V 充电结束电压 4.20.1V 充电电 流要求 小于 30mA 5.1.3 RF测试 5.1.3.1 GSM RF 测试 测试仪器:综合测试仪 CMU200 . 5.1.3.2 CDMA RF 测试 测试仪器:综合测试
18、仪 CMU200 . orI dBm/1.23MHz-104-25 Ior EcPilot dB-7 Ior Ec Traffic dB -15.6(RC1 和 3) 5.1.3.3 WCDMA RF 测试 测试仪器:综合测试仪 CMU200 . MHzMHz 7 矢量幅度误差 EVM 17.5% 17.5% 17.5% 17.5% 8 频率误差 -210+210Hz-190+190Hz-170+170Hz-85+85Hz 9 频谱发射模板 模版范围内 10 峰值码域误差 -15dB-15dB-15dB-15dB 11 上行内环功率控制如附表十四 GSM 部分 参照 GSMRF 耦合测试标准
19、附表十二UE Power Classes Power Class 1Power Class 2Power Class 3Power Class 3bis Power Class 4Operating Band Power (dBm) Tol (dB) Power (dBm) Tol (dB) Power (dBm) Tol (dB) Power (dBm) Tol (dB) Power (dBm) Tol (dB) Band I+33+1/-3+27+1/-3+24+1/-323+2/-2+21+2/-2 Band II-+24+1/-323+2/-2+21+2/-2 Band III-+24
20、+1/-323+2/-2+21+2/-2 Band IV-+24+1/-323+2/-2+21+2/-2 Band V-+24+1/-323+2/-2+21+2/-2 附表十三UE ACLR Power ClassAdjacent channel frequency relative to assigned channel frequency ACLR limit 3+ 5 MHz or - 5 MHz33 dB 3+ 10 MHz or - 10 MHz43 dB 4+ 5 MHz or - 5 MHz33 dB 4+ 10 MHz or -10 MHz 43 dB 附表十四 Transmi
21、tter power control range TPC_cmdTransmitter power control range (all units are in dB) 1 dB step size2 dB step size3 dB step size LowerUpperLowerUpperLowerUpper +1+0.5+1.5+1+3+1.5+4.5 0-0.5+0.5-0.5+0.5+0.5+0.5 -1-0.5-1.5-1-3-1.5-4.5 Table5.4.2.2:Transmitter aggregate power control tolerance . ;. TPC_
22、cmd group Transmitter power control range after 10 equal TPC_cmd group (all units are in dB) Transmitter power control range after 7 equal TPC_cmd groups (all units are in dB) 1 dB step size2 dB step size3 dB step size LowerUpperLowerLowerUpperLower +1+8+12+16+24+16+26 0-1+1-1+1-1+1 -1-8-12-16-24-16
23、-26 0,0,0,0,+1+6+14N/AN/AN/AN/A 0,0,0,0,-1-6-14N/AN/AN/AN/A 5.1.4 抗干扰测试 测试仪器:CMU200 . 整机分别进行空气放电、接触放电。 A.接触放电仅对于样机的金属部件、金属装饰件、金属材料或有金属性能的涂层,Lens 等放电. B.空气放电对于样机经常被直接接触到的有缝隙的地方,如:按键,侧键,天线,转轴处空气放电 前,去除所有的塞子,如充电器耳机塞子等 C.PCBA 的测试点接触放电时对屏蔽盖、IO 接口、T 卡座(金属框)、SIM 卡座(金属框)、LCD 周边露铜 区、LCD 下方露铜区、数字键盘、数字键盘周边露铜区、
24、底层板露铀区进行放电。 2)将样机放置静电测试台的绝缘垫上,并且用充电器加电使手机处于充电状态(样机与绝缘垫边缘 距离至少 2 英寸;两个样机之间的距离也是至少 2 英寸). 3)将手机与综测仪连接,调节放电方式,分别选择+/-kV, +/-kV, +/-kV (接触放电),+/- kV,+/-kV, +/-8kV, +/-10kV(空气放电) ,对手机指定部位放电 10 次,每测试一次,同时手机对地 放电一次。 4)做完一个部位的测试,检查手机功能、内存、信号和灵敏度,并观察手机在测试 过程中有无死机,通信 链路中断,LCD 显示异常,自动关机及其它异常现象。 测试标准:PCBA接触放电应满
25、足4KV 整机空气放电应满足8KV接触放电应满足4KV 5.1.6 杂散测试 测试仪器:综测仪 频谱仪 杂散测试软件 测试方法:被测试手机与综测仪建立呼叫,打开杂散测试软件。分别对各频段高 中 低三个信道进行二 次谐波确认。 测试标准:不超过-30dBm,最好状态是有 6dBm 的余量 5.1.7 蓝牙测试(只针对带蓝牙功能的项目) 测试仪器:蓝牙耳机,电脑,蓝牙适配器型号 测试方法:启动蓝牙功能,测试蓝牙与手机的连接效果及通话效果,蓝牙与电脑的传输速率。 测试标准:蓝牙与手机的连接正常,且能实现通话与数据传输。传输距离不小于 1M。通话距离不小 2M。 5.1.8 现场测试 测试仪器:测试
26、SIM 卡 测试方法:在移动状态、固定状态下分别在强弱信号交换区(对比机信号提示符显示只有一格或无显示 时为弱信号区) ,由公司固定电话拨打测试手机,分别在 900 、1800 频段拨打 20 次测试接通 率。 测试标准:接通率应达到对比机的 90%以上,通话质量正常(无电流音、干扰音),无明显掉话(掉话次数 . ;. 不能多于对比机 2 次)。 注:免提通话时,手机与脸部保持在 15cm 左右。 5.1.9 模拟TV测试(只针对带模拟TV功能的项目) 测试仪器:TV PATTERN GENERATOR GV_698+(PROMAX),GKTS2-8-90-1-B-75,BMP-5075,对比
27、机 测试方法:进入工程模式,选择电视工厂测试模式;在 China(中国)区域 PAL-D 制式下分别测试 ch high、ch mid、 ch low 中心频率(MHZ)及收视效果。使用对比机对设备进行补偿设置。 测试标准:测试样品上每个频道上的“Chronma”必须显示“1” 。收视效果与对比机相比较,画面应一致、 清晰。 5.1.10 测试 测试仪器:无 测试方法:用指定耳机(或拉杆天线) ,分别在 FM 强信号区与弱信号区(对比机只能搜到 35 个台的区 域),进行 FM 测试。 测试标准:要求搜台数不少于对比机,且收听效果不能差于对比机,要语音清晰,无明显杂 5.1.11 WIFI测试
28、 测试仪器:无 测试方法:开启 WIFI 功能,连接到指定热点。 测试标准:直线障碍距离不小于 20M。 5.1.12 OTA 测试 测试仪器:AG8960 综测仪、微波暗室、OTA 测试系统 测试方法:打开测试软件进行正确的测试参数设定后,将测试手机在微波暗室内开机与综测仪建立通信 连接,运行软件开始进行测试。 测试标准:如附表 标准 参数 TRP (dBm)TIS (dBm) GSM850/EGSM28-102 DCS/PCS25-102 CDMA/WCDMA19-102 5.1.13 手机表面温升测试 试仪器:温度测试仪 测试方法:将手机放入三角锥天线内与综测仪建立通话,通话时设置功率等
29、级为最大(即 GSM900 PL5) ,连续通话 30Min 后对手机的 MIC、Receiver、Speaker、LCD、电池后壳进行表面 . ;. 温度的测试,记录其最高温度值。 测试标准:通话过程中手机无异常,表面最高温度点温度上升12。 5.1.14 手机喇叭音量测试 试仪器:噪音计 测试方法:手机开机后进入情景模式将铃声音量设为最大等级,选择自带铃音中的三首铃音使用噪音计 测量铃音分贝值,测试中噪音计距离手机 20cm,测试读取最大值。 测试标准:二合一喇叭、单喇叭75dB, 双喇叭 85dB。 5.2 环境测试 5.2.1 低温存储试验 目的: 验证产品在低温存储后,没有零器部件损
30、坏和功能异常形象,暴露产品潜在的不良缺陷。 测试设备: 可编程恒温恒湿机 测试样机 电池 SIM 卡(或 UIM 卡) 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 全功能都正常,不得有不良品。 2)把样机放入可编程恒温恒湿机。 3)测试样机处于关机无电话卡模式。 4)样机在低温-40 无湿度条件下,保持 16hrs。 5)设置可编程恒温恒湿机温度和时间如下分布图: Total:21 h 6)在常温恢复 2 小时后检查外观 结构,开机进行全功能检查。 评估标准: 能正常开机和关机 射频及所有功能都正常 外观无变形 裂纹 . ;. 结构无开裂或破损 按键弹性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆
31、无脱落和退色 5.2.2 低温工作试验 目的: 验证产品在低温环境下能够正常工作,暴露在产品在低温环境下的不良缺陷。 测试设备: 可编程恒温恒湿机 测试样机 电池 SIM(或 UIM)卡 手机充电器 存储卡 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 全功能都正常,不得有不良品。 2)把样机放入可编程恒温恒湿机(有电话卡和带电池模式) 。 3)待测样机用电池供电,处于待机状态。 4)样机在温度-10 无湿度条件下工作 2hrs。 5)设置可编程恒温恒湿机温度和时间如下分布图: 6)完成以后立即进行外观、结构及全功能检查。 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 无自动关机
32、或死机现象 外观无变形 裂纹 结构无开裂或破损 按键弹性 敏捷度正常 . ;. 金属部件无生锈现象 表面喷漆无脱落 5.2.3 高温存储试验 目的: 验证产品在高温存储后,没有零器部件损坏和功能异常形象,暴露产品的不良缺陷。 测试设备: 可编程恒温恒湿箱 测试样机 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 全功能都正常,不得有不良品。 2)把样机放入可编程恒温恒湿机或高温试验箱。 3)样机在高温55 无湿度条件下,保持16hrs。 4)设置可编程恒温恒湿机温度和时间如下分布图: 5)温度恢复常温以后检查外观 结构,开机进行全功能检查。 评估标准: 能正常开机和关机 射频及所有功能都正常 LCD
33、 无变色和印纹 外观无变形 裂纹 结构无开裂或破损 按键弹性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆无龟裂、脱落 5.2.4 高温工作试验 目的: 验证产品在高温环境下能够正常工作,暴露产品在高温环境下的不良缺陷。 测试设备: . ;. 可编程恒温恒湿机 测试样机 电池 SIM(或 UIM)卡 手机充电器 存储卡 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 全功能都正常,不得有不良品。 2)把样机放入可编程恒温恒湿机(有电话卡和带电池模式) 。 3)待测样机用电池供电,处于待机状态。 4)样机在温度 55 无湿度条件下持续 2hrs。 5)设置可编程恒温恒湿机温度和时间如下分布图: 6)完成以
34、后立即检查外观 结构,进行全功能检查。 评估标准: 射频及所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 无自动关机或死机现象 外观无变形 裂纹 结构无开裂或破损 按键弹性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆无脱落 5.2.5 温度循环试验 目的: 验证产品在温度循环后,没有零器部件损坏和功能异常形象,暴露产品的不良缺陷。 测试设备: 可编程恒温恒湿机 测试样机 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 全功能都正常,不得有不良品。 2)把样机放入可编程恒温恒湿机(关机无电话卡模式) 。 . ;. 3)降温至-10 无湿度保持1hrs,升温至55 ,湿度达到(9397)RH下保持1h
35、rs,温变数率不大于 为1.5/ min,降温1hrs,共进行12个循环。 4)设置可编程恒温恒湿机温度和时间如下分布图: 5)温度恢复 25 75RH,保持 2 小时后检查外观 结构,开机进行全功能检查。 评估标准: 能正常开机和关机 射频及所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 外观无变形 裂纹 结构无开裂或破损 按键弹性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆无脱落 5.2.6 温度冲击试验 目的: 验证产品在高低温冲击后,没有零器部件损坏和功能异常形象,暴露产品的不良缺陷。 测试设备: 温度冲击箱 测试样机 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 功能都正常,不得有不良
36、品。 2)低温箱调至(-253)。 3)高温箱调至(303)。 . ;. 4)样机带电池、不开机,放入试验箱内。 5)样机在低(或高)温环境下放置30min。 6)在3min内将样品暴露在高(或低)温环境下放置30min。 7)在3min内将样品暴露在低(或高)温环境下放置30min。 8)重复做第5步至第6步,共5个循环。 9)温度恢复常温以后检查外观 结构,开机进行全功能检查。 评估标准: 能正常开机和关机 所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 外观无变形 裂纹 结构无开裂或破损 按键弹性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆无脱落 5.2.7 高温高湿试验 目的: 验证
37、产品在高温高湿环境下能够正常工作,暴露产品在高温高湿环境下的不良缺陷。 测试设备: 可编程恒温恒湿机 测试样机 电池 SIM(或 UIM)卡 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 全功能都正常,不得有不良品。 2)把样机放入可编程恒温恒湿机(无电话卡和带电池模式) 。 . ;. 3)待测样机处于断电状态。 4)样机在温度 70,湿度 90%条件下保持 48hrs。 5)设置可编程恒温恒湿机温度和时间如下分布图: 6)温度恢复常温后检查外观 结构,开机进行全功能检查。 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 能正常开机和关机 外观无变形 裂纹 结构无开裂或破损 按键弹
38、性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆无脱落 5.2.8 盐雾试验 目的: 验证产品的抗盐雾腐蚀性能,暴露产品不良缺陷。 测试设备: 盐雾试验箱 高温试验箱 待测样机 2 台 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 功能都正常,不得有不良品。 2)配置氯化钠盐溶液浓度5%。 3)设置盐雾试验箱参数: 温度:35 . ;. 喷雾水压力:80KPa 4)设备可编程温度试验箱参数: 温度:40 湿度:95RH 5)样机是不带电池关机状态。 6)把样机放入盐雾试验箱。喷雾2小时,然后取出放在温度试验箱中存储22小时。 7)从温度试验箱取出样品,放入盐雾试验箱,喷雾2小时,如此循环3次。 8)完
39、成后检查外观 结构,开机进行全功能检查。 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 无不开机 自动关机或死机现象 外观无变形 裂纹 按键弹性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆无脱落 5.2.9 汗液试验 目的: 验证产品的抗盐雾腐蚀性能,暴露产品不良缺陷。 测试设备: 滤纸、胶带、酸性溶液 测试条件和方法: 1)检查样机外观 结构 功能都正常,不得有不良品。 2)把滤纸放于酸性溶液(Acid2 PH=4.7) 3)酸性溶液可以按如下方式配制: NACL:11.3, 磷酸二氢钠:2.8, 乳酸:1.1, 水:84.8;或者按照其他方式进行配制)充分浸透 4)用胶带将
40、浸有酸性溶液的滤纸粘在样品表面并且确保试纸与样品表面充分接触 5)放在测试环境中,48 小时后将样品从测试环境中取出,并且放置 2 小时后,检查样品表面 . ;. 6)测试环境要求: 温度:40 湿度:95RH 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 无不开机 自动关机或死机现象 外观无变形 裂纹 按键弹性 敏捷度正常 金属部件无生锈现象 表面喷漆无脱落 5.2.10 粉尘试验 目的: 验证产品的结构的密闭性。 测试设备: 砂尘试验机待测样机 测试条件和方法: 在试验箱滑石粉 300 目,灰尘浓度 10.67g/m3、风速 8.91.27m/s、箱内温度为 1535,相
41、对湿度 为 4575%,环境下吹尘 20min,振动 2min、共持续时间 4h;样机正、反两面放置。 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示正常,无进尘现象 无不开机 自动关机或死机现象 外观无变形 裂纹 按键弹性 敏捷度正常 表面喷漆无脱落 5.2.11 自由跌落试验 目的: 验证产品的结构强度及外观抗跌落能力,暴露产品机械结构弱点及特定功能之退化情形. 测试设备: 手机专用跌落试验机 待测样机 电池 SIM(或 UIM)卡 . ;. 测试条件和方法: 1)测试条件: A 跌落高度定义: 1.2m 高度 对于显示屏可见面积不小于机壳正面表面积 40%或 25cm2 的手机跌落高度为 0.
42、8m B 跌落次数:每个面 2 次,共 12 次;如果是翻(滑)盖手机则共 16 次(打开翻盖或滑盖面正反 面在各跌落 2 次) 。 C 每跌落 1 次进行外观 结构 功能检查。 2) 检查样机结构 功能都正常,不得有不良品。 3) 样机是带有卡和电池,处于开机状态。 4) 让样机自由跌落到光滑的大理石平台。 5) 完成后检查外观 结构 功能。 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 无自动关机或死机 不开机现象 外观无变形 裂纹 外部结构无开裂或破损,螺丝无松动。 内部元器件无脱落 松动和损坏。 按键弹性 敏捷度正常 . ;. LCD 表面积超过 40%或 25cm2
43、允许液晶屏损坏,但通话功能正常 5.2.12 振动试验 目的: 验证产品的结构强度及抗振动能力,暴露产品机械结构弱点及特定功能之退化情形. 测试设备: 振动机 待测样机 SIM(或 UIM)卡 电池 测试条件和方法: 1) 检查样机外观 结构 功能都正常,不得有不良品。 2)设置振动机参数: a振幅:6mm b 频率 功率频谱密度(PSD) 515Hz 0.1m/s2/Hz 15100Hz 2.2m/s2/Hz cX,Y,Z 三方向各振动 1 小时 3)样机是无电话卡带电池关机状态。 4)把样机固定于振动台。 5)每个方向振动完成后进行结构 功能检查。 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示
44、正常,无花色或变色现象 无不开机 自动关机或死机现象 外观无变形 裂纹 外部结构无开裂或破损,螺丝无松动。 内部 PCB 无短路 断路 虚焊现象 内部元器件无脱落和松动 5.3 寿命测试 5.3.1 按键寿命试验 目的: 验证产品的按键在连续按键的情况下的抗疲劳能力,保证按键不会变形和操作延时。 测试设备: 手机按键测试仪 待测样机 电池 SIM(或 UIM)卡 . ;. 测试条件和方法: 1)测试条件: a. 按键次数:100000次 b. 按键速度:4050 次/分钟 c. 施加力度: 大于0.6N 2)检查样机结构 功能都正常,不得有不良品。 3)待测样机处于开机状态。 4)把样机固定于
45、测试仪,按测试条件的参数设置测试仪器,并运行。 5)每按 1 万检查手机一次。 评估标准: 所有功能都正常 按键弹性 敏捷度正常 按键无变形 松动 按键操作无延时 5.3.2 翻(滑)盖寿命试验 目的: 验证产品的翻(滑)盖在连续摇摆时的抗疲劳能力,暴露产品的潜在不良缺陷。 测试设备: 手机翻(滑)盖测试仪 样机 电池 SIM(或 UIM)卡 测试条件和方法: 1)测试条件: A次数:50000 次 B速度:4060 次/分钟 2)检查样机结构 功能都正常,不得有不良品。 3)把待测样机固定于测试仪。 4)待测样机处于开机状态。 5)按测试条件的参数设置测试仪器,并运行。 6)每按1万检查手机
46、一次。 评估标准: 所有功能都正常 翻(滑)盖无松动和异音现象 . ;. 无物理上的损坏 数据线无不良现象 5.3.3 耳机插拔试验 目的: 验证产品耳机插槽在反复插拔后功能正常,暴露产品的潜在不良缺陷。 测试设备: 待测样机 手机电池 SIM(或 UIM)卡 耳机 测试条件和方法: 1)测试条件: 插拔次数:3000 次 插拔速度:1 次/S 2)检查样机外观 结构都正常,不得有不良品。 3)开机检查耳机功能正常。 4)待测样机处于开机状态。 5)手动插拔5000次,以1次/S的速度。 6)每1000次检查外观 结构及耳机功能。 评估标准: 耳机口无接触不良现象 耳机插座无焊接故障 耳机插头
47、无损伤,使用耳机通话接收与送话无杂音 耳机插入手机耳机插孔时不会松动(可以承受得住手机本身的重量) 。 5.3.4 I/0 接口插拔试验 目的: 验证产品 I/0 接口在反复插拔后功能正常,暴露产品的潜在不良缺陷。 测试设备: 待测样机 电池 SIM(或 UIM)卡 充电器 USB 数据线 测试条件和方法: 1)测试条件: 插拔次数:5000 次 插拔速度:1 次/S 2)检查样机外观 结构都正常,不得有不良品。 . ;. 3)开机检查I/0接口功能正常。 4)在开机状态,手动插/拔2500次,以1次/S的速度。 。 5)在关机状态,手动插/拔2500次,以1次/S的速度。 6)每1000次检
48、查外观 结构及I/0接口功能。 评估标准: 无外观 结构不良 I/0 接口功能无异常 I/0 接口无接触不良现象 5.3.5 7cm 微跌试验 目的: 验证产品的结构强度及外观抗跌落能力,暴露产品机械结构弱点及特定功能之退化情形. 测试设备: 跌落试验机 待测样机 电池 SIM(或 UIM)卡 测试条件和方法: 1) 测试条件: 跌落高度: 7cm 跌落面: 正面 背面 跌落次数:每个面 500 次 2) 检查样机结构 功能都正常,不得有不良品。 3) 样机是带有卡和电池,处于开机状态。 4) 把样机悬空于定义高度。 5) 让样机自由跌落到5mmPVC板。 6) 每个面重复跌落500次。 7) 每跌落100次进行外观 结构 功能检查。 评估标准: 所有功能都正常 LCD 显示正常,无花色或变色现象 LCD 无破碎 无自动关机或死机 不开机现象 外观无变形 裂纹 外部结构无开裂或破损,螺丝无松动。 . ;. 内部元器件无脱落 松动和损坏。 按键弹性 敏捷度正常 5.3.6 滚筒跌落试验 目的: 确定手机频繁跌落到松木板上时,经受重复跌落的适应性 测试设备: 滚筒试验机 测试条件和方法: 1)检查待测样机外观都正常,不得有不良品。 2)将样机带电池一起放入滚筒内,关机状态。 3)设备制定为5圈/分钟,每
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