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文档简介
1、1 衍射分析用的单色X射线采用的阳极靶材料的哪种标识X射线、 滤波片材料的原子序数与阳极靶材料的原子序数关系如何?滤波 片吸收限k与阳极靶材料的标识X射线波长是什么关系? A衍射分析用的单色X射线采用的是阳极靶的K特征谱线。原因:K 线的强度高。虽然M层电子个数比L层多,但是MK层跃迁的几率比 LK层跃迁的几率小,最终K线的强度是K线的5倍左右。 B一般滤波片的选择规律是,滤波片的原子序数ZF应比阳极靶材原子 序数ZB小1或2,即:当ZB40时,ZF=ZB-1 当ZB40时,ZF=ZB-2 C滤波片的吸收限k位于靶材(辐射源)的K与K的波长之间 D靶材的选择:尽量减少或避免在试样上的吸收和产生
2、荧光辐射。一 般:ZBZ试样+1 2X射线与物质相互作用时,产生哪两种散射?各有什么特点?哪种 散射适用于X射线衍射分析?什么方向是晶体对X射线的衍射方向? X射线被物质散射时,产生两种现象: 相干散射; 非相干散射。 相干散射:物质中的电子在X射线电场的作用下,产生与入射光频率 一致的受迫振动。这样每个电子在各方向辐射与入射X射线同频率的 电磁波。新的散射波之间可发生相干,称为相干散射 非相干散射:X射线光子与束缚力不大的外层电子 或自由电子碰撞时 电子获得一部分动能成为反冲电子,X射线光子离开原来方向,能量 减小,波长增加。 相干散射适用于X射线衍射分析,散射波周相一致,相互加强的方向 称
3、衍射方向。 3X射线是怎么产生的?什么是标识X射线(特征X射线)谱?什么是连 续X射线谱?两种谱的产生机理和特点。 1)射线产生的原理 高速运动的粒子与靶材碰撞,速度骤减,且与靶材原子的核外电 子相互作用。产生的条件:加热的灯丝在一个适当的偏压下产生自由 电子;该电子以一定的能量撞向靶;电子的能量足以使靶材原子的内 层电子激发。 在电子撞击靶产生X射线的同时产生了大量的热、极少的一部分产 生射线 2)电子撞击靶材产生的X射线谱如图所示: 波长连续变化的X射线谱成为连续谱。特点是在不同的加速电压 下,存在一个相应的短波限0。产生机理:高速运动的电子突然减 速,产生很大的负加速度,这负加速度引起周
4、围电磁场的变化,产生 电磁波;或具有一定能量的电子与靶材原子相撞时,电子失去能量, 其中一部以X射线辐射出来。大量的电子撞向靶的时间和条件不同, 且会发生多次碰撞,每次碰撞的能量损失不同,因此形成了连续谱。 连续X射线谱在短波方向有一个波长极限,称为短波限0.它是由 光子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射线。它只与管电压有关,不受 其它因素的影响。 X射线谱上,某波长射线强度突然增加成不连续变化且谱峰波长 (位置)不随射线管电流和电压改变而改变的射线,因其波长反映了靶 材原子序数的特征而成为特征射线。这种射线对于靶材原子是有 标识性的,因此也称为标识谱 发射机理:具有足够能量的电子eV与靶原子核外
5、电子作用,内层 电子被激发成为自由电子或填充到未满的高能级上,在相应的壳层上 留下空位,外层电子向空位跃迁,同时辐射出特定能量(波长)的X射 线。该射线的能量h=Eb-Ea,Eb,Ea分别为产生跃迁能级和产生空位 能级的电子结合能。 4根据原子结构的模型,阐述封闭式热阴极X射线管中K系标识X射线 的产生。(画图说明) 当撞击靶面的电子的能量靶材K壳层电子的束缚能时,在电子的轰 击下,K层上产生空位,受激发的原子通过电子跃迁的形式去激发, 更外层(L,M,N)上的电子向K层跃迁,产生相应的K系辐射。 LK,MK,NK的跃迁产生的辐射称为K,K,K等。因不同 的主壳层上还存在亚能级,因此从L,L向
6、K层空位跃迁产生的辐射 称为K2,K1。 5什么是K射线?什么是K射线?这两种射线中哪种射线强度大?哪 种射线波长短?X射线衍射用的是哪种射线?为什么K射线中包含K1 和 K2? 由能级可知K辐射的光子能量大于K的能量,但K层与L层为相邻能 级,L层电子填充几率大,所以K的强度约为K的5倍。K波长短,X 射线衍射用的是K。K1 和K2是K跃迁产生的两条谱线。 6什么叫X射线光电效应?什么叫荧光X射线?俄歇电子? 光电效应:以X光子激发原子所发生的电子激发和辐射过程。被击出 的电子称为光电子,辐射出的次级标识X射线称为荧光X射线。 X光子或其它激发原与物质作用失掉内层电子后,处于激发态;当外 层
7、电子填充空位时,放出E-E能量,产生两种效应: (1) 荧光X射线; (2) 产生二次电离,使另一个核外电子成为二次电子俄歇电子。 7目前常用的X射线管有哪两种?X射线管中焦点的形状分为哪两种? 各适用于什么分析方法? 封闭管和旋转靶式X射线发生器. 焦点形状有线状和点状.点焦适用照相法(二维衍射).线焦适用于X射线 衍射一维谱分析(衍射仪). 8简述在现代材料研究中,X射线衍射(XRD)实验方法在材料研究中有 那些主要应用。 物相分析;精确测定点阵参数(晶体结构解析);取向分析;晶粒大小 和微观应力分析;宏观应力测定;相变研究;缺陷研究;结晶度测定 9X射线衍射定量相分析时分析线如何选择?若
8、掺杂标准相,则标准 相应该如何选择? 定量物相分析时分析线分应不与其他物相的衍射线重叠;有足够的衍 射强度;没有择优取向等强度失真。 若需掺杂标样,应选择主峰与要测定的物相的主峰不重叠,且主峰位置尽 可能与待测主峰接近的稳定物质. 10. 什么是布拉格角?什么是衍射角?写出布拉格方程的表达式并阐明 其含义。对方程中的主要参数的范围确定进行讨论。 布拉格方程2d sin = n;d 为发生衍射的晶面的面间距,为入射光波 长,n 反射级数。 为入射线与参与衍射晶面的夹角,Bragg角, 入射线与衍射线之间的夹 角为衍射角. 讨论:反射级数1的整数;根据方程,衍射发生时光程差必须为波长 的整倍数;面
9、间距小的晶面,布拉格角(入射角)大,面间距小的晶 面,入射角小。其定量关系为: Sin=n/2d,sin的最大值为1,可知最小测定d尺寸为/2,理论上最大可 测尺寸为无穷大,实际上为几个m。采用短波长X射线做光源参与衍射 的干涉面会增加,产生更多的衍射线或环。 11已知-Fe属体心立方晶系,点阵参数a=0.28644 nm,问用 nm X射线照射-Fe,衍射图中最多可得到几条衍射线? 根据入射光的波长确定可能分析的晶面的最小的面间 距。dmax/2=0.1145nm,又据立方晶系面间距公式,面指数平方和应 小于等于a/dmax的平方,即h2+k2+l26.25,满足该条件的面指数有 (111)
10、(100)(200)(112)(110),又根据体心立方的消光规律(h+k+l=奇数), 衍射图中可产生的衍射线有三条,(200)(112)(110)。 12什么是干涉面?什么是干涉指数?干涉指数与晶面指数有何关系? 把(hkl)晶面的n级反射看成为与(hkl)晶面平行、面间距为d/n的(HKL) 的晶面的一级反射。H=nh, K=nk, L=nl。面间距为dHKL的晶面并不一 定是晶体中的原子面,而是为了简化布拉格方程所引入的干射面,我 们把这样的反射面称为干涉面。干涉面的面指数称为干指数。 在布拉格方程中,n取正整数,n=1为一级衍射,n=2为二级衍 射,但这样处理问题不够方便,为简单起见
11、,常将问题这样处 理,将布拉格方程进行一下变换,即:由 得: , 令 , 则得, 令 , 又得 这一形式表示,晶面(hkl)的任何一级衍射均可看作是(hkl)衍射面的 一级衍射。 (HKL)称为衍射面的衍射指数或干涉指数。 13晶体使X射线产生衍射的充分条件是什么?什么是系统消光? 衍射条件:产生衍射的必要条件:满足布拉格方程;充分条件:结构 因子不为零(不发生消光)。 系统消光:晶体结构中如果存在着带心的点阵、滑移面等,则产生的 衍射会成群的或系统的消失,这种现象称为系统消光,即由于原子在 晶胞中位置不同而导致某些衍射方向的强度为零的现象。 14X射线衍射线束的相对积分强度与什么因素有关?
12、试分别予以阐 明。 考虑到吸收和温度对衍射强度的影响: 以上是以入射线强度I0为基准的绝对积分强度,实际工作中无需测量 I0 值, 一般只考虑强度的相对值。对同一衍射花样中的同一物相的衍 射线相对比较而言, 是相同的,因此它们之间的相对积分强度为: 根据衍射强度公式,影响相对衍射强度的因素有: 结构因子;多重性因子;参与衍射的晶粒数目;洛伦兹因子(衍射 角),吸收特性及温度。除此之外,晶粒的大小,晶粒的取向等也会影 响衍射强度。 15. X射线衍射仪采用聚焦光路法分析时,样品转速和探测器转速的关 系,1:2 ?2:1? 1:2 16什么是测角仪园,什么是聚焦园? 测角仪圆: X射线源(焦点)和
13、接收狭缝所在的以测角仪中心轴为圆心 的圆。测量过程中测角仪圆是不变的。测角仪圆半径根据要求有所不 同。 聚焦圆:样品表面,射线源焦点及接收狭缝共在的圆周为聚焦圆。 2 样品 衍射射线 射线源 计数器 入射射线 S R 在测量过程中,随样品和接收狭缝的旋转,聚焦圆的半径和圆心在变 化,但三者始终在一个圆上。 17影响衍射仪测试结果的主要实验参数是? X光管类型的选择,管电流,管电压的选择,滤波片和靶材料的选择 及计数器类型。 在以上条件确定后,扫描模式(聚焦/2,掠入射2单动;连续扫描, 步进扫描),狭缝的设置,扫描速度的设置,步长和时间常数设置等。 18哪些国家、什么委员会、编制了什么卡片?
14、J.D.Hanawalt等人于1938年首先发起,以d-I数据组代替衍射 花样,制备衍射数据卡片的工作。 1942年“美国材料试验协会(ASTM)”出版约1300张衍射数据 卡片(ASTM卡片)。 1969年成立了“粉末衍射标准联合委员会”(JCPDS),由它负 责编辑和出版粉末衍射卡片,称为PDF卡片。 现在由ICDD (International Center for Diffraction Data)编辑 出版卡片, PDF-1: d, I PDF-2: card PDF-3: pattern 1965年英国剑桥大学化学系建立,英国研究委员会资助的Cambridge Crystallog
15、raphic Data Center (CCDC)剑桥晶体学数据中心。发表的 CSD(剑桥结构数据库等)。272,000个晶体结构数据(有机、金属有机化 合物、金属络合物结构) 由德国FIZ karlsruhe和GMELIN Institute Frankfurt联合编辑的ICSD (Inorganic crystal structure database)无机化合物晶体结构数据库 由美国国家科学基金会,美国矿物学学会,加拿大矿物协会和欧洲矿 物学杂志联合支持创办的公开的晶体学数据库,这些数据是由各种组 织、机构或个人捐助的COD (Crystallorgaphy open database)
16、 19试述X射线粉末衍射法物相定性分析的程序(简述混合物X射线物相 分析的基本方法及其步骤。)及应注意的问题 作定性相分析时,由于试样制备方法、测定条件以及JCPDS卡的数据 本身的可靠性问题,使得JCPDS卡的数据与试样衍射线的d值或I/I1值 有些差别。 1)、粘土矿物或石墨粉末等易产生择优取向的试样以及具有择优位向 的金属箔,其衍射强度会发生变化,甚至出现倒置的情况。 2)、粒径大的粉末(几十m以上)衍射强度重现性差,强度的变化可达 百分之几十。 3)、试样中固溶体其它物质或试样加热膨胀时衍射线移向低角位置(高 角位置衍射线偏移量较大)。 4)、实验误差带来的峰位移动 20为什么定性分析
17、时d值的数据比相对强度的数据重要? 由于面间距数据是物相的标识性数据,作定性分析时主要依据d值。虽 然相对强度也是主要判据之一,但由于相对强度受样品情况的影响较 大,定性时在d值相符的情况下再根据样品的情况考虑相对强度是否一 致。 21为什么说小角度区的衍射数据比高角度区的数据重要? 因为由小角度区的衍射峰是由小指数晶面(面间距较大)产生的,小指 数晶面的多重性因子大,产生的衍射峰相对强度高,在晶体结构数据 中很重要,且小指数晶面衍射峰的重叠少,在定性和定量中较高角度 衍射峰重要。虽然高角度衍射峰的测角精度较高,d/d随衍射角的增 大而减小,但随衍射仪制备技术的发展及谱分析技术的发展低角度衍
18、射峰数据在结构分析中的重要性越来越大。 22为什么有的XRD data中,有(200)(400)面,而没有最基本的(100)面 数据?或者有(220)而没有(110)? 粉晶衍射不一定能出现所有的面网,很多物质的粉晶衍射都不一定出 现(100)(110),这与结构有关。晶体衍射有个叫消光的现象,晶体 的消光规律决定于它的结构的对称性,不同的空间群其消光规 律不同。 如果应该出现的衍射而没有出现,那就是样品的择优取向 引起的。 再者(100)面的角度比较低,有时是没有扫到或淹没在低角度 的背景中了。 23. 铝为面心立方点阵,a0.409nm。今用Cr K (0.209nm)摄照周转 晶体相,X
19、射线垂直于001。试用厄瓦尔德图解法原理判断下列晶面有 无可能参与衍射:(111),(200),(220),(311),(331),(420)。 有题可知以上六个晶面都满足了 h k l 全齐全偶的条件。根据艾瓦尔德 图解法在周转晶体法中只要满足 sin1 。所以着两个晶面不能发 生衍射其他的都有可能。 24. 某立方晶系的金属晶体,用CuK射线(154.2pm)摄取其粉末衍射 图,测得各衍射线的2角如下:44.62 51.90 76.45 93.06 98.57 122.12 145.0 156.16 (1) 将各衍射线指标化。 (2) 确定该晶体的空间点阵型式。 (3) 求算该晶体的晶胞参
20、数。 计算步骤: sinsin2Sin2i/ Sin21整数化根据sin2比值关系判定点阵 类型根据比值确定晶面指数根据各晶面sin与晶胞参数的关系计 算晶胞参数。 正确答案是:面心立方点阵,晶胞参数=b=c=ai/n=0.3524nm。 =90 25X射线定量相分析的基本原理是什么? 定量依据:某物相的衍射峰的积分强度与该物相在样品中的体积分数 成正比。定量的基本原理如下式所示: 式中: IJ: 衍射峰的积分强度 KJ: 强度表达式中与试样种类、数量 均无关的常数相。 WJ:J物质的重量百分数 M/M:除J相外试样的平均质量吸收 系数。 /:是由N项组成的试样平均质量吸收系数。 简述K值法的
21、定量基本方法: K值法是一种改良的内标法。 公式中S下标的代表标样,a下标代表a物相。公式中关键的参数 为Ksa。 当某a相与标准相s重量比为1:1时,Kas=Ia/Is。K值也被称作参比强 度。纯物质的参比强度等于该物质与合成刚玉的1:1混合物的X射线衍 射图中两条最强线的强度比。当采用通用标样时,K(RIR)值可以从索 引中查出. 若一个样品中同时存在A,B,C 等相,我们可以选用A 相作为标样, 通过PDF 卡片查到每个相的RIR,就可以计算出以其中的A 相为内标 物时,样品中每个相的K 值。即: 如果一个系统中存在N 个相,其中X 相的质量分数为: 26A-TiO2(锐钛矿)(RIR=
22、5.0)与 R-TiO2(金红石)(RIR=3.6)混合物衍射花 样中两相最强线强度比 I A-TiO2 / I R-TiO21.5,试用参比强度法计算两相 各自的质量分数。 27. 采用X射线进行晶体衍射分析,利用照相法记录衍射花样,1、当 多晶体晶粒细化时,衍射花样将如何变化?2、当多晶试样中存在宏观 应力时,衍射花样的变化情况是怎样? 晶粒细化时,衍射圆环加宽,亮度变暗。存在宏观内应力使得衍射环 的半径改变,同时导致底片上的衍射环变宽。 28. 衍射强度变弱本质的原因是由于晶体颗粒变小,还是样品颗粒变 小? 晶体颗粒变小。 29. 为什么晶粒尺寸的变化会引起X射线衍射的峰线宽化? 根据小
23、晶体衍射,干涉函数G2可表达为: 理想的晶体是在三维空间中无限的周期性延伸的,N100时,几乎所有 衍射都集中在主峰上。主峰极大值出现在H,K,L为包括零在内的整 数时,各晶胞间的散射波周相差为2的整数倍。严格满足布拉格条件, 即倒易点出现在厄瓦尔德球上。当晶粒尺寸较小时,在倒易空间的倒 易点周围有一个衍射强度不为零的衍射区,这个区域的边缘可扩展到 H1/N1,K1/N2,L1/N3。晶粒的尺寸和形状决定了反射区的大小和 形状。反射区的大小于晶粒的尺寸成倒数关系。反射区的尺寸增大导 致衍射圆环的加宽,即衍射谱的宽化。 当N=N1N2N3很大时,反射区缩小到倒易点。 当N减小时,倒易点扩大。若小
24、晶体某个方向尺度很小时,倒易点在 这个方向扩展成一条线;若在两个方向只有少数原子,则倒易点扩展 成一个片;若三维都很小,则倒易点变为倒易斑。 多晶粉末反射区(倒易球)与反射球的交线为衍射环。倒易壳的宽度决 定了衍射圆环的宽度。 O O* S0/ 90- 倒易球 S/ 反射球 30、晶粒细化和点阵畸变在使衍射峰增宽的原理上有什么不同判定晶粒 细化致宽还是点阵畸变致宽的依据是什么? 晶粒尺寸不满足布拉格布拉格定义的无限大,在偏离正确布拉格方 向上仍产生衍射,使谱线具有一定的宽度。前者是由非布拉格反射引 起,而后者是由晶面间距变化引起的。 点阵畸变:同一晶面(HKL)在样品不同区域具有不同的d值, 在dd 范围内变化, d很小但不是常数。因此同一指数晶面的衍射角位置在 一个范围内变化,使衍射峰宽化。 根据半峰宽于衍射角之间的关系,考察它们满足下式中的前者还 是后者。 若满足前者,则衍射增宽主要由点阵畸变引起,若满足后者,则主要与 晶粒细化有关。 31、在晶粒尺寸和点阵畸变测定中需要有标准样品,它的作用是什
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