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文档简介
,一、透射电子显微镜简介 二、FEI F20的基本结构及软件 三、FEI F20的操作使用 四、透射电子显微镜的样品制备,主要内容：,一、透射电子显微镜简介,透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy),阿贝成像原理,TEM与光学显微镜比较,光学显微镜的分辨率,TEM与光学显微镜性能对比,电子激发样品可获得各种信号,质厚衬度,衍射衬度,相位衬度（HRTEM）,Z衬度（STEM像）,两个基本模式,二、FEI F20的基本结构及软件,品牌：美国FEI 型号：Tecnai G2 F20 用途：TEM-形貌观察 SAD-晶体结构 EDS-微区元素分析,技术指标： 加速电压：200KV 电子枪：FEG 点分辨率：0.24nm FEG最小束斑0.3nm 放大倍数：25 - 1000k 样品最大倾角：S-TWIN +/-40 Gatan 832 CCD相机，分辨率4K*2.7K,Tecnai G2 F20型TEM外观说明,软件说明,三、FEI F20的操作使用,Tecnai G2 F20型TEM的操作使用,讲在上机自主操作前,1、实验前检查,2、装入样品杆（此操作限高级用户使用）,样品杆清零,3、电镜合轴,4、电镜实验,5、拔出样品杆,小 结,四、透射电子显微镜的样品制备,TEM送样的几点
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