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文档简介

观察第六章膜材料的表达方法、第一节膜厚度测定技术第二节膜构造的表达方法第三节膜成分的表达方法、第一节膜厚度测定技术、第一、膜厚度的光学测定方法、第一、膜厚度的光学测定方法、第一、光的干扰作用条件,干扰作用极小的条件是光程差,2 .不首先,在薄膜的阶差的上下均匀地堆积一层高反射率的金属层。 然后,在胶片上面盖上半透半反镜。 由于镜与膜表面之间并不总是完全平行,所以在单色光的照射下,镜与膜之间的光的多重反射会导致产生等厚的干扰作用条纹。 等色干扰作用条纹法需要将反射镜与胶片平行放置,另外将非单色光源照射到胶片表面,对干扰作用极大的条件进行分光分析。 3 .透明薄膜的厚度测定的尺干扰作用,在薄膜和基板都透明,且它们的折光率分别为n1和n2的情况下,伴随着薄膜的光学厚度n1d的变化,薄膜的反射率振动,如图中n1不同、n2=1.5的情况所描绘的那样,对于n1n2的情况为n1的

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