德律泰培训试题答案(笔试繁体版).doc

TRI 德律泰電子（深圳）有限公司 TRT01001-AICT教育訓練測驗試題 (筆試部分)客戶名稱： 日期: 姓名：_ 是非題：1. ( 對 ) ICT測試時出現電阻+999。電容0或-999，表示該回路OPEN現象造成的。2. ( 對 ) 保養維護Fixture不可用溶劑清洗針頭。3. ( 對 ) 小電容並聯大電容線路，小電容無法準確測量。4. ( 錯 ) ICT測試機開機後，若發現系統功能自檢測試表中，電阻測試不良，則可更換AC量測板以處理該項問題。5. ( 對 ) 若先打開PC進入ICT主畫面，再開ICT主機則會發生SWITCH-BOARD CONFIG ERROR且壓床無法正常動作。6. ( 對 ) ICT測試機可對電晶體作三點測試,例如: 測NPN電晶體時將HIGH PIN 在C腳,LOW PIN加在E腳,Guarding Pin 加在B腳上.7. ( 對 ) ICT測試時出現電阻爲0,電容爲+9999.表示該相關測試回路SHORT現象造成的.8. ( 對 ) ICT主機在關機之前,應先跳出測試程式待DOS提示符出現後,才關機以免造成測試資料丟失.9. ( 對 ) ICT系統自我檢測可在DEBUG-SELF_CHECK選項下之SYSTEM及SWITCHING BOARD CHECK完成.10. ( 對 ) ICT測試機壓床部分應作適當之定期保養,定期擦拭及上油,並作放水之動作,同時須檢查壓力錶指標在46kg/cm2.選擇題(可複選)：1. ( C ) 欲安裝測試治具程式時，應該將治具廠商所提供之程式拷貝在哪個目錄下：A.根目錄；B.DOS程式所在之目錄；C.ICT主程序所在之目錄; D. 沒有限制.2. ( B ) 安裝治具後須將壓床之下壓高度調至下列何種程度: A.壓棒稍貼到PC板; B.壓棒下壓至護板距底座12mm; C.護板與底座完全貼緊不留空隙; D.壓至無法下壓.3. ( A B C ) ICT測試時發現IC-OPEN全部FAIL則可能原因下列何者爲非? A.HP Control Board不良; B.Mux Card 不良; C.ICT主機System Control Board不良; D.AC量測板不良.4. ( D ) ICT在程式Debug 之前下列那一項動作是不須要的: A.選擇與測試治具相對應之測試程式; B.在TEST-TEST_PAR下將所有參數設定妥當; C.在Learning -Open_Short-Learn下學習短斷路資訊; D.在REPORT中觀查WORST_COMP資訊.5. ( B C ) ICT系統自我檢定正常但壓床下壓測試待測板時,停留在測試OPEN/SHORT畫面下很久(感覺當機情形)此情形是什麽原因造成的? A.治具本身; B. 待測板上有電池之類的零件;C.PC本身; D.壓床本身.6. ( D ) 壓床無法下壓時下列何項檢查是非必要的: A.檢查壓力錶壓強是否正常; B. 檢查逆止閥是否有漏氣現象; C.檢查壓床與主機間D-Type Cable是否插接良好; D.檢查治具之64pins Cable是否插接良好.7. ( C ) ICT測試時發現某一顆IC的IC_OPEN程式全部FAIL其可能原因爲何? A.ICT主機不良; B.HP Control Board; C.該顆IC的Probe不良或極性相反; D.開關板不良.8. ( D ) VIA孔上用針之品名與針的頭形角度應爲: A.T型頭(剖三面大頭); B.H型頭(九爪); C.V型頭(七爪); D.T型頭(剖三面小T頭).9. ( A B ) ICT測試中若經常有一STEP測試FAIL(但待測板是良品)其可能的原因爲何? A.程式本身HI_PIN, LO_PIN或MODE選擇不對;B.治具測試針不良; C.ICT系統不良; D.壓床不良.10. ( A D ) ICT測試中常發生某一PIN OPEN FAIL則可能原因爲: A.治具測試針不良;B.ICT系統不良; C. 程式錯誤; D. 待測板的測試點被MASK住或表面有助焊劑未處理乾淨.簡答題:1. 簡述Debug一個新治具的流程爲何? 答：治具固定在壓床工作臺上；接好排線；雙面治具注意上下模對位安裝，單面治具注意壓棒種植使待測板壓平；拷貝測試程式到ICT目錄下，進入ICT畫面時，會自動讀入程式；設定測試參數；先對OK之待測板進行Short Group及IC Clamping Diode的學習；再開始測試；對不良步驟進行調試，依據標準值，Alt-X選擇高低點、隔離點，Alt-P選擇信號源（即Mode）,可以Alt-F7完成自動調整；接著，做細調，即依據測試分佈圖（F9），將量測值調試居中，對不穩定的步驟調整；調整至待測板測試OK；最後，單片板測試須OK，10片左右OK板測試也須OK。2. 試舉出三種以上ICT無法測測試或無法準確測試之情形,並解釋爲何不可測. 答：Rx/R1，若Rx20R1，則Rx不可測；因爲Rx漏件，也僅有5%以下的差異。 Cx/C1，若C120Cx，則Cx不可測；因爲Cx漏件，也僅有5%以下的差異。Dx/L，因爲直流測試Dx時，L爲短路狀態。IC的功能。3 DEBUG時若發現電阻，電容，電感測量值偏差極大該如何處理? 答：電阻：檢查治具探針接觸、針型有無問題；元件是否錯值、漏件；針號是否錯；Mode是否選錯。電容：檢查是否錯值、錯件；Mode是否選錯電感：檢查是否漏件4 解釋ICT如何測試電晶體?答：分三步測試：BE結（PN結）導通電壓；Hi-P:B點 Lo-P:E點 測值：0.