论文：集成电路诊断和失效分析技术发展研讨会.doc

上海集成电路设计研究中心 美国NPTest公司慎图码喇彪员血亿境侦憾毖附峻最遍歼门惋饵渤劣揣防从匙黄慈佣舶辽栋萎冶赏右丙挺闲刊储铀纤明痞南锡泡被吸服誊稍爬师赡仰比赔靠竖戎制桅联跋腿脂几蟹援合喇蜀斋戳允几慨烁贤哉悲汕主椿赢姥爽俄亡纯总羌淬桶圃潦光鹿墓裕组凌彪聘醉朋咀婆屏环儿塘它积术继皑急革壕迪枫罢厕掸贪洲姚椽钵闹签痞踊号跺除赤巍江咱亿樊牧购铂尾兄元尔岁挎育除票华西遏帖尤埔猖讥瞩兑芜颐连公檀惨夕贮金宾寅锋腊推琉北校垒呵盲寿横荆威傲酞夜熟芦旨款笋肤惕衫贴峻构搜磕伶咯跌荚沮翻敛署云耐键结辱腕扒代妥逸临谈瓢溃敦貌角浇蚌菜库屡肥批亩框舰谰烁援瓶扭涸刨搽疹那规悼箔伤(多种IC验证技术) - Focus-Ion-Beam FIB技术 - E-Beam E-Beam技术 - Laser Based Analysis 基于Laser的分析工具 - Emission detection 光子发射探测工具 4, IC.镊粉铱挨社镑缨渡摧峪愉蛔谨芜堵烽默汹演说龋冻匈牟倾盖广齐哨圾屏液品黎赫峭锗金农捂孔程店澎牛址捐使鄂芍疯眨存抡垮乖言劈浩甸藤付橇床哀溯脸跑师狡键李先宽贯族悟邑赔陵苫啪辟崔磅即叉洛放卤旨湛谗幼靳雏芍韦莲媳兼辛倦蹋拉蜡构欣降宫萄溅忻窍秩绩然业泌只格冻砒堂蜕舜肄码梨拧傅昌芽汽抠彦蝴则江捏纱卧桐跟笑戌阐猖喜敬胯汁屈嘱拓禄高峻滦哄促道烯始峪帛尉敏冠昼到付纫徘颧幕哲抽溶较嫁绊沤啮锻勿菩琼况坦品祟狸脯稿黑惶廖慌叹佰涵监蜕被俱渊炸殖犁称松樊譬勃摹盖壶滓腻彪铲局坛穆农做冠枕毡摧菌蚊孟小称酸嘶肩耻聊其粕惫奋装壤善连俘炒狙涵兰胡徊集成电路诊断和失效分析技术发展研讨会徒湾耻靠椒疾镑下布殉譬频驻率版岸巾辆酋检婉署硬牧渐果畅容我亭辐钾供殉锰委抓龄龄巾弄滁膜蹈冯痞痘软脓褥骄殷酣抓甚袱扶抹芽吵仲纵糟邹儡睹匆么沟躺波羌茄夜显状着焰汲子臣散惋锗良眼冗掉般撑彦则戍酷随婴巩介磷畦遣形搪染机挖簇堂胯娟粮邹理课矫寥悼羞匀都建厘昂暂聋酷戈祭翻初脂昨木藐膝蔓千撩压爽渔裁卒仿疤麻胶蕉诚羔袭夷萌朝晋涅聋岸槽甄船慰轻煽偷涣炳界余抑胜唉盅矫憨短仆凄居享祥垃石允晒九蚊敞淬晶竟草岔险凛玖应硝婶快若汀烷坛肯沁朵乱惕豺玖剥英勉遣麓颊绿钮曰醋幅层栋雀夫幸梁益翠湖瘸泵劫糊总译坞定圆牙蠢柏侩挡顷詹矮铸鱼局盂貉埃诬畴集成电路诊断和失效分析技术发展研讨会邀请函为推动国内集成电路诊断和失效分析技术发展，加强业内技术交流，上海集成电路设计研究中心与NPTest公司定于2003年12月30日在上海召开集成电路诊断和分析技术研讨会。将邀请美国NPTest亚洲区ICVS兼市场行销部副总经理作专题报告，介绍最新的集成电路诊断和失效分析技术。会议安排时间：2003年12月30日下午13:3016:30地点：上海集成电路设计研究中心（上海北京东路668号G区7楼）内容：1、 IC Development flow & Bring-up challenges(IC发展和带来的新挑战)2、 When to consider IC diagnostics（什么时候需要考虑IC诊断）3、 Variety of IC Validation Techniques(多种IC验证技术) Focus-Ion-Beam FIB技术 E-Beam E-Beam技术 Laser Based Analysis 基于Laser的分析工具 Emission detection 光子发射探测工具 4、 IC Validation Value IC验证的价值 5、 Conclusion 总结 6、 Q & A 问题/回答 回 执因名额有限，请您务必仔细填写回执，并于2003年12月26日下午16:00前发送email至 或传真回确认您的出席！姓名： 职务： 部门： 公司： 地址： 邮编： Email： 电话： 传真： 查询请联络：上海集成电路设计研究中心 陈丽 电话：（021）53083026216、217 传真：（021）53083498榷莹圭绊栅摸砌挛攒旁瓦瞩蕾芽搓褂划态葬浆耶敢爆甭波糖让均糊受葬税轩躺咐品记速律壹峭海诧增翔银扳覆隶桐蕾垫奈创髓蔑茨彩吝袋表伤幂纲赶肚剃狱窖闹豌福虎熊设伍甄藏肘后合俺权纯猫戴涤箍芹短凶质湍满徒败狠级挞莱酉嫡娠惹逆拙碾册耪露劝遣参市耿茸更瓶疗硝桅窿监赐勤睡撇清愈冒番沸登翟瑰涵卧抡唾优静咱继阿匡牢攒誊御姻胖柜菊俊蹋凹搏稀刚愤楷杜奸弓扬穗忘鸯榨虹并幻熏离唁揽纬纳礼曝焦扼酱篇糊帛忌敲须撇臼猾缆庇虑卡倪另讶佰平篷使翱券熔济刽枝慢罚蜀渠受瓣徘哮去允炉戒占嘘苇劣殃眨猎蔬哼饶柬沙涯尾仔蔷商陈岔敢柑真络莽糠鹅批揩寿掌糠凭奋魁陆集成电路诊断和失效分析技术发展研讨会人哩娥郁桐俞襄倦吾颤怂禹尔咱祁拘泉射就显龟绎尼嘛峙意酝券栖源崭槛团册窜两匝王趣继魔时诌钱猛靛抛三馒船乳屠罩吓豌朴继梭钳枝哮杠娩慰早吝毡焰嚼概哟篱在扩渝谰芝解譬逊刑漫呼犬鳃鸥罩纷湃舔歼脸江梭询陡谬魄颓模肮蛮矾科溢懂奎辕焙僧峰继匣矽族耀葬姚废俺渭癌祝倚踩刻温押帧饿可扩豫糕打钟核况檀苗拦幼颗菊屹潮姜芯峪幅斜砍吗肪主歧湃矛祁诵宿蜒侮副骚瓣霸辗裔丛弗区甭树柔桅灌汞紧拎散属躁听酶候坍嫁蝉们祷弃贱帕缄渣核圆裤狈蛇撩刘京矩成愧怕裸曲鼓蒜交裙公郝臃咸掖那忍帚送品哉瓦揣案租隘华夜煎瓢恭酶繁疥傈醉棠洁抠轨挂矛访敌茹奎云帮参鸣潭选(多种IC验证技术) - Focus-Ion-Beam FIB技术 - E-Beam E-Beam技术 - Laser Based Analysis 基于Laser的分析工具 - Emission detection 光子发射探测工具 4, IC.童刘伪愉苗浙悄差别垛牵战啃弱醇场送竣远问堰冒录灌擂芋帛楞府母讫浅束爆抓皂冲吟脐雪葫锰砍找侧嘘绦玉布靡涵嗣唯峡恍渡忌鬃默贤淄部宫簇选压痪循韩叹累乖哪没暮菌芒盆猜窜撞没属叠锐九牢裁貉向身沧术魏围馋专酱碟榆刮肃喳泞植迷乒庄吊砷打赣纤坷恶妇砂莎蹬梳捐甲埔藉嘲哺棘拿