可测性设计及DFT软件的使用.ppt

可测性设计及DFT软件的使用 张艳2007 11 5 20007 11 5 共49页 2 Outline DFT基础DFTCompile生成扫描链TetraMAX生成ATPG设计实例 20007 11 5 共49页 3 DFT基础 测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法 20007 11 5 共49页 4 测试 1 3 CMOS反相器中的物理缺陷 20007 11 5 共49页 5 测试 2 3 目前的产品测试方法 20007 11 5 共49页 6 测试 3 3 ATE 20007 11 5 共49页 7 DFT基础 测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法 20007 11 5 共49页 8 DFT DesignForTest controllabilityobservability 20007 11 5 共49页 9 DFT基础 测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法 20007 11 5 共49页 10 故障模型 物理故障逻辑故障封装引脚间的漏电或短路单一固定故障芯片焊接点到管脚连线断裂延时故障表面玷污 含湿气静态电流故障金属层迁移 应力 脱皮 金属层开路 短路 20007 11 5 共49页 11 单一固定故障 20007 11 5 共49页 12 等价故障 1 3 20007 11 5 共49页 13 等价故障 2 3 20007 11 5 共49页 14 等价故障 3 3 NAND的输入SA0和输出的SA1效果等效 ASA0 BSA0 YSA1 是一个等效故障集 20007 11 5 共49页 15 故障压缩 20007 11 5 共49页 16 不可测故障 20007 11 5 共49页 17 DFT基础 测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法 20007 11 5 共49页 18 ATPG ATPGAutomaticTestPatternGeneratorD算法PODEM Goel FAN Fujiwara和Shimono 高级算法 20007 11 5 共49页 19 D算法 20007 11 5 共49页 20 D算法 activatetheSA0fault 20007 11 5 共49页 21 D算法 propagatefaulteffect 20007 11 5 共49页 22 D算法 anatomyofatestpattern 20007 11 5 共49页 23 D算法 recordthetestpattern 20007 11 5 共49页 24 DFT基础 测试DFT故障模型ATPGDFT常用方法 20007 11 5 共49页 25 DFT常用方法 功能点测试 需在每个测试点增加可控的输入和输出 I O增加扫描测试 结构化的DFT技术 全扫描和部分扫描内建自测试 消除了对ATE的存储能力和频率的限制 更具发展潜力 20007 11 5 共49页 26 扫描测试 1 2 20007 11 5 共49页 27 扫描测试 2 2 20007 11 5 共49页 28 Outline DFT基础DFTCompile生成扫描链TetraMAX生成ATPG设计实例 20007 11 5 共49页 29 设计流程 20007 11 5 共49页 30 普通D触发器 20007 11 5 共49页 31 Test ReadyCompilation set scan configuration stylemultiplexed flip flop clock mixingno mix chain count1set dft signal viewexisting dft typeScanClock portclk timing 18 5 set dft signal viewexisting dft typeReset portrst n active state0set dft signal viewspec typeScanEnable portse active state1set dft signal viewspec typeScanDataIn portaset dft signal viewexisting dft typeScanDataOut porto 20007 11 5 共49页 32 TestDRC check scanorcheck test这两个命令检查以下四类可测性问题 模型问题 诸如是否缺少相应的扫描单元 拓扑结构问题 例如是否存在不受时钟控制的组合逻辑反馈回路 确定测试协议 如找出测试时钟端口 找出测试模式下固定电平的测试状态端口 测试协议仿真 检查扫描过程是否可以正确的进行 20007 11 5 共49页 33 PreviewScanArchitecture preview scan showall预览将要生成的扫描链的大致情况 及时发现不合乎要求的地方 20007 11 5 共49页 34 ScanInsertion insert scan使扫描触发器串链 建立和排序扫描链 同时进行优化以去除违反的DRC规则 20007 11 5 共49页 35 扫描触发器 20007 11 5 共49页 36 Report report constraint all violatorsreport scan path viewexisting dft chainreport scan path viewexisting dft cellestimate test coverage 20007 11 5 共49页 37 ExporttoTetraMAX write test protocol output report add spfwrite fverilog hie output report add v 20007 11 5 共49页 38 Outline DFT基础DFTCompile生成扫描链TetraMAX生成ATPG设计实例 20007 11 5 共49页 39 设计流程 20007 11 5 共49页 40 ReadtheNetlist BUILD readnetlistmydesign v读入DFTC转交给TetraMAX的网表文件 20007 11 5 共49页 41 ReadLibraryModels BUILD readnetlist library simic18 v必须读入所有和你的设计相关的verilog库模型 此库文件由工艺厂商提供 20007 11 5 共49页 42 BuildtheModel BUILD runbuild modeltop module 20007 11 5 共49页 43 PerformingDRC BUILD rundrcmydesign spf测试协议文件的DRC检查 20007 11 5 共49页 44 PreparingforATPG TEST addfaults all初始化故障列表以产生一份新的在ATPG设计模型中包含所有可能的故障点的故障列表 20007 11 5 共49页 45 RunATPG TEST runatpg random默认情况下 TetraMAX先执行Basic ScanATPG 接着是SequentialATPG 最后是Full SequentialATPG 20007 11 5 共49页 46 ReviewTestCoverage TEST reportsummariesTEST reportpatterns summary查看测试覆盖率和产生的矢量的数目 若测试覆盖率很低 则需要重新进行ATPG测试矢量生成 直到得到满意的测试覆盖率 20007 11 5 共49页 47 CompressTestPatterns TEST runpattern compress9999指示按不同的顺序进行99次故障仿真 20007 11 5 共49页 48 SaveTestPattern TEST writepatternspatterns stil for