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EMI 设计及加工手册 文件编号File No:版本Edition:日期Date:制定Revised:工程部 文件控制流水号DCN NO:Approved byChecked byPrepared by修改履历Revision History:RevisionDateDescriptionPrepared/Revised byApproved by目 录1. 目的 32. 适用范围 33. 术语的定义 34. 屏蔽材料简介与选择原则 35. 常见产品工作频率、波长计算及加工工艺管控特别说明 106案例分析 151. 目的:为了规范公司内各种产品在先期设计及后期加工时的EMI能够符合相关标准 ,对先期设计和后期加工工艺作统一指导和规范2. 适用范围:所有用于外部连接线或转接头的产品加工备注:客户特殊要求或者征得客户同意的产品除外,但要有客户书面文件。3. 术语的定义: 3-1. 什么是EMC ? EMC(Electro Magnetic Compatibility)直译是“电磁兼容性”。是指“一种器件、设备或系统的性能,它可以使其在自身环境下正常工作并且同时不会对此环境中任何其他设备产生强烈电磁干扰(IEEE C63.12-1987)。” 3-2. EMC 包括哪些 ? EMC 包括 EMI和EMS 。 3-3. 什么是 EMI ? EMI(Electro Magnetic Interference)直译是电磁干扰。所谓电磁干扰是指任何能使设备或系统性能降级的电磁现象。这是合成词,我们应该分别考虑电磁和干扰。 3-4什么是 EMS ? EMS(Electro Magnetic Susceptibility)直译是“电磁敏感度” 。其意是指由于电磁能量造成性能下降的容易程度,即抗电磁干扰性。 4屏蔽简介与材料简介及选择:4-1. 屏蔽简介:屏蔽就是对两个空间区域之间进行金属的隔离,以控制电场、磁场和电磁波由一个区域对另一个区域的感应和辐射。具体讲,就是用屏蔽体将元部件、电路、组合件、电缆或整个系统的干扰源包围起来,防止干扰电磁场向外扩散;用屏蔽体将接收电路、设备或系统包围起来,防止它们受到外界电磁场的影响。因为屏蔽体对来自导线、电缆、元部件、电路或系统等外部的干扰电磁波和内部电磁波均起着吸收能量(涡流损耗)、反射能量(电磁波在屏蔽体上的界面反射)和抵消能量(电磁感应在屏蔽层上产生反向电磁场,可抵消部分干扰电磁波)的作用,所以屏蔽体具有减弱干扰的功能。4-2. 屏蔽材料选择原则:4-2-1. 当干扰电磁场的频率较高时,利用低电阻率的金属材料中产生的涡流,形成对外来电磁波的抵消作用,从而达到屏蔽的效果。4-2-2. 当干扰电磁波的频率较低时,要采用高导磁率的材料,从而使磁力线限制在屏蔽体内部,防止扩散到屏蔽的空间去。 4-2-3. 在某些场合下,如果要求对高频和低频电磁场都具有良好的屏蔽效果时,往往采用不同的金属材料组成多层屏蔽体。表一 常用金属材料对铜的相对电导率和相对磁导率材料相对电导率相对磁导率材料相对电导率相对磁导率铜11白铁皮0151银1051铁017501000金0701钢01501000铝0611冷轧钢017180黄铜0261不锈钢002500磷黄铜0181热轧硅钢00381500镍0201高导磁硅钢00680000铍011坡莫合金004800012000铅0081铁镍合金0023100004-3. 屏蔽材料简介:4-3-1.电磁密封衬垫介绍:4-3-1-1. 前述:许多人不了解电磁屏蔽的原理,认为只要用金属做一个箱子,然后将箱子接地,就能够起到电磁屏蔽的作用。在这种概念指导下结果是失败。因为,电磁屏蔽与屏蔽体接地与否并没有关系。真正影响屏蔽体屏蔽效能的只有两个因素:一个是整个屏蔽体表面必须是导电连续的,另一个是不能有直接穿透屏蔽体的导体。屏蔽体上有很多导电不连续点,最主要的一类是屏蔽体不同部分结合处形成的不导电缝隙。这些不导电的缝隙就产生了电磁泄漏,如同流体会从容器上的缝隙上泄漏一样。解决这种泄漏的一个方法是在缝隙处填充导电弹性材料,消除不导电点。这就像在流体容器的缝隙处填充橡胶的道理一样。这种弹性导电填充材料就是电磁密封衬垫。4-3-1-2. 电磁密封衬垫介绍:缝隙或孔洞是否会泄漏电磁波,取决于缝隙或孔洞相对于电磁波波长的尺寸。当波长远大于开口尺寸时,并不会产生明显的泄漏。因此,当干扰的频率较高时,这时波长较短,就需要使用电磁密封衬垫。当干扰的频率超过10MHz时,就要考虑使用电磁密封衬垫。凡是有弹性且导电良好的材料都可以用做电磁密封衬垫。按照这个原理制造的电磁密封衬垫有:. 导电橡胶:在硅橡胶内填充占总重量70 80比例的金属颗粒,如银粉、铜粉、铝粉、镀银铜粉、镀银铝粉、镀银玻璃球等。这种材料保留一部分硅橡胶良好弹性的特性,同时具有较好的导电性。. 金属编织网:用铍铜丝、蒙乃尔丝或不锈钢丝编织成管状长条,外形很像屏蔽电缆的屏蔽层。但它的编织方法与电缆屏蔽层不同,电缆屏蔽层是用多根线编成的,而这种屏蔽衬垫是由一根线织成的。打个形象的比喻,就像毛衣的袖子一样。为了增强金属网的弹性,有时在网管内加入橡胶芯。. 指形簧片:铍铜制成的簧片,具有很好的弹性和导电性。多重导电橡胶:由两层橡胶构成,内层是普通硅橡胶,外层是导电橡胶。这种材料克服了传统导电橡胶弹性差的缺点,使橡胶的弹性得以充分体现。它的原理有些像带橡胶芯的金属丝网条。. 选择使用什么种类电磁密封衬垫时要考虑四个因素:屏蔽效能要求、有无环境密封要求、安装结构要求、成本要求。不同衬垫材料的特点比较,如表二所示: 表二 不同衬垫材料的特点比较4-4.屏蔽按机理可分为电场屏蔽、磁场屏蔽和电磁场屏蔽。4-4-1. 电场屏蔽: 4-4-1-1. 屏蔽机理:将电场感应看成分布电容间的耦合。 4-4-1-2. 设计要点: a、屏蔽板以靠近受保护物为好,而且屏蔽板的接地必须良好! b、屏蔽板的形状对屏蔽效能的高低有明显影响。全封闭的金属盒最好,但 工程中很难做到! c、屏蔽板的材料以良导体为好,但对厚度无要求,只要有足够的强度就可 了。4-4-2. 磁场屏蔽:磁场屏蔽通常是指对直流或低频磁场的屏蔽,其效果比电场屏蔽和电 磁场屏蔽要差的多。4-4-2-1. 屏蔽机理:主要是依靠高导磁材料所具有的低磁阻,对磁通起着分路的 作用,使得屏蔽体内部的磁场大为减弱。4-4-2-2. 设计要点: a、选用高导磁材料,如坡莫合金; b、增加屏蔽体的厚度; 以上均是为了减小屏蔽体的磁阻; c、被屏蔽的物体不要安排在紧靠屏蔽体的位置上,以尽量减小通过被屏蔽 物体体内的磁通; d、注意屏蔽体的结构设计,凡接缝、通风孔等均可能增加屏蔽体的磁阻, 从而降低屏蔽效果。e、对于强磁场的屏蔽可采用双层磁屏蔽体的结构。 对要屏蔽外部强磁场的,则屏蔽体的外层选用不易饱和的材料,如硅钢; 而内部可选用容易达到饱和的高导磁材料,如坡莫合金等。反之,如果要屏蔽内部强磁场时,则材料的排列次序要到过来。在安装内外两层屏蔽体时,要注意彼此间的绝缘。当没有接地要求时,可用绝缘材料做支撑件。若需接地时,可选用非铁磁材料(如铜、铝)做支撑件。4-4-3. 电磁场屏蔽:电磁场屏蔽是利用屏蔽体阻止电磁场在空间传播的一种措施。4-4-3-1. 电磁场屏蔽的机理: a、当电磁波到达屏蔽体表面时,由于空气与金属的交界面上阻抗的不连续, 对入射波产生的反射。这种反射不要求屏蔽材料必须有一定的厚度,只要求交界面上的不连续;b、未被表面反射掉而进入屏蔽体的能量,在体内向前传播的过程中,被屏蔽材料所衰减。也就是所谓的吸收;c、在屏蔽体内尚未衰减掉的剩余能量,传到材料的另一表面时,遇到金属空气阻抗不连续的交界面,会形成再次反射,并重新返回屏蔽体内。这种反射在两个金属的交界面上可能有多次的反射。总之,电磁屏蔽体对电磁的衰减主要是基于电磁波的反射和电磁波的吸收。4-4-3-2. 吸收损耗:不同的材料、不同的材料厚度对于电磁波的吸收效果不一样.可根据材料吸收损耗的列线图得出。4-4-3-3. 反射损耗:分为三类,低阻抗磁场、高阻抗电场、平面波场。其中低阻抗磁场和高阻抗电场的反射损耗列线图计算方法相同,与金属材料、频率及辐射源到屏蔽体的距离有关。对于平面波,波阻抗为一常数,而与辐射源到屏蔽体的距离无关,在列线图中只需连接金属材料和感兴趣的频率就可求出此时的反射损耗值。4-4-4. 实际的电磁屏蔽体 4-4-4-1. 结构材料:a、适用于底板和机壳的材料大多数是良导体,如铜、铝等,可以屏蔽电场,主要的屏蔽机理是反射信号而不是吸收。b、对磁场的屏蔽需要铁磁材料,如高导磁率合金和铁。主要的屏蔽机理是吸收而不是反射。c、在强电磁环境中,要求材料能屏蔽电场和磁场两种成分,因此需要结构上完好的铁磁材料。屏蔽效率直接受材料的厚度以及搭接和接地方法好坏的影响。d、对于塑料壳体,是在其内壁喷涂屏蔽层,或在汽塑时掺入金属纤维。 必须尽量减少结构的电气不连续性,以便控制经底板和机壳进出的泄漏辐射。提高缝隙屏蔽效能的结构措施包括增加缝隙深度,减少缝隙长度,在结合面上加入导电衬垫,在接缝处涂上导电涂料,缩短螺钉间距离等。4-4-4-2. 搭接:a、在底板和机壳的每一条缝和不连续处要尽可能好的搭接。最坏的电搭 接对壳体的屏蔽效能起决定性作用。b、保证接缝处金属对金属的接触,以防电磁能的泄漏和辐射。c、在可能的情况下,接缝应焊接。在条件受限制的情况下,可用点焊、晓间距的铆接和用螺钉来固定。d、在不加导电衬垫时,螺钉间距一般应小于最高工作频率的1,至少不大于1/20波长。e、用螺钉或铆接进行搭接时,应首先在缝的中部搭接好,然后逐渐向两端延伸,以防金属表面的弯曲。f、保证紧固方法有足够的压力,以便在有变形应力、冲击、震动时保持表面接触。g、在接缝不平整的地方,或在可移动的面板等处,必须使用导电衬垫或指形弹簧材料。h、选择高导电率的和弹性好的衬垫。选择衬垫时要考虑结合处所使用的频率。i、选择硬韧性材料做成的衬垫,以便划破金属上的任何表面。j、保证同衬垫材料配合的金属表面没有任何非导电保护层。k、当需要活动接触时,使用指形压簧,并要注意保持弹性指簧的压力。l、导电橡胶衬垫用在铝金属表面时,要注意电化腐蚀作用。纯银填料的橡胶或monel线性衬垫将出现最严重的电化腐蚀。银镀铝填料的导电橡胶是盐雾环境下用于铝金属配合表面的最好衬垫材料。. 以下是按优先等级排列的各种衬垫。1、 金属网射频衬垫 容易变形,压力为1.4kg/cm时,衰减为54db。 资料表明,频率较低时衰减最大。用于永久密封较好,不适宜用于开与关的面板。 2、 铜镀合金 有很高的导电性和很好的抗腐蚀性。弹性好,最适合用于和活动面板配合。可制成指条形、螺旋和锯齿面。衰减为100db。3、 导电橡胶 适用于只需名义上连接和少量螺钉的地方。实现水汽密封和电气密封经1500、48小时老化后,导体电阻率为1020m/cm(max)。变形度限制值为25。资料表明,频率较高时衰减为最大。4、 导电蒙布 在泡沫塑料上蒙一块镀银编织物,形成一个软衬垫,占去大部分疏松空间,主要为民用,适用于泡沫衬垫 机柜和门板。4-4-4-3. 穿透和开口a、要注意由于电缆穿过机壳使整体屏蔽效能降低的程度。典型的未滤波的导线穿过屏蔽体时,屏蔽效能降低30db以上。b、电源线进入机壳时,全部应通过滤波器盒。滤波器的输入端最好能穿出到屏蔽机壳外;若滤波器结构不宜穿出机壳,则应在电源线进入机壳出专为滤波器设置一隔舱。c、信号线、控制线进入/穿出机壳时,要通过适当的滤波器。具有滤波插针的多芯连接器适于这种场合使用。d、穿过屏蔽体的金属控制轴,应该用金属触片、接地螺母或射频衬垫接地。也可不用接地的金属轴,而用其它轴贯通波导截止频率比工作频率高的园管来做控制轴。e、必须注意在截止波导孔内贯通金属轴或导线时会严重降低屏蔽效能。f、当要求使用对地绝缘的金属控制轴时,可用短的隐性控制轴,不调节时,用螺帽或金属衬垫弹性安装帽盖住。g、为保险丝、插孔等加金属帽。h、用导电衬垫和垫圈、螺母等实现钮子开关防泄漏安装。i、在屏蔽、通风和强度要求高而质量不苛刻时,用蜂窝板屏蔽通风口,最好用焊接方式保持线连接,防止泄漏。j、尽可能在指示器、显示器后面加屏蔽,并对所有引线用穿心电容滤波。k、在不能从后面屏蔽指示器/显示器和对引线滤波时,要用与机壳连续连接的金属网或导电玻璃屏蔽指示器/显示器的前面。对夹金属丝的屏蔽玻璃,在保持合理透光度条件下,对301000m的屏蔽效能可达50110db。在透明塑料或玻璃上镀透明导电膜,其屏蔽效果一般不大于20db。但后者可消除观察窗上的静电积累,在仪器上常用。5. 常见产品工作频率、波长计算及加工工艺管控特别说明5-1. 波长计算公式:只有如金属和铁之类导磁率高的材料才能在极低频率下达到较高屏蔽效率。这些材料的导磁率会随着频率增加而降低,另外如果初始磁场较强也会使导磁率降低,还有就是采用机械方法将屏蔽罩作成规定形状同样会降低导磁率。综上所述,选择用于屏蔽的高导磁性材料非常复杂,通常要向EMI屏蔽材料供应商以及有关咨询机构寻求解决方案。 在高频电场下,采用薄层金属作为外壳或内衬材料可达到良好的屏蔽效果,但条件是屏蔽必须连续,并将敏感部分完全遮盖住,没有缺口或缝隙(形成一个法拉第笼)。任一频率电磁波的波长为: 波长()=光速(C)/频率(Hz) C=300,000,000m/s当缝隙长度为波长(截止频率)的一半时,RF波开始以20dB/10倍频(1/10截止频率)或6dB/8倍频(1/2截止频率)的速率衰减。通常RF发射频率越高衰减越严重,因为它的波长越短。当涉及到最高频率时,必须要考虑可能会出现的任何谐波,不过实际上只需考虑一次及二次谐波即可。 一旦知道了屏蔽罩内RF辐射的频率及强度,就可计算出屏蔽罩的最大允许缝隙和沟槽。 例如,如果需要对1GHz(波长为300mm)的辐射衰减26dB,则150mm的缝隙将会开始产生衰减,因此当存在小于150mm的缝隙时,1GHz辐射就会被衰减。所以对1GHz频率来讲,若需要衰减20dB,则缝隙应小于15 mm(150mm的1/10),需要衰减26dB时,缝隙应小于7.5 mm(15mm的1/2以上),需要衰减32dB时,缝隙应小于3.75 mm(7.5mm的1/2以上)。 可采用合适的导电衬垫使缝隙大小限定在规定尺寸内,从而实现这种衰减效果。表三:常见产品工作频率、波长及屏蔽材料选用产品名称版本传输速度传输频率(Hz)波长(mm)建议选择屏蔽材料备注RS-232C19200bps1.92K大于一万米不用屏蔽USBVer.1.01.5Mbps0.15M2000000可以不用屏蔽Ver.1.112Mbps12M25000铁壳或者铜箔要求率减20dB时1M以下长度可以不用屏蔽Ver.2.0480bps48M6250铁壳或者铜箔要求高时可在铁壳较大缝隙处加填充物ESATAVer.1.01.2Gbps120M2500 铜箔选择铜箔或铁壳屏蔽,选择方法参考表四对应的测试要求标准,以30MHz为高低频率分界点,低频时建议使用导磁率高的铁壳作屏蔽材料,高频时选用导电率高的材料作屏蔽材料,同时存在高频和低频时,综合使用两种材料,具体选择时要根据测试条件和工作要求进行细选。另外,VGA和DVI-A(又称模拟DVI),因其传输的是模拟信号,速度一般会低于400Mbps,建议优选马口铁装配式!Ver.1.12.4Gbps240M1250 铜箔IEEE1394Ver.a400Mbps40M7500铁壳或者铜箔Ver.b800Mbps80M3750铁壳或者铜箔VGAVGA400Mbps40M7500铁壳或者铜箔(建议优选马口铁)DVIDVI-A400Mbps40M7500铁壳或者铜箔(建议优选马口铁)DVI-I4.95Gbps495M606.1 铜箔DVI-D4.95Gbps495M606.1铜箔HDMIVer.1.24.95Gbps495M606.1铜箔Ver.1.310.2Gbps1.02M294.1铜箔1080i2.25Gbps225M1333.4铜箔1080p4.455Gbps445.5M673.4铜箔表四:上述表格中产品对应不同要求时的缝隙加工允许的尺寸参照表传输频率(Hz)波长(mm)衰减要求及对应的加工缝隙要求备注20dB加工时缝隙L(mm)26dB加工时缝隙L(mm)32dB加工时缝隙L(mm)38dB加工时缝隙L(mm)0.15M20000001000005000025000125001M30000015000750037501875当EMI要求是44dB、50dB或者56dB等等衰减时,以前一项的1/2向后递推即可得出允许加工的缝隙大小的理论值.1.5M2000001000050002500125012M250001250625312.5106.230M1000050025012562.540M7500375187.593.746.848M6250312.5106.383.141.580M3750187.593.746.823.4100M30001507537.518.7120M250012562.531.215.6240M125062.531.215.67.8225M1333.466.633.316.68.3300M1000502512.56.2400M75037.518.79.34.6445.55M673.433.616.88.44.2495M606.130.315.17.53.71.02G294.114.77.33.61.81.5G2001052.51.22G1507.53.71.80.9注:表格中未列出的工作频率,可根据波长计算公式和表四的计算方法进行计算,得到允许缝隙的结果,便于指导产品设计加工工艺的制订。WL右图左图WLLW 注:上图中对 L 进行了定义,L为信号90方向,W为信号走的方向。如上图中的照片(左图)及图形示意(右图)表示。 说明:在 L 方向时(如上左图)的长度较长时,就会形成比较大的断面,即屏蔽不连续面,就会形成一个强的电磁辐射源,从而会造成比较大的电磁辐射,致使电磁泄露会超过相关标准或客户要求。 如上图,模具顶针压破部分比较容易造成电磁泄露,应形成了一个不规则的开孔,如果是一个规则圆孔,电磁波就很难泄露出去,只有到超高频频率时电磁波才会泄露,顶针压破铜箔的形状很难做到是规则的圆,所以,要避免高频率(指 30MHz或以上)传输的产品成型时顶针将铜箔压破,形成电磁辐射源。5-2. 加工工艺管控特别说明 5-2-1. 包铜箔时,注意以下三点:5-2-1-1. 环包连接器一周后铜箔与铜箔的重叠率要 5%.5-2-1-2. 铜箔与连接器外壳重叠率要 30%(如下图所示),由于连接器原因,包铜箔后无法环焊时则选用双面导电铜箔进行均匀四点(含四点)以上的点焊.ba 图示说明:上图中尺寸a 是铜箔与连接器外壳重叠部分,a0.3(a+b) 5-2-1-3. 环包后的铜箔在焊接铜箔与铜箔接缝处时,有部分重叠处未能焊接完整,即前面提到的 W 值就会大于零,在此规定为 W1/5W1 (W1为铜箔的宽度,如下图所示)。W1 铜箔L1 W 铜箔图示 焊接图示意(W1/5W1) 5-2-2. 装配马口铁或者其它金属壳产品 马口铁或者其它金属壳与连接器外壳之间的装配缝隙不大于 1mm,即:W1mm,后部编织不修剪,全部用马口铁或者其它金属壳尾端(如图2)铆压固定或者金属线夹(如图3)夹紧。如下图示:图1 图2 若外壳铆压后间隙较大时,可适当在尾部编织处增加双面导电铜箔填充(如图4),或者使用其它导电填充物(如导电布、导电棉或导电胶布等等)。 图3 图4 5-2-3. IEEE1394产品说明 5-2-3-1. IEEE1394a 4Pin&6Pin 在作业方式允许的情况下,选择包单面导电铜箔进行360环焊,对于4Pin 较小体积的连接器,可以使用双面导电铜箔进行点焊作业,两种作业方式都需要将编织反折回来与铜箔完整焊接。使用装配式成型透明外模料时,尾部编织不修剪,完全铆压在铁壳内,前端铁壳与连接齐外壳要用均匀四点以上点焊处理。5-2-3-2. IEEE1394b 建议选择包单面导电铜箔进行360环焊,编织反折回来与铜箔完整焊接。使用装配式成型透明外模料时,尾部编织不修剪,完全铆压在铁壳内。前端铁壳与连接齐外壳要用均匀四点以上点焊处理。6. 案例分析:案例一:A.产品结构:1. CABLE SPEC:USB 2.0 #28*1P+#24*2C COLOR:BLACK 2. CONN:USB A MALE TO FEMALE SHELL NICKEL*23. 如下照片B.EMI测试数据1.未加COREa.垂直测试b.水平测试2.加COREa.垂直测试b.水平测试C.EMI测试照片D.测试硬件主机:DELL电脑被测产品:移动U盘测试方法:5M数据从电脑到U盘,再从U盘到电脑,如此往复,测试时拔掉键盘,鼠标,显示器关掉电源。E.测试数据分析加CORE的和未加CORE的相比:水平测试的相差3.93;垂直的相差4.75,另加CORE的测试曲线较平稳。案例二A.产品结构:1. CABLE SPEC:USB 2.0 #28*1P+#26*2C COLOR:CLEAN2. CONN:USB A MALE TO MINI USB 5P SHELL NICKEL如下照片B.EMI测试数据1.未加COREa.垂直测试b.水平测试C.EMI测试照片D.测试硬件主机:DELL电脑;被测产品:移动U盘测试方法:11M数据从电脑到U盘,再从U盘到电脑,如此往复,测试时拔掉键盘,鼠标,显示器关掉电源。E.测试数据分析:加CORE的和未加CORE的相比较垂直测试相差5.09,另加CORE的测试曲线较平稳。案例三A产品类型:DMS59系列B加工方式:a铆压马口铁式:前端点焊四点,尾端编织不修剪,完整的反折并包双面导电铜箔,如下图所示:尾端编织不修剪,完整的反折并包双面导电铜箔

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