介损测试原理及应用ppt课件

电压下电介质的所有损耗称为电介质损耗或电介质损耗。如果介电损耗非常大，将会提高介电温度并促进材料的老化。如果电介质温度持续上升，它甚至会熔化和烧焦电介质，并失去其绝缘能力，导致热击穿。因此，介质损耗是衡量绝缘介质电气性能的重要指标。然而，由于不同设备的不同工作电压和结构尺寸，不可能通过介电损耗的大小来测量比较设备的质量。因此，引入了介质损耗因子tg(也称为介质损耗角正切)的概念。介质损耗因数的定义是：介质损耗因数tg仅与材料特性有关，与材料的尺寸和体积无关，便于不同设备之间的比较。通过测量介质损耗因子tg来判断电气设备的绝缘状况是一种传统的非常有效的方法。它能反映绝缘的一系列缺陷，如潮湿绝缘、污秽或变质的油或浸渍、绝缘中的气隙放电等。此时，流经绝缘的电流中的有效成分IRX和tg增加。根据电力设备预防性试验规程的规定，应测量各种电力设备(如电力变压器、发电机组、高压开关、电压电流互感器、套管、耦合电容器等)的介质损耗因数(tg)。)。因此，tg测试是一项重要且非常有效的测试。能更灵敏地反映设备的绝缘状况，发现设备缺陷。测量介质损耗因数的含义，测量介质损耗因数的含义，2，西林电桥(如QS1)，介质损耗因数原理(tg)，测量介质损耗因数原理(tg)，电流比较电桥(如QS30)，数字式高压介质损耗测试仪(目前广泛使用的介质损耗测试仪)，3，介质损耗因数原理(tg)，测量介质损耗因数原理(tg)，QS1电桥是20世纪80年代以前广泛使用的一种现场介质损耗测试仪。试验期间应配备外部标准电容器(如BR16标准电容器)、10kV升压器和电源控制箱。天平需要调整，结果需要转换，使用起来不太方便。介电损耗因子的原理和介电损耗因子的测量原理高压西林电桥由交流阻抗器、转换开关、检流计和高压标准电容器组成。调整R3和C4以平衡电桥。此时，点A和点B的电压幅度和相位完全相等，即R3和C4两端的电压相等。根据阻抗元件分压原理，介质损耗因数(tg)的测量原理不难获得，因为交流电路中的电容阻抗是电路中R4和C4的倒数和的倒数，以及两者倒数和的倒数的倒数。根据复数的实部和虚部相等且分别相等的规定，可以得出：根据串联模型中介质损耗的定义，由于R4固定为3184，当频率为50Hz，C4单位为F，tg=C4时，介质损耗可以在C4刻度盘上读出，Cx可以通过R3、R4和Cn计算。当在现场使用QS1电桥时，必须连接升压器、标准电容器和电桥，然后调整R3和C4，使检流计指示为零。这座桥现在已经平衡了。读取的C4值是tg值，R3值可以计算得到被测产品的电容值。总之，现场操作和使用麻烦，抗干扰能力差，不能满足当前电气试验工作的需要。介质损耗因数(tg)的原理和介质损耗因数(tg)的测量原理以及电流比较电桥的工作原理都是基于安匝平衡的。平衡过程如图所示。当在测试件、标准电容器、电桥和地之间施加交流电源时，在测试件上产生电流Ix，在标准电容器上也产生电流In。当两个电流流过Wx和Wn时，由于电流Ix和In的相位和幅度不同，Wd具有电流Id。通过调整Wx、Wn、C和R，电流Ix和IN的幅度是相同的介质损耗因数原理介质损耗因数测量原理数字高压介质损耗测试仪的基本测量原理是基于传统的西林电桥原理。测量系统分别通过标准侧R4和被测物侧R3对流经标准电容和被测物的电流信号进行高速同步采样。模数转换装置测量两组信号波形数据，然后计算处理中心分析系统分别得到标准侧和被测对象侧正弦信号的幅值和相位关系，从而计算出被测对象的电容和介质损耗值。智能桥的测量电路也是一个桥体。R3和R4两端的电压经模数转换器采样后送到计算机，得到：此外，可以获得测试样品的介电损耗和电容。10、得出了介质损耗因数(tg)的原理和介质损耗因数(tg)的测量原理。显示控制单元的人机界面，控制仪器的测量过程。可编程电子调压10kV高压电源产生测量用高压电源。一般情况下，测量用高压电源可以从0.5千伏连续缓慢升压到10千伏。测量部分完成标准回路和被测回路电流信号的实时同步采样，通过计算机分析计算出tg和电容。对于介质损耗因数(tg)的测量方法，测试件不接地，桥体的e端接地。如果需要屏蔽，e端也可用于屏蔽。此时，电桥处于地电位，R3和C4可以安全调整。各种介损测试仪的正接线方法基本相同。介质损耗因数(tg)的测量方法是一种标准的反向连接方法。测试对象接地，电桥的U端接地，E端为高压端。在屏蔽的情况下，E端也可用于屏蔽。此时，桥体处于高电位，R3和C4需要通过绝缘棒进行调整。这样，桥体处于高电位，仪器内部高低压之间应采取绝缘保护措施。对于介质损耗因数(tg)的测量方法，C1的电容比C2的电容小，所以在测量C2时，C1和Cn的串联等效误差比较大。为了减小这种测量误差，在测量C2时，我们使用C1作为电桥的标准电容，这样就可以测量C2相对于C1的电容比和相对介电损耗。由于C1的介电损耗和电容是第一次测量，C2的值可以通过C1来计算。此外，用于将C1与标准电容器串联的线对地电容与C1和Cn形成T型网络，这影响了测量精度。为了减小这种影响，通常可以通过悬挂导体来减小对地电容。目前，一些仪器增加了补偿算法。对介质损耗测量的主要干扰是感应电场产生的工频电流。无论采用哪种测量方法，都会进入桥体内：15、抗干扰方法、抗干扰方法，测量一次介质损耗，然后将测试电源反相180度，再测量一次，取平均值。反相法是最简单的抗干扰方法，也是效果最差的方法。因为干扰电流或采样电流的幅度会在两次测量之间波动，这将导致明显的误差。抗干扰法，抗干扰法，另一种工频抗干扰法是利用大功率移相电源来调节测试高压的相位，使测试电流和干扰电流的方向相同或相反，从而减小干扰电流的影响，结合反相测量，可以大大提高测量精度。另一种方法是用低功率调幅调相信号源抵消R3桥臂的干扰电流(干扰补偿法)，配合反相测量，可以大大提高测量精度。这个方法是一个获得两组混合信号，包括干扰源和信号源。该仪器采用快速傅里叶变换算法将混合信号中的信号源信号(如55Hz信号)与干扰源信号(如50Hz信号)分离。这样，很容易分离出我们关心的信号源信号。达到抗干扰的目的。由于介质损耗值与测试频率有关，为了更好地等效于50 Hz时的介质损耗值，仪器通常采用50Hz和5 Hz进行两次测量，然后取平均值得到50Hz的等效介质损耗值。为了使测试频率更接近50Hz，有时也使用50Hz2.5Hz进行测量。介损测试仪现场使用注意事项、介损测试仪现场使用注意事项、文本、文本、测量功能，如正向连接、反向连接、自激式无级变速器测量等。测试电压范围，常规介质损耗一般为10kV，额定电压介质损耗根据要求确定，测试电流范围，常规介质损耗一般为5ua 1a，高压介质损耗要求测试电流较大，测量精度一般(1%读数0.05%)，现场使用要求较高，实验室使用要求高，抗干扰方式，工频抗干扰或变频抗干扰，20，现场使用介质损耗测试仪注意事项，现场使用介质损耗测试仪注意事项，Textinhere，Textinhere，介质损耗大或不稳定，吊钩或接触不良仪器的接地应尽可能靠近被测产品。另外，判断它是否受到强干扰。介电损耗值相对较小，并且具有非常小电容的测试物品通常受到T形网络的影响。采取改变测试线的角度和擦拭干燥设备表面等措施对其进行改进。它也可能受到干扰的影响。仪器不能升压，检查设备的接地开关是否打开，拉出测试线后升压。如果不能排