MTBF-(平均故障间隔)-测试规范

1、1. 目的 Purpose本项测试之目的在正常使用环境下验证产品MTBF值是否达到预期之目标,并观察可靠度成长曲线,作为设计修改之参考。2. 适用范围 Scope 本项测试规范之适用范围，凡本公司生产之LCD MODULE 及Monitor厂所设计生产之液晶显示器于验証阶段及量产后之测试验証均适用之。3. 权责Authority and Responsibility3.1 QRE: 执行测试,并对问题点提报及对策改善追踪;3.2工程部: 工程问题分析及对策;3.3研发部: 设计问题分析及对策.2. 名词定义 Terms Definition4.1 MTBF：Mean Time Between

2、Failure(平均故障时间)。4.2 N：测试样本数。4.3 Time：测试时间。4.4 Acceleration Factor：加速因子。4.5 Confidence Factor：信赖水平因子。5. 作业流程 Operation Flow 无。6. 作业内容 Operation Description6.1 (LCM) 使用仪器6.1.1 CI-300 Pattern generator 。6.1.2 Chamber。6.2 设定: 温度55。6.3 规格6.3.1 MTBF= (N*TIME)*Acceleration Factor / Confidence Factor =20000

3、Hrs (Exclude panel back light) 6.3.2 Acceleration FactorLife Test room: 40C Acceleration Factor=2.8286.3.3 Confidence Factor其信赖水平与相对之不良数之因子如下表GEM TableConfidenceLevelNumber of failure0123456795%2.99574.74396.29587.75379.153510.513011.842413.148190%2.30263.88975.32236.68087.99369.274710.532111.770985

4、%1.89713.88974.72316.01357.26708.49479.703110.8963 6.4 测试画面Support Timing/1dot on/WRGB6.5 步骤6.5.1依测试样本数计算测试时间TIME=20,000/N/2.828*2.30266.5.2 将待测机台放入CHAMBER中。6.5.3 每天测试画面有无异常。6.5.4 每周测试功能有无异常。6.5.5 若有异常记录该台测试时间并结束测试，若须继续测试须以Number of Failure 为1的因子重新计算延长测试时间，不良机台不可继续测试，但样本数仍要含该机台。6.5.6 不良数增加依8.5类推假设N=

5、10测试时间=20,000/10/2.828*2.3026=1,629Hrs(不允许有失效数)，若于第1,000小时失效2台，则MTBF验证未通过，若须要继续测试则测试时间须延长为测试时间=20,000/10/2.828*5.3223=3765hrs(允许有2个失效数)。6.6 (Monitor)测试地点: QRE实验室 6.7 测试设备: - 信号产生器: Chroma 2326- 信号分配器: VB-110- 高温高湿机 6.8试验条件与规格6.8.1温度:45 6.8.2 信号输入:开机后进入工厂模式进行画面自动切换。6.8.3 测试时间:在90%信赖水平下,产品平均故障间隔时间(MTBF)为50000小时以上.6.8.4计算公式:6.8.5MTBF 失效预测: - 失效综合指数6.8.6平均失效分布:6.9 测试程序: 1). 依试验抽样计划随机从产线抽取样机, Check Performance后放置寿命试验室. 2). 将机台通电源并输入信号. 3). 每三小时巡检一次,记录机台试验状况与实验室环境温度和湿度. 4). 试验时间结束,检测测试机台功能,并将机台归还产线重流. 5). 记录试验结果 6.) 测试中若发现不良则将问题反馈之工程分析并追踪对策改善状况7. 参考资料Concerned Documents 7.1 工程规格。8. 附录