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文档简介
1、制造业制造业芯片制造过程由氧化、淀积、离子注入或蒸由氧化、淀积、离子注入或蒸发形成新的薄膜或膜层发形成新的薄膜或膜层曝曝 光光刻刻 蚀蚀硅片硅片测试和封装测试和封装用掩膜版用掩膜版重复重复20-30次次设计设计芯片检测芯片检测单晶、外单晶、外延材料延材料掩膜版掩膜版芯片制芯片制造过程造过程封装封装测试测试 系统需求系统需求Vsspoly 栅Vdd布线通道参考孔有源区N+P+ 50 m100 m头发丝粗细头发丝粗细 30 m1 m 1 m(晶体管的大小晶体管的大小)3050 m(皮肤细胞的大小皮肤细胞的大小)90年代生产的集成电路中晶体管大小与人年代生产的集成电路中晶体管大小与人类头发丝粗细、皮
2、肤细胞大小的比较类头发丝粗细、皮肤细胞大小的比较N沟道沟道MOS晶体管晶体管CMOS集成电路集成电路(互补型互补型MOS集成电路集成电路):目前应用最为广泛的一种集成电路,约占目前应用最为广泛的一种集成电路,约占集成电路总数的集成电路总数的95%以上。以上。22OSOSii(气体)(固体)(气体)气体)OHOSOHSii222422(242HSHSii正胶:曝光正胶:曝光后可溶后可溶负胶:曝光负胶:曝光后不可溶后不可溶三种光刻方式三种光刻方式氧化层刻蚀氧化层刻蚀形成掺杂硅层图案形成掺杂硅层图案杂质横向掺杂示意图杂质横向掺杂示意图离子注入系统的原理示意图离子注入系统的原理示意图离子注入到无定形靶中的高斯分布情况离子注入到无定形靶中的高斯分布情况进行干氧和湿氧氧化的氧化炉示意图进行干氧和湿氧氧化的氧化炉示意图APCVD反应器的结构示意图反应器的结构示意图 LPCVD反应器的结构示意图反应器的结构示意图平行板型平行板型PECVD反应器的结构示意图反应器的结构示意图蒸蒸发发原原理理图图形成多晶硅栅 生长栅氧化层 淀积多晶硅 光刻多晶硅栅 刻蚀多晶硅栅形成N管源漏区光刻,利用光刻胶将PMOS区保护起来离子注入磷或砷,形成N管源漏区形成P管源漏区光刻,利用光刻胶将NMOS区保护起来离子注入硼,形成P管源漏区压焊块结构压焊块结构小间距多晶线与多晶线间的最多晶
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