超大规模集成电路设计基础-第四章_第1页
超大规模集成电路设计基础-第四章_第2页
超大规模集成电路设计基础-第四章_第3页
超大规模集成电路设计基础-第四章_第4页
超大规模集成电路设计基础-第四章_第5页
已阅读5页,还剩74页未读 继续免费阅读

下载本文档

版权说明:本文档由用户提供并上传,收益归属内容提供方,若内容存在侵权,请进行举报或认领

文档简介

1、制造业制造业芯片制造过程由氧化、淀积、离子注入或蒸由氧化、淀积、离子注入或蒸发形成新的薄膜或膜层发形成新的薄膜或膜层曝曝 光光刻刻 蚀蚀硅片硅片测试和封装测试和封装用掩膜版用掩膜版重复重复20-30次次设计设计芯片检测芯片检测单晶、外单晶、外延材料延材料掩膜版掩膜版芯片制芯片制造过程造过程封装封装测试测试 系统需求系统需求Vsspoly 栅Vdd布线通道参考孔有源区N+P+ 50 m100 m头发丝粗细头发丝粗细 30 m1 m 1 m(晶体管的大小晶体管的大小)3050 m(皮肤细胞的大小皮肤细胞的大小)90年代生产的集成电路中晶体管大小与人年代生产的集成电路中晶体管大小与人类头发丝粗细、皮

2、肤细胞大小的比较类头发丝粗细、皮肤细胞大小的比较N沟道沟道MOS晶体管晶体管CMOS集成电路集成电路(互补型互补型MOS集成电路集成电路):目前应用最为广泛的一种集成电路,约占目前应用最为广泛的一种集成电路,约占集成电路总数的集成电路总数的95%以上。以上。22OSOSii(气体)(固体)(气体)气体)OHOSOHSii222422(242HSHSii正胶:曝光正胶:曝光后可溶后可溶负胶:曝光负胶:曝光后不可溶后不可溶三种光刻方式三种光刻方式氧化层刻蚀氧化层刻蚀形成掺杂硅层图案形成掺杂硅层图案杂质横向掺杂示意图杂质横向掺杂示意图离子注入系统的原理示意图离子注入系统的原理示意图离子注入到无定形靶中的高斯分布情况离子注入到无定形靶中的高斯分布情况进行干氧和湿氧氧化的氧化炉示意图进行干氧和湿氧氧化的氧化炉示意图APCVD反应器的结构示意图反应器的结构示意图 LPCVD反应器的结构示意图反应器的结构示意图平行板型平行板型PECVD反应器的结构示意图反应器的结构示意图蒸蒸发发原原理理图图形成多晶硅栅 生长栅氧化层 淀积多晶硅 光刻多晶硅栅 刻蚀多晶硅栅形成N管源漏区光刻,利用光刻胶将PMOS区保护起来离子注入磷或砷,形成N管源漏区形成P管源漏区光刻,利用光刻胶将NMOS区保护起来离子注入硼,形成P管源漏区压焊块结构压焊块结构小间距多晶线与多晶线间的最多晶

温馨提示

  • 1. 本站所有资源如无特殊说明,都需要本地电脑安装OFFICE2007和PDF阅读器。图纸软件为CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.压缩文件请下载最新的WinRAR软件解压。
  • 2. 本站的文档不包含任何第三方提供的附件图纸等,如果需要附件,请联系上传者。文件的所有权益归上传用户所有。
  • 3. 本站RAR压缩包中若带图纸,网页内容里面会有图纸预览,若没有图纸预览就没有图纸。
  • 4. 未经权益所有人同意不得将文件中的内容挪作商业或盈利用途。
  • 5. 人人文库网仅提供信息存储空间,仅对用户上传内容的表现方式做保护处理,对用户上传分享的文档内容本身不做任何修改或编辑,并不能对任何下载内容负责。
  • 6. 下载文件中如有侵权或不适当内容,请与我们联系,我们立即纠正。
  • 7. 本站不保证下载资源的准确性、安全性和完整性, 同时也不承担用户因使用这些下载资源对自己和他人造成任何形式的伤害或损失。

评论

0/150

提交评论