第四章X射线分析方法应用

1、第四章第四章X射线衍射方法的应用射线衍射方法的应用nX射线衍射揭示了晶体材料的晶胞类型、大小射线衍射揭示了晶体材料的晶胞类型、大小和原子种类与排列规律。因此，可以用来分析和原子种类与排列规律。因此，可以用来分析晶体结构特征，进行物相分析，测定单晶取向晶体结构特征，进行物相分析，测定单晶取向以及多晶体以及多晶体“织构织构”，可以精确测定晶格常数，可以精确测定晶格常数，可以表征材料中的应力状态。可以表征材料中的应力状态。第四章第四章X射线衍射方法的应用射线衍射方法的应用n4.1 点阵常数的精确测定点阵常数的精确测定n4.2 X射线物相分析射线物相分析n4.3 X射线衍射方法应用简介射线衍射方法应用

2、简介点阵常数的测定点阵常数的测定n4.1 点阵常数的精确测定点阵常数的精确测定n点阵常数是晶体材料的基本结构参数，随化学成点阵常数是晶体材料的基本结构参数，随化学成分和外界条件（分和外界条件（T、P）改变而变化）改变而变化。点阵常数的。点阵常数的测定在测定在研究固态相变、确定固溶体类型、测定固研究固态相变、确定固溶体类型、测定固溶度曲线和热膨胀系数溶度曲线和热膨胀系数等方面都有应用。点阵常等方面都有应用。点阵常数变化的数量级很小，约为数变化的数量级很小，约为10-5nm，因此，需要，因此，需要精确测定。精确测定。n4.1.1 点阵常数的测定点阵常数的测定n 原理原理n通过测定某一衍射线对应的通

3、过测定某一衍射线对应的角，然后通过晶面间距角，然后通过晶面间距公式、布拉格方程计算得到相应点阵常数，是一种公式、布拉格方程计算得到相应点阵常数，是一种间接方法间接方法。以立方系为例：。以立方系为例：n代入布拉格方程，得代入布拉格方程，得n式中，式中，为入射线波长，精确测定后有效数字达到为入射线波长，精确测定后有效数字达到7位，位，H、K、L是整数，对是整数，对a值产生影响的只有值产生影响的只有sin，即即的测量。的测量。222LKHdasin2222LKHa点阵常数的测定点阵常数的测定点阵常数的精确测定点阵常数的精确测定n由图可以看出，当由图可以看出，当比较小时，若存在一比较小时，若存在一的测

4、量的测量误差，对应的误差，对应的sin 误差范围很大；当误差范围很大；当较大时同样较大时同样的测量误差的测量误差对应的对应的sin 范围减小；当范围减小；当接近接近90时，时，sin范围趋近于零。范围趋近于零。n对布拉格方程进行微分，得对布拉格方程进行微分，得n点阵常数的相对误差点阵常数的相对误差a /a取决于取决于cot和和测量误差测量误差。cotcotddaadd点阵常数的测定点阵常数的测定由前面分析可知，当由前面分析可知，当一定时，点阵常数误差一定时，点阵常数误差 a/a随随增大而减小。即高增大而减小。即高角衍射线测量得到的角衍射线测量得到的a值比值比低低角得到的角得到的a值更为精确。值

5、更为精确。点阵常数的测定点阵常数的测定n 当当90， a/a0，但获得，但获得 =90衍射线是不衍射线是不可能的。如何处理？采用可能的。如何处理？采用外推法外推法进行数据处理。进行数据处理。n2、 外推法外推法n 以以角为横坐标，以角为横坐标，以a值为纵坐标，求出一系列衍射值为纵坐标，求出一系列衍射线的线的角及其对应的角及其对应的a值，在所有值，在所有a的坐标点之间作一的坐标点之间作一直线，直线与纵轴（直线，直线与纵轴（ =90）的交点即为精确的点阵）的交点即为精确的点阵常数常数a0。n 外推法作直线会产生误差（主观因素等），为此引外推法作直线会产生误差（主观因素等），为此引入外推函数。入外推

6、函数。n对于德拜法，通过误差分析发现，对于德拜法，通过误差分析发现，d /d=kcos2。对于立方晶系，对于立方晶系， a /a=d/d=kcos2，即，即a/a 与与cos2成正比。右图为采用成正比。右图为采用f()=kcos2 作作外推函数，外推函数，25测定的纯铅点阵常数。测定的纯铅点阵常数。点阵常数的测定点阵常数的测定点阵常数的测定点阵常数的测定n采用采用kcos2作为外推函数的条件：全部衍射线的作为外推函数的条件：全部衍射线的角都要大于角都要大于60，且，且 80的衍射线至少有一的衍射线至少有一条。条。n尼尔逊给出了一种包含低角度衍射线的外推函数：尼尔逊给出了一种包含低角度衍射线的外

7、推函数： 22cossincos21fn 最小二乘法最小二乘法n原理：原理：误差平方和最小的直线是最佳直线误差平方和最小的直线是最佳直线。建立正。建立正则方程则方程n式中，式中，A=2/4a2；a=（h2+k2+l2）；C=D/10；=10sin22；D为常数。对上述方程联立求解，得出为常数。对上述方程联立求解，得出A、C，然后由，然后由A计算出精确点阵常数计算出精确点阵常数a0。n4.1.2 误差来源与消除误差来源与消除n要想获得精确点阵常数要想获得精确点阵常数a0 ，需要精确测定，需要精确测定 角。不角。不同衍射方法，同衍射方法， 角误差来源不同。角误差来源不同。2222sincosCaA

8、aCaAa点阵常数的测定点阵常数的测定n测量误差有两类，一是测量误差有两类，一是偶然误差，是由于观测者偶然误差，是由于观测者的主观判断错误以及测量仪表的偶然波动或干扰的主观判断错误以及测量仪表的偶然波动或干扰引起的一种误差，不可以完全消除，但可以通过引起的一种误差，不可以完全消除，但可以通过多次实验来减小多次实验来减小；另一种是；另一种是系统误差系统误差，由实验条由实验条件、方法决定的，可以通过改进实验方法，改善件、方法决定的，可以通过改进实验方法，改善实验条件来消除实验条件来消除。n 德拜法系统误差及消除德拜法系统误差及消除n德拜法的系统误差主要有四类：德拜法的系统误差主要有四类：底片伸缩误

9、差、底片伸缩误差、相机半径误差、样品偏心误差和样品吸收误差。相机半径误差、样品偏心误差和样品吸收误差。点阵常数的测定点阵常数的测定n 底片伸缩误差（底片伸缩误差（S）和相机半径误差（）和相机半径误差（R）S底片经冲洗、干燥后引起的底片经冲洗、干燥后引起的S的变化。的变化。R相机实际半径与名义半径之差相机实际半径与名义半径之差n为精确测定为精确测定角，采用背散射衍射线条。角，采用背散射衍射线条。RRSSRSRRSSRSRS，引起的误差为、由两边取对数后微分得,4n 样品偏心误差样品偏心误差cnc相机制造过程中造成的样品架转动轴与相机相机制造过程中造成的样品架转动轴与相机中心轴位置的偏差（实验时样

10、品对中不良引起的偏中心轴位置的偏差（实验时样品对中不良引起的偏心属于偶然误差）。心属于偶然误差）。n将样品偏心位移分解为水平方向将样品偏心位移分解为水平方向x和垂直方向和垂直方向y两个分量。两个分量。nx使得样品由相机中心使得样品由相机中心C移移至至O，衍射弧对由，衍射弧对由AB变成变成CD，引起的误差记为引起的误差记为c点阵常数的测定点阵常数的测定n由于由于y的存在使衍射弧对向的存在使衍射弧对向同侧移动，同侧移动，AC，BD，ABCD，两相抵消，因此，两相抵消，因此影响不考虑。影响不考虑。cossin42sin22sin222RxRxSSxONBDCDABSccCc点阵常数的测定点阵常数的测

11、定n 样品吸收误差样品吸收误差AnA是点阵常数测定中误差的最大来源，且难以是点阵常数测定中误差的最大来源，且难以消除。近似处理：将消除。近似处理：将A看作样品中心对于相机看作样品中心对于相机中心向入射线一侧水平位移的影响，因此中心向入射线一侧水平位移的影响，因此A包包含在含在c中。中。n综上所述，得总误差为综上所述，得总误差为cossin,RxRRSSACSR点阵常数的测定点阵常数的测定点阵常数的测定点阵常数的测定n误差消除误差消除n粉末试样直径粉末试样直径0.2mm，消除，消除A影响；影响；n使用精密加工相机，消除使用精密加工相机，消除c和消除和消除R影响；影响；n精确控制粉末粒度和应力状态

12、，是衍射线条更精确控制粉末粒度和应力状态，是衍射线条更加锋锐；加锋锐；n采用偏装法，消除采用偏装法，消除S影响；影响；n消除温度影响，实验温度控制在消除温度影响，实验温度控制在0.1。n 衍射仪法误差及消除衍射仪法误差及消除n角系统误差来源有：未能精确调整仪器；计数器与角系统误差来源有：未能精确调整仪器；计数器与试样转动比驱动失调；试样转动比驱动失调； 角角0位置误差；试样放置误位置误差；试样放置误差，试样表面与衍射仪轴不重合；平板试样误差；透差，试样表面与衍射仪轴不重合；平板试样误差；透射误差；入射射误差；入射X射线轴向发散误差；仪表刻度误差等射线轴向发散误差；仪表刻度误差等等。等。n对策：

13、使用前必须调整测角仪，可通过在对策：使用前必须调整测角仪，可通过在2 角范围内角范围内对衍射线进行顺逆时针扫描，取平均值作为衍射线位对衍射线进行顺逆时针扫描，取平均值作为衍射线位置；相对于入射线作置；相对于入射线作+2 和和2 方向的扫描，减小零方向的扫描，减小零位置误差，对仪器仪表采用标样校正；试样中晶粒大位置误差，对仪器仪表采用标样校正；试样中晶粒大小、样品厚度、应力状态、表面形状等都必须满足要小、样品厚度、应力状态、表面形状等都必须满足要求。求。点阵常数的测定点阵常数的测定返回返回4.2 X射线物相分析射线物相分析确定材料或确定材料或物质组成物质组成成分分析成分分析物相分析物相分析确定组

14、成元确定组成元素及其含量素及其含量确定元素化学确定元素化学状态（单质元状态（单质元素、化合物、素、化合物、固溶体）固溶体）化学分析、光谱分析、化学分析、光谱分析、X射线荧光分析、能射线荧光分析、能谱分析谱分析X射线衍射、射线衍射、电子衍射电子衍射n物相分析物相分析确定物质的相组成确定物质的相组成和和各组成相的相对含各组成相的相对含量量，前者称物相，前者称物相定性分析定性分析，后者称物相，后者称物相定量分析定量分析。n4.2.1 X射线物相定性分析原理射线物相定性分析原理n 基本原理基本原理衍射花样衍射花样（I、2）点阵类型、晶胞大点阵类型、晶胞大小和形状、原子种小和形状、原子种类、数目和位置类

15、、数目和位置结构参数结构参数结论：每种晶体物质都有其相应的衍射花样结论：每种晶体物质都有其相应的衍射花样4.2 X射线物相分析射线物相分析晶体物质晶体物质4.2 X射线物相分析射线物相分析n只需事先将所有晶体物质进行衍射或照相，再只需事先将所有晶体物质进行衍射或照相，再将衍射花样存档，需要时将待分析的试样的衍将衍射花样存档，需要时将待分析的试样的衍射花样与之对比，找出相同者即可。射花样与之对比，找出相同者即可。问题问题1：衍射花样随实验条件的不同而变化，：衍射花样随实验条件的不同而变化，特别是衍射强度特别是衍射强度I问题问题2：通常的衍射花样（衍射图谱或底片）：通常的衍射花样（衍射图谱或底片）

16、不便于保存、交流不便于保存、交流n 标准花样标准花样必须反映晶体衍射本质不因实验条必须反映晶体衍射本质不因实验条件的改变而变化的特征，即件的改变而变化的特征，即衍射位置（衍射位置（2），其），其本质是晶面间距；衍射强度反映了物相的相对含本质是晶面间距；衍射强度反映了物相的相对含量量。将物相。将物相衍射花样特征（位置与强度）用晶面衍射花样特征（位置与强度）用晶面间距间距d和和I（衍射线相对强度）数据组表达并制成（衍射线相对强度）数据组表达并制成的物相衍射数据卡的物相衍射数据卡4.2 X射线物相分析射线物相分析 2、物相定性分析具体方法、物相定性分析具体方法n 制备各种标准单相物质的衍射花样并使之

17、规范制备各种标准单相物质的衍射花样并使之规范化，即制成标准衍射花样，将待分析物相的衍射化，即制成标准衍射花样，将待分析物相的衍射花样与之对照，即可确定待分析物相。花样与之对照，即可确定待分析物相。PDF卡卡物相分析物相分析n多相物质的衍射花样实际上各单相物质衍射花样多相物质的衍射花样实际上各单相物质衍射花样简单的机械叠加，各单相花样之间互不干扰、相简单的机械叠加，各单相花样之间互不干扰、相互独立，逐一比较后即可从重叠的花样中剥离出互独立，逐一比较后即可从重叠的花样中剥离出各单相的衍射花样，分析标定后即可鉴别出物质各单相的衍射花样，分析标定后即可鉴别出物质的各组成相。的各组成相。物相分析的实质物

18、相分析的实质衍射花样的采集处衍射花样的采集处理和核对标准花样理和核对标准花样n4.2.2 粉末衍射卡粉末衍射卡4.2 X射线物相分析射线物相分析第第1部分部分 卡片序号卡片序号第第2部分部分 1a,1b,1c为三根最强衍射线的晶面间距及其相对强度为三根最强衍射线的晶面间距及其相对强度 第第3部分部分 能够产生衍射的面间距最大晶面及相对强度能够产生衍射的面间距最大晶面及相对强度第第4部分部分 物相的化学式和名称矿物学通用名称、有机物结构式。物相的化学式和名称矿物学通用名称、有机物结构式。右右上角标号表示数据高度可靠；表示可靠性较低；上角标号表示数据高度可靠；表示可靠性较低；无符号者表示一般；无符

19、号者表示一般；i表示已指数化和估计强度，但不表示已指数化和估计强度，但不如有星号的卡片可靠；有如有星号的卡片可靠；有c表示数据为计算值。表示数据为计算值。第第5部分部分 实验条件实验条件第第6部分部分 所用实验条件物相的结晶学数据所用实验条件物相的结晶学数据第第7部分部分 物相的光学性质数据物相的光学性质数据第第8部分部分 化学分析、试样来源、分解温度、转变点、热处理、实化学分析、试样来源、分解温度、转变点、热处理、实验温度等验温度等 第第9部分部分 面间距、相对强度和干涉指数面间距、相对强度和干涉指数 物相分析物相分析物相分析物相分析n电子版的电子版的PDF卡卡物相分析物相分析物相分析物相分

20、析n4.2.3 PDF卡索引卡索引n 数字索引数字索引按按d值检索值检索n 原理原理n将物质按最强线的将物质按最强线的d1值进行分组，目前共分值进行分组，目前共分45组。组。组内按次强线组内按次强线d2值从大到小排列，值从大到小排列，d2相同，则按相同，则按d3从大到小排列。同时，为消除衍射强度测量差异从大到小排列。同时，为消除衍射强度测量差异造成的影响，将同一物质分别按造成的影响，将同一物质分别按d1d2d3、d2d3d1、d3d1d2顺序在顺序在3个不同位置出现。个不同位置出现。n 索引内容索引内容n每种物质占一行：每种物质占一行：8强线面间距和相对强度、化学式、名称、卡片强线面间距和相对

21、强度、化学式、名称、卡片序号、显微检索顺序号序号、显微检索顺序号n 字母索引字母索引按物质英文名称首字母顺序排列按物质英文名称首字母顺序排列n索引内容：索引内容：英文名称、化学式、英文名称、化学式、3强线面间距、卡片序号、强线面间距、卡片序号、显微检索序号显微检索序号4.2 X射线物相分析射线物相分析n4.2.4 物相定性分析方法物相定性分析方法n 待测样品为待测样品为单相单相，在物相未知时采用数值索引，在物相未知时采用数值索引，步骤如下：步骤如下：n 据待测相数据，确定据待测相数据，确定3强线的强线的d值；值；n 据最强线据最强线d1值，找到所属组，再根据值，找到所属组，再根据d2、d3找到

22、具找到具体所在行；体所在行；n 比较比较3强线相对强度是否一致，若基本一致，则可强线相对强度是否一致，若基本一致，则可初步确定待测试样的物相初步确定待测试样的物相n 根据索引中查到的卡片序号，找到所需卡片；根据索引中查到的卡片序号，找到所需卡片；n 核对全部核对全部dI/I1数据，若吻合，则卡片所记物质数据，若吻合，则卡片所记物质就是待测物相。就是待测物相。n注意：核对数据时，应以注意：核对数据时，应以d值为主，值为主，一般允许一般允许d=(0.010.02)AX射线物相分析射线物相分析X射线物相分析射线物相分析n 待测样品为多相混合时，需将物相逐一鉴别，待测样品为多相混合时，需将物相逐一鉴别

23、，步骤与鉴定单相相同。步骤与鉴定单相相同。多相物质的衍射花样是其多相物质的衍射花样是其各组成相衍射花样的简单叠加。各组成相衍射花样的简单叠加。dI/I1dI/I1dI/I13.0151.50201.04*32.47721.2990.9852.13281.28*180.91*42.09*1001.2250.83*81.80*521.08*200.81*10找出找出3强线强线d1=2.09 d2=2.47 d3=1.80查数值索引查数值索引没有相符，说没有相符，说明明 d1 d2 d3分属分属不同物相不同物相假设假设d1d3属于同种物质属于同种物质即以即以d1=2.09，d2=1.80重新检索，确

24、认重新检索，确认Cu数数据最为吻合据最为吻合取出取出Cu的卡片，核对并确的卡片，核对并确定该物相为定该物相为Cu，将数据中，将数据中属于属于Cu（*表示）的全部删表示）的全部删去去将剩余数据重新将剩余数据重新归一后再重复上归一后再重复上述步骤进行述步骤进行确定待分析样品确定待分析样品为为Cu 和和Cu2O混混合物合物4.2 X射线物相分析射线物相分析n 当待测样品的化学成分或可能出现的物相已知时，当待测样品的化学成分或可能出现的物相已知时，可用字母索引进行鉴定可用字母索引进行鉴定n 根据待测物质衍射数据，确定根据待测物质衍射数据，确定d值及其相对强度；值及其相对强度；n 根据样品成分和有关工艺

25、条件或参考有关文献，根据样品成分和有关工艺条件或参考有关文献，初步确定可能含有的物相，并按英文名称从字母索引初步确定可能含有的物相，并按英文名称从字母索引中找到卡片号，找到其对应卡片；中找到卡片号，找到其对应卡片；n 核对核对d值和相对强度，若吻合，则样品中含有卡片值和相对强度，若吻合，则样品中含有卡片记载物相。记载物相。4.2 X射线物相分析射线物相分析n 物相分析注意事项物相分析注意事项n 当物相为当物相为3相以上时，可利用计算机进行检索；相以上时，可利用计算机进行检索；需注意计算机不能消除试样衍射花样或卡片带来需注意计算机不能消除试样衍射花样或卡片带来的误差。的误差。n d值比相对强度重

26、要值比相对强度重要n 多相混合物鉴别多相混合物鉴别n多相混合物的衍射线条可能出现重叠，因此必须多相混合物的衍射线条可能出现重叠，因此必须将其分成两个部分，一部分强度属于某相，余下将其分成两个部分，一部分强度属于某相，余下强度连同其他为鉴别线条再按上述（单相）方法强度连同其他为鉴别线条再按上述（单相）方法确定。确定。4.2 X射线物相分析射线物相分析X射线物相分析射线物相分析n注意注意n1、当混合物中某相含量很少或某相各晶面反射能、当混合物中某相含量很少或某相各晶面反射能力都很弱时，它的衍射线条很难显现。力都很弱时，它的衍射线条很难显现。n2、X射线衍射分析只能确定某相的存在，不能确射线衍射分析

27、只能确定某相的存在，不能确定某相不存在。定某相不存在。W和和WC 的的混合物混合物0.1%0.2%W，衍射线条可见，衍射线条可见大于大于0.3%0.5%WC，衍射线条才可见，衍射线条才可见X射线物相分析射线物相分析n5. 计算机在衍射分析中的应用计算机在衍射分析中的应用n计算机自动检索的原理是利用庞大的数据库，尽可计算机自动检索的原理是利用庞大的数据库，尽可能地储存全部相分析卡片资料，并将资料按行业分能地储存全部相分析卡片资料，并将资料按行业分成若干组，然后将实验测得的衍射数据输入计算机，成若干组，然后将实验测得的衍射数据输入计算机，根据三强线原则，与计算机中所存数据一一对照，根据三强线原则，

28、与计算机中所存数据一一对照，粗选出三强线匹配的卡片粗选出三强线匹配的卡片50-100张，然后根据其它查张，然后根据其它查线的吻合情况进行筛选，最后根据试样中已知的元线的吻合情况进行筛选，最后根据试样中已知的元素进行筛选，一般就可给出确定的结果。以上步骤素进行筛选，一般就可给出确定的结果。以上步骤都是在计算机中自动完成的。一般情况下，对于计都是在计算机中自动完成的。一般情况下，对于计算机给出的结果在进行人工检索，校对，最后得到算机给出的结果在进行人工检索，校对，最后得到正确的结果正确的结果。 X射线物相分析射线物相分析n物相排列按物相排列按FOM值由小到大的顺序，值由小到大的顺序，FOM称为匹配

29、称为匹配率，即率，即PDF卡片中的峰位、强度与测量谱的谱线位卡片中的峰位、强度与测量谱的谱线位置、强度的匹配情况，置、强度的匹配情况，FOM值越小表示匹配得越好。值越小表示匹配得越好。n要确定一个物相是否存在于样品中，首先要看要确定一个物相是否存在于样品中，首先要看FOM值是否小；第二要看样品是否可能存在这种物相值是否小；第二要看样品是否可能存在这种物相（参考相图或其它资料）；第三要看是否有异常出（参考相图或其它资料）；第三要看是否有异常出现，比如，现，比如，PDF卡片谱线中某一强线位置在测量谱卡片谱线中某一强线位置在测量谱中未出现相应的衍射峰，一般认为不存在这种物相中未出现相应的衍射峰，一般

30、认为不存在这种物相（除非是单晶或存在严重择优取向除非是单晶或存在严重择优取向）。）。n4.2.5 物相定量分析方法物相定量分析方法n 基本原理基本原理n根据根据X射线衍射强度公式，某一物相相对含量增加，射线衍射强度公式，某一物相相对含量增加，其衍射强度随之增加。其衍射强度随之增加。但由于吸收（但由于吸收（ ）的存在，）的存在，强度与相对含量间不是正比关系。强度与相对含量间不是正比关系。n定量分析通常采用衍射仪法，其吸收因子为定量分析通常采用衍射仪法，其吸收因子为1/2；设多相混合物中任意设多相混合物中任意j相，其强度为相，其强度为4.2 X射线物相分析射线物相分析 jMjjeFPVVmceRI

31、I22022233012324.2 X射线物相分析射线物相分析n设参与衍射的样品总体积设参与衍射的样品总体积V=1，j 相体积分数相体积分数fj，则，则j相参与衍射的体积相参与衍射的体积 Vj=Vfj=1fj=fj。n设设 ，n对于同一样品中各相的对于同一样品中各相的Ij，B值相同；值相同；n设设 ，对于给定，对于给定 j 相，相，Cj只取决于衍射线条指数（只取决于衍射线条指数（HKL）。得）。得2132222330mceRIB jMjeFPVC2201jjjjjfBCVBCIn设任意两相设任意两相j1、j2，则有，则有nIj1、Ij2可测得，可测得，Cj1、Cj2可计算求得。当样品可计算求得

32、。当样品为两相混合物时，为两相混合物时， 可直接求得可直接求得fj1、fj2直接对比法；直接对比法；212121jjjjjjffCCII121jjff4.2 X射线物相分析射线物相分析n若在样品中加入已知含量的物相（若在样品中加入已知含量的物相（S称内标物），称内标物），据待分析相（据待分析相（j）与）与S相强度比相强度比Ij / IS，可求出，可求出j相的相的相对含量相对含量-内标法内标法n测定某相时，常用质量分数，将测定某相时，常用质量分数，将 、代换成与代换成与质量分数质量分数w有关的量，得有关的量，得jfniimijjjwwCI14.2 X射线物相分析射线物相分析n2.外标法外标法n将

33、待测相将待测相 j 的某一衍射线条与纯物质的某一衍射线条与纯物质 j 相的同一衍相的同一衍射线条强度进行直接比较，即可求出待测样品中射线条强度进行直接比较，即可求出待测样品中j相的相对含量。相的相对含量。n设待测样品中各相的吸收系数设待测样品中各相的吸收系数j和和 j均相等，则均相等，则j相的强度为相的强度为n待测相的质量分数待测相的质量分数 时，其强度时，其强度将上两式相比，得将上两式相比，得 jjjmjjjCwwCwCImj1jw CIj0 jjjjwCCwII04.2 X射线物相分析射线物相分析n如果混合物由两相组成，它们的质量吸收系数不如果混合物由两相组成，它们的质量吸收系数不相等，则

34、有相等，则有n两相的质量吸收系数两相的质量吸收系数m1 , m2 若已知，则实验测若已知，则实验测出两相混合物中第一相衍射线的强度出两相混合物中第一相衍射线的强度 I1 和纯第和纯第一相的同一衍射线强度一相的同一衍射线强度（ I1）0后，即可求出第后，即可求出第一相的质量分数一相的质量分数w1。 22111221111011mmmmwwwwII4.2 X射线物相分析射线物相分析n3、 内标法内标法向样品中加入已知含量的内标物向样品中加入已知含量的内标物S，利用利用Ij / Is 求出求出 j 相含量相含量。n设加入内标物的含量为设加入内标物的含量为ws，待测相的质量分数为，待测相的质量分数为w

35、j ，在复合样品中的含量为在复合样品中的含量为wj ，则有，则有n保持保持ws不变，则不变，则wj =wj (1- ws)，对于选定的标准物，对于选定的标准物质和待测相，质和待测相，s、j均为常数，则上式改写为均为常数，则上式改写为SjjSSjSjSSjjSjSjSjSjwwCCIIwwCCffCCII/4.2 X射线物相分析射线物相分析n预先制作预先制作 Ij / Iswj 曲线（定标曲线），据此曲线曲线（定标曲线），据此曲线可由实际待测样品中所测得可由实际待测样品中所测得 Ij / Is ，直接读出，直接读出 j 相相含量。含量。jSSSSjjSjwwCCkkwII1,结论：待测相的某衍射

36、线条强度和标准物质衍射结论：待测相的某衍射线条强度和标准物质衍射线条的强度比与待测相的含量成正比线性关系。线条的强度比与待测相的含量成正比线性关系。4.2 X射线物相分析射线物相分析4.2 X射线物相分析射线物相分析n定标曲线制作：定标曲线制作：制备若干（制备若干（3个以上）待测相含量个以上）待测相含量wj不同但已知的样品，在每个样品中加入含量不同但已知的样品，在每个样品中加入含量ws恒恒定的内标物定的内标物 S 制成复合样品，测量复合样品中的制成复合样品，测量复合样品中的 Ij / Is值，即可绘出值，即可绘出Ij / Iswj曲线。曲线。n注意注意：加入样品中的内标物的：加入样品中的内标物

37、的种类及其含量、种类及其含量、j相和相和s相衍射线条的选取相衍射线条的选取等条件要与所用定标曲线的制等条件要与所用定标曲线的制作条件相同。作条件相同。n优缺点优缺点：使用简单，但需预先制作定标曲线，工作：使用简单，但需预先制作定标曲线，工作量大，且通用性不强，仅用于物相固定且经常性的量大，且通用性不强，仅用于物相固定且经常性的样品分析工作。样品分析工作。n4、 K值法值法n上式即为上式即为K值法基本公式。值法基本公式。 称为称为 j 相对相对 s 相相的的K值，若值，若 j 相和相和 s 相衍射线条选定，则相衍射线条选定，则 为为常数。常数。SjjSSjjSSjjSjSSjSjSjwwKIIC

38、CKwwCCII得，令jSKjSK4.2 X射线物相分析射线物相分析n 的实验测定：的实验测定：制备制备wj ws=1 1的两相混合样的两相混合样品，由基本公式可得，品，由基本公式可得， ，故测量，故测量Ij / Is值，可求得值，可求得 。nK值法也叫基体冲洗法，不需制作定标曲线，且值法也叫基体冲洗法，不需制作定标曲线，且K值与内标物含量无关而具有实际意义。但需注意：值与内标物含量无关而具有实际意义。但需注意：应用时应用时待测相和内标物种类及衍射线条选取待测相和内标物种类及衍射线条选取等条等条件应与件应与K值测定时相同。值测定时相同。jSKsjjSIIKjSK4.2 X射线物相分析射线物相分

39、析4.2 X射线物相分析射线物相分析n 直接比较法直接比较法将样品中某待测相衍射线条的将样品中某待测相衍射线条的强度与另一相衍射线条强度相比较，不需加入内强度与另一相衍射线条强度相比较，不需加入内标物，既适用于粉末，又适用于块状样品。常用标物，既适用于粉末，又适用于块状样品。常用于于测定淬火钢中残余奥氏体的含量测定淬火钢中残余奥氏体的含量。n令令n马氏体某衍射线条强度马氏体某衍射线条强度n残余奥氏体某衍射线条强度残余奥氏体某衍射线条强度两者之比两者之比 VRkIeFPVkmceRIRM21,32220222330得VRkI2VRkI2IkIkfffVkVkII111,4.2 X射线物相分析射线

40、物相分析n若钢中存在碳化物，其含量为若钢中存在碳化物，其含量为fc（由萃取法测（由萃取法测定），则定），则n注意：注意：制样时，表面光滑无应力，不能有氧化制样时，表面光滑无应力，不能有氧化和塑变；应使用滤波片或单色器；衍射线条和塑变；应使用滤波片或单色器；衍射线条选取时应避免不同相线条的重叠或过分接近，若选取时应避免不同相线条的重叠或过分接近，若钢中存在碳化物，在选取线条时应避免与碳化物钢中存在碳化物，在选取线条时应避免与碳化物的衍射线重叠。的衍射线重叠。IkIkffc114.2 X射线物相分析射线物相分析n 任意内标法与参比强度任意内标法与参比强度n若已知样品中待测相（若已知样品中待测相（j

41、）对某一物相（）对某一物相（s）的）的 值，可否用另一物相（值，可否用另一物相（q）（且）（且 已知）作为内已知）作为内标物加入样品，实现对标物加入样品，实现对wj的测定？的测定？n在样品中加入在样品中加入q相相wj =wj(1- wq)，有，有n假设在复合样品中再加入假设在复合样品中再加入s相相w”j =wj(1- wq), wq =wq(1- ws)，有，有jSKqSKqjjqqjwwKIIsqqssqsjjssjwwKIIwwKII ,4.2 X射线物相分析射线物相分析n以上两式相除，有以上两式相除，有比较可得：比较可得：n上式即为任意内标法的基本公式。任意内标法的意上式即为任意内标法的

42、基本公式。任意内标法的意义在于：在样品中可以用不同于义在于：在样品中可以用不同于s的任意相的任意相q为内标为内标物，并根据物，并根据 与与 而获得而获得 值，不必再经过实验值，不必再经过实验测定。测定。qjqSjSsqsjqSjSqjqSjSqjwwKKwwwwKKwwKKII 11qsjsjqKKKjSKqSKjqK4.2 X射线物相分析射线物相分析X射线物相分析射线物相分析nPDF卡索引中记载有部分常见物相对刚玉（卡索引中记载有部分常见物相对刚玉（-Al2O3）的）的K值，称为该物相的参比强度。值，称为该物相的参比强度。n应用参比强度值，可在待测物质中加入任意相应用参比强度值，可在待测物质

43、中加入任意相q，方便地实现物相定量，前提是待测相和方便地实现物相定量，前提是待测相和q相的参相的参比强度均可在比强度均可在PDF卡索引中查到。卡索引中查到。nPDF卡中给出的参比强度是物相与刚玉的最强线卡中给出的参比强度是物相与刚玉的最强线的强度比。因此，在应用时，待测相与内标物的的强度比。因此，在应用时，待测相与内标物的强度均应选最强线强度均应选最强线。返回返回X射线衍射的其它应用简介射线衍射的其它应用简介n1、物质状态的鉴定、物质状态的鉴定应用在同时存在结晶态和应用在同时存在结晶态和非晶态的体系，如无机材料、高聚物等。非晶态的体系，如无机材料、高聚物等。n不同的物质状态对不同的物质状态对X

44、射线的衍射作用是不相同的，射线的衍射作用是不相同的，因此可以利用因此可以利用X射线衍射谱来区别晶态和非晶态射线衍射谱来区别晶态和非晶态 n一般非晶态物质的一般非晶态物质的XRD谱为一条直线谱为一条直线 。n漫散型峰的漫散型峰的XRD一般是由液体型固体和气体型固体一般是由液体型固体和气体型固体所构成所构成 。n微晶态具有晶体的特征，但由于晶粒小会产生衍射微晶态具有晶体的特征，但由于晶粒小会产生衍射峰的宽化弥散，而结晶好的晶态物质会产生尖锐的峰的宽化弥散，而结晶好的晶态物质会产生尖锐的衍射峰衍射峰 。X射线衍射的其它应用简介射线衍射的其它应用简介不同材料状态及相应的不同材料状态及相应的XRD谱示意

45、图谱示意图X射线衍射的其它应用简介射线衍射的其它应用简介X射线衍射的其它应用简介射线衍射的其它应用简介n2、晶粒度的测定、晶粒度的测定衍射面的面间距和晶面层数衍射面的面间距和晶面层数的乘积就是垂直于此晶面方向上的粒度。的乘积就是垂直于此晶面方向上的粒度。nDhkl为纳米晶的直径；为纳米晶的直径；为入射波长；为入射波长；为半衍射角；为半衍射角；hkl为（为（hkl）衍射的半峰宽。）衍射的半峰宽。n利用利用XRD测定材料中的晶粒尺寸有一定的限制条测定材料中的晶粒尺寸有一定的限制条件。当晶粒大于件。当晶粒大于100nm时，其衍射峰宽度随晶粒时，其衍射峰宽度随晶粒大小变化敏感度降低，而小于大小变化敏感度降低，而小于10nm时其衍射峰有时其衍射峰有显著变化。显著变化。cos89. 0hklhklhklNdD谢乐公式谢乐公式X射线衍射的其它应用简介射线衍射的其它应用简介n3、介孔结构测定、介孔结构测定小角度小角度X射线衍射射线衍射n4、薄膜厚度和界面结构测定、薄膜厚度和界面结构测定了解薄膜内部信了解薄膜内部信息，如分子排列、取向等。息，如分子