热电阻温度传感器规范

1、热电阻温度传感器总规范 SJ 20722-1998中华人民共和国电子行业军用标准热电阻温度传感器总规范 SJ 20722-1998General specification for temperature transducersfor thermal resistance1范围1.1主题内容本规范规定了军用温度传感器的通用要求、质量保证规定、试验方法和包装、贮存、运输要求。1.2适用范围本规范适用于热电阻温度传感器（以下简称传感器），其它温度传感器亦可参照采用。1.3分类按金属热电阻的种类划分如下：a铂电阻；b铜电阻；c镍电阻；d合金电阻；e其它。2引用文件GB 191一90 包装储运图示标志

2、GB 766587传感器通用术语GB 766687传感器命名方法及代号GJB 145A一93封存包装通则GJB 150.186军用设备环境试验方法 总则GJB 150.386军用设备环境试验方法 高温试验GJB 150.486军用设备环境试验方法 低温试验GJB 150.586军用设备环境试验方法 温度冲击试验GJB 150.9- 86军用设备环境试验方法 湿热试验GJB 150.10-86军用设备环境试验方法 霉菌试验GJB 150.1186军用设备环境试验方法 盐雾试验GJB 150.1686军用设备环境试验方法 振动试验GJB 150.1886军用设备环境试验方法 冲击试验GJB 150

3、.2086军用设备环境试验方法 飞机炮振试验GJB 179A96计数抽样检查程序及表GJB 271296测量设备的质量保证要求 计量确认体系JJG 100787温度计量名词术语3要求3.1详细规范传感器的个性要求应符合本规范和相应详细规范的规定。如果本规范的要求和详细规范的要求相抵触，应以详细规范为准。3.2合格鉴定按本规范提交的传感器应是经鉴定合格或定婆批准的产品。3.3材料应使用能使传感器满足本规范性能要求的材料，并在详细规范中规定要求。传感器所用的金属材料应能耐腐蚀。各种非金属材料在本规范规定的环境条件下使用时，不应危害人员的健康。3.4设计和结构传感器的设计、结构和物理尺寸应符合规定(

4、见3.1。3.5测温范围传感器的测温范围应符合规定(见3.1。3.6允差（或准确度）3.7绝缘电组3.8热响应时间（适用时）3.9自热（适用时）3.10高温3.11低温3.12温度冲击3.13湿热3.14霉菌（适用时）3.15盐雾（适用时）3.16振动3.17飞机炮振（适用时）当传感器安装在以炮口为圆心，半径在2m的范围以内应做炮振试验。3.18冲击3.19工作寿命3.20质量传感器的质量应符合规定（见3.1）。3.21标志传感器外壳上应按下列顺序标志。a型号规格；b出厂编号；c测温范围或量程；d产品名称；e制造单位名称或商标；f制造日期；g检验日期、检验员代号；h详细规范号；i符合本规范的传

5、感器应标志“J”；j防爆传感器应有防爆标志、等级及合格证编号。如可注标志的空间不够时，允许标在包装上。3.22外观质量传感器的外观应无可见损伤；标志应清晰完整、准确无误。4质量保证规定4.1检验责任除非合同或订单上另有规定，承制方应负责完成本规范规定的所有检验。除合同或订单上另有规定外，承制方可以使用自己的或任何其它适合完成本规范规定检验要求的设备，但有关鉴定机构不许可的除外。必要时，订购方或鉴定机构有权对本规范规定的任一检验项目进行检查以确保供货和服务符合规定要求。所有传感器必须符合本规范第3章和第5章的全部要求。本规范中规定的检验应成为承制方的整个检验体系或质量保证大纲的一个组成部分。如果

6、合同中包括本规范未规定的检验要求，承制方还应保证提衮验收的传感器符合合同要求。质量一致性检验抽样不允许提交明知有缺陷的传感器，也不能要求订购方接收有缺陷的传感器。承制方应建立和维持具有足够精度、质量和数量的试验设备、测量设备和检验装置，以便进行所要求的检验。同时承制方还应按CJB 2712建立和维持其计量校准系统，以控制测量和试验设备的精度。4.2检验分类本规范规定的检验分为：a鉴定检验（见4.4）；b质量一致性检验（见4.5）。4.3检验条件除非另有规定，所有检验应在CJB 150.1规定的试验标准大气条件下进行。4.4鉴定检验鉴定检验应在鉴定机构认可的试验室进行，所用样品应是在生产中通常使

7、用的设备和工艺所生产的产品。除有特殊要求外，通常应不少于3只。样品应按表l规定的项目和顺序进行鉴定检验。表I鉴定检验工作寿命几何概型德摩根公式序号检验项目要求章条号方法章条号l外观与机械检查3.4, 3.20,3.21, 3.224.6.12允差（或准确度）3.6 4.6.23绝缘电阻3.74.6.34热响应时间（适用时）3.84.6,45自热（适用时）3.94.6.56高温3.104.6.67低温3.114.6.78温度冲击3,124.6.89湿热3.134.6.9lO霉菌（适用时）3.144.6.10ll盐雾（适用时）3.154.5.1112振动3.164.6.1213飞机炮振（适用时）3

8、.174.6.1314冲击3.18概率论和数理统计公式集锦一、随机事件与概率4.6.14公式名称公式表达式，4.6.15，其中为几何度量（长度、面积、体积）求逆公式加法公式P(AB=P(A+P(B-P(AB当P(AB0时，P(AB=P(A+P(B减法公式P(A-B=P(A-P(AB，时P(A-B=P(A-P(B条件概率公式与乘法公式 失效如有任一样品不能达到规定的要求时，则鉴定检验失效，不能给予鉴定批准。产品为保持鉴定合格资格，承制方应每隔12个月向鉴定机构提交一份质量一致性检验报告摘要，该报告摘要应在每12个月周期结束后的30天内提交，以作为保持鉴定合格资格的依据。鉴定机构应规定起始报告日期

9、。报告中应包括如下内容：a已进行的B 两个事件相互独立；在每l2个月周期结束后的60天内未能提交报告。则可能丧失产品的鉴定合格资格。除定期提交检验数据外，在12分布名称如果在报告周期内未生产时，应提交一份报告以证明该承制方仍具有生产这种产品所必需的能力和设备。如果相继两个报告周期内仍未生产，根据鉴定机构的决定，可以要求承制方提供产品按鉴定检验要求进行检验，并说明未生产的原因。4.5质量一致性检验传感器的逐批检验应由A组和B组检验组成。逐批检验即为产品的交货检验。一个检验批应由在基本相同条件下生产的并同时提交检验的相同型号的所有产品组成。A组检验按表2规定的项目和顺序进行。表2 A组检验分布章条

10、号二项分布l泊松分布3、续型随机变量及其分布2分布名称密度函数3.6均匀分布A组检验采用l00%检查。若某一产品有任意一项未达到要求，则判该产品不合格，并予以剔除。其不合格品率应符合详细规范的规定。B组检验按表3分布函数表3 B组检验指数分布检验项目正态分布标准正态分布4、随机变量函数Y=g(X的分布离散型：要求章条号三、多维随机变量及其分布1、离散型二维随机变量及其分布分布律：分布函数边缘分布律： 条件分布律：，2、连续型二维随机变量及其分布分布函数及性质分布函数：性质：边缘分布函数与边缘密度函数分布函数： 密度函数： 除非另有规定，B组检验的样品应从已通过A组检验并合格的产品中随机抽取，并

11、按GJB 179A中的一般检查水平的一次正常抽样方案进行，可按受质量水平(AQL为2.5。如果一个检验批被拒收，承制方可以返修该批产品以纠正其缺陷或剔除有缺陷的产品，并重新提交进行复检。重新提交批应采用加严检查进行检验。这种批应与新的批区分开来，并清楚地标明为复验批。如果检验批被接收，则已通过B组检验并仍在规定要求范围之内的样品可以按合同或订单交货。C组检验按表4规定的项目和顺序进行。表4 C组检验序号检验项目要求章条号方法章条号l高温3.104.6.62低温3.114.6.73温度冲击3.124.6.84湿热3.134.6.95霉菌（适用时）3.144.6.106盐雾（适用时）3.154,6

12、.117振动3.164.6.128飞机炮振（适用时）3.174.6.139冲击3.184.6.1410工作寿命3.194.6.15C组检验应在已通过A组和B组检验合格的各检验批中所抽取的样品上进行检验，其样品数一般不少于6只，其中3只进行表4序号10的试验，其余3只进行表4的其他试验。对于连续批生产，每年应进行一次。若某一样品有一项或一项以上未达到要求，则判C组检验失效。已经受过C组检验的样品不应按合同或订单交货。如果样品未通过C组检验，承制方应向鉴定机构和有关主管部门报告失效情况，并根据不合格的原因，对材料或工艺或对两者采取纠正措施，而且认为适当时，对用基本相同的材料和工艺在基本相同的条件下

13、制造的，以及认为经受相同失效的，可以修复的全部产品采取纠正措施。在采取鉴定机构认可的纠正措施之前应暂停产品的验收和交货。在采取纠正措施之后，应对追加的样品重新进行C组检验（由鉴定机构决定进行全部项目的检验或进行原来样品失效项目的检验）。同时，可以重新开始A组和B组检验，但在C组复验表明纠正措施是成功的之前，不得进行最后的验收和交货。若复验后仍然失效，则应将有关失效的资料提供给鉴定机构和有关主管部门。传感器的封存和包装应100%进行检验并符合第5章的规定。4.6检验方法用游标卡尺检查传感器的外形及安装尺寸，应符合3.4要求。用天平称量传感器的质量，应符合3.20要求。用目测法检查传感器的标志，应

14、符合3.21要求。用目测法检查传感器的外观，应符合3.22要求。对于保护管可以拆卸的温度传感器，允许只对感温元件进行允差（或准确度）检验。a一等标准水银温度计或二等标准铂电阻温度计；d油浸式或空气或多点转换开关；f恒温槽或冰点槽。允差（或准确度）检验采用比较法进行。电阻测量采用图l所示的电位差计（数字电压表）法或电桥法。图中：RI-电阻箱；R2-被试元件电阻；R3-标准电阻温度计；R4标准电阻；R5-被试元件电阻；R6-标准电阻温度计；R7-可变电阻；Gl直流电源；G2-直流电源；Sl换向开关；S2转换开关；S3-转换开关；P1-毫安表；P2-电位差计或数字电压表；P3一测温电桥；P4-毫安表

15、。将被检温度传感器与标准温度计一起置人恒温或冰点槽的均温区内，其置入深度应大予300mm恒温30min后进行测量。测量时，激励电源造成的自热温升不得超过其允差值的五分之一，试验电流应变换方向，分别读取两个以上测量值，并以其平均值作为一次测量结果，并按公式(1计算允差：(1式中：检测点温度时的实测电阻值，；铂电阻分度表中查得的检验点分度值，；0时的实测阻值，；电阻温度系数，。其结果应符合3.6要求。A组的传感器应在O和100进行允差（或准确度）检验。B组的传感器应在0、100和上限温度三点进行允差（或准确度）检验。除非另有规定当上限温度低于65时，用65代替上限温度；当上限温度高于65时，上限温

16、度用实际温度。绝缘电阻测试仪。精度应不低于lO%，最低试验电压为直流100V±10%。将试验电压加在传感器各引出端与壳体或保护管之间，在lOs内读取数据。应测量正、反两个方向的绝缘电阻值，其结果应符合3.7要求。，必要时也可以另外记录变化10%的热响应时间和变化90%的热响应时间。所记录的热响应时间值应取同一试验至少三次测试结果的平均值，每次测试结果对于平均值的偏离应在士10%以内。如果试验是通过改变传感器周围介质的温度而进行的，则试验介质到达其最终温度值的50%所需的时间不应超过传感器的的十分之一。如果试验是通过传感器投入温度不同的介质而进行的，则被试传感器到达最终置人深度所需的时

17、间不应超过传感器的的十分之一。记录仪器或仪表的响应时间不应超过传感器的的五分之一。试验时，被试传感器的置人部分应位于试验流道的中部，其纵轴在垂直于介质流动方向的平面上。流道的宽度应不小于被试传感器直径的10倍。范围内，温度阶跃值应大于1O而小于20，被试传感器的置人深度为250mm.若被试传感器的设计置入深度小于250mm，则按设计置入深度进行试验，并在试验报告中注明。O.O5m/s，初始温度在530的范围内，温度阶跃值应不大予lO。在试验过程中，水的温度变化应不大于温度阶跃值的土1%被试传感器的置入深度为150mm。若被试传感器的设计置入深度小于150mm，则按设计置入深度进行试验，并在试验

18、报告中注明。试验后，其结果应符合3.8要求。记录最后的激励电流I，则传感器的允许耗散功率为×R。其中R为最后一次测量得到的稳态电阻值。试验后，其结果应符合3.9要求。传感器的高温试验应按CJB 150.3中规定的方法进行，试验条件由详细规范选定。其结果应符合3.10要求。传感器的低温试验应按GJB 150.4中规定的方法进行，试验条件由详细规范选定。其结果应符合3.11要求。传感器的温度冲击试验应按CJB 150.5中规定的方法进行，试验条件由详细规范选定。其结果应符合3.12要求。传感器的湿热试验应按GJB 150.9中规定的方法进行，试验条件由详细规范选定。其结果应符合3.13要求。传感器的霉菌试验应按GJB 150. 10中规定的方法进行，试验条件由详细规范选定。其结果应符合3.14要求。传感器的