手机可靠性测试标准_图文

1、目 录1 目的42 范围43 参考文件44 测试项目及要求44.1 机械应力测试44.1.1 样机数量及其分配44.1.2 正弦振动测试.54.1.3 跌落测试.54.1.4 翻盖铰链耐压测试.64.1.5 低等级重复跌落测试.64.1.6 镜片硬度测试.64.1.7 镜片抗冲击测试.74.1.8 天线安装强度测试.74.1.9 螺母拉力及扭矩测试.74.1.10 挂绳孔拉力测试.84.1.11 软压测试.84.1.12 手机硬压测试.84.1.13 扭转测试.94.2 寿命测试94.2.1 样机数量及其分配.94.2.2 塑胶件（喷涂件与电镀件）测试 (8套外壳.94.2.3 RCA磨损测试

2、.94.2.4 附着力测试.104.2.5 硬度测试.104.2.6 抗人造汗水测试.114.2.7 耐醇性测试.114.2.8 耳机按键打击寿命试验.124.2.9 按键寿命测试.124.2.10 SIM卡夹寿命测试.124.2.11 翻盖寿命测试.134.2.12 充电器及耳机插拔寿命测试.134.2.13 充电器/数据线及耳机摇摆测试.134.2.14 电池/电池盖装配寿命测试.134.2.15 手写笔插拔寿命测试 144.2.16 触摸屏点击/划线寿命测试. 144.2.17 手机反复拆卸/重组装寿命测试.144.2.18 T卡插拔寿命试验.154.3 环境应力测试.154.3.1 样

3、机数量及其分配.154.3.2 高温操作测试.154.3.3 高温储存测试.154.3.4 低温操作测试.164.3.5 低温储存测试.164.3.6 温度冲击测试.164.3.7 湿热测试.174.4 特殊条件测试.174.4.1 盐雾测试.174.4.2 沙尘测试.184.5 包装测试.204.5.1 包装振动测试.204.5.2 包装跌落测试.204.5.3 包装储存测试.211 目的建立移动手机可靠性测试标准，以确保产品满足要求。2 范围本标准适用于凌泰通信有限公司所研发或引进的所有移动手机产品。3 参考文件GB/T 2421-1999 电工电子产品环境试验第一部分:总则GB/T 15

4、844.2-1995 移动通信调频无线电话机环境要求和实验方法GB/T 15844.3-1995 移动通信调频无线电话机可靠性要求和实验方法GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验第一部分:实验方法 试验A:低温GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验第二部分:实验方法 试验B:高温GB/T 2423.1-2001 电工电子产品环境试验第二部分:实验方法 试验Ed:自由跌落GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验第二部分:实验方法 试验Fc和导则:振动GB/T 2423.3-93 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 17

5、626.2-1998 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验YD/T 1215-2002 900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(GPRS设备测试方法:移动台YD 1032-2000 900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法 第一部分：移动台及其辅助设备4 测试项目及要求4.1 机械应力测试4.1.1 样机数量及其分配 测试项目样机数量试验顺序1 正旋振动测试2 跌落测试2台根据测试项目的序号顺序进行1 挂绳孔拉力测试2 手机软压测试3 手机硬压测试4 翻盖铰链耐压测试5 镜片硬度测试6 镜片抗冲击测试7 天线安装强度测试

6、 8 螺母拉力及扭矩测试2台低等级重复跌落测试2台扭转测试2台4.1.2 正弦振动测试4.1.2.1 测试样品数量为2台4.1.2.2 测试条件及要求振动频率1060Hz(恒定位移0.5mm，60500Hz(恒定加速度5G，扫频速度为1 octave/mimute，每个轴向持续振动5个扫频周期，共3个轴向。测试中手机处于关机状态（不插SIM卡）。4.1.2.3 检验标准4.1.3 手机各项功能应该正常，PCB板元器件应无掉件和损伤；电池与手机之间装配良好，无明显磨擦痕迹，手机LCD显示正常（如：不应存在透光.黑屏.白屏等不良现象）4.1.4 跌落测试4.1.4.1 测试样品数量为 2台4.1.

7、4.2 测试条件及要求手机处于开机状态,从1.2米（PDA手机/液晶显示屏幕面积超过移动电话正面使用面积二分之一的大屏幕移动电话机跌落高度为1米）高度自由跌落在混凝土或钢制成的平滑坚硬的钢性表面。对于手机六个面（翻盖或滑盖手机要增加两个面，打开翻盖时主按键面及电池面）每个面均需要跌落两次，跌落顺序为：底面左面右面后面前面电池面（注：先跌合盖再跌翻盖）。可以分为以下两个跌落（试验时可以根据需要选取）常温跌落：常温下手机插上SIM卡及装电池并开机按以上方法进行跌落试验（注：试验前要检查好手机各项功能是否异常并记录下以试验后对比）低温跌落：手机插上SIM卡及装电池并开机，在-15的环境下恒定2H后立

8、刻按以上方法进行跌落试验检验标准每次跌落后都应该对手机进行外观及功能检查，所有异常都应清楚地记录在案，在所有跌落进行完毕后，对手机进行开壳检查，主要针对扣位及螺丝柱位等进行检查；手机内部元件不能存在松脱或损坏现象.摇动手机应不会出现任何异响声，手机各项功能应该正常，外观要求不允许手机表面存在任何程度的爆裂和变形，但允许一定程度上的磨损（注：评审手机在进行跌落试验后需做电性能测试）备注：对跌落过程中面壳与底壳轻微裂开（不能看到内部元件），只要用手能够压回原位且不损扣位的可视为测试通过。4.1.5 翻盖铰链耐压测试4.1.5.1 测试样品数量为2台4.1.5.2 测试条件及要求手机开机开盖状态放于

9、桌面，主LCD及Keypad面向下，用10Kg的力向下压翻盖铰链处，持续时间为10秒4.1.5.3 检验标准测试完后手机外观应无破损，翻盖功能正常且无异响。4.1.6 微跌测试4.1.6.1 测试样品数量为 2台4.1.6.2 测试条件及要求手机插入SIM卡开机，从7CM高度跌落到铺有静电席的桌面上，正反面各3000次，每500进行一次外观及功能检查。4.1.6.3 检验标准测试中不允许出现频繁掉电（不超过3次）、无读卡及功能异常现象，手机结构应无破损；测试结束后轻拍手机不能有掉电现象。4.1.7 镜片硬度测试4.1.7.1 测试样品数量为2台4.1.7.2 测试条件及要求4.1.7.3 用2

10、H（三菱）铅笔，将笔芯削成圆柱形并在400目砂纸上磨平后，装在专用的铅笔硬度测试仪上(施加在笔尖上的载荷为500g，铅笔与水平面的夹角为45°，推动铅笔向前滑动约5mm长，共划5条，再用橡皮擦将铅笔痕擦拭干净，检查产品表面有无划痕4.1.7.4 检验标准距镜片30cm并转动±45°目测，镜片表面不能有明显的划痕。4.1.8 镜片抗冲击测试4.1.8.1 测试样品数量为2台4.1.8.2 测试条件及要求将32g的不锈钢球从64cm高度自由跌落在镜片上（镜片装配在成品机上），中心和四角各跌两次。4.1.8.3 检验标准镜片允许出现白点，但不能出现裂纹。4.1.9 外置

11、天线安装强度测试4.1.9.1 测试样品数量为2台4.1.9.2 测试条件及要求a 用5Kg的拉力向外拉动天线；1000次。b 用5Kgf.cm的扭矩扭动天线。c 对天线四个方向各施加2kg的弯折力；1000次d 手机内置天线此项可略。检验标准天线应无损坏、移位、松脱或折断现象，手机能寻找到网络，能打电话。各项基本射频参数符合标准。4.1.10 螺母拉力及扭力测试4.1.10.1 测试样品数量为 2台4.1.10.2 测试条件及要求a 用拉力计测试螺母的最大破坏拉力；b 用扭力计测试螺母的最大破坏扭矩。4.1.10.3 检验标准最大破坏拉力应大于7.5Kgf，最大破坏扭矩应大于1.5Kgf.c

12、m。4.1.11 挂绳孔和USB塞拉力测试4.1.11.1 测试样品数量为 2台4.1.11.2 测试条件及要求用细绳对挂绳孔施加5Kg的拉力，并持续30秒。USB塞施加1.5kg的拉力4.1.11.3 检验标准挂绳孔不能有任何变形或损坏。USB塞不能拉断和拉脱壳体。4.1.12 软压测试4.1.12.1 测试样品数量为 2台4.1.12.2 测试条件及要求4.1.13 试验条件：4.1.14 软压测试：将手机装入存储卡和SIM卡并处于开机状态，显示屏朝上放置在挤压试验机上，挤压头的中心对准手机中心。挤压硅胶头与手机垂直放置，挤压停留时间设为1S，回到顶部的停留时间设为2S。对于滑盖手机，应将

13、一半样品滑开到上限位置。以300N 力，每分钟1530 次的频率反复挤压手机1000 次（正反面各500次），每进行100 次，需对手机的外观及基本功能进行检查。滑盖机需4台机器进行测试，滑开及合盖状态各一半4.1.15 检查标准：手机没有严重变形和损坏，外观无异常，及各项基本功能正常，能识别存储卡和SIM卡。4.1.16 硬压测试4.1.17 测试样品数量为2台4.1.18 测试要求及条件4.1.19 将手机正面朝上平放在硬压试验台上，并固定好，调整气压阀门使压力为17kg力。每分钟1530 次的频率反复挤压手机1000 次（正反面各500次），每进行100 次，需对手机的外观及基本功能进行

14、检查4.1.20 检查标准4.1.21 手机没有变形，外观无异常，各项功能正常。4.1.22 扭转测试4.1.22.1 测试样品数量为 2台4.1.22.2 测试条件及要求手机处于开机状态，放于扭转测试仪上，用2N.m的力矩反复扭转机身共2,000次，顺时针和逆时针方向各1000次，每500次进行外观及功能检测。4.1.22.3 检验标准测试过程中，手机不能出现掉电现象，测试完后手机功能应无异常，电池与手机配合良好，手机外观不能有断裂，严重变形，按键功能不正常等异常。4.2 寿命测试4.2.1 样机数量及其分配测试项目样机数量试验顺序翻盖/滑盖寿命测试2台根据测试项目的序号顺序进行1 SIM卡

15、夹寿命测试2 T-FLASH、SD-MINI卡插拔试验3 充电器及耳机插拔寿命测试4 充电器/数据线及耳机摇摆测试5 电池/电池盖装配寿命测试 6手写笔插拔寿命测试7 触摸屏点击/划线寿命测试2台1 按键寿命测试2 耳机按键寿命测试2台4.2.2 塑胶件（喷涂件与电镀件）测试 (8套外壳包含RCA磨损测试、附着力测试、硬度测试、抗人造汗水测试、耐醇性测试、抗饮料腐蚀测试六个项目。4.2.3 RCA磨损测试4.2.3.1 测试样品为2套外壳4.2.3.2 测试条件及要求将喷涂件或电镀件固定在RCA测试仪上，施加175g的负载对同一位置进行反复磨擦，喷涂件要求测试平面为300圈（棱角位置根据角度定

16、制圈数），电镀件要求测试平面为300圈；按键丝印要求为175克100圈；橡胶漆部件要求测试平面为175克120圈；铭牌（Logo marking）/面壳表面丝印要求为175克50圈;五金电镀要求300圈.每50圈进行一次检查，并记录下每一次的检查结果4.2.3.3 检验标准测试后整个测试表面原始的颜色不可以改变，图案不可消失，油漆或镀层不透底(露出底材。4.2.4 附着力测试4.2.4.1 测试样品为2套外壳4.2.4.2 测试条件及要求a 对于喷涂件，使用百格刀在表面划出100个1mm2的小格，划格的深度以刚露出底材为准，用小软刷将划痕处的碎屑或粉沫清扫干净，使用3M ref.610胶纸紧紧

17、贴住划格面(可用手压紧,在6090秒的时间内使之成180°角快速拉起。 b 对于电镀件，使用百格刀在表面划出6条间隔为2mm的平行线和1条与之垂直的线，划格的深度以刚露出底材为准，使用3Mref.610胶纸紧紧贴住划格面(可用手压紧，在6090秒的时间内使之成180°角快速拉起4.2.4.3 检验标准a.对于喷涂件，必须划痕周围只能超过5%的喷漆面脱落，不能有满格脱落；b.对于电镀件，覆盖物脱落不能超过5-10%，不允许有满格脱落。（3） 硬度测试：4.2.4.4 测试样品为2套外壳4.2.4.5 测试条件及要求用2H铅笔(三菱，将笔芯削成圆柱形并在400目砂纸上磨平后，装

18、在专用的铅笔硬度测试仪上(施加在笔尖上的载荷为750g，铅笔与水平面的夹角为45°，推动铅笔向前滑动约5mm长，共划5条，再用橡皮擦将铅笔痕擦拭干净，检查产品表面有无划痕（划破面漆）。4.2.4.6 检验标准4.2.5 距表面30cm并转动±45°目测，试验处表面应无明显划痕为合格。4.2.6 抗人工汗水测试4.2.6.1 测试样品为4套外壳4.2.6.2 测试条件及要求a 把无尘布放于PH值为4.7的酸性溶液充分浸透，然后将手机完全包裹起来，并确保无尘布与样机表面充分接触，并用塑料袋密封好，然后放在高温高湿（温度40，相对湿度95%）测试环境中（不能将样机堆放，

19、侧面或正面并排放置），在24小时后（表面过UV的金属件只需做12小时），将样品从测试环境中取出，并且放置2小时后，检查样品表面喷漆。4.2.6.3 检验标准1、样品表面允许轻微变色、发白；接收直径小于0.5mm的麻点，不允许起泡（用手指可以抠掉），不得有漆膜脱落、分离、变色等明显异常。允许出现可用绒布抹掉的浅灰斑。低纯度合金覆盖层允许轻微变暗，但不允许出现锈蚀、变色等异常。2、附着力达3B（脱落面积515）。3、镜片背面丝印：变色、脱落，只做参考，但是恒定湿热、冷热冲击测试必须pass。4.2.6.3 耐醇性测试：4.2.6.4 测试样品为2套外壳（包括字钮按键）4.2.6.5 测试条件及要求

20、用纯棉布蘸满无水酒精(浓度99.5，包在专用的500g砝码头上(包上棉布后测试头的面积约为1cm2，以40次/分钟60次/分钟的速度，20mm左右的行程，在表面来回擦拭150个循环。4.2.6.6 检验标准a 对于喷涂件要求表面字体或图案内容仍完整且清晰可认；b 对于电镀件要求表面不透底(不露出底材时合格。4.2.6.7 耳机按键打击测试4.2.6.8 测试样品为 2套外壳4.2.6.9 测试条件及要求4.2.6.10 测试周期常用耳机按键为5万次，按键速度为60次/分钟，按键压力为200g。测试中每5千次进行一次功能外观检查。4.2.6.11 检验标准测试完成后键钮的弹性应该良好，耳机通话功

21、能应该正常。4.2.7 按键寿命测试4.2.7.1 测试样品： 2台4.2.7.2 测试条件及要求测试周期常用按键为30万次，非常用按键（侧键）为10万次，按键速度为60次/分钟，按键压力为200g。测试中每5千次进行一次功能外观检查。4.2.7.3 检验标准测试完成后键钮的弹性应该良好，功能应该正常。4.2.8 SIM卡座寿命测试4.2.8.1 测试样品数量为2台4.2.8.2 测试条件及要求按正常使用方法反复插入取出SIM卡1,000次，每100次进行一次开机入网检测。4.2.8.3 检验标准SIM卡接触片和推钮开关应该良好,手机读卡功能使用正常。4.2.9 翻盖/滑盖寿命测试4.2.9.

22、1 测试样品数量为2台4.2.9.2 测试条件及要求4.2.9.3 手机在开机状态下，用手工或者测试夹具进行反复翻盖/滑盖测试10万次，（翻盖角度为140°）每翻5,000次进行一次功能测试，包括显示，声音，外观等方面。4.2.9.4 检验标准实验后翻盖手感应与实验前基本一致。手机外观结构及功能应无异常。4.2.10 充电器/数据线及耳机插拔寿命测试4.2.10.1 测试样品数量为2台4.2.10.2 测试条件及要求a 充电器插拔：插入充电器对手机充电（1台开机，1台关机），直到手机正常显示充电状态时拔出充电器，共3000次；b 耳机/数据线插拔： 开机状态，反复插入拔出耳机2000

23、次，每次插入后至少保持2秒检验标准每500次进行一次功能及结构检查，充电及耳机功能应该正常，I/O接口和焊盘无损坏和松动，插入后无松脱现象（插入后至少能够承受手机本身的重量）。电池/电池盖装配寿命测试 4.2.11 充电器/数据线及耳机摇摆测试 及拉力测试4.2.11.1 测试方法常温条件下将数据线及耳机各2PCS的连接器夹在夹具上，垂直方向在导线上使加500G（耳机线200G）负重，摇摆的角度为-60度到+60度，摇摆测试速度为每分钟30次。共3000次。 将数据线或耳机插入手机，在线的另一端施加1KG的拉力（法码）保持10S。数据线不能与手机USB脱落。4.2.11.2 要求充电器/数据线

24、耳机各要求3000次后不能出现功能不良和外观破裂情况。4.2.12 电池/电池盖装配寿命测试和电池盖拉力测试（1kgff2kgf）4.2.12.1 测试样品数量为 2台4.2.12.2 测试条件及要求4.2.12.3 将电池/电池盖反复拆装1,000次，每500次进行一次开机检测4.2.12.4 检验标准手机及电池卡扣功能正常无变形，电池触片、电池连接器应无下陷、变形及磨损的现象，外观无异常。4.2.13 手写笔插拔寿命测试和手写笔拉伸测试4.2.13.1 测试样品数量为 2台4.2.13.2 测试条件及要求4.2.13.3 将手机处于开机状态，手写笔插在手机插孔内后拔出，反复进行1万次，每5

25、,000次检查手机笔插入拔出结构功能、外壳及笔是否正常。4.2.13.4 检验标准手机笔输入功能应无异常，外观应无损伤。手机笔拉伸测试1万次后能正常拉伸，无损伤。4.2.14 触摸屏点击/划线寿命测试4.2.14.1 测试样品数量为 2台4.2.14.2 测试条件及要求a a 点击测试：将手机设置为开机状态，使用触摸屏测试仪（接触垫 尖端半径为3.75mm，硬度为40deg的硅树脂橡胶）点击LCD的中心位置25万次，点击力度为250g，点击速度为2次/秒；b b 划线测试： 将手机设置为关机状态，在同一位置使用随机附带的手写笔划线10万次，力度为150g，划线速度为60mm/s；4.2.14.

26、3 检验标准触摸屏不能出现电性能不良的现象，表面不能有损伤。4.2.14.4 T-FLASH、SD-MINI卡插拔试验4.2.14.5 测试样品数量为2台4.2.14.6 测试条件及要求4.2.14.7 插上T-FLASH、SD-MINI卡，然后取下T-FLASH、SD-MINI卡，再重新装 上，反复1000次，每插拔100次检查开机是否正常，至700次时每50次检查开机是否正常4.2.14.8 检验标准T-FLASH、SD-MINI卡触片，T-FLASH、SD-MINI卡推扭开关正常，手机功能正常使用4.3 环境应力测试4.3.1 样机数量及其分配测试项目样机数量试验顺序1 高温操作测试2

27、高温储存测试2台根据测试项目的序号顺序进行1 低温操作测试2 低温储存测试2台温度冲击测试2台湿热测试2台4.3.2 高温操作测试4.3.2.1 测试样品数量为 2台4.3.2.2 测试条件及要求4.3.2.3 手机处于待机状态，储存好时间（北京时间）日期.照片.信息.录音.电话号码（电话号码需存在手机里面，不允许存在SIM卡里）；放入温度+55±5环境中4h，再此环境中每隔1h测试其功能；包括呼叫、接听电话，发送、接收信息等及检查手机各项功能是否正常和试验前在手机里所存的东西是否完整，无丢失现象或时间错乱4.3.2.4 检验标准所有功能应该正常。4.3.3 低温操作测试4.3.3.

28、1 测试样品数量为 2台4.3.3.2 测试条件及要求4.3.3.3 手机处于待机状态；储存好时间（北京时间）日期.照片.信息.录音.电话号码（电话号码需存在手机里面，不允许存在SIM卡里）；放入温度-20±5环境中4h，再此环境中每隔1h测试其功能；包括呼叫、接听电话，发送、接收信息等及检查手机各项功能是否正常和试验前在手机里所存的东西是否完整，无丢失现象或时间错乱4.3.3.4 检验标准所有功能应该正常。4.3.4 高温储存测试4.3.4.1 测试样品数量为 2台4.3.4.2 测试条件及要求4.3.4.3 将待测手机（关机状态）放于温度为+72 放置48h，在常温条件下恢复2h

29、后进行功能测试及外观检查，最后进行开壳检查。4.3.4.4 检验标准手机功能应无异常，外观及结构上应无任何不良现象，开壳检查时螺丝柱或其它部件不能有任何开裂现象。对于电池，其外壳应无变形或其变形不会导致电池内部元件暴露出来。4.3.5 低温储存测试4.3.5.1 测试样品数量为 2台4.3.5.2 测试条件及要求4.3.5.3 将待测手机（关机状态）放于温度为-40环境中72h，在常温条件下恢复2h后进行功能测试及外观检查，最后进行开壳检查。4.3.5.4 检验标准手机功能应无异常，外观及结构上应无任何不良现象，开壳检查时螺丝柱或其它部件不能有任何开裂现象。4.3.6 温度冲击测试4.3.6.

30、1 测试样品数量为 2台4.3.6.2 测试条件及要求关机状态，将手机放入温度冲击试验箱内，并设置温度为：高温+70 ，低温-30，每个温度持续30分钟，温度转换时间在15秒内，总共测试32个循环。测试完后在室温条件下恢复1小时，进行功能、外观及开壳检查。4.3.6.3 检验标准手机功能应无异常，外观及结构上应无任何不良现象，开壳检查时螺丝柱或其它部件不能有任何开裂现象；对于电池，其外壳应无变形或其变形不会导致电池内部元件暴露出来。4.3.7 高温高湿测试4.3.7.1 测试样品数量为 2台4.3.7.2 测试条件及要求4.3.7.3 将待测手机（开机状态）储存好时间（北京时间）日期.照片.信息.录音.电话号码（电话号码需存在手机里面，不允许存在SIM卡里）放于温度为50±3湿度为95