电容检验标准

1、电容检验标准文件名称电容检验标准生效日期页码1 of 2使用状态文件编号版本A / 0审核拟定目 的确保本公司电子兀器件-电容品质符合客户要求。范 围适应于电子兀器件-电容进料入库检验。抽样标准MIL-STD-105E 单次 H 级正常检验；CR=0; MA=1.0; MI=2.5。检验环境在正常光源条彳下，距离 30cm远检验，以及适宜的角度检验产品。参照标准1、GB / T2828.1-2003逐批检查计数抽样及抽样表。序 号检验 项目接收标准检验 方法及 工具缺陷描述缺陷等级致命(CR)严重(MA )轻微(MI)1包装包装必须有标识，外标识与实物目视外标识与实物不一致。V包装箱不能用破损

2、、脏污现象。包装箱有破损、脏污现象。V同一个规格型号不能有混料现 象。同一个规格型号混有其它 规格型号。V2外观主体规格，极性丝印清晰可辨认。目视无法辨认。V引脚不能有弯曲成螺旋状、折痕 现象。引脚有弯曲成螺旋状、折痕 现象。V引脚无断裂现象。引脚有断裂现象。V主体划伤、碰痕现象。主体后划伤、碰痕现象。V引脚不能有脱落现象。引脚有松动、脱落现象。V主体不能有封装小良，表向不平现象。主体后封装小良、表向不平。V引脚无发黑氧化、吃锡良好。引脚有氧化、吃锡不良。V电容本体不能有破裂，表面涂覆 层脱落、露芯现象。电容本体破裂，表向涂覆层 脱落、露芯现象。V3结构主体直径、长度、脚径符合设计要求。电容脚

3、长、脚径尺寸正确。卡尺 试装主体直径、长度、脚径不符 合设计要求。V与PCB试装符合要求。不符合要求。V4可焊性炉温在250-270 C状态卜，浸锡时 间：1.53S,观察引脚吃锡率 95% 以上。法锡 试验经浸锡试验后，吃锡不良（吃 锡率小于95%）。V文件名称电容检验标准文件编号页码2 of 2 版本A / 0序 号检验 项目接收标准检验工 具及 方法缺陷描述缺陷等级致命(CR)严重(MA )轻微(MI)5电气 特性电容量：在1KHZ条件下测试， 谷重在规7E偏差范围内。LCR电桥测试 仪不符合要求。V损耗角正切值：在 1KHZ条件下 测试损耗角正切值符合设计要求。不符合要求。V耐压：电容

4、器在室温下承受施加 于引脚间的，其值为2UR（额定电压）， 时间：60S的直流电压，漏电流设定 1mA,无击穿现象。耐压测 试仪后击穿现象。V6高温储 存试验将未通电的电容器放置于烘箱，在100 C ± 5 c状态卜恒温烘烤 96小时，恢复16小时，测试：1）损耗角正切值不大于原规定值2倍；2）容量变化不超过20%电烤箱LCR电 桥测试 仪 漏电流 测试仪不符合要求。V7耐久性将未通电的电容器放置于烘箱，在100c ± 5c状态卜恒温烘烤1000小时，满足：1）损耗角正切值不大于原规定值2倍；2）容量变化不超过30%不符合要求。V8密封和 加热试 验将未通电的电容器放置于烘箱（需分散），在85 c状态卜恒温烘烤1 小时，观察试验期间，电容不得出现 浸渍剂或填充料泄漏现象，电容器也 不得成为开路，试验后重新测试电容 器的容量、损耗角正切值符合原规定 要求。不符合要求。V备注1、本检验标准未尽项目，需检验时可参照行业标准、国标或工程技术文件要求。当检验标准的