上海光源光束线站配置

1、SSRF首批光束线和实验站配置一览表软X射线谱学显微光束线/实验站（BL08U1 A）光源类型和参数椭圆极化波荡器EPU100,周期长度100mm, 4.2 米。样品处同步 辐射光特性能量范围250 - 2000 eV能量分辨3000410eV 15001840eV样品处光通量> 108 (phs/s) 410 eV> 107 (phs/s) 1840 eV样品处光斑尺寸<150nm实验站实验站设备主体STXM显微镜一台快速正比计数管、光电二极管湿样品槽二个（供湿 样品用）工作站一台分析软件：NEXAFS分析软件、元素成分分析软件、三维图像分析。光学显微镜实验方法透射软X射线

2、近边吸收谱分析（NEXAFS谱）、 光谱显微分析一空间、能量三维（x,y,E）扫描 形态 三维显微成像一空间三维（x,y冲）扫描。X射线成像及生物医学应用光束线/实验站（BL13W1）光源类型和参数多极 Wiggler ,1.944T/16poles/14cm。样品处同步 辐射光特性能量范围10-60keV能量分辨< 5X1 O'3样品处光通量921X10 cha/a/mm fSiPOkAV样品处光斑尺寸45mm(HA 5mm(V) 30m20keV实验站实验站设备精密隔振平台、高分辨X射线CCD、多维样品 台、精密导轨、电离室、快门、斩波器等。实验方法同轴相衬成像（IL-PCI

3、）显微CT （MCT）衍射 增强（DEI ）等XAFS光束线/实验站（BL14W1）光源类型和参数多极Wiggler 38极1.2 T,周期长度80mm。能量范围4 22.5 keV能量分辨-42X10Si(111)晶体 10keV样口口处冋步 辐射光特性样品处光通量12>2X0 phs/s (100mA)10keV样品处光斑尺寸2< 0.5 X.5 mm (H XV)实验站实验站设备32元Ge固体探测器、Oxford闭气路谱学电离 室、Lytle荧光电离室、高低温原位设备 (10KT000K)、5维样品平台。实验方法透射XAFS、荧光XAFS、掠入射XAFS、时间分 辨 QXAF

4、S、原位 XAFS。X射线衍射光束线/实验站(BL14B1)光源类型和参数弯铁，电子能量3.5GeV，束流300mA，磁场强度127T,临界能量10.35keV冰平自然发射度3.9 nmrad。样品处同步 辐射光特性能量范围4-22keV能量分辨2X10-410keV样品处光通量2X1011phs/s样品处光斑尺寸(H)0.4mmX(V)0.4mm实验站实验站设备Huber5021型6圆衍射仪及相尖附件、Nal闪烁体探测器、电离室、固体荧光探测器。实验方法粉末衍射(XRD)掠入射衍射/掠入射反常衍射(GID/GIXAD)反射率测 量(XRR)倒易空间二维强度分布测量(RSMs)衍射异常精细结

5、构(D AFS)硬X射线微聚焦光束线/实验站侣L15U1)光源类型和参数真空室内波荡器，周期数80,长度2m。样品处同步 辐射光特性能量范围5-20 keV能量分辨AE/E-2X104样品处光通量106X10 phs/s 10keV, 200mA样品处光斑尺寸< 3»m实验站实验站设备探测器：7元Si （Li）探测器，硅漂移探测器，成 像用X射线CCD,电离室。样品台：7轴高精度电 动扫描台，2维压电陶瓷扫描台。其他：样品对光 显微镜，调光X-CCDo实验方法微束X射线荧光分析（4XRF）：探测样品中微区 元素含量和分布,2维，3维。微束近边X射线吸收精细结构（4XANES）:

6、特 定 的元素在样品中的化学种态。微束X射线衍射、散射（需要借用X射线面探测 器）表面分析实验方法、X射线成像。小角散射光束线/实验站（BL16B1）光源类型和参数弯铁光源，电子能量3.5GeV;自然水平发射度3.9nm.rad;流强 300mA;磁场强度 1.27T。样品处同步 辐射光特性能量范围5-20keV能量分辨< 6.0 为 0-410keV样品处光通量样品处光斑尺寸0.4 为.5mm10keV实验站实验站设备一维广角气体探测器、一维小角气体探测器、成像 板探测器、单色光狭缝、电离室系统、掠入射小角 散射样品台、真空管道及支架系统等。实验方法小角散射同时广角和小角散射掠入射小角散射反常小角散 射生物大分子晶体学光束线/实验站（BL17U1）光源类型和参数真空室内波荡器，周期长度为2.5cm,最小磁隙为6mm。样品处同步 辐射光特性能量范围578 keV能量分辨<2X10-4样品处光通量2X1012phs/s (12keV200mA)样品处光斑尺寸150X50 #m2 (12keV)实验站实验站设备Mar225 CCD 探测器、Mar Dtb 系统、荧光探测器、样品低温冷却装置(CryoStre