研究生高等仪器综合告

1、Department of Chemistry, Tianjin University考试时间：第考试时间：第19周（周（12月月30日）日） 晚上晚上7:00地点：地点：23-306 高等仪器分析化学及实验考试 Department of Chemistry, Tianjin University纳米材料表征的手段：纳米材料表征的手段： 用用XRD表征晶体结构表征晶体结构 用用SEM表征形貌表征形貌, 用用EDX分析组成分析组成(10%误差误差) 用用TEM表征其微结构表征其微结构(是否是单晶是否是单晶,是什么晶形的是什么晶形的,生长取向生长取向?)及形貌及形貌(是否是空心的、核壳结构吗等）

2、是否是空心的、核壳结构吗等） 用用Scanning TEM(STEM) elemental mapping(适用于原子适用于原子序数比较大的材料）和序数比较大的材料）和Electron energy loss spectroscopy (EELS) elemental mapping来进行成份分析来进行成份分析 用用IR光谱来表征材料的表面是否存在有机物光谱来表征材料的表面是否存在有机物 用用BET来表征材料是比面积和进行孔径分析来表征材料是比面积和进行孔径分析1. 对于平整表面上膜粗糙度或厚度的测度可用对于平整表面上膜粗糙度或厚度的测度可用AFM来测试来测试.Department of Ch

3、emistry, Tianjin UniversityXRDUV-visDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversityTEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySTEM elemental mappingLine-scan EDXDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEM, TEM, and STEM elemental mappingDepartment of C

4、hemistry, Tianjin UniversityDOI: 10.1002/anie.201105786 Department of Chemistry, Tianjin UniversityZnS-Amine SheetsSEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversityZnS-Amine SheetsTEMEELS elemental mappingDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEMTEMDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySTEM elemental mappingTEM and SAEDPoint-scan EDXDepartment of Chemistry, Tianjin UniversitySEM看断面，进行厚度分析看断面，进行厚度分析Department of Chemistry, Tianjin UniversityXRDIRDepartment of Chemistry, Tianjin University孔结构及尺寸可控EGBETDepartment of Chemistry, Tianjin UniversityZnSe-DET