外径千分尺校准方法

外径千分尺校准方法文件编号页码第1页共5页修订日期外径千分尺校准方法受控状态：文件编号：修订状态：B0分发号：编制：审核：批准：日期：日期：日期：会签与修订页：会签页:部门签名日期备注会签会签会签会签会签会签修订记录:修订状态修订日期生效日期更改内容修订人1目的为了在公司内部开展校准工作，进行量值传递保证测量准确有效。2适用范围本校准方法适用于分度值为0.01mm,测量上限为500mm的外径千分尺；以及分辨率为0.001mm，0.0001mm，测量上限至500mm的数显外径千分尺的首次校准，后续校准和使用中的检验3依据3.1JJG21-2008千分尺计量检定规程3.2JJF1088-2002外径千分尺(测量范围500mm~3000mm)校准规范4职责4.1计量中心负责外径千分尺校准方法的制定和修订。4.2计量人员负责按照规定进行外径千分尺的校准和作出判定并做好相应记录与标识。5工作程序5.1环境条件5.1.1校准的环境要求：温度：20±4℃；湿度：≤70%5.1.2校准前应将被检仪器及标准检具同时置于平板上让其在平衡温度放置足够长的时间。5.2校准项目5.2.1外观各部分相互作用检查5.2.2示值最大误差校准5.3千分尺的校准方法5.3.1外观用目视的方法检查，千分尺测微螺杆及其校对用的量杆不应有碰伤锈蚀或其它缺陷；微分筒上的刻线应清晰均匀；数显千分尺数字显示应清楚，完整，数字无跳动。各部分相互作用通过手动实验及观察检查各部分配合有无明显松动，微分筒和测微螺杆的移动应平稳无卡滞现象，测力装置应完好等。5.3.2示值最大误差校准方法；用千分尺专用2级量块或相应的专用量块检定，各受检点应均匀分布于测量范围的5个校准点上，各校准点上的最大示值误差均不应超过相应规定。测量上限大于100mm的千分尺，将专用量块依次研合在相当于千分尺测量范围下限的量块上依次进行校准；对于测量上限大于300mm的千分尺在其他计量性能满足要求的情况下可以用专用量块和专用检具只校准测微头的示值误差。5.4判定要求：5.4.1对于测量上限大于300mm的千分尺可只校准测微头示值误差，测微头各点相对于零点的示值最大误差不超过±3umm5.4.2千分尺示值最大允许误差：（表1）测量范围（mm）刻度千分尺最大允许误差（um）数显千分尺最大允许误差（um）0～25，25～50±4±250～75，75～100±5±3100～125，125～150±6±3150～175，175～200±7±4200～225，225～250±9±4250～275，275～300±10±5300～325，325～350±11±6350～375，375～400±12400～425，425～450±13±7450～475，475～500±145.5千分尺平行度要求测量范围（mm）千分尺平行度（um）0～25，25～50250～75，75～1003100～125，125～1504150～175，175～2005200～225，225～2506250～275，275～3007300～325，325～3509350～375，375～40011400～