自动控制原理试验报告（1专业）五个试验

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自动控制原理试验

专业班级姓名学号

试验时间：

2023.10—2023.11

一、试验目的和要求：

通过自动控制原理试验稳固地把握《自动控制原理》课的基本分析方法和试验测试手段。能应用运算放大器建立各种控制系统的数学模型，把握系统校正的常用方法，把握系统性能指标同系统结构和参数之间的基本关系。通过大量试验，提高动手、动脑、理论结合实际的能力，提高从事数据采集与调试的能力，为构建系统打下坚实的基础。

二、试验仪器、设备（软、硬件）及仪器使用说明

自动控制试验系统一套

计算机（已安装虚拟测量软件LABACT）一台椎体连接线18根

典型环节试验

（一）、试验目的：

1、了解相像性原理的基本概念。

2、把握用运算放大器构成各种常用的典型环节的方法。

3、把握各类典型环节的输入和输出时域关系及相应传递函数的表达形式，熟悉各典型环

节的参数（K、T）。

4、学会时域法测量典型环节参数的方法。

（二）、试验内容：

1、用运算放大器构成比例环节、惯性环节、积分环节、比例积分环节、比例微分环节和

比例积分微分环节。2、在阶跃输入信号作用下，记录各环节的输出波形，写出输入输出之间的时域数学关系。3、在运算放大器上实现各环节的参数变化。

（三）、试验要求：

1、细心阅读自动控制试验装置布局图和计算机虚拟测量软件的使用说明书。

2、做好预习，根据试验内容中的原理图及相应参数，写出其传递函数的表达式，并计算

各典型环节的时域输出响应和相应参数（K、T）。3、分别画出各典型环节的理论波形。

5、输入阶跃信号，测量各典型环节的输入和输出波形及相关参数。（四）、试验原理

试验原理及试验设计：

1．比例环节：Ui-Uo的时域响应理论波形：

传递函数：比例系数：时域输出响应：

2

2．惯性环节：Ui-Uo的时域响应理论波形：

传递函数：比例系数：时常数：时域输出响应：

3．积分环节：Ui-Uo的时域响应理论波形：

传递函数：时常数：时域输出响应：

4．比例积分环节：Ui-Uo的时域响应理论波形：

传递函数：比例系数：

3

时常数：时域输出响应：

5．比例微分环节：Ui-Uo的时域响应理论波形：

传递函数：比例系数：时常数：时域输出响应：

6．比例积分微分环节：

传递函数：比例系数：时常数：时域输出响应：

五)、试验方法与步骤

1、根据原理图构造试验电路。

4

Ui-Uo的时域响应理论波形：

(2、测量输入和输出波形图。

3、将所测得的数据填入试验数据表中。

(六)、探讨与思考

1、写出各典型环节的微分方程（建立数学模型）。

2、根据所描述的各典型环节的微分方程，你能否用电学、力学、热力学和机械学等学科

中的知识设计出相应的系统？请举例说明，并画出原理图。

3、利用MATLAB仿真，与试验中实测数据和波形相比较，分析其误差及产生的原因

(七)、记录试验数据和实测波形：名称比例环节R=R1=R=R1=C=C=C=C=C=C=R3=参数K=R/R1=理论值实测值K=Uo/Ui=K=R/R1=K=Uo/Ui=惯性环节R=R1=100kT=R*C=T=R*C=T=R1*C=T=R1*C=T=R1*C=T=R1*C=K=T=Ti=Td=T=T=T=T=T=T=积分环节R1=100K比例积分环节R=R1=200K比例微分环节比例积分微分环节C1=C2=（八）、各典型环节的阶跃响应曲线：

5

（九）、探讨与思考

1、写出各典型环节的微分方程（建立数学模型）。

2、根据所描述的各典型环节的微分方程，你能否用电学、力学、热力学和机械学等学科中的知识设计出相应的系统？请举例说明，并画出原理图。

3、利用MATLAB仿真，与试验中实测数据和波形相比较，分析其误差及产生的原因。

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试验二二阶系统的性能研究

（一）、试验目的：

通过试验加深理解二阶系统的性能指标同系统参数的关系。

（二）、试验内容：

1、二阶系统的时域动态性能研究；

（三）、试验要求：

1、做好预习，根据试验原理图所示相应参数，写出系统的开环，闭环传递函数。计算?、

?n、tr、ts、tp、?%、等理论值，并绘制单位阶跃信号下的输出响应理论波形。

2、自己设计试验参数。

（四）、试验原理：

试验原理及试验设计：

预习内容：(1)二阶系统时域试验参数计算：

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（五）、试验方法与步骤

1、根据原理图构造试验电路。

2、测量时域响应波形和数据。

3、将所测得的数据填入试验数据表中。

（六）、记录试验数据：输入电阻R参数增益K40K2.5自然频率ωn（计算值)阻尼比ξ（计算值)超调量计算值?%测量值上升时间计算值tr测量值峰值时间计算值ξ>1过阻尼ξ=5临界阻尼ξ=1欠阻尼ξ=欠阻尼ξ=0.5欠阻尼ξ=tP测量值调理时间计算值tS测量值（七）、记录试验实测波形：

（八）、思考题：

1、在本试验中，系统能否出现不稳定的状况，此时电阻值R的取值范围？

2、在系统不稳定的状况，你能否通过改变其它元器件参数，使系统变得稳定？改哪些参

数？如何改？请分别列出，并加以分析。

3、利用MATLAB仿真，与试验中实测数据和波形相比较，分析其误差及产生的原因。

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试验三系统时域分析试验

（一）、试验目的：

1、深入把握二阶系统的性能指标同系统闭环极点位置的关系。

2、把握高阶系统性能指标的估算方法及开环零、极点同闭环零、极点的关系。3、能运用根轨迹分析法由开环零极点的位置确定闭环零极点的位置。

（二）、试验内容：

1、运用根轨迹法对控制系统进行分析；明确闭环零、极点的分布和系统阶跃响应的定性关系。

（三）、试验要求：

1、做好预习，根据原理图所示相应参数，计算理论值并绘制根轨图，用试探法确定主导

极点的大致位置。

2、用Routh稳定判据，求出系统稳定、临界稳定和不稳定时的K值范围和R的取值。3、画出输入输出的理论波形(单位阶跃信号作用下)。

（四）、试验原理：

1、根轨迹：当K由0→∞变化时，闭环特征根在S平面上移动的轨迹城根轨迹，不仅直观的表示了K变化时间闭环特征根的变化，还给出了参数时闭环特征根在S平面上分布的影响。可判定系统的稳定性，确定系统的品质。

稳定性：根轨迹若越过虚轴进入s右半平面，与虚轴交点的k即为临界增益。

稳态性能：根据坐标原点的根数，确定系统的型别，同时可以确定对应的静态误差系数。

预习内容：(1)三阶系统时域试验参数计算和根轨迹图：

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（五）、试验方法与步骤

1、根据原理图构造试验电路。

2、测量时域响应波形和相应参数。3、将所测得的数据填入试验数据表中。

（六）、记录试验数据：稳定（衰减振荡）临界稳定（等幅振荡）反馈电容C2反馈电容C3不稳定（发散振荡1u1u2u1u2u2u（七）、记录试验实测波形：

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（八）、思考题：

1、系统的性能指标不理想时，如何改变系统零、极点的位置使系统性能指标得到改善？

在实际中是否可以无限制地改变系统零、极点的位置？请说明理由。

2、在本试验中，系统不稳定的状况下，不增加零点，而是通过改变其它零、极点的位置，能否使系统稳定？假使可以，如何改变？假使不能，为什么？

3、利用MATLAB仿真，与试验中实测数据和波形相比较，分析其误差及产生的原因。4、利用MATLAB绘制根轨迹图。

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试验四二阶系统的性能频域研究

（一）、试验目的：

1、通过试验加深理解二阶系统的性能指标同系统参数的关系。

2、把握系统频率特性测试方法。

3、研究二阶系统频率特性与系统动态性能之间的关系。

（二）、试验内容：

二阶系统的频域动态性能研究；

（三）、试验要求：

1、自己设计试验参数。

2、根据原理图所示相应参数，计算理论值MP、ωp、ωB等理论值，并绘制幅频、相

频和幅相特性图.

（四）、试验原理：

试验原理及试验设计：

预习内容：(1)、二阶系统的频域试验参数计算：

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（五）、试验方法与步骤

1、根据原理图构造试验电路。

2、测量频域伯德图和奈奎斯特图。3、将所测得的数据填入试验数据表中。

（六）、记录试验数据：输入电阻R参数增益K40K2.5自然频率ωn（计算值)阻尼比ξ（计算值)谐振峰值计算值MP测量值谐振频率计算值ξ>1过阻尼ξ=5临界阻尼ξ=1欠阻尼ξ=欠阻尼ξ=0.5欠阻尼ξ=ωp测量值截止频率计算值ωc

测量值（七）、记录试验实测图形：

（八）、思考题：

1、通过试验你有何心得体会，发现了什么问题，有何改进看法？

2、利用MATLAB仿真，与试验中实测数据和波形相比较，分析其误差及产生的原因。3、利用MATLAB绘制波德图。

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校正试验

（一）、试验目的：

1、把握系统校正的两种基本方法的原理。

2、深入理解开环零、极点对闭环系统性能的影响关系。

3、加深理解串联校正（微分、积分、复合校正）和并联校正的特点，学会正确选择校正

装置。

（二）、试验内容：

1、对与一个不稳定系统，分别储存参与导前网络、滞后网络、滞后-导前网络进行校正，

然后比较其优劣性。

（三）、试验要求：

1、做好预习，根据原理图所示相应参数，写出原系统及校正后开环传递函数。2、分析探讨三种串联校正网络使用场合和优缺点。（四）、试验原理：

?R2?R3??1???R4?1、导前网络：G(S)?????R1?1?R4C?S????R2*R3C?S????R2?R3??

??R2*R3????R2?R3??1??C?S????R?R3????22、滞后网络：G(S)?

R1?1?R3C?S??

3、滞后-导前网络：G(s)?K(1?S?2)(1?S?3)

(1?ST1)(1?ST2)?R4R5C2R4?R6其中：K?R2?R3?R5T1?R3C1

T2R1

?2?(R2?R5)R3R2?R3?R5?3?R5C2

（五）、试验方法与步骤：

1、根据原理图构造试验电路

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（六）、探讨与思考

1、比较相角超前校正网络与相角滞后校正网络（从目的、效果、优点、缺点、适用场合、

不适用场合等几方面进行