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宝玉石鉴定仪器教育部职业教育宝玉石鉴定与加工专业教学资源库GemsandJadeIdentificationandProcessingTeachingResourceLibrary贵金属首饰材料XRF法建设者姓名：石振荣前言银饰品一般由银925、银990等银合金加工而成，但由于银比较容易发生氧化或硫化反应而出现发黑发黄的现象，为保持其漂亮的金属光泽，生产厂家常在银饰品上镀上金属覆盖层，如镀金、镍或铑等覆盖层。银合金、合质金中高含量银的定量测定有滴定法和重量法，但均属于样品有损测定方法，且周期较长。使用X射线荧光光谱法进行基体银含量检测和镍覆盖层厚度检测，能够比较快速地判定市售的有镍覆盖层的银饰品总体银含量是否符合规定。工作原理X射线荧光光谱法是利用特制的大功率X射线管产生原级X射线作为激发源照射样品，使样品中各元素被激发而发射相应的特征X射线，收集并测定其波长（或能量）和强度，与已知成分的标准样品相比较，便可以分析测试各元素的含量。特点原级X射线穿透样品较深，照射面积大，分析深度可达1mm，分析面积较大，且样品的平整度要求不严格。因此，与电子探针法比较，XRF法是测定结构复杂、焊点多样的组合饰品中贵金属平均含量较理想的现代检测方法之一。特点具有分析快速、准确、无损的优点，在贵金属饰品的检测应用中具有广泛的应用价值不足由于X射线无法聚焦成像，检测过程中无法了解样品的成分分布特征。对于成分偏析较严重的样品，要注意检测的重复性误差。严格地说，X射线荧光光谱分析法也是一种表面分析方法，对包金层较厚的饰品易产生误判。不足此外，XRF法对于成分复杂、多元素组合而成的K金首饰，因难以配制出一系列合适的标准样品作基体效

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