错牙合畸形的检查和诊断-检查方法及内容（口腔正畸学课件）

x线头影测量分析的标志点

1.颅部标志点蝶鞍点（S）

：蝶鞍影像中心鼻根点（N）

：鼻额缝的最前点耳点（P）

：外耳道之最上点颅底点（Ba）：枕骨大孔前缘之中点Bolton点

：枕骨髁突后切迹的最凹点头影测量标志点2.上颌标志点眶点（O）

：眶下缘之最低点翼上颌裂点（Ptm）：翼上颌裂轮廓之最下点前鼻棘（ANS）

：前鼻棘之尖后鼻棘（PNS）

：硬腭后部骨棘之尖上齿槽座点（A）

：前鼻棘与上齿槽缘点间之骨部最凹点上齿槽缘点（Spr）：上齿槽之最前下点上中切牙点（UI）

：上中切牙切缘之最前点头影测量标志点3.下颌标志点髁顶点（Co）：髁突的最上点关节点（Ar）：颅底下缘与下颌髁突颈后缘之交点下颌角点（Go）：下颌角的后下点下齿槽座点（B）：下齿槽突缘点与颏前点间之骨部最凹点下齿槽缘点（Id）：下中切牙切缘之最前点颏前点（Po）：颏部之最突点颏下点（Me）：颏部之最下点颏顶点（Gn）：颏前点与颏下点之中点D点：下颌体骨性联牙合部之中心点头影测量标志点4.常用软组织侧面标志点额点（G）软组织鼻根点（Ns）眼点（E）鼻下点（Sn）上唇突点（UL）下唇突点（LL）头影测量标志点

特殊检查x线头影测量分析特殊检查-X线头影测量分析

X线头影测量是对X线头颅定位照相的影像进行测量分析，从而了解牙、颌、颅面软硬组织的结构及其相互关系，使对牙、颌、颅面的检查、诊断由表面形态深入到内部的骨骼结构中去。特殊检查-X线头影测量分析

一、X线头影测量的用途（选择）（1）研究颅面生长发育（2）牙颌面畸形的诊断分析（3）确定错(牙合)畸形的矫治设计，确定矫治后牙齿及颌骨能达到的理想位置，从而制定出正确可行的矫治方案（4）研究矫治前、矫治过程中及矫治后的牙、颌、面形态结构变化（5）外科正畸的诊断和设计（6）下颌功能分析特殊检查-X线头影测量分析

（1）研究颅面生长发育

不同个体同一年龄段—横向研究颅面发育。

同一个体各年龄段---纵向研究颅面发育。

明确了颅面生长发育机制，快速生长期的年龄、及对颅面生长发育的预测。特殊检查-X线头影测量分析（2）牙颌面畸形的诊断分析通过X线对正常(牙合)人的颅面结构进行分析得出正常(牙合)的各项测量参考标准畸形个体与畸形者对比作为诊断分析的基础特殊检查-X线头影测量分析（4）研究矫治前、矫治中及矫治后牙颌、颅面的变化（5）外科正畸的诊断和矫治设计通过X线对颅面畸形患者进行分析得出畸形的机制确定手术部位、方法及需要移动或切除的部位应用Ｘ线头影图迹进行剪裁／拼对，模拟手术特殊检查-X线头影测量分析（6）下颌功能分析研究下颌运动，语言发音时的腭功能，以及息止(牙合)间隙等方面的功能分析特殊检查x线头影测量分析法常用x线头影测量分析法

(1)Downs分析法:以眼耳平面为基准平面

1）骨骼间关系的测量：面角、颌凸角、上下牙槽座角、下颌平面角、Y轴角等。

2）牙（牙合）与骨骼间关系的测量内容：（牙合）平面角、上下中切牙角、下中切牙角、下中切牙-下颌平面角、下中切牙-（牙合）平面角、上中切牙凸距等。

（2）Tweed分析法

：眼耳平面-下颌平面角（FMA）下中切牙-眼耳平面角（FMIA）下中切牙-下颌平面角（IMPA）Tweed认为FMIA65度是建立良好面型的重要条件，因此要达到FMIA的矫治目标主要依靠改变下中切牙的位置和倾斜度来完成。常用x线头影测量分析法

常用软组织测量内容

(1）面型角（FCA）：额点-鼻下点连线和鼻下点-软组织颏前点连线的后交角，代表软组织的面型突度。

（2）鼻唇角（NLA）：鼻下点-鼻小柱点连线和鼻下点-上唇突点连线的前交角，代表上唇与鼻底的位置关系

（3）面上部高（UFH）

（4）上唇长（ULL）

（5）下唇长（LLL）

（6）E线：指软组织颏前点（Pos）与鼻尖点的切线，测量上下唇至该线的距离可反映上下唇相对于鼻和软组织颏的平衡情况。

H线：软组织颏前点与上唇相切的线。测量鼻点、鼻唇沟、上下唇、颏唇沟以及颏前点与该线的距离，可反映他们之间的位置关系。

Sn线：软组织颏前点与鼻下点的连线，反映唇部的相对突度。

（7）H角：H线与NB的交角，代表软组织颏部与唇的位置关系。常用软组织测量内容电子计算机化的X线头影测量

是将头影图上所确定的各测量标志点转化为坐标值，电子计算机算出各测量项目的结果并进行统计分析。

X线摄像数值化技术使得对头颅定位片测量分析更简化。特殊检查x线头影测量平面常用X线头影测量平面

基准平面前颅底平面（SN，SNplane）：由蝶鞍点与鼻根点连线组成眼耳平面（FH，Frankforthorizontalplane）Bolton平面：Bolton点与鼻根点连线，用作重叠头影图的基准平面常用X线头影测量平面腭平面（ANS-PNS，palatalplane）：后鼻棘与前鼻棘的连线全颅底平面（Ba－N）：颅底点与鼻根点的连线（牙合）平面（OP，occlusalplane）：一种是以第一恒磨牙的咬（牙合）中点与上下中切牙的中点连线；另一种是自然的或功能（牙合）平面下颌平面（MP，mandibularplane）

通过颏下点与下颌角下缘相切的线

下颌下缘切线

下颌角点、下颌颏顶点连线下颌支平面（RP，ramalplane）：下颌升支及髁突后缘的切线面平面（N-Po，facialplane）：由鼻根点与颏前点之连线组成Y轴角（Y－axis）：蝶鞍中心与颏顶点连线常用X线头影测量平面

（1）上下颌骨常用测量项目SNA角（82.8±4）SNB角（80.1±3.9）ANB角（2.7±3.7）NP-FH（85.4±3.7）面平面－眼耳平面角Y轴角（SGn－FH）：蝶鞍中心与颏顶点连线与眼耳平面相交下下前角NA-PA（颌凸角）：此角反映上颌部分相对于整个侧面的关系。PA线在NA前方时为正值，反之为负值，此角越大，上颌的相对突度越大，反之后缩。MP-FH（下颌平面角）：由下颌平面与眼耳平面连线构成，反映下颌体的陡度及面部高度

常用硬组织测量项目

常用硬组织测量项目

（2）牙、牙（牙合）与骨骼间关系的测量项目1－SN角：上中切牙长轴与Sn平面相交的下内角，反映上切牙对前颅底的相对斜度，此角过大表示上中切牙唇倾，反之为舌倾1—MP角：下中切牙长轴与下颌平面相交之上内角，反映下中切牙对于下颌平面的倾斜度上下中切牙角：此角越小，突度越大常用硬组织测量项目

（3）面部高度的测量项目全面高（N－Me）：从鼻根点至颏下点的距离上面高（N—ANS）：从鼻根点至前鼻棘点的距离下面高（ANS-Me）：从前鼻棘至颏下点的距离上面高与全面高之比：N-ANS/N-Me×100％下面高与全面高之比：Ars-Me/N-Me×100％常用硬组织测量项目面（牙合）照相面（牙合）照相

面像和口内像可较直观地反映出治疗前、中、后的面型和牙（牙合）情况，对于诊断、制定矫治方案、判断疗效都具有重要意义。在临床工作中，照相可以作为病历资料留存，医患、医技交流沟通信息以及医疗纠纷的法律依据。面（牙合）照相

正面像正面微笑像45°像侧面像面（牙合)照相口内像：可以显示牙齿位置、牙体、牙周、牙弓形状及咬合情况。正面牙(牙合)像侧面牙(牙合)像咬(牙合)面像面(牙合)照相

定位像面(牙合)照相

锥形束CT检查面(牙合)照相

与同传统CT相比CBCT的优点（1）成像精度高（2）放射剂量低（3）扫描时间短（4）拍摄伪影少（5）费用相对低（6）使用更简便面(牙合)照相CBCT在口腔正畸学中的应用（1）阻生牙、埋伏牙、额外牙的定位（2）头颅正侧位片和曲面体层片的分析（3）牙体、牙周、牙列重建（4）骨组织重建（5）软组织重建（6）上气道、上颌窦的相关评价（7）颞下颌关节的评价（8）头影测量三维分析系统的建立模型分析特殊检查-模型分析

模型分析（modelanalysis)是口腔正畸临床诊断、制订治疗计划中的一个重要步骤。是从三维角度对记存模型上的牙齿、牙槽骨及基骨的形态和位置关系进行观察、测量、分析和评价的过程

矫治前、中、后所制取的能记录患者牙（牙合）情况的模型，称之为记存模型。记存模型的主要用途

（1）作为研究分析错(牙合)的重要手段（2）帮助确定矫治计划（3）在治疗过程中作对照观察和治疗前后的模型可进行疗效评估（4）司法鉴定的重要法律依据模型分析a.记存模型的准确性

应清晰准确，包括牙、牙弓、基骨、移行皱襞、腭穹及唇颊舌系带等b.记存模型的美观性

整齐、美观、便于存放c.记存模型的标记性

应标记姓名、性别、年龄、制取日期及编号记存模型的制取与修整

（1）模型修整机修整法（2）橡皮托底座成型法牙弓拥挤度测量分析

牙弓应有长度与牙弓现有弧形长度之差或必需间隙与可用间隙之差，即为牙弓的拥挤度。

I度拥挤：相差2-4mmⅡ度拥挤：相差4-8mmⅢ度拥挤：相差8mm以上牙弓应有长度的测量（必需间隙）

测量下颌第一磨牙前牙弓内各个牙的牙冠宽度，其总和为牙弓应有长度或必需间隙牙弓现有长度的测量（可用间隙）

从第一磨牙近中接触点，沿前磨牙（牙合）面、尖牙牙尖经过正常排列的切牙切缘到对侧第一磨牙近中接触点，为牙弓现有弧形长度或可用间隙。（牙合）曲线曲度的测量分析

（牙合）曲线的曲度：直尺放在下切牙的切缘—最后一个磨牙的牙尖，spee曲线的最低点至直尺的距离。

（右侧深度+左侧深度）/2+0.5mm=平整或改正（牙合）曲线所需间隙牙弓对称性的测量分析

腭中缝牙弓长度和宽度的测量分析

牙弓长度的测量牙弓总长度:牙弓前段:牙弓中段:牙弓后段:

尖牙连线第一磨牙近中连线

牙弓宽度的测量前中后三段：两侧尖牙牙尖第一前磨牙中央窝第一磨牙中央窝牙弓长度和宽度的测量分析

牙槽弓长度及宽度的测量分析

上1唇侧牙槽弓最凸点上颌第一磨牙的远中牙槽弓长度第一前磨牙牙槽骨的最凸点牙槽弓宽度基骨弓长度及宽度的测量分析

第一前磨牙颊侧移行皱襞处牙槽骨的最凹点间的距离中切牙唇侧粘膜移行皱襞处牙槽弓最凹点上颌第一磨牙的远中腭穹高度的测量分析

腭穹高度测量尺Bolton指数

Bolton指数分析——全牙比Bolton指数

Bolton指数分析——前牙比排牙试验

恒牙列中一些牙列拥挤的病例，确定是否拔牙矫治有一定困难时，可采用牙排列试验来协助诊断，预测疗效。排牙试验

以上颌牙列拥挤为例，排牙试验的方法及步骤如下：1.在模型上用铅笔划出中线的位置，并在病人的面部正中矢状平面核对中线位置，同时划出上、下颌第一磨牙的咬合线。2.在上颌第一磨牙前各个牙的牙冠唇面用铅笔标出左右侧各牙的序号，并在各个牙颈缘上2-3mm处定点，然后将各点连接成一线。3.沿各牙颈缘上的连线水平向锯开石膏模型，尽量不伤及牙并保留部分牙槽骨且不伤及基骨。4.从左右第一磨牙近中垂直锯入，注意尽量不伤及接触点和牙冠宽度。

排牙试验5.将锯下的前段牙列一个牙一个牙地分开，注意不伤及牙冠宽度，适当地修整各个牙近、远中根部石膏。6.在模型上被锯去牙的区域放置红蜡片，按中线和下牙弓的（牙合）关系将锯下的左、右侧中切牙、侧切牙、尖牙排列好，立即可以看到剩余间隙的大小，以确定是否需要拔除第一前磨牙，能否扩弓矫治并可立即预测疗效。如需拔除第一前磨牙则排好左右侧第二前磨牙，再视余留的间隙量以确定磨牙应向近中移动的量，对设计支抗也有参考作用。

如果下牙弓排列不整齐亦需调整时，应考虑下牙弓调整后的位置再酌情排上颌牙于正确位置上。

头颅定位、头影图描绘X线头影测量分析（一）头颅定位仪

是保证头颅严格定位的一种仪器。它可以使每次拍照时头颅稳定在同一个位置，只有这样每次测量结果才有分析比较的价值。

X线头影测量分析

头颅定位的关键在于：定位仪上左右耳塞与眶点指针，三者构成一与地面平行的恒定平面。X线头影测量分析（二）X线摄像

Ｘ线球管与胶片之间的距离一般不小于150cm，并尽量减小头照物体与胶片之间的距离。X线头影测量分析（三）头影图的描绘X线观片灯手工描绘X线头影测量分析

一般检查

口内及口外检查口内检查

一、牙齿1.（牙合）的发育期：乳牙期、替牙期、恒牙期2.牙齿的排列异常

（1）个别牙错位（2）牙拥挤（3）锁（牙合）、反(牙合)等3.牙齿的数目、形态、大小有无异常4.乳牙、恒牙萌出及替换有无异常5.其他：龋齿、牙周病及口腔卫生情况

Ⅰ度拥挤：拥挤度小于等于4mm.Ⅱ度拥挤：拥挤度4-8mm.Ⅲ度拥挤：拥挤度大于8mm.拥挤度分度二、牙弓1.上下牙弓的前后向（近远中）关系2.上下牙弓的宽度关系3.上下牙弓的垂直向关系4.上下中切牙间的中线关系口内检查上下牙弓前后向（近远中）关系

磨牙关系：中性（牙合）、远中（牙合）、近中（牙合）上下前牙覆盖关系上下前牙间的覆盖关系正常覆盖:不超过3mmI度深覆盖:覆盖为3-5mmII度深覆盖:覆盖为5-8mmIII度深覆盖:覆盖为8mm以上反覆盖反覆盖（牙合）上下牙弓的宽度关系上下牙弓宽度是否协调后牙锁（牙合）后牙反（牙合）上下牙弓的垂直向关系正常覆（牙合）：上前牙牙冠覆盖下前牙不超过1／3深覆（牙合）：I度深覆（牙合）：上前牙牙冠覆盖下前牙超过冠1／3—1／2者II度深覆（牙合）：上前牙牙冠覆盖下前牙超过冠1