支柱绝缘子及瓷套超声波检测作业指导书

NDJ/ZY062-2023I支柱绝缘子及瓷套超声波检测作业指导书NDJ/ZY062-2023目次TOC\o"1-1"\h\z\u16753前言 II239711范围 172503检测条件要求 1246764危险点分析与预防措施（见表5） 2105245检测工作准备事项（见表5） 2183346检测项目与检测方法 2188407检测原始记录/报告格式 727741附录A 8前言为进一步规范现场检测的项目和程序，提高检测的质量，特制定本标准。本标准应作为质量检测中心岗位培训内容。各员工在工作中应认真按作业指导书进行作业。本规定自发布之日起执行。在执行过程中如有问题，请及时反馈给技术部。本指导书由技术部提出。本指导书由质量部归口。本指导书主要起草单位：本指导书主要起草人：本指导书由技术部负责解释。1范围适用于变电站或线路支柱式绝缘子及瓷套的超声波无损检测。2规范性引用文件下列文件对于本指导书的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件，凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。GB/T11345《焊缝无损检测超声检测技术、检测等级和评定》DL/T303-2014《电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测》GB/T29711《焊缝无损检测超声检测焊缝中的显示特征》Q/GDW10407-2018《高压支柱瓷绝缘子现场检测导则》DL/T1424《电网金属技术监督规程》Q/GDW11717《电网设备金属技术监督导则》3检测条件要求3.1人员要求（见表1）表1人员要求序号内容备注1作业人员经年度《电力安全工作规程》考核合格。2作业人员精神状态正常，无妨碍工作的病症。3作业人员具备必要的专业知识，熟悉检测样品、检测设备。4作业人员需经过相关专业培训，取得相关证书，并经确认满足工作开展要求。3.2环境条件要求（见表2）表2环境条件要求序号内容备注1试验环境温度为（20±15）℃。2环境相对湿度要求≤80%。3.3检测设备3.3.1计量仪器与设备（见表3）表3计量仪器及设备要求序号设备名称技术参数要求备注1超声波探伤仪\已进行溯源校准并在有效期内，确认满足工作要求。3.3.2辅助设备（见表4）无4危险点分析与预防措施（见表5）无5检测工作准备事项（见表5）表5检测工作准备事项序号准备内容工作要求1检查作业所需仪器设备、工器具、劳保用品逐项检查，避免遗漏。2合理布置安全措施安全措施完善。3试验前准备工作1.记录环境温湿度和被试品铭牌参数；2.被试品探测表面积灰较多时，应及时擦除和清理。6检测项目与检测方法6.1检测项目与判据（见表6）表6检测项目与判据序号检测项目判定依据1支柱式绝缘子及瓷套的超声波无损检测GB/T11345《焊缝无损检测超声检测技术、检测等级和评定》DL/T303-2014《电网在役支柱瓷绝缘子及瓷套超声波检测》GB/T29711《焊缝无损检测超声检测焊缝中的显示特征》Q/GDW10407-2018《高压支柱瓷绝缘子现场检测导则》DL/T1424《电网金属技术监督规程》Q/GDW11717《电网设备金属技术监督导则》6.2检测方法6.2.1爬波检测6.2.1.1创建文档开机按“第二功能”+“ID”，打开界面，按“→”光标移至创建界面。按“确认”，输入文件名，如HMF，再按“确认”，输入ID前缀，如0，再按“确认”输入“第一ID”，如1。按“确认”光标移至“创建”，再按“确认”，创建完成。按“测量/复位”，回到显示界面。6.2.1.2打开文档按“第二功能”“ID”，按“→”光标移至复查界面。选择文件（刚创建的HMF），按内容“F2”、再按检索“F2”，按“测量/复位”。文件打开。6.2.1.3文档参数选择按“系统菜单”，再按“确认”，读数选择“自动”按“→”光标改成“手动”。按“确认”读数1改成“闸门1当前波幅”；读数2改成“闸门1表面-X值”；读数3改成“闸门1到反射体深度”；读数4改成“闸门1到曲线dB”；单位改成毫米。按“测量/复位”，按“显示设置”到基本功能，按“→”光标移至“脉冲发生器”，选择脉冲回波，按“确认”，调阻尼为200Ω、能量为400V。“接收器”，滤波器设置为标准，1.5～8.5MHz。按“范围”，范围调至2.5～3倍绝缘子直径。6.2.1.4直探头零位和样品声速校准用卡尺测量绝缘子直径，涂抹耦合剂，放上直探头，用一次底面波校准薄度，二次波校准厚度校准后复核一次波和二次波的深度，并记录绝缘子声速。6.2.1.5试块声速及零位调整仪器上“脉冲发生器”选择为双晶，角度调节为85°，将范围调节为60mm。选择合适的双晶爬清欢探头，在JYZ-BXI试块上找到对应弧面，涂抹耦合剂，探头对准试块表面的裂纹，距离裂纹10mm时校准薄度、30mm校准厚度。在距离裂纹20mm处复核。（标块上声速约6700m/s，零位约为8.0）6.2.1.6DAC曲线绘制按“系统菜单”，再按“→”光标移至“DAC/TVG”，再按“确认”，“DAC/TVG”调至ASME。按“测量/复位”，再按“显示设置”到基本功能。制作DAC曲线，探头距离裂纹10mm处作为第一点，该处反射波复制调到80屏高，依次测出距离分别为20mm、30mm、40mm、50mm处裂纹波高，划出曲线，按“F3”，再按“保存”保存DAC曲线。6.2.1.7扫查当样品上声速为6700m/s时，增益为0，每当声速下降100m/s时，应在基准灵敏度上提高增益2db作为扫查灵敏度。探头尽可能向法兰侧前移，保持稳定接触，作周向360°扫查。找到缺陷后记录缺陷最大波幅位置（探头中心对准的位置），缺陷边界位置，缺陷指示长度（6db法），距砂釉交界线距离、周向、轴向位置。工作结束后应对仪器和探头系统复核，包括扫描量程、扫查灵敏度。6.2.1.8缺陷评定对缺陷波幅超过DAC的缺陷，判定为不合格。对缺陷波幅等于或低于DAC高度，且指示长度不小于10mm的缺陷判定为不合格。6.2.2小角度纵波检测6.2.2.1创建文档6.2.2.2打开文档6.2.2.3文档参数选择“脉冲发生器”选择为脉冲回波，脉冲重复频率设为“自动高”，检查“能量”400V、“阻尼”200欧。“接收器”，滤波器设置为标准，即1.5~8.5MHz；“测量设置”-“读数设置”，手动，读数1至4分别选“闸门1当前波幅”，“闸门1表面距离-X值”，“闸门1到反射体深度”，“闸门1到曲线dB”检测范围调节为2.5-3倍绝缘子直径。角度调节为6°6.2.2.4小角度纵波探头零位和样品声速校准用卡尺测量绝缘子直径处用涂抹耦合剂，放上小角度纵波探头，用一次底面波校准薄度，二次波校准厚度。校准后复核一次波和二次波的深度，并记录绝缘子声速。6.2.2.5试块上扫查灵敏度调整选择合适的小角度纵波探头，将范围调节为60mm，在JYZ-BXI试块上找到对应弧面，探头对准试块中深度为40mm的Ф1mm横通孔，找到最大反射波，将波幅调节到80%波高。根据支柱绝缘子直径和40mm的差值调整灵敏度（直径每增大10mm，灵敏度提高2db），当绝缘子声速小于6100时，再提高增益2db。将此时的灵敏度为绝缘子外径上横通孔的灵敏度，将此时增益设为参考增益。6.2.2.6扫查探头面对法兰方向，保持稳定接触，作锯齿状扫查，沿周向360°。找到缺陷后记录缺陷最大波幅位置（探头中心对准的位置），缺陷边界位置，缺陷指示长度（6db法），距砂釉交界线距离，周向轴向位置、缺陷深度。探头面对伞裙方向，保持稳定接触，作锯齿状扫查，沿周向360°。工作结束后应对仪器和探头系统复核，包括扫描量程、扫查灵敏度。找到缺陷反射波最大波高，将其调节到80%波高，记录缺陷同外径上横通孔当量的db值a，记录缺陷深度，再计算外径深度横通孔当量同该缺陷深度下横通孔当量的db差值b，即可得出该缺陷同和缺陷相近波幅横通孔当量的db差值为a+b（a和b可为负值），记录为Ф1+（a+b）db。工作结束后应对仪器和探头系统复核，包括扫描量程、扫查灵敏度。6.2.3缺陷评定单个缺陷大于或等于Ф1mm横通孔当量缺陷，判定为不合格。单个缺陷小于Ф1mm横通孔当量，且指示长度不小于10mm的缺陷判定为不合格。单个缺陷小于Ф1mm横通孔当量，呈现多个（不小于3个）反射波或林状回波反射波的缺陷。6.2.4横波检测6.2.4.1创建文档探头选择5MHz、8mm×10mm、横波折射角350～370双晶横波斜探头。开机按“第二功能”+“ID”，打开界面，按“→”光标移至创建界面。按“确认”，输入文件名，如HMF，再按“确认”，输入ID前缀，如0，再按“确认”输入“第一ID”，如1。按“确认”光标移至“创建”，再按“确认”，创建完成。按“测量/复位”，回到显示界面。“第二功能”“ID”，按“→”光标移至复查界面。选择文件（刚创建的HMF），按内容“F2”、再按检索“F2”，按“测量/复位”，文档打开。6.2.4.2测量探头前沿、声速按“系统菜单”，再按“确认”，读数选择“自动”按“→”光标改成“手动”。按“确认”读数1改成“闸门1水平距离-X”；读数2改成“闸门1反射体深度”；读数3改成“闸门1声程距离”；读数4改成“闸门1当前波幅”；单位改成毫米深度校准。按“测量/复位”，再按“确认”“F2”调声速3140。按两次“确认”调角度为37、调直径为0。按“显示设置”到基本功能，按“→”光标移至“脉冲发生器”，按“确认”调阻尼为400、模式为脉冲回波、能量为400。按“范围”，范围调至100。按“系统菜单”，再按“→”光标移至“DAC/TVG”，再按“确认”，“DAC/TVG”应为关闭。按“测量/复位”，再按“显示设置”到基本功能。用游标卡尺测量瓷套直径，并记录。根据测量的瓷套直径选择合适横波双晶探头（K0.75、5MHz、8mm×10mm双晶片），按“校准”，按“闸门”，闸门应框住峰。按“增益”增益调至50dB左右。找到JYZ-BXII试块深20mmΦ1横通孔，按“F1”校准薄度，深40mmΦ1横通孔继续校准厚度。找到JYZ-BXII试块深20mmΦ1横通孔最高峰，用小刚直尺计算测量X值。深40mmΦ1横通孔校准零位。6.2.4.3扫查灵敏度调整瓷套厚度不大于30mm，将标准试块上深度为20mmΦ1横通孔波高调至80%屏高，增益2dB。瓷套厚度大于30mm，将标准试块上深度40mmΦ1横通孔波高调至80%屏高，增益4dB。6.2.4.4扫查在可移动范围，前后移动，进行周向移动3600扫查。找到缺陷后记录缺陷最大波幅位置，缺陷边界位置，缺陷深度，周向位置、指示长度（6db法），距砂釉交界线距离。工作结束后应对仪器和探头系统复核，包括扫描量程、扫查灵敏度。6.3注意事项测试前应适当清理待测表面，去除待测表面影响检测准确性的表面附着物。对于需在高空或复杂环境等条件下进行检测的，需考虑安全措施和作业条件是否满足检测要求。必要时应获得仪器的说明书或操作规程。6.4判据单个缺陷大于或等于Ф1mm横通孔当量缺陷，判定为不合格。单个缺陷小于Ф1mm横通孔当量，且指示长度不小于10mm的缺陷判定为不合格。单个缺陷小于Ф1mm横通孔当量，呈现多个（不小于3个）反射波或林状回波反射波的缺陷。7检测原始记录/报告格式见附录A。附录A支柱绝缘子及瓷套超声波超声波检测报告工程名称ProjectManufacture部件名称UnitName检验日期Date检验部位Position主体材质Material部件编号UnitNumber公称壁厚NominalThickness探头型号ProbeModel耦合剂CouplingAgent前沿FrontDistance探头K值KValue探头频率Frequency检测等级T