压弯管环向对接接头x射线检测工艺

压弯管环向对接接头x射线检测工艺

辐射检测对特殊设备的质量和使用安全是非常有效的措施。广泛应用于压力设备的匹配连接检测，主要检测试验对象的宏观几何缺陷。按不同特征(如使用的射线种类、记录的器材、工艺和技术特点等)可分为多种不同方法:X射线检测、γ射线检测、种子射线检测等,以确保检出危害缺陷,保证其质量安全。某小径管环向对接接头需进行100%X射线检测,其主要参数为:材质:20根据其参数,采用了以下X射线检测工艺。(1)选用设备:XXG2005型陶瓷管X射线机。(2)按设计技术要求采用AB级射线照相检测。(3)根据要求选择天津Ⅲ型胶片。(4)选用厚度为0.03mm的铅增感屏前后增感。(5)由于是现场检测,因此在检测时应按GB16357的规定,划定控制区、管理区,并设置警告标志。检测人员佩戴个人计量计和计量报警仪。(6)透照方式。小径管环向对接接头选用双壁双影透照方式。(7)透照布置。Φ76×5mm的小径管满足下列两个条件:即可采用倾斜透照方式椭圆成像。椭圆成像时,影像开口宽度(上下焊缝投影最大间距)取10mm。(8)透照次数。因为T/D0=5/76≈0.07≤0.12,所以此管环向对接焊接接头100%检测应相隔90(9)偏心距L根据图,得式中:LF—射线源至胶片的距离Δh—焊缝余高(10)X射线能量。X射线机的管电压根据需要调节,选择X射线能量的首要条件是具有足够的穿透力。在对小径管进行透照时,为了提高底片的宽容度,常采用高电压、短时间的方式进行透照。管电压越高,穿透力越强,衰减系数μ减小,由公式在四张底片同处取黑度值(均为该处的平均值),其中四张底片同为天津Ⅲ型胶片,透照固定条件(曝光时间1min,焦距600mm,管电流5A·m)和暗室处理(药水温度22℃,显影时间5min,停显10s,定影15min)等条件相同,黑度值见表1。由图2和表1可以得出,实际透照时优先选用160kV和170kV电压。四张底片虽都在标准黑度(1.5~4.0)的范围内,但就现有条件相同的情况下,160kV和170kV的底片人眼识别度好于其他两张底片。(11)像质计。(1)选用小径管专用(等径)像质计,金属丝应横跨焊缝位置。(2)像质计置于胶片侧且应至少识别两根金属丝。(12)标记。(1)由于工艺管道要求的识别标记较多,实际透照时小径管上无法摆置,我们采用了自制的专用贴字块。(2)识别标记:工程名称、焊缝编号、部位编号和检测日期等,返修后应有返修标记R1、R2、R3……(13)暗室处理。(1)选择皇冠套药手工冲洗的方法进行处理。(2)显影:时间5min,温度22℃。(3)停显:10s。(4)定影:时间15min,温度22℃。(5)水洗:用流动的清水冲洗30min。(6)干燥:挂在通风的空间自然晾干。在工业射线照相中,为了得到一张质量合格的底片,在选择透照工艺时,应考虑到射线照相质量的影响因素,包括对比度、清晰度以及颗粒度等,现就清晰度做如下的阐述。造成底片影像不清晰的因素有很多,排除试件或射源移动、屏—胶片接触不良等,那么造成射线照相不清晰度的主要是两方面因素,即:由于射源有一定尺寸而引起的几何不清晰度U第一,几何不清晰度U因为X射线管焦点有一定的尺寸,所以透照时工件表面轮廓在底片上的影像边缘会产生一定的半影,此半影即为几何不清晰度U式中:dF—焦点至胶片的距离b—工件表面至胶片的距离由式中可知:(1)焦点越大,几何不清晰度越大;焦点越小,则反之。(2)焦距越大,几何不清晰度越小。由于射线强度与距离平方成反比,如果要保证底片黑度符合JB/T4730.2-2005标准中D=2.0~4.0的要求,即在增大焦距的同时就必须延长曝光时间或提高管电压。延长曝光时间会大大降低工作效率。提高管电压,衰减系数μ、减小,对比度ΔD降低,固有不清晰度U简单的对衰减系数μ和对比度ΔD作如下解释:由ΔD=0.434GμΔT/1+n(其中公式中G—为胶片的梯度,ΔT—缺陷在射线方向上的尺寸,n—散射比)公式得出,若要提高对比度,需选择高梯度的胶片、增大衰减系数以及减小散射比。进行检测时胶片已选定,所以梯度无法改变。射线能量越低,线质越软,衰减系数越大;但能量过低又不能保证有足够的穿透力。减小散射比也可以提高对比度,所以透照时采用有效措施控制和屏蔽散射线:(1)在暗盒后加一块铅板屏蔽背散射射线;(2)使用铅窗口减少照射场的范围;(3)透照尺寸小于胶片的工件时,用薄铅板直接处于射线照射的那部分胶片进行遮蔽;(4)通过修整、打磨工件减小工件厚度差的方法减小散射线,以获得最佳的照相质量。第二,固有不清晰度U固有不清晰度是由照射到胶片上