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德智电子ICT-K568E调试技术技巧一．系统主画面---(如图一所示)(图一)常用快捷键：F1:协助F2:进入组件编辑画面F3:进入IC编辑画面F5:进入测试画面F6:开短路编辑画面F8:多连板编辑画面F9:针点寻找F10:板示画面F11:组件/板示画面F12:系统参数设定画面二．组件编辑画面---(如图二所示)(图二)常用快捷键：F1:协助F2:自动学习F4:退出F5:单步测试F6:整页测试F7:测试值分布图F8:高下点反转F9:找点F10:将测试值拷贝到原则值F11:组件/板示画面F12:删略一行Alt+G:人工寻找隔离点Alt+P:查看组件并联状况Alt+R:设定单步重测Alt+O:杂散电容设定Ctrl+F:填入资料Ctrl+F10:杂散电容自动扣徐Ctrl+F1:新增一行Ctrl+Back:删徐一行Ctrl+Alt+F6:所有测试三．程序设定调试环节1-1:汇入程序---(如图三、四、五)档案---汇入他厂程序---德律TRI---找到程序途径---文献类型选择*.DAT---找到----打开(图三)(图四)1-2:参数设定:1.2.1:系统配置设定---(如图六所示)设定---系统配置---周围参数---声音输出装置---选择PC喇叭或ICT喇叭(图六)1.2.2:测试参数设定:1.2.2.1:待测板参数设定---(如图七所示)设定---测试参数---待测板参数设定---电路板名称---设定目前待测板名称(图七)1.2.2.2:O/S参数设定---(如图八所示)设定---测试参数---O/S参数---起始/络止点数(按点图设定)设定---测试参数---O/S参数---时间延迟设定(如板上电容或电感诸多可加大其时间)(图八)1.2.2.3:测试参数设定---(如图九所示)设定---测试参数---测试参数---选择开/短测试(开短路pass后再放开零件/IC)设定---测试参数---测试参数---压床操作模式---人工操作(调试时为人工,测试时为自动)设定---测试参数---测试参数---不良显示方式---测试本画面(如有板示图可选择板示画面)设定---测试参数---测试参数---选择O/S不良中断---确定(图九)1-3:学习1.3.1:开短路学习---(如图十所示)主画面---学习---迅速/详细开短路学习---学习---保留---按F5进入测试画面---压床上下互换多板测试(出现开路不良请确认针床探针与否接触良好，短路不良则确认学习数据与否对的，可选择详细学习.如待测试板上电容电感较多可将o/s参数内的开短路时间延迟放大,测试时用足够的时间来判断！)---直到每块板都pass.(图十)1.3.2:组件学习与隔离---(如图十一所示)主画面---设定---测试参数---测试参数---选择零件测试---确定主画面---学习---组件学习与隔离---学习---关闭（图十一）注：因受到电路网络及针床等各方面原因影响,组件学成率无法到达100%.故无法学成之环节则须人工调试徐错,以提高测试精确度！1.3.2.1:跳线调试----各檔位阻值—1:0~5奥姆2:5~25奥姆3:25~50奥姆4:50奥姆以上主画面---按F2进入组件编辑---按J模式排序一般设定原则值为2,下限为0,即阻值设定为0~25奥姆.如跳线测到3(25~50欧)则表达针床接触不良.测试值为4时，一般为开路状态。请检查扁平电缆与否插好，针床探针与否老化等等。1.3.2.2:电阻组件调试（模式R）FG:其标五种措施分别为：1：CV-R(定电压测电阻)2：CI-R(定电流测电阻)3：CV-Sync(同步积分定电压)4：CI-Sync(同步积分定电流)5：AC-R（交流法测试）当电阻组件测试不良时，首先确认：实际值、高下点、原则值与否对的。如不正确请将其改正。将原则值清为0---Enter---输入对的的原则值---系统FTS会自动复位调整---将上下限放为1---去掉Fg和所有隔离点---按F2自动学习---如学成则还原上下限---如无法学到则可将FG改为3(CV-R)反复上述环节--电阻与较大电容并联时则可将FG改为5(AC-R)再做F2自动学习。如测试值飘动可按Alt+R设定单步重测或增长delay.1.3.2.3:电容组件调试（模式C）FG:棋标五种措施分别为：1：CI-C(定电流测试电容)2：AC-C(交流法测试电容)电容调试措施与电阻相似只是FG不一样。在调试小电容(PF级)时受到杂散电容的影响，实际测试到的值会比原则值大，这时可将背面的FTS改为543后按Ctrl+F10系统会自动扣徐杂散电容。最终测到真正的电容值。1.3.2.4:二极管/IC组件调试（模式D）先按D模式排序，然后按Ctrl+F将s档位设为6~8檔。将原则值清为0,按F2自动学习---一般测试值在700mv左右---F8反转高下点正反向电压会有较大偏差1.3.2.5:三极管（模式D/TR）三极管测试分为三部即BC、BE、CE。BC/E极测试用D模式。当测CE(三极管饱和压降，可测试CE极插反现象)时将程式编辑至三端元件,高下点为CE两极下针点，原则值为200mv模式改为TR,FG字段输入三极管型号(NPNorPNP),隔离点字段输入B极下针点按F2自动学习。测试值一般在200mv左右。1.3.2.6:电感（模式L）电感测试一般分两部即一部测试电感值，另一部测试其电阻。调试措施同电阻.当电感值不不小于10uh时，提议值F=5T=4S=1.备注：量测值验证法：调整上下一档，其量测值必须相近重测性良好如未符合上项要素，则也许量测到非DUT的值各操作环节均须配合swapP+/P-(F8)来做R--T值≥4或Scale檔位≥6时，必要时加DelayD组件同向并联时须将模式改DR,按F2自么学习，一般正向电阻在200欧左右反向电阻++++.

1.3.3:IC保护二极管学习---(如图十二所示)主画面---设定---测试参数---测试参数---选择IC开路测试---确定主画面---学习---ICD学习---学习---关闭---保留（图十二）注：假如用此措施学习IC,前提是在<组件编辑画面>下的<IC开路>必须有数据.假如没有则须在F3IC编辑画面下输入各＜IC名称，IC脚数，IC下针脚位，电源脚，地脚＞后再学习.学完后系统将自动生成IC测试程序。四．上线测试程序调整pass后，必须做多块板互换测试