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文档简介
便携式近红外光谱仪结构
便携式近红外光谱仪应用一二便携式近红外光谱仪结构便携式近红外光谱仪应用便携式近红外光谱仪被广泛应用在食品、农业、制药、高分子等行业分散的分析现场中。是非常重要的一类快速检测仪器。是近红外光谱仪发展的一个重要方向。便携式近红外光谱仪应用用于分析肉、鱼、蛋、奶及奶制品等食品中脂肪酸、蛋白、氨基酸等的含量,以评定其品质;近红外光谱还用于水果及蔬菜如苹果、梨中糖的分析;在啤酒生产中,近红外光谱被用于在线监测发酵过程中的酒精及糖分含量在食品中的具体应用重大优势在于:快速检测无损检测便携式近红外光谱仪优势手提式光谱仪手持式光谱仪便携式近红外光谱仪种类便携式近红外光谱仪结构便携式近红外光谱仪结构1、光源2、分光系统3、样品池4、探测器5、数据集成处理(包括样品的建模)请看下面的视频,我们可以充分的了解仪器的整体结构:12345便携式近红外光谱仪结构的细微差别便携式近红外光谱仪器的结构区别的依据与被测物体的状态有关,有三种:1、半透明、大颗粒样品2、薄层、稀疏或粉末状样品3、所有样品便携式近红外光谱仪结构的细微差别第一种:属于透射式近红外光谱仪,一般采用滤光片做分光原件,适于半透明、大颗粒样品便携式近红外光谱仪结构的细微差别第二种:漫反射式近红外光谱仪,一般采用光栅做分光原件,适于薄层、稀疏或粉末状样品便携式近红外光谱仪结构的细微差别第三种:半反半透式近红外光谱仪,一般采用傅里叶变换型做分光原件结合前两种的优点,普适性好适于所有样品近红外光谱技术特征近红外光谱谱线特征一二近红外光谱的分光原理比较
近红外光谱与化学计量学结合原理三一、近红外光谱谱线特征原子核转变电磁转动分子转动分子振动外层电子的跃迁内层电子的跃迁-射线X–射线紫外可见近红外中红外远红外电子自旋振动核磁振动红外微波Radio,TV无线电波InteractionRegion12,800cm-1(780nm)3,960cm-1(2,526nm)
1cm=107nmnm=107/cm-1
cm-1=107/nm...800nm1cm(12500cm-1)
波长度量单位:纳米nm与波数cm-1一、近红外光谱谱线特征辐射光的能量与振动跃迁能量相同时,辐射光被物质分子吸收。能量接近Ev近红外光能量引起分子振动能级的变化,又称振动光谱。E=Et+Ev+Er+Ee分子能量平动振动转动电子运动振动吸收光谱的理论一、近红外光谱谱线特征E0=基态E1E2基频一倍频二倍频EnergylevelsEnergyHE3OInter-nucleardistance△E=hυ,h:为普朗克常数主要是含氢基团的信息一、近红外光谱谱线特征近红外光谱产生原理物质在近红外谱区的吸收主要包括以下基团基频振动的合频和倍频振动吸收
C-H,N-H,O-H,S-H,C=O,C=C一、近红外光谱谱线特征近红外光谱6种振动方式对称伸缩振动---非对称伸缩振动---摇摆振动---摇摆振动---弯曲振动---剪切振动
一、近红外光谱谱线特征近红外光谱与物质的作用形式吸收全反射漫(反)射散射scatteringtransmittanceDiffusereflectanceabsorptionspeculareflectance(1)真溶液、乳浊液应用透射分析测定法;(2)乳浊液应用漫透射分析测定法(3)固体、半固体应用漫透射分析测定法
二、近红外光谱的分光原理比较3种分光方式
NIR分光方式色散型阵列检测器滤光片光栅AOTF偏振干涉迈克尔逊干涉仪立体角镜
傅立叶变换
反射镜干涉Mems1.滤光片型2.光栅扫描型3.傅里叶型二、近红外光谱的分光原理比较1、滤光片型优点:制造成本低,推广面大;体积小,可以便携。缺点:滤光片的带宽较宽(一般10nm)。滤光片透光的光谱中心点难以保证。同一波长滤光片的带宽和透过率难以保证一致。信息量少,只能作为专用仪器。得到的不是连续光谱,不能对光谱进行预处理(如平滑、求导等)。二、近红外光谱的分光原理比较3、光栅扫描型1优点:结构不复杂,容易制造。连续光谱仪,可以作为研究级仪器。缺点:使用单色器,狭缝的限制使其分辨率和灵敏度不够高。波长准确度使用外部校准,加之分辨率低,波长准确度差(最好为+/-0.2nm)。使用单色器对光路要求严格,仪器扩展能力受到很大的限制。自然界的杂散光会影响测试结果。由于分光需光栅转动,扫描速度慢。二、近红外光谱的分光原理比较2、光栅扫描型2
--------阵列检测器型优点:无移动光学部件,易实现小型化。扫描速度快,适合现场分析。缺点:分辨率较低。一致性比光栅扫描型更难保证。受杂散光影响。二、近红外光谱的分光原理比较3、傅里叶变换型优点:无移动光学部件,易实现小型化。扫描速度快,适合现场分析。缺点:分辨率较低。一致性比光栅扫描型更难保证。受杂散光影响。狭缝光阑物理意义是当一束平行单色光垂直通过某一均匀非散射的吸光物质时,其吸光度A与吸光物质的浓度c及吸收层厚度b成正比,而透光度T与c、b成反比比尔-朗伯定律数学表达式A=lg(1/T)=KbcA为吸光度,T为透射比(透光度),是出射光强度(I)比入射光强度(I0).K为摩尔吸收系数.它与吸收物质的性质及入射光的波长λ有关.c为吸光物质的浓度,b为吸收层厚度.【b也常用L替换,含义一致】三、近红外光谱与化学计量学结合原理朗伯比尔定律I0ILight-SourceDetectorSample统计学和统计方法;分析信息理论;采样;试验优化与设计;分析校正理论;分析信号检测和分析信号处理;化学模式识别;图像分析;构效关系研究;人工智能和专家系统;人工神经元网络与自适应化学模式识别;库检索等三、近红外光谱与化学计量学结合原理化学计量种类
近红外光谱技术原理概述一基本原理二IR与分子结构的关系三目录页红外光谱概述一1.红外光谱区域的划分2.红外分光光度法定义3.红外光谱与有机化合物结构近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分200nm 400nm 780nm 1000mm近紫外可见红外0.78mm2.5mm50mm1000mm中红外区远红外区近红外区近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分红外波段的划分波段波长(
m)波数(cm-1)对应能级近红外0.75-
2.513000-
4000弱电子跃迁中红外2.5-
504000-
200分子振动远红外50-
1000200-
10分子转动
常用2.5-
254000-
400分子振动、转动近红外光谱技术原理红外分光光度法定义红外分光光度法:利用物质的分子对红外辐射的吸收,并由其振动或转动引起分子偶极矩的变化,产生分子的振动能级和转动能级从基态到激发态的跃迁,所产生的吸收光谱。又称分子振动-转动光谱。傅里叶红外光谱仪近红外光谱技术原理红外光谱与有机化合物结构红外光谱图:纵坐标为吸收强度,横坐标为波长λ(
m)和波数1/λ
(cm-1)应用:有机化合物的结构解析。定性:基团的特征吸收频率;定量:特征峰的强度。可以用峰数,峰位,峰形,峰强来描述。红外光谱基本原理二1.红外光谱产生条件2.红外光谱产生的基本原理3.分子中基团的基本振动形式4.红外吸收频率类型近红外光谱技术原理红外光谱产生条件1.辐射能量与振动跃迁所需的能量相等
2.产生偶极矩的变化
A:对称分子:没有偶极矩,辐射不能引起共振,无红外活性。如:N2、O2、Cl2等B:非对称分子:有偶极矩,红外活性。如HCL、H2O等Δµ
≠0偶极子在交变电场
中的作用示意图近红外光谱技术原理红外光谱产生的基本原理分子中基团的振动和转动能级跃迁产生:振-转光谱红外辐射振-转能级跃迁红外光谱官能团分子结构近红外光谱技术原理红外光谱产生的基本原理1、分子振动和振动光谱(1)红外光谱主要由分子的振动能级跃迁产生(2)分子的振动能级差远大于转动能级差(3)分子发生振动能级跃迁必然同时伴随转动能级跃迁谐振子振动示意图近红外光谱技术原理红外光谱产生的基本原理2.振动光谱双原子分子的振动类似于连接两个小球的弹簧双原子分子A-B近似看作谐振子两原子间的伸缩振动近似看作简谐振动谐振子振动示意图近红外光谱技术原理分子中基团的基本振动形式1.两类基本振动形式伸缩振动亚甲基:变形振动亚甲基:近红外光谱技术原理分子中基团的基本振动形式甲基伸缩振动:甲基变形振动:
对称不对称δs(CH3)1380㎝-1
δas(CH3)1460㎝-1对称不对称υs(CH3)
υas(CH3)2870㎝-1
2960㎝-12.甲基的振动形式近红外光谱技术原理红外吸收频率类型1.基频
0→1振动能级的跃迁v
0→1
,跃迁几率最大,吸收峰的强度最强。一般特征峰都是基频吸收。2.倍频(又称泛频)
0→2、3、4….振动能级的跃迁v
0→2、v
0→3
、v
0→4
,所产生的吸收峰。振动的非谐性,则能级间隔非等距,故倍频不是基频波数的整数倍,而是略小些。近红外光谱技术原理红外吸收频率类型3.振动的组频:
两种振动能级跃迁之和
v
1n1→n2+v
2n1→n2IR与分子结构的关系三1.红外吸收峰强度2.红外吸收峰强度的影响因素3.特征区和指纹区4.红外光谱区域的划分近红外光谱技术原理红外吸收峰强度
红外光谱吸收峰强度划分摩尔吸光系数峰强度ε~200非常强(vs)75<ε<200强(s)25<ε<75中强(m)5<ε<25弱(w)0<ε<5极弱(vw)近红外光谱技术原理红外吸收峰强度的影响因素1.振动能级的跃迁几率基频>倍频,因此基频的吸收峰强度比倍频强。2.振动能级跃迁时,偶极矩的变化吸收峰强度:反对称伸缩振动>对称伸缩振动>变形振动
近红外光谱技术原理特征区和指纹区官能团区
4000~1300cm-1X-H伸缩振动区
4000~2500cm-1三键和积累双键区
2500~1900cm-1双键伸缩振动区
1900~1300cm-1指纹区1300~400cm-1C-X(X:O、N、F、P、S)、P-O、Si-O伸缩振动区
1300~900cm-1-CH2平面摇摆、苯环取代、-C-H面外变形振动区
900~400cm-1近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分
近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分
近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分
乙醇在四氯化碳中不同浓度的IR图0.01M0.1M0.25M1.0M3515cm-13640cm-13350cm-12950cm-12895cm-1近红外光谱技术原理红外光谱区域的划分常见基团的红外吸收带特征区指纹区500100015002000250030003500C-H,N-H,O-HN-HCNC=NS-HP-HN-ON-NC-FC-XO-HO-H(氢键)C=OC-C,C-N,C-O=C-HC-HCCC=C拉曼光谱分析原理
1、拉曼光谱定义
2、拉曼光谱分析原理拉曼光谱定义拉曼光谱定义
拉曼光谱,是一种散射光谱。光散射的过程:光入射到样品,产生散射光。
散射光有两种:弹性散射(频率不发生改变-瑞利散射)非弹性散射(频率发生改变-拉曼散射)
拉曼散射形成的光谱成为拉曼光谱入射光
laser
scatter>
laser瑞利散射
scatter=laser拉曼散射透明介质拉曼光谱分析原理拉曼光谱分析原理
拉曼光谱分析法是基于印度科学家拉曼(Raman)所发现的拉曼散射效应,对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息,并应用于分子结构研究的一种分析方法。
印度科学家拉曼(Raman)拉曼光谱分析原理以上原理中拉曼散射效应、物质分子振动、转动的情况分析是学习的关键要素。因此弄清楚拉曼光谱分析的原理必须要看懂以下两个问题激发光与分子的作用首先引起的极化可以看作为虚的吸收,表述为电子跃迁的虚态,虚能级上的电子立即跃迁到下能级而发光问题一:拉曼光谱发光的原因?拉曼光谱能引起物质中分子振动,在振动中分子一般产生诱导偶极距
(=E,--分子极化率),拉曼活性都是根据极化率是否改变来判断的,一般非极性基团,对称分子产生的振动拉曼都产生拉曼活性。通常根据拉曼活性谱图位置,数量等信息可判断被测物质的种类。
问题二:如何利用拉曼光谱来分析物质的分子结构?Eeer分子振动偶极矩手持X射线荧光光谱仪结构与原理1、手持X射线荧光光谱仪结构
2、手持X射线荧光光谱仪运行原理
利用初级X射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子,使之产生荧光(次级X射线)而快速进行物质成分分析和化学态研究的仪器。X射线荧光分析仪分为X射线荧光光谱仪(波长色散)和X射线荧光能谱仪(能量色散)什么是X射线荧光仪?
光谱仪
能谱仪手持X射线荧光光谱仪结构手持X射线荧光光谱仪结构外部结构内部结构外部结构如下部件组成:外部结构1、仪器电源开关按钮2、指示灯3、操作界面4、测试窗口5、手动测试按钮6、USB接口7、电池1内部结构主要有如下部件组成:内部结构1、激发系统(X射线管)2、分光系统(分光晶体)3、探测系统(计数器)4、数据处理系统(仪器软件)1仪器中的四大部件协同运行完成X射线荧光光谱仪的运行过程1243手持X射线荧光光谱仪运行原理仪器运行原理:X射线管
1通过产生入射X射线2(一次X射线),来激发被测样品3。受激发的样品中的每种元素都会放射出二次X射线(又叫X荧光)4,这些二次X射线经过分光晶体
5,将不同元素的二次X射线分开,这些不同的元素所放射出的二次X射线6具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量7这些放射出来的二次X射线的能量、数量或波长。然后,仪器软件8将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量,并显示9。132789手持X射线荧光光谱仪运行原理465其中X射线管、分光晶体及计数器作用原理很重要,分别如下手持X射线荧光光谱仪运行原理分光晶体X射线管计数器
灯丝1和靶极2密封在抽成真空的金属罩内(绿色)3
,灯丝和靶极之间加高压(黄色)
4(一般为40KV),灯丝发射的电子经高压电场加速撞击在靶极上,靶极产生一次X射线5。一次X射线
透过铍窗入射到样品7上,激发出样品产生二次X射线(也指X荧光).
正常工作时,X射线管所消耗功率的0.2%左右转变为X射线辐射,其余均变为热能使X射线管升温,因此必须不断的通冷却水9冷却靶极。X光电管如何产生一次X射线,使其激发样品产生二次X射线(也叫做X荧光)的呢?912765分光系统的主要部件是晶体分光器,也叫色散晶体。其具体运行原理为:样品1产生的二次X射线2首先经过狭缝3,形成平行光4,平行光通过晶体分光器5,晶体分光器通过晶体衍射现象6,并根据布拉格衍射定律62dsinθ=nλ,将二次X射线中的不同X射线7清晰的分开。晶体分光器将二次X射线中不同元素的特征X射线分开的原理1123564777检测器(计数器)有两种流气正比计数器闪烁计数器流气正比计数器如何记录各元素特征X射线能量?
流气正比计数器主要由金属圆筒负极1和芯线正极2组成,筒内充氩(90%)和甲烷(10%)的混合气体3,X射线4射入管内,使Ar原子电离,生成的Ar+5在向阴极运动时,又引起其它Ar原子电离,雪崩式电离的结果,产生一脉冲信号,脉冲幅度与X射线能量成正比。所以这种计数器叫正比计数器,为了保证计数器内所充气体浓度不变,气体一直是保持流动状态的6。流气正比计数器适用于轻元素的检测。143256闪烁计数器由闪烁晶体1和光电倍增管2组成。X射线射3到晶体后可产生光,再由光电倍增管2放大,得到脉冲信号。闪烁计数器适用于重元素的检测。闪烁计数器如何记录各元素特征X射线能量?12134X射线荧光光谱技术X射线荧光光谱法介绍一X-射线荧光光谱仪类型二X射线荧光光谱仪制样方法三目录页X射线荧光光谱法介绍一1.X射线荧光光谱法简介2.X射线荧光光谱法理论基础X射线荧光光谱技术X射线荧光光谱法简介X射线荧光分析是确定物质中微量元素的种类和含量的一种方法,又称X射线次级发射光谱分析,是利用原级X射线光子或其它微观粒子激发待测物质中的原子,使之产生次级的特征X射线(X光荧光)而进行物质成分分析和化学态研究。1948年由H.费里德曼(H.Friedmann)和L.S.伯克斯(L.S.Birks)制成第一台波长色散X射线荧光分析仪,至60年代本法在分析领域的地位得以确立。X射线荧光光谱技术X射线荧光光谱法简介X射线荧光光谱法是利用样品对x射线的吸收随样品中的成分及其众寡变化而变化来定性或定量测定样品中成分的一种方法。它具有分析迅速、样品前处理简单、可分析元素范围广、谱线简单,光谱干扰少等优点。x射线荧光法不仅可以分析块状样品,还可对多层镀膜的各层镀膜分别进行成分和膜厚的分析。质子激发X荧光原理图X射线荧光光谱技术X射线荧光光谱法理论基础每一种化学元素的原子,都有其特定的能级结构,其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行,内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,成为自由电子,我们说原子被激发了,处于激发态,这时,其他的外层电子便会填补这一空位,即所谓跃迁,同时以发出X射线的形式放出能量。X荧光光谱产生原理图由于每一种元素的原子能级结构都是特定的,它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的,称之为特征X射线。通过测定特征X射线的能量,便可以确定相应元素的存在,而特征X射线的强弱(或者说X射线光子的多少)则代表该元素的含量。
X-射线荧光光谱仪类型二1.波长色散型X射线荧光光谱仪2.能量色散型X射线荧光光谱仪3.X射线荧光光谱的定性和定量分析X射线荧光光谱技术X-射线荧光光谱仪的类型X射线荧光光谱技术X-射线荧光光谱仪的类型波长色散型(WDXRF):指使用晶体分光的波长色散型光谱仪,效率较低,一般采用大功率光管激发。用于高精度高灵敏度定量分析。能量色散型(EDXRF):以带有半导体探测器和多道脉冲高度分析器为特征的X射线荧光光谱仪,探测效率高,一般采用放射源或小功率光管激发(几瓦到几十瓦)。用于执行快速定性分析和低水平定量分析。X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪由X光管、滤波片、样品杯、分光晶体、探测器、多道分析器计数电路和计算机组成。X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪波长色散型谱仪原理图X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪(1)X射线光管(X-rayTube)端窗型光管:阳极靶接正高压,灯丝阴极接地。内循环冷却水使用去离子水。综合考虑激发效率,杂质线,背景及更换X射线光管所需要的时间等因素,本仪器选用Rh(铑)靶。Rh靶的窗口由75um厚的铍(Be)制成,这有利于Rh的L系特征线的传播,对低原子数元素的特征线激发很重要。X射线管X射线荧光光谱技术X射线荧光光谱法简介(1)X射线光管(X-rayTube)示意图一次x射线发生系统X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪(2)滤波片(TubeFilters)位置:位于X光管与样品之间。作用:利用金属滤波片的吸收特性减少靶物质的特征X射线、杂质线和背景对分析谱线的干扰,降低很强谱线的强度。仪器配有4块滤波片200umAl测定能量范围在6-10keV内的谱线,降低背景和检测限。750umAl测定能量范围在10-20keV内的谱线,降低背景和检测限。300umCu削弱Rh的K系线,用于能量在20keV以上的谱线测定。1000umPb在停机状态时使用,保护光管免受粉尘污染,还可避免检测器的消耗。X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪(3)样品杯(Samplecup)
照射在单位面积试样上X射线的强度(I)与离开X光管焦斑距离(R)的平方成反比。因此放置样品杯时位置的重现性相当重要。
I=K/R2扫描式装置原理图X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪(4)准直器(Collimators)
准直器由一组薄片组成,目的是使从样品发出的X射线以平行光束的形式照射到晶体。薄片之间的距离越小,越容易形成平行光,产生的谱线峰形也更锐利,更容易与附近的谱线区分。薄片间距分辨率
灵敏度
分析元素范围
150um高低重元素U–K300um中等中等重元素U–K700um低高轻元素Cl–F4000um很低很高轻元素Be,B,C,N准直器以薄片间距来分类
X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪(5)分光晶体(Crystal)有8个供选择的晶体可覆盖所有波长,分布在一个滚筒周围。分光晶体的作用是通过衍射将从样品发出的荧光按不同的波段分离,根据的原理是布拉格方程。晶面间距d值不同,可供选择的晶体很多,仪器中选用5块晶体。晶体的选择决定可测定的波长范围,即可测定的元素。X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪(6)检测器(Detector)检测器是X荧光光谱仪中用来测定X射线信号的装置,它的作用是将X射线荧光光量子转变为一定数量的电脉冲,表征X射线荧光的能量和强度。检测器的工作原理:入射X射线的能量和输出脉冲的大小之间有正比关系,利用这个正比关系进行脉冲高度分析。正比计数器(充气型)
工作气:Ar;抑制气:甲烷利用X射线使气体电离的作用,辐射能转化电离能X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪(7)记录显示记录显示:放大器、脉冲高度分析器、显示;三种检测器给出脉冲信号;脉冲高度分析器:分离次级衍射线,杂质线,散射线X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪波长色散型X射线荧光光谱仪扫描图
分光晶体与检测器同步转动进行扫描X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪SampleSiO2TiO2Al2O3Fe2O3MnOCaOMgONa2OK2OBaOXM-1-Y62.140.6416.495.070.040.274.634.550.370.02SM-2-Y61.630.2616.702.590.013.355.280.360.910.01XM-1-T62.640.5318.274.640.020.144.693.110.220.01SM-2-T60.580.2317.952.740.013.145.480.010.700.01XRF定量分析结果(%)X射线荧光光谱技术波长色散型X射线荧光光谱仪波长色散光谱仪的特点(1)用单晶体或多层薄膜分光,使多色光谱色散成单色谱线;使所选波长进入探测系统中经光电转换和二次分光,获得高分辨率;(2)在4<Z<92(Be–U)范围内所有元素的光谱均具有很高的分辨率;(3)定性与定量分析的精度和灵敏度高;(4)高能端(Ag/Sn/SbK系光谱),分辨率不如能量色散。波长色散型X射线荧光光谱仪X射线荧光光谱技术能量色散型X射线荧光光谱仪采用半导体检测器;多道脉冲分析器(1000多道);直接测试试样产生的X射线能量无分光系统,仪器紧凑无高次衍射干扰同时测定多种元素适合现场快速分析检测器在低温(液氮)下保存使用,连续光谱构成的背景较大X射线荧光光谱技术能量色散型X射线荧光光谱仪EDXRF由:X光管(激发源)、探测器、测量电路及计算机组成,其中探测器起色散和光电转换双重作用X射线荧光光谱技术能量色散型X射线荧光光谱仪能量色散光谱仪的特点(1)用Si(Li)探测器同时测量和显示所有元素的光谱,适用于Na(11)~U(92)范围元素的快速定性定量分析;(2)用探测器的正比特性直接进行光谱分光,不需要使用分光晶体,仪器造价低,价格便宜。(3)激发的荧光强度低,所有元素的最大计数率不超过20000计数/秒,仪器灵敏度差;(4)高能端(Ag/Sn/SbK系光谱),分辨率优于波长色散;中能端(Fe/Mn/CrK系光谱),分辨率相同;低能端(Na/Mg/Al/SiK系光谱)分辨率不如波长散射。能量色散x荧光光谱仪X射线荧光光谱技术能量色散型X射线荧光光谱仪探测器样品X光管放大器和多道分析器
X射线荧光光谱技术能量色散型X射线荧光光谱仪能量色散型X射线荧光光谱图X射线荧光光谱技术X射线荧光光谱图WDXRFEDXRFPolarizedEDXRFDirectexcitationSecondaryexcitationP1P2P3P4P1P2P3P1P2P3P4B1B2B3B4BBI
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