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文档简介

压电陶瓷晶片检查基准书（ISO9001-2015/IATF16949）1.0目的：规范压电陶瓷晶片的检验标准，确保检验工作有充分依据。2.0范围此标准适用于压电陶瓷晶片检验，其中斜体字部分，因当前测试设备所限，暂不强制要求检验。3.0职责质量控制部依据本检验标准进行压电陶瓷晶片检验。4.0定义4.1缺陷类别分为：严重缺陷缺陷（CR）、主要缺陷（MA）和次要缺陷（MI）；4.2严重缺陷（CR）:不符合安全规范或可能对使用者、维护者造成人身危害的缺陷；4.3主要缺陷（MA）：关键质量特性不合格，影响生产并可能导致故障或降低产品性能的缺陷；4.4次要缺陷（MI）：—般质量特性不合格，但不影响使用功能及性能的缺陷。5.0检验条件5.1光照度：300-400LX（相当于40W日光灯500mm~600mm距离的光源）检验距离：550mm-650mm检验人员视力要求在0.8以上6.0检验标准检验项目检验方法检测工具、设备检验内容与缺陷描述缺陷判定ABC包装目检1.包装箱：破损、混装B外观检杳目检1.银层表面:均匀、不平整、不光滑、破损、翘曲；B结构尺寸卡尺测量卡尺1•尺寸：直径、厚度不符要求；A性能参数1.30W铬铁焊接上锡30W电烙铁可焊性：不符合要求A2.在银层中心焊根导线，线另一的端吊200g的法码，银层不脱落。200g的法码银层附着可靠性：银层吊200g法码后，银层脱落；A3.电桥测量静态容量CPLCR电桥静态容量CP:超出偏差范围内：B4.放进烤箱120C进行烘烤烤箱高温试验：4H高温试验后表面有破裂、裂纹的；A5.实际装配实配：不符合样品要求Aujujiu»55bop«con\P好好学习天天庇上备注：1、尺寸、外观、结构以本公司品质部样品为准2、高温试验后注意做好放电措施；3、常用振动片规格如下表：尺寸(mm)厚度(mm)静态容量CP(pF)应用机型尺寸(mm)厚度(mm)静态容量CP(pF)应用机型2816000±10%SY-0897.0抽样方案与判定标准外观检验抽样方案按GB/T2828.1-2013标准，正常检验一次抽样方案，一般检验水平II,AQL:致命缺陷(CR)=0重缺陷(MA)=0.65轻缺陷(MI)=1.5。ujujiu»55bop«con\ujujiu»55bop«con\P好好学习天天庇上尺寸及其他特性测试5-10PCS,0收1退。取样方式：采取分散取样方式，5箱以内，

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