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文档简介
核辐射测量智慧树知到课后章节答案2023年下烟台大学烟台大学
第一章测试
韧致辐射损失和把材料的原子序数成什么关系()。
A:与原子序数呈正比B:与原子序数平方呈反比C:与原子序数平方呈正比D:与原子序数虽反比
答案:与原子序数平方呈正比
—定能量的带电粒子在它向所能穿透的物质中走过的距离叫在该物质中的()。
A:平均射程B:平均路程C:最大路程D:最大射程
答案:最大射程
伽马射线通过物质时,主要有三种作用过程()。
A:光电效应、电子对效应、泊松效应B:光电效应、电子对效应、康普顿效应C:泊松效应、康普顿效应、光电效应D:光电效应、泊松效应、电子对效应
答案:光电效应、电子对效应、康普顿效应
电离损失对贝塔射线不重要。()
A:错B:对
答案:错
材料的密度越高,反散射越严重。()
A:对B:错
答案:对
康普顿散射形成的谱是连续谱。()
A:错B:对
答案:对
湮没辐射的伽马射线能量是0.511MEV。()
A:对B:错
答案:对
第二章测试
英国的工业革命所进行的时间是()。
A:18世纪60年代到18世纪末B:18世纪30年代到18世纪末C:18世纪60年代到19世纪上半期D:18世纪70年代到19世纪中期
答案:18世纪60年代到19世纪上半期
制约情绪的因素主要有()。
A:外部事件B:认知过程C:生理状态D:情绪的生理基础
答案:外部事件;认知过程;生理状态
射线在气体总电离产生的电子-离子对数,服从什么分布()。
A:高斯分布B:二项式分布C:泊松分布D:法诺分布
答案:法诺分布
气体探测器中,一定能量的入射离子产生的电子离子对数和能量成什么比例()。
A:正比B:反比C:无关
答案:正比
下列不能工作于脉冲工作状态的是()。
A:电离室B:G-M计数管C:屏栅电离室D:正比计数器
答案:G-M计数管
下列哪些仪器属于气体探测器()。
A:电离室B:屏栅电离室C:G-M计数管D:正比计数器
答案:电离室;屏栅电离室;G-M计数管;正比计数器
气体吸附在气体探测器中起到正面作用。()
A:错B:对
答案:错
当一个电子达到极板时,流过外回路的电量时e。()
A:对B:错
答案:错
电子脉冲电离室输出的电压脉冲和生成位置无关。()
A:对B:错
答案:错
圆柱形电离室是阳极在内阴极在外。()
A:对B:错
答案:对
分辨时间和时间分辨本领不是一个参数。()
A:错B:对
答案:对
正比计数器一般用非均匀电场才可以实现。()
A:错B:对
答案:对
正比计数器的输出信号由正离子和电子共同做贡献。()
A:对B:错
答案:错
G-M计数管只能用来计数。()
A:对B:错
答案:对
第三章测试
下列哪个是光电转化器件()。
A:光电倍增B:闪烁体C:准直器
答案:光电倍增
闪烁体产生的光是()。
A:可见光B:磷光C:紫外光D:荧光
答案:可见光;荧光
闪烁体的发射光谱要和光电倍增管的接收光谱要匹配。()
A:错B:对
答案:对
光电倍增管工作时可以透光。()
A:对B:错
答案:错
闪烁体探测器输出电压和入射离子的能量成反比。()
A:对B:错
答案:错
闪烁体探测器的探测能量分辨率对不同能量的入射射线不同。()
A:错B:对
答案:对
第四章测试
下列可以作为半导体探测器的敏感体积的是()。
A:N型半导体B:P-N结C:P型半导体D:半导体
答案:P-N结
高纯锗探测器属于()。
A:气体探测器B:半导体探测器C:闪烁体探测器
答案:半导体探测器
半导体探测器内的信息载流子是电子离子对。()
A:错B:对
答案:错
一般的半导体材料不可以直接用于形成探测器的敏感体积。()
A:错B:对
答案:对
外加电压越高,P-N结越厚。()
A:错B:对
答案:对
外加电压越高,耗尽层越厚。()
A:错B:对
答案:对
第五章测试
核素的放射性衰变服从什么规律()
A:双曲递减规律B:指数衰减规律C:直线递减规律D:随机
答案:指数衰减规律
半导体探测器中,一定能量的入射粒子产生的电子-空穴对数服从什么分布()
A:高斯分布B:二项式分布C:法诺分布D:泊松分布
答案:法诺分布
单位时间内核的放射性核素的衰变概率可以用什么分布来描述()
A:泊松分布B:高斯分布C:二项式分布D:法诺分布
答案:泊松分布;高斯分布;二项式分布
泊松分布是对称分布。()
A:错B:对
答案:错
4π计数法无法减小散射、吸收和几何位置的影响。()
A:错B:对
答案:错
延迟符合方法就是用来选择非同时事件。()
A:对B:错
答案:对
全能峰就是光电峰()
A:错B:对
答案:错
反应堆中子源的能量比较单一。()
A:错B:对
答案:错
第六章测试
用于判断时间上同时事件的测量方法是()
A:符合方法B:能谱测量C:位置测量D:活度测量
答案:符合方法
下列影响活度的绝对测量的因素有()
A:几何位置B:散射因素C:探测效率D:吸收因素
答案:几何位置;散射因素;探测效率;吸收因素
符合测量方法是一种用符合电路判断同时性事件的方法。()
A:对B:错
答案:对
进行活度测量是要对仪器进行效率刻度。()
A:对B:错
答案:对
进行核素识别的能谱测量时要对一起进行能量刻度。()
A:对B:错
答案:对
第七章测试
中子探
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